CN113391134A - 一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法 - Google Patents

一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法 Download PDF

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Abstract

本发明属于电力设备领域，具体地说属于一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法。其步骤如下：（1）在余弦方波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL1。（2）在阻尼振荡波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL2。（3）计算DL1/DL2的比值。（4）当DL1/DL2的比值小于等于1.2时，电缆无缺陷。（5）当DL1/DL2的比值大于1.2，但小于等于2时，电缆为老化型缺陷。（6）当DL1/DL2的比值大于2时，电缆为水分侵入型无缺陷。在余弦方波电压和阻尼振荡电压下分别测量获得介质损耗值后，通过两者的比值对电缆缺陷进行判定，实现电缆缺陷准确判定，有效避免了数值法的不足，本方法简单、实用。

Description

一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷 判定方法
技术领域
本发明同时属于电力系统应用技术领域和测量测试领域，具体地说属于一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法。
背景技术
在现有技术中，国内外电网多起重大事故均由电缆缺陷导致，造成了巨大的经济损失和不良的社会影响。对电缆进行有效的检测对于预防电缆事故，提升电网可靠性具有重要意义。介质损耗是反映电缆缺陷的重要特征量，在于余弦方波电压和阻尼振荡电压下均可测量，但仅能给出测量数值，缺乏判定标准与方法。本发明提供了一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法。
发明内容
发明的目的是针对上述不足而提供一种可以实现电缆缺陷准确判定的基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法。
本发明的技术方案是：一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法，其特征在于步骤如下：
（1）在余弦方波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL1。
（2）在阻尼振荡波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL2。
（3）计算DL1/DL2的比值。
（4）当DL1/DL2的比值小于等于1.2时，电缆无缺陷。
（5）当DL1/DL2的比值大于1.2，但小于等于2时，电缆为老化型缺陷。
（6）当DL1/DL2的比值大于2时，电缆为水分侵入型无缺陷。
一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法是基于余弦方波和阻尼振荡波二合一的发生器，在余弦方波电压和阻尼振荡电压下分别测量获得介质损耗值后，通过两者的比值对电缆缺陷进行判定。
本发明的有益效果是：在余弦方波电压和阻尼振荡电压下分别测量获得介质损耗值后，通过两者的比值对电缆缺陷进行判定，实现电缆缺陷准确判定，有效避免了数值法的不足，本方法简单、实用。
下面将结合附图对本发明的实施方式作进一步详细描述。
附图说明
图1是本发明电缆缺陷判定流程图。
具体实施方式
参见图1，一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法，其步骤如下：
（1）在余弦方波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL1。
（2）在阻尼振荡波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL2。
（3）计算DL1/DL2的比值。
（4）当DL1/DL2的比值小于等于1.2时，电缆无缺陷。
（5）当DL1/DL2的比值大于1.2，但小于等于2时，电缆为老化型缺陷。
（6）当DL1/DL2的比值大于2时，电缆为水分侵入型无缺陷。
电缆的缺陷状态可以分为无缺陷，老化型缺陷和水分侵入型缺陷3种。这些缺陷在阻尼振荡电压和余弦方波电压下的介质损耗值具有不同的表现，可以用于诊断缺陷的状态。余弦方波电压下测量介损是在极性变化阶段进行，其等效频率接近50Hz，阻尼振荡电压的频率一般在100Hz-500Hz。
导致电缆介质损耗变化的包括电导损耗和极化损耗两部分。
当电缆无缺陷时，损耗主要由极其微弱的电导损耗引起，而在50Hz-500Hz范围内，频率对电导影响基本忽略不计，因此两种电压下测量得到的介质损耗值基本一致。
对于老化型缺陷，损耗主要由老化产物的极化损耗引起，由于余弦方波电压的频率较低，极化充分，极化损耗大，其测量得到的介质损耗值也比阻尼振荡电压下测量的大。
对于水分侵入型缺陷，损耗主要由水分的极化损耗引起，水分的极化属于转向极化，受频率的影响极大，频率越低，极化越充分，损耗越大，因此余弦方波电压测量损耗值远大于阻尼振荡电压的测量值。
上面描述，只是本发明的具体实施方式，各种举例说明不对本发明的实质内容构成限制。

Claims (1)

1.一种基于余弦方波和阻尼振荡波下介质损耗测量的电缆缺陷判定方法，其特征在于步骤如下：
（1）在余弦方波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL1；
（2）在阻尼振荡波电压下测量电缆的介质损耗值，记为DL2；
（3）计算DL1/DL2的比值；
（4）当DL1/DL2的比值小于等于1.2时，电缆无缺陷；
（5）当DL1/DL2的比值大于1.2，但小于等于2时，电缆为老化型缺陷；
（6）当DL1/DL2的比值大于2时，电缆为水分侵入型无缺陷。
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