CN113391136A - 一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法 - Google Patents

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CN113391136A CN202110601612.6A CN202110601612A CN113391136A CN 113391136 A CN113391136 A CN 113391136A CN 202110601612 A CN202110601612 A CN 202110601612A CN 113391136 A CN113391136 A CN 113391136A
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Abstract

本发明请求保护一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法，属于光电子技术领域，该装置包括：激光器，抑制载波双边带调制模块，光分束器，色散介质，移频器，光耦合器，光电探测器，信号采集与数据处理模块。所述激光器、抑制载波双边带调制模块、光分束器、色散介质、移频器、光耦合器(6)、光电探测器依次光连接；所述光电探测器、信号采集与数据处理模块依次电路连接。本发明解决了现有微波光子测频技术中需使用宽带光电探测及处理系统的缺点，具有测量精度高，实时测量，只需低频检测及处理系统等优点。

Description

一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法
技术领域
本发明属于微波光子频率测量技术，具体涉及一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法。
背景技术
用于雷达和电子战的微波接收机需要在宽带宽上估计未知微波频率，传统的瞬时微波频率测量技术受微波器件的“电子瓶颈”限制，导致测量带宽有限，同时扫频式的测量耗时长，且易受电磁干扰。近年来，随着微波光子技术的不断发展以及光电子器件制造技术的成熟，基于微波光子技术的微波频率测量已成为一大研究热点，该技术具有带宽宽，损耗小，抗电磁干扰等优点，在微波信号处理方面可以很好的克服传统电域频率测量的“电子瓶颈”问题。
微波光子频率测量是一种基于微波光子链路实现微波信号处理以及测量的交叉融合技术。在微波频率测量技术中，2008年，Hao C.等人，提出并论证了一种基于光功率-微波频率映射的微波频率测量方法。该方法需使用滤波器将待测微波信号转换成光功率信息，通过设置中心载波波长在滤波器光谱响应的波峰和波谷处，通过获得的一组具有正交响应的比较函数来实现微波频率测量。该方法实现了0到20GHz的微波测频范围，测频精度为0.2GHz([1]Hao C.,Zou X.,Yao J..An Approach to the Measurement of MicrowaveFrequency Based on Optical Power Monitoring[J].IEEE Photonics TechnologyLetters,2008,20(14):1249-1251.)。但需特定设计和制作对应滤波函数窗口的光滤波器，此外，为实现高精度微波频率测量，激光器的频率稳定性要求高，而且由于滤波器的窗口函数不可调使该方法具有较大的限制。现阶段微波光子频率测量中光电探测及信号处理模块是极其重要的组成部分，2009年，Zhang X.和Chi H.等人提出的微波频率测量方案，使用相位调制器和色散光纤，将相位调制的光信号发送到色散元件，并在两个光电探测器上检测。由于色散元件的色散效应，两种微波信号会经历不同的功率衰落，导致不同的功率与频率函数，建立了微波频率与微波功率的固定关系。实验测量分辨率为±0.1GHz，测量范围为11.0～15.0GHz。(Zhang X.,Hao C.,Zhang X.,et al.Instantaneous MicrowaveFrequency Measurement Using an Optical Phase Modulator[J].IEEE Microwave&Wireless Components Letters,2009,19(6):422-424.)但该方法为了尽量覆盖待测微波频率范围需要使用大带宽的光电探测及信号处理系统。
经过检索，与本发明最接近的专利为，专利号为201711361767.7，名称为基于双边带调制与频移的光器件测量方法，首先将光载波分为两路；对第一路光载波进行频移，得到频移光载波信号，然后将第一微波信号调制于所述频移光载波信号上，生成频移双边带调制信号；将第二微波信号调制于第二路光载波上，生成双边带探测信号，并将此双边带探测信号输入待测光器件；将频移双边带调制信号与经过待测件的双边带探测信号耦合后输入光电探测器进行拍频，得到携带待测光器件频谱响应信息的两个频率的微波信号；分别提取两个微波信号的幅度相位信息，得到待测光器件在光载波与第二微波信号的和频及差频处的幅相响应。该发明还公开了基于双边带调制与频移的光器件测量装置。本发明可大幅提高光器件的测量范围和测量效率。但是，该发明需要利用两个频率差恒定的微波信号对待测光器件进行扫频测量，需要两个宽带微波源以及对应的宽带电光调制器，微波频谱资源浪费严重，此外成本高。此外与本发明最接近的专利还有，专利号为202011300470.1，名称为一种微波光子测频装置与方法，该发明公开了一种微波光子测频装置与方法，该装置包括激光器、第一相位调制器、可编程滤波器、第二相位调制器、光移频器、混频器、低速光电探测器和频谱分析模块，该发明通过测量两个固定低频边带的幅值之比获得宽频范围微波信号频率，可极大地节省微波光子测频的带宽和系统成本，并利用可编程滤波器来设置幅值与频率的映射关系，避免了传统频率-幅度映射型测频方法中采用的不稳定色散因子，提高微波光子测频的精度。但是，该测量微波频率范围受微波混频器带宽的影响，还需辅助的本振微波源以及两个电光相位调制器，结构复杂，此外，还需构建特定频率响应的光滤波器，同时对激光器波长的稳定性要求较高，成本较高。
发明内容
本发明旨在解决以上现有技术的问题。提出了一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法。本发明的技术方案如下：
一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置，其包括：激光器(1)、抑制载波双边带调制模块(2)、光分束器(3)、色散介质(4)、移频器(5)、光耦合器(6)、光电探测器(7)、信号采集与数据处理模块(8)，
所述激光器(1)、抑制载波双边带调制模块(2)、光分束器(3)、色散介质(4)、移频器(5)、光耦合器(6)、光电探测器(7)依次光连接；所述光电探测器(7)、信号采集与数据处理模块(8)依次电路连接，其中激光器(1)激光器(1)输出频率为f0的光波进入到抑制载波双边带调制模块(2)，频率为f1的待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块(2)加载到光波上，产生频率为f0-f1和f0+f1的抑制载波双边带光信号，抑制载波双边带调制模块(2)输出的抑制载波双边带光信号通过光分束器(3)之后被分为完全相同的两条支路，分别为支路1和支路2；在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质(4)，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器(5)产生频率为fs的移频，使得频率为f0-f1和f0+f1的光信号分别为f0+f1+fs和f0-f1+fs，两支路输出的光信号通过光耦合器(6)耦合后进入光电探测器(7)外差探测输出电信号；光电探测器(7)输出的电信号经信号采集与数据处理模块(8)采集和数据处理分析后，获得频率为fs处信号功率P(fs)。
进一步的，所述抑制载波双边带调制模块(2)可通过马赫曾德尔调制器工作于最低偏置点实现抑制载波双边带调制产生或通过电光调制器与光带阻滤波器组合滤除中心载波产生。
进一步的，移频器(5)检测固定低频频率成分信号，即实现高频微波信号频率的测量。
进一步的，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)with为：
Figure BDA0003093190090000041
其中，其中R为光电探测器的响应度；A1和A2分别为支路1和支路2光信号幅度值；J1(m)为一类贝塞尔函数；m为抑制载波双边带调制模块中调制器的调制系数；
Figure BDA0003093190090000042
为支路1和支路2的初始相位差；fs为移频器的频移量；D为色散介质总的色散量；λ0为激光器激射激光的波长；f1为待测微波信号频率；c为光波在真空中的速度；t为时间参量。
一种基于任一项所述装置的低频频率测量方法，其包括以下步骤：
1)、激光器(1)输出频率为f0的光波进入到抑制载波双边带调制模块(2)，频率为f1的待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块(2)加载到光波上，产生频率为f0-f1和f0+f1的抑制载波双边带光信号，抑制载波双边带调制模块(2)输出的抑制载波双边带光信号通过光分束器(3)之后被分为完全相同的两条支路，分别为支路1和支路2；
2)、在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质(4)，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器(5)产生频率为fs的移频，使得频率为f0-f1和f0+f1的光信号分别为f0+f1+fs和f0-f1+fs，两支路输出的光信号通过光耦合器(6)耦合后进入光电探测器(7)外差探测输出电信号；
3)、光电探测器(7)输出的电信号经信号采集与数据处理模块(8)采集和数据处理分析后，获得频率为fs处信号功率P(f1)，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)with；
4)、其他条件保持不变，去除色散介质(4)，重复上述步骤1-3)得到新的获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)without；
5)、将两次获得的功率函数的比值构建随微波频率功率f1变化的传输函数(ACF)F(f1)＝P(f1)without/P(f1)with，后续只需测量出待测微波信号所对应的ACF值，运算结果与所预存的ACF曲线参数比较进而得到待测微波信号的瞬时频率。
进一步的，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)with，具体包括：
功率函数P(fs)with为：
Figure BDA0003093190090000051
其中，其中R为光电探测器的响应度；A1和A2分别为支路1和支路2光信号幅度值；J1(m)为一类贝塞尔函数；m为抑制载波双边带调制模块中调制器的调制系数；
Figure BDA0003093190090000054
为支路1和支路2的初始相位差；fs为移频器的频移量；D为色散介质总的色散量；λ0为激光器激射激光的波长；f1为待测微波信号频率；c为光波在真空中的速度；t为时间参量。
进一步的，所述步骤4)具体为：其他条件保持不变，去除色散介质(4)，重复上述步骤1-3得到新的获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)without为：
Figure BDA0003093190090000052
将两次获得的功率函数的比值构建随微波频率功率f1变化的传输函数ACF为：
Figure BDA0003093190090000053
只需测量出待测微波信号所对应的ACF值，运算结果与所预存的ACF曲线参数比较，进而得到待测微波信号的瞬时频率。
本发明的优点及有益效果如下：
一、本发明固定低频检测的微波光子频率测量装置及其方法，采用抑制载波双边带调制信号分别通过色散介质和微小移频量的移频器，通过探测色散光信号与移频光信号的外差拍频，只需检测固定低频频率成分信号，即可实现高频微波信号频率通过色散介质产生的功率衰弱传输函数的测量，大大降低了微波测频系统的检测要求，这是现有技术人员不容易想到的方法。
二、本发明采用抑制载波双边带调制，与单边带调制相比，边带相位差改变明显，所需色散量小，即对于单模光学而已，所需长度短。
三、本发明采用移频外差结构，可以有效克服激光器频率漂移以及抖动问题，并通过构建传输函数，实现高精度，宽范围的微波频率测量。而且通过改变色散介质色散量的大小，可以构建出不同测量精度和范围的微波频率测量ACF函数曲线。
附图说明
图1是本发明提供优选实施例固定低频探测的微波频率测量装置结构示意图。
图中：1-激光；2-抑制载波双边带调制模块；3-光分束器；4-色散光纤；5-移频器；6-光耦合器；7-光电探测器；8-信号采集与数据处理模块。
图2是单模光纤长度为143米时输出固定低频信号功率与待测微波信号频率的传输函数曲线。
图3是单模光纤长度为0米时输出固定低频信号功率与待测微波信号频率的传输函数曲线。
图4是最终得到的ACF与待测微波信号的函数曲线。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、详细地描述。所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例。
本发明解决上述技术问题的技术方案是：
本发明提供了一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置包括：激光器1、抑制载波双边带调制模块2、光分束器3、色散介质4、移频器5、光耦合器6、光电探测器7、信号采集与数据处理模块8。
本发明一种固定低频频率测量装置及使用方法的工作原理为：
激光器1输出频率为f0的光波进入到抑制载波双边带调制模块2，频率为f1的待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块2加载到光波上，产生频率为f0-f1和f0+f1的抑制载波双边带光信号，抑制载波双边带调制模块2输出的抑制载波双边带光信号通过光分束器3之后被分为完全相同的两条支路，分别为支路1和支路2。在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质4，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器5产生频率为fs的移频，使得频率为f0-f1和f0+f1的光信号分别为f0+f1+fs和f0-f1+fs，两支路输出的光信号通过光耦合器6耦合后进入光电探测器7外差探测输出电信号。光电探测器7输出的电信号经信号采集与数据处理模块8采集和数据处理分析后，获得频率为fs处信号功率P(fs)，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)with为：
Figure BDA0003093190090000071
其中，其中R为光电探测器的响应度；A1和A2分别为支路1和支路2光信号幅度值；J1(m)为一类贝塞尔函数；m为抑制载波双边带调制模块中调制器的调制系数；
Figure BDA0003093190090000072
为支路1和支路2的初始相位差；fs为移频器的频移量；D为色散介质总的色散量。
其他条件保持不变，去除色散介质4，重复上述步骤1-3得到新的获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)without为：
Figure BDA0003093190090000073
将两次获得的功率函数的比值构建随微波频率功率f1变化的传输函数ACF为：
Figure BDA0003093190090000074
只需测量出待测微波信号所对应的ACF值，运算结果与所预存的ACF曲线参数比较，进而得到待测微波信号的瞬时频率。
实施例
图1是本发明的固定低频探测的微波频率测量装置结构示意图。激光器1输出的光载波输入到抑制载波双边带调制模块2中，待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块2产生抑制载波双边带调制信号，抑制载波双边带调制模块2输出的微波调制光载波经光分束器3分为支路1和支路2，在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质4，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器5产生频率为fs的移频。支路1和支路2经光耦合器6耦合后进入光电探测器7进行光电转换，光电探测器7输出的电信号再由数据采集处理模块8进行数据处理与分析。本发明中待测微波信号扫描频率从0～40GHz变化，色散介质选择单模光纤，且长度为143米，使函数的单调区间刚好覆盖0～40GHz，移频器设置移频量为0.1GHz，通过信号采集与数据处理模块8输出得到微波功率与待测微波信号的关系曲线，如图二所示。然后将色散光纤长度设置为0米，得到微波功率与待测微波信号的关系曲线，如图3所示。最终构建出ACF传输函数，如图4所示。验证了在抑制载波双边带调制下，通过本发明基于固定低频检测的微波光子频率测量装置构建的ACF函数曲线确实符合公式。设置待测微波信号频率为20GHz时，获得外差拍频信号0.1GHz的功率差值为3.2dB,通过ACF函数计算出的待测频率为20.1GHz，其误差为0.1GHz。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上这些实施例应理解为仅用于说明本发明而不用于限制本发明的保护范围。在阅读了本发明的记载的内容之后，技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等效变化和修饰同样落入本发明权利要求所限定的范围。

Claims (7)

1.一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置，其特征在于，包括：激光器(1)、抑制载波双边带调制模块(2)、光分束器(3)、色散介质(4)、移频器(5)、光耦合器(6)、光电探测器(7)、信号采集与数据处理模块(8)，
所述激光器(1)、抑制载波双边带调制模块(2)、光分束器(3)、色散介质(4)、移频器(5)、光耦合器(6)、光电探测器(7)依次光连接；所述光电探测器(7)、信号采集与数据处理模块(8)依次电路连接，其中激光器(1)激光器(1)输出频率为f0的光波进入到抑制载波双边带调制模块(2)，频率为f1的待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块(2)加载到光波上，产生频率为f0-f1和f0+f1的抑制载波双边带光信号，抑制载波双边带调制模块(2)输出的抑制载波双边带光信号通过光分束器(3)之后被分为完全相同的两条支路，分别为支路1和支路2；在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质(4)，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器(5)产生频率为fs的移频，使得频率为f0-f1和f0+f1的光信号分别为f0+f1+fs和f0-f1+fs，两支路输出的光信号通过光耦合器(6)耦合后进入光电探测器(7)外差探测输出电信号；光电探测器(7)输出的电信号经信号采集与数据处理模块(8)采集和数据处理分析后，获得频率为fs处信号功率P(fs)。
2.根据权利要求1所述的一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置，其特征在于，所述抑制载波双边带调制模块(2)可通过马赫曾德尔调制器工作于最低偏置点实现抑制载波双边带调制产生或通过电光调制器与光带阻滤波器组合滤除中心载波产生。
3.根据权利要求1所述的一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置，其特征在于，移频器(5)检测固定低频频率成分信号，即实现高频微波信号频率的测量。
4.根据权利要求1所述的一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置，其特征在于，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)with为：
Figure FDA0003093190080000021
其中，其中R为光电探测器的响应度；A1和A2分别为支路1和支路2光信号幅度值；J1(m)为一类贝塞尔函数；m为抑制载波双边带调制模块中调制器的调制系数；
Figure FDA0003093190080000022
为支路1和支路2的初始相位差；fs为移频器的频移量；D为色散介质总的色散量；λ0为激光器激射激光的波长；f1为待测微波信号频率；c为光波在真空中的速度；t为时间参量。
5.一种基于权利要求1-4任一项所述装置的低频频率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)、激光器(1)输出频率为f0的光波进入到抑制载波双边带调制模块(2)，频率为f1的待测微波信号通过抑制载波双边带调制模块(2)加载到光波上，产生频率为f0-f1和f0+f1的抑制载波双边带光信号，抑制载波双边带调制模块(2)输出的抑制载波双边带光信号通过光分束器(3)之后被分为完全相同的两条支路，分别为支路1和支路2；
2)、在支路1中，抑制载波双边带光信号通过色散介质(4)，利用色散效应使两个光边带相位差发生改变，在支路2中，抑制载波双边带光信号通过移频器(5)产生频率为fs的移频，使得频率为f0-f1和f0+f1的光信号分别为f0+f1+fs和f0-f1+fs，两支路输出的光信号通过光耦合器(6)耦合后进入光电探测器(7)外差探测输出电信号；
3)、光电探测器(7)输出的电信号经信号采集与数据处理模块(8)采集和数据处理分析后，获得频率为fs处信号功率P(f1)，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)with；
4)、其他条件保持不变，去除色散介质(4)，重复上述步骤1-3)得到新的获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)without；
5)、将两次获得的功率函数的比值构建随微波频率功率f1变化的传输函数(ACF)F(f1)＝P(f1)without/P(f1)with，后续只需测量出待测微波信号所对应的ACF值，运算结果与所预存的ACF曲线参数比较进而得到待测微波信号的瞬时频率。
6.根据权利要求5所述的低频频率测量方法，其特征在于，改变微波信号频率获得频率为fs处信号功率P(f1)随待测微波信号f1变化的功率函数P(f1)with，具体包括：
功率函数P(fs)with为：
Figure FDA0003093190080000031
其中，其中R为光电探测器的响应度；A1和A2分别为支路1和支路2光信号幅度值；J1(m)为一类贝塞尔函数；m为抑制载波双边带调制模块中调制器的调制系数；
Figure FDA0003093190080000032
为支路1和支路2的初始相位差；fs为移频器的频移量；D为色散介质总的色散量。λ0为激光器激射激光的波长；f1为待测微波信号频率；c为光波在真空中的速度；t为时间参量。
7.根据权利要求5所述的低频频率测量方法，其特征在于，所述步骤4)具体为：其他条件保持不变，去除色散介质(4)，重复上述步骤1-3得到新的获得频率为fs处信号功率P(fs)随待测微波信号f1变化的功率函数P(fs)without为：
Figure FDA0003093190080000033
将两次获得的功率函数的比值构建随微波频率功率f1变化的传输函数ACF为：
Figure FDA0003093190080000034
只需测量出待测微波信号所对应的ACF值，运算结果与所预存的ACF曲线参数比较，进而得到待测微波信号的瞬时频率。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114184356A (zh) * 2021-11-25 2022-03-15 苏州六幺四信息科技有限责任公司 一种光电探测器非线性分析方法及装置
CN114184849A (zh) * 2021-12-08 2022-03-15 北京航空航天大学 一种微波光子学接收天线

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101793920A (zh) * 2010-03-05 2010-08-04 中国科学院半导体研究所 紧凑型瞬时微波频率光子测量系统
EP2404179A1 (en) * 2009-03-01 2012-01-11 Tau Science Corporation High speed quantum efficiency measurement apparatus utilizing solid state lightsource
CN103326789A (zh) * 2013-05-03 2013-09-25 华中科技大学 一种频率可调谐的微波相移系统及方法
EP2727197A2 (en) * 2011-06-30 2014-05-07 Oewaves, Inc. Compact optical atomic clocks and applications based on parametric nonlinear optical mixing in whispering gallery mode optical resonators
CN104614585A (zh) * 2015-01-04 2015-05-13 西南交通大学 基于受激布里渊效应的多频率高精度微波光子测频方案
CN106483373A (zh) * 2016-11-03 2017-03-08 南京航空航天大学 一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统
CN107846254A (zh) * 2017-10-12 2018-03-27 北京工业大学 利用集成器件实现微波下变频和移相的光子方法及系统
CN108088655A (zh) * 2017-12-18 2018-05-29 南京航空航天大学 基于双边带调制与频移的光器件测量方法、装置
CN108494489A (zh) * 2018-03-27 2018-09-04 电子科技大学 一种射频信号稳相传输装置及方法
CN109813961A (zh) * 2019-01-11 2019-05-28 中国科学院半导体研究所 基于光学频率梳的微波瞬时测频装置
CN110187177A (zh) * 2019-05-16 2019-08-30 重庆邮电大学 一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法
CN112505408A (zh) * 2020-11-19 2021-03-16 中国电子科技集团公司第三十研究所 一种微波光子测频装置与方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2404179A1 (en) * 2009-03-01 2012-01-11 Tau Science Corporation High speed quantum efficiency measurement apparatus utilizing solid state lightsource
CN101793920A (zh) * 2010-03-05 2010-08-04 中国科学院半导体研究所 紧凑型瞬时微波频率光子测量系统
EP2727197A2 (en) * 2011-06-30 2014-05-07 Oewaves, Inc. Compact optical atomic clocks and applications based on parametric nonlinear optical mixing in whispering gallery mode optical resonators
CN103326789A (zh) * 2013-05-03 2013-09-25 华中科技大学 一种频率可调谐的微波相移系统及方法
CN104614585A (zh) * 2015-01-04 2015-05-13 西南交通大学 基于受激布里渊效应的多频率高精度微波光子测频方案
CN106483373A (zh) * 2016-11-03 2017-03-08 南京航空航天大学 一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统
CN107846254A (zh) * 2017-10-12 2018-03-27 北京工业大学 利用集成器件实现微波下变频和移相的光子方法及系统
CN108088655A (zh) * 2017-12-18 2018-05-29 南京航空航天大学 基于双边带调制与频移的光器件测量方法、装置
CN108494489A (zh) * 2018-03-27 2018-09-04 电子科技大学 一种射频信号稳相传输装置及方法
CN109813961A (zh) * 2019-01-11 2019-05-28 中国科学院半导体研究所 基于光学频率梳的微波瞬时测频装置
CN110187177A (zh) * 2019-05-16 2019-08-30 重庆邮电大学 一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法
CN112505408A (zh) * 2020-11-19 2021-03-16 中国电子科技集团公司第三十研究所 一种微波光子测频装置与方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114184356A (zh) * 2021-11-25 2022-03-15 苏州六幺四信息科技有限责任公司 一种光电探测器非线性分析方法及装置
CN114184356B (zh) * 2021-11-25 2024-01-09 苏州六幺四信息科技有限责任公司 一种光电探测器非线性分析方法及装置
CN114184849A (zh) * 2021-12-08 2022-03-15 北京航空航天大学 一种微波光子学接收天线

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