CN113377081B - 一种导弹控制箱的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种导弹控制箱的测试系统，包括PXI总线I/O卡，及与PXI总线I/O卡通信连接的导弹控制箱和导弹；PXI总线I/O卡通过简化测试模块通信连接导弹控制箱和导弹；所述简化测试模块包括由嵌入式89S2051嵌入式的单片机及其外围电路构成的单片机最小系统；所述单片机其5个I/O口通信连接PXI总线I/O卡输出端，两个所述单片机I/O口连接功放模块其信息信号输入端；本发明的导弹控制箱的测试系统，外围元件小，整个体积小，通过巧妙的汇编程序设计，完成了PXI串口卡功能。
Description
技术领域
本发明涉及一种导弹装备测试模块，具体涉及一种导弹控制箱的测试系统，属于导弹装备测试模块技术领域。
背景技术
现有的导弹发控装置测试系统，如图1所示，采用以PXI总线虚拟仪器为核心，通过适配器对发控设备控制箱、导弹等信号调理后，对被测发控设备进行测试的系统；其中，如图2所示，对于导弹控制箱的测试系统，其在AFT07C发控设备测试中，通过PXI串口卡向导弹控制箱发送角偏差数据的同时PXI总线I/O卡要输出信息信号、跟踪信号GZA、GZB给导弹控制箱；同时测试导弹时产生交变110V信号也需要PXI总线I/O卡产生；由于需要同时提供串口通信和信息信号同步工作，所以必须同时配置PXI串口通信卡和I/O卡；而PXI串口通信卡价格昂贵，而且信息信号和交变110V信号产生要靠PXI总线的I/O卡通过编程实现，PXI串口卡和PXI I/O卡之间的信号时序配合复杂；信号之间由于需要同步导致编程和调试工作量大。
发明内容
为解决上述问题，本发明提出了一种导弹控制箱的测试系统，外围元件小，整个体积小，通过巧妙的汇编程序设计，完成了PXI串口卡功能。
本发明的导弹控制箱的测试系统，通过采用简化测试模块，可以省去昂贵的PXI串口通信卡，而且软件编程繁复度大大降低，程序效率大大提高；简化测试模块可以应用于产品的更新改造中，也可以应用于后续产品的生产中；通过简化测试模块替代一个PXI串口卡，同时新产生的串口信号还要和PXI总线I/O产生的信息信号、跟踪信号GZA、GZB同步，其具体结构如下：包括PXI总线I/O卡，及与PXI总线I/O卡通信连接的适配器，及与适配器通信连接的导弹控制箱和导弹；所述适配器包括简化测试模块；所述简化测试模块包括单片机最小系统，所述单片机最小系统其通过串口与导弹控制箱串口通信连接；所述单片机最小系统通过功放模块接入到导弹控制箱信息信号端口；所述单片机最小系统其I/O口通信连接导弹控制箱跟踪信号的GZA端口和GZB端口，所述单片机最小系统通过驱动器连接导弹其交变110输入端口。
进一步地，所述简化测试模块根据PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号输出不同的16进制串口数据进入导弹控制箱，并配合跟踪信号、信息信号完成导弹控制箱测试。
进一步地，所述单片机最小系统由89S2051嵌入式单片机及其外围电路构成；所述89S2051嵌入式单片机其5个I/O口作为接收PXI总线I/O卡输出的输入控制端，两个I/O口为功放模块其信息信号输入端；两个I/O口为GZA端口和GZB端口输入端；两个I/O口为驱动器输入端；所述GZA端口和GZB端口输入端其输出信号为相位差90度、周期2.93ms的输出方波。
进一步地，所述PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号送入到89S2051嵌入式单片机其输入控制端，作为测试项目选择信号；所述89S2051嵌入式单片机汇编产生两路TTL电平脉冲信号，并将TTL电平脉冲信号送至功放模块其信息信号输入端，其产生TTL电平的信息信号，经过功放模块的驱动电路和功率放大电路产生电压幅值在30～120V之间可调的阶梯波形信息信号，所述89S2051嵌入式单片机汇编产生相位差90°和周期2.93ms的两路方波信号，两路方波信号接入GZA端口和GZB端口输入端；所述89S2051嵌入式单片机产生两路高低电平信号，其作为导弹直流测试信号并接入驱动器输入A2端和A3端；所述两路高低电平信号其输出高低电平与导弹测试信号关联；所述导弹测试信号为+110V时，A2端为1，A3端为0；当导弹测试信号为-110V时，A2端为0，A3端为1；当导弹测试信号为交变110V时， A2端和A3端为周期40ms且极性相反的TTL电平交变信号。
与现有技术相比较，本发明的导弹控制箱的测试系统，通过简化测试模块代替PXI串口通信卡，简化测试模块采用20脚铁片式在线可编程嵌入式单片机，另加少到5个外围元件构成，体积小，且通过成熟的汇编程序产生控制信号，完成了PXI串口卡功能，解决了PXI串口卡和PXI I/O卡之间的信号复杂配合时序问题，且大大降低了设备生产成本。
附图说明
图1是本发明现有的导弹发控装置测试系统结构示意图。
图2是本发明现有的导弹控制箱的测试系统结构示意图。
图3是本发明的单片机最小系统及其通信端口结构示意图。
图4是本发明的导弹控制箱的测试系统结构示意图。
图5本发明的一个周期的TTL电平的信息信号示意图。
图6本发明的一个周期的跟踪信号信号示意图。
图7本发明的直流110V导弹信号信号示意图。
图8本发明的 交变110V信号信号示意图。
图9本发明的简化测试模块输入/输出对照示意图。
具体实施方式
实施例1：
如图3和图4所示的导弹控制箱的测试系统，通过采用简化测试模块，可以省去昂贵的PXI串口通信卡，而且软件编程繁复度大大降低，程序效率大大提高；简化测试模块可以应用于产品的更新改造中，也可以应用于后续产品的生产中；通过简化测试模块替代一个PXI串口卡，同时新产生的串口信号还要和PXI总线I/O产生的信息信号、跟踪信号GZA、GZB同步，其具体结构如下：包括PXI总线I/O卡，及与PXI总线I/O卡通信连接的适配器，及与适配器通信连接的导弹控制箱和导弹；所述适配器包括简化测试模块；所述简化测试模块包括单片机最小系统，所述单片机最小系统其通过串口与导弹控制箱串口通信连接；所述单片机最小系统通过功放模块接入到导弹控制箱信息信号端口；所述单片机最小系统其I/O口通信连接导弹控制箱跟踪信号的GZA端口和GZB端口，所述单片机最小系统通过驱动器连接导弹其交变110输入端口。
其中，所述简化测试模块根据PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号输出不同的16进制串口数据进入导弹控制箱，并配合跟踪信号、信息信号完成导弹控制箱测试。所述单片机最小系统由89S2051嵌入式单片机及其外围电路构成；所述89S2051嵌入式单片机其5个I/O口作为接收PXI总线I/O卡输出的输入控制端，两个I/O口为功放模块其信息信号输入端HO0、HO1；两个I/O口为GZA端口和GZB端口输入端GZA、GZB；两个I/O口为驱动器输入端A2、A3；所述GZA端口和GZB端口输入端其输出信号为相位差90度、周期2.93ms的输出方波。
其中，所述PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号送入到单片机其输入控制端，作为测试项目选择信号；如图5所示，所述单片机汇编产生两路TTL电平脉冲信号，并将TTL电平脉冲信号送至功放模块其信息信号输入端，其产生TTL电平的信息信号，经过功放模块的驱动电路和功率放大电路产生电压幅值在30～120V之间可调的阶梯波形信息信号，如图6所示，所述单片机汇编产生相位差90°和周期2.93ms的两路方波信号，两路方波信号接入GZA端口和GZB端口输入端；如图7和图8所示，所述单片机产生两路高低电平信号，其作为导弹直流测试信号并接入驱动器输入A2端和A3端；所述两路高低电平信号其输出高低电平与导弹测试信号关联；所述导弹测试信号为+110V时，A2端为1，A3端为0；当导弹测试信号为-110V时，A2端为0，A3端为1；当导弹测试信号为交变110V时， A2端和A3端为周期40ms且极性相反的TTL电平交变信号。
如图9所示，本发明的单片机最小系统其通过串口与导弹控制箱串口通信连接如下：串口输出与跟踪输出、信息信号输出以及对应测试项目的关系如图所示；根据不同测试项目，由PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号，简化测试模块根据PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号输出不同的16进制串口数据进入导弹控制箱，并配合跟踪信号、信息信号完成控制箱的测试。
上述实施例，仅是本发明的较佳实施方式，故凡依本发明专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本发明专利申请范围内。
Claims (4)
1.一种导弹控制箱的测试系统，包括PXI总线I/O卡，及与PXI总线I/O卡通信连接的适配器，及与适配器通信连接的导弹控制箱和导弹；其特征在于：所述适配器包括简化测试模块；所述简化测试模块包括单片机最小系统，所述单片机最小系统其通过串口与导弹控制箱串口通信连接；所述单片机最小系统通过功放模块接入到导弹控制箱信息信号端口；所述单片机最小系统其I/O口通信连接导弹控制箱跟踪信号的GZA端口和GZB端口，所述单片机最小系统通过驱动器连接导弹其交变110输入端口。
2.根据权利要求1所述的导弹控制箱的测试系统，其特征在于：所述简化测试模块根据PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号输出不同的16进制串口数据进入导弹控制箱，并配合跟踪信号、信息信号完成导弹控制箱测试。
3.根据权利要求1所述的导弹控制箱的测试系统，其特征在于：所述单片机最小系统由89S2051嵌入式单片机及其外围电路构成；所述89S2051嵌入式单片机其5个I/O口作为接收PXI总线I/O卡输出的输入控制端，两个I/O口为功放模块其信息信号输入端；两个I/O口为GZA端口和GZB端口输入端；两个I/O口为驱动器输入端；所述GZA端口和GZB端口输入端其输出信号为相位差90度、周期2.93ms的输出方波。
4.根据权利要求1所述的导弹控制箱的测试系统，其特征在于：所述PXI总线I/O卡输出5位I/O组合信号送入到89S2051嵌入式单片机其输入控制端，作为测试项目选择信号；所述89S2051嵌入式单片机汇编产生两路TTL电平脉冲信号，并将TTL电平脉冲信号送至功放模块其信息信号输入端，其产生TTL电平的信息信号，经过功放模块的驱动电路和功率放大电路产生电压幅值在30～120V之间可调的阶梯波形信息信号，所述89S2051嵌入式单片机汇编产生相位差90°和周期2.93ms的两路方波信号，两路方波信号接入GZA端口和GZB端口输入端；所述89S2051嵌入式单片机产生两路高低电平信号，其作为导弹直流测试信号并接入驱动器输入A2端和A3端；所述两路高低电平信号其输出高低电平与导弹测试信号关联；所述导弹测试信号为+110V时，A2端为1，A3端为0；当导弹测试信号为-110V时，A2端为0，A3端为1；当导弹测试信号为交变110V时， A2端和A3端为周期40ms且极性相反的TTL电平交变信号。
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