CN113361172B - 一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，该方法操作简便，能都大幅度抑制多径效应对方向图平坦度的影响，能够很好地改善飞机上天线成像和测距的精度；本发明提供的一种用于机载复杂构型成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，最后形成的吸波材料贴附方案，由于该吸波材料贴附位置在天线罩的内侧和阵列天线周围空间，在不影响信号的传输特性和飞机飞行过程中的气动性情况下，抑制了多径效应，降材料成本，并且实施简便，降低安装强度。

Description

一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法

技术领域

本发明属于雷达天线技术领域，具体涉及一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法。

背景技术

高分辨率对地观测系统将建设具备高精度观测能力、高空间分辨率、高光谱分辨率、高时间分辨率的先进对地观测体系，形成全球覆盖、全天时、全天候的对地观测能力。而基于机载平台的高分辨率三维成像雷达作为高分辨率对地观测系统中重要的一环，发挥着不可替代的作用。成像雷达的阵列天线一般安装在载机机腹下方的桁架与天线罩组件内，桁架结构、天线罩、阵列天线等构型复杂，电磁波在上述复杂的构型环境中会产生多径效应，即上述复杂构型对天线辐射电磁波的多次反射使得天线辐射方向图副瓣及背瓣能量经过不规律的反射后在其主瓣上的相互叠加，出现了相位方向图的“抖动”现象，会干扰天线相位方向图的平坦度，即给定天线辐射角度内，相位“剧烈增加”和“快速下降”的数值，从而影响雷达三维成像的精度，严重时会导致无法成像。

例如，山东大学在其为“一种基于时空大数据的导航多径效应抑制方法”的(申请号201710576852.9，授权公告号CN 107367749 A)专利申请中，公开了一种多径效应的抑制方法，包括：采集环境中产生的效应信息参数，建立大数据多径效应信息表，将多径信号信息表加载到数据库中，然后对该环境下接收信号进行修正，从而抑制了多径干扰对接收信号的影响。但是这种方法需要通过建立数据库对多径信息进行处理，依赖于后端平台的数字信号处理能力。而且，通过对多径效应产生的杂波进行分离和抑制来提取有用信号，难以完全分离杂波信号，不能有效抑制多径效应。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种用于机载复杂构型成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，通过针对天线前端的电磁波传播过程开展吸波设计实现对多径效应的抑制。

一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，包括如下步骤：

步骤1、确定机腹下方的桁架结构、天线罩、天线构型对单天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域；

步骤2、根据机腹下方的桁架结构参数、天线罩的电磁特性参数和天线的辐射性能参数建立全波电磁仿真模型；

步骤3、基于时域有限积分法全波仿真计算得到所有单天线的幅度方向图和相位方向图，包括：在理想模型下，无多径效应时，获取单天线的幅度方向图和相位方向图；在真实环境下，安装在机腹不同位置的单天线的幅度方向图和相位方向图；

步骤4、根据相位方向图，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出真实环境下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，最终得到天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

根据相位方向图，计算出真实环境下，两两天线相位方向图之间的差值，最终得到两两单天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

步骤5、对天线相位方向图有影响的电磁波反射区域分别贴附吸波材料，并分别进行全波仿真，基于全波仿真结果计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差；

其中，单天线的相位误差计算方法为：针对任意一个单天线，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出贴附吸波材料下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，最终得到天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

两两单天线之间的相位误差为：在其中一个反射区域贴附吸波材料下，计算两两天线相位方向图之间的差值，最终得到两两单天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

步骤6、评估反射区域分别贴附吸波材料对方向图平坦度的影响，具体为：

针对某一反射区域贴附吸波材料的情况下，先分析单天线的幅度方向图的振幅大小，若贴附吸波材料后对幅度方向图的振幅变化超过设定值，则该反射区域的吸波材料影响天线正常工作，无法贴附吸波材料；

然后，根据所有反射区域相位误差大小，评估出各反射区域贴附吸波材料后对多径效应抑制效果；

步骤7、根据各反射区域贴附吸波材料后对多径效应抑制效果，选择对多径效应抑制较大的一些反射区域进行贴附吸波材料，由此得到一个贴附吸波材料的拓扑排布，然后在该拓扑排布下进行全波仿真，最后计算单天线的相位误差和计算两两天线之间的相位误差；

步骤8、评估步骤7计算的单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差是否满足设定指标，如果满足，当前拓扑排布即为最优贴附区域；

如果不满足，返回步骤7，重新选择反射区域进行贴附吸波材料，构成新的拓扑排布，再进行全波仿真并计算相位差，再按照步骤8的方法进行评估，如此迭代，直到满足设定指标。

较佳的，所述步骤4中，单天线的相位误差计算方法为：以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出真实环境下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对该相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，再计算拟合序列与相位误差序列差值，由此得到高次误差序列，计算高次误差序列中的最大值与最小值的差值，得到单天线的相位误差。

较佳的，所述步骤4中，两两天线之间的相位误差计算方法为：计算出真实环境下，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

较佳的，所述步骤5中，单天线的相位误差计算方法为：针对任意一个单天线，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出贴附吸波材料下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到单天线的相位误差。

较佳的，所述步骤5中，两两天线之间的相位误差为：天线集成安装桁架后，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，计算出两两天线的3dB主瓣宽度内相位方向图之间的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

较佳的，所述步骤1中，所述反射区域包括机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线构型对天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域。

较佳的，所述全波电磁仿真模型包括：桁架结构的环境模型建立，天线罩电磁模型建立，各单天线辐射模型建立。

较佳的，所述步骤8中，设定指标为相位误差小于5°。

本发明具有如下有益效果：

本发明提供了一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，该方法操作简便，能都大幅度抑制多径效应对方向图平坦度的影响，能够很好地改善飞机上天线成像和测距的精度；

本发明提供的一种用于机载复杂构型成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，最后形成的吸波材料贴附方案，由于该吸波材料贴附位置在天线罩的内侧和阵列天线周围空间，在不影响信号的传输特性和飞机飞行过程中的气动性情况下，抑制了多径效应，降材料成本，并且实施简便，降低安装强度。

附图说明

图1为本发明中吸波材料最优贴附位置图；

图2(a)和图2(b)分别为本发明在频率9.6GHz时有、无多径效应幅度对比图；

图3为本发明在频率9.6GHz时有无多径效应相位对比图；

图4为本发明的单天线相位误差计算方法流程图；

图5为本发明的两两天线之间相位误差计算流程图；

图6(a)和图6(b)为本发明在频率9.6GHz时，抑制多径效应前、后相位误差对比图。

其中，10-天线罩背部圆弧段，20-天线罩内侧整流段，30-天线罩平直段，40-天线罩正面，50-天线背部，60-支架正面，65-天线罩正面四分之三及支架四分之一，70-支架背面及侧面，80-飞机桁架两侧。

具体实施方式

下面结合附图并举实施例，对本发明进行详细描述。

一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，所述方法包括以下步骤：

(1)确定机载复杂构型对天线相位方向图有影响的电磁波反射区域

确定机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线等构型对天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域，具体为：

机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线等构型对天线方向图有影响的所有电磁波反射区域，包括天线罩背部圆弧段10，天线罩内侧整流段20，天线罩平直段30，天线罩正面40，天线背部50，支架正面60，天线罩正面四分之三及支架四分之一65，支架背面及侧面70，飞机桁架两侧80；

(2)完成全波电磁仿真建模

根据机腹下方的桁架结构参数、天线罩的电磁特性参数和阵列天线的辐射性能参数建立全波电磁仿真模型；本步骤中,根据机腹下方的桁架结构参数、天线罩的电磁特性参数和阵列天线的辐射性能参数建立全波电磁仿真模型，全波电磁仿真模型包括：桁架结构的环境模型建立，天线罩电磁模型建立，各单天线辐射模型建立。

(3)获取成像雷达阵列天线的单天线在机载复杂构型下的辐射方向图

基于时域有限积分法全波仿真计算得到所有单天线的幅度方向图和相位方向图，包括：在理想模型下，无多径效应时，获取单天线的幅度方向图和相位方向图；在真实环境下，安装在机腹不同位置的单天线的幅度方向图和相位方向图。

(4)根据幅度方向图和相位方向图，计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差，量化多径效应对方向图平坦度的影响，其中幅度方向图用于计算3dB波束宽度以及3dB波束的辐射角度，相位方向图用于量化多径效应对3dB波束宽度内方向图平坦度的影响，具体为：

单天线的相位误差计算方法：以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出真实环境下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对该相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，再计算拟合序列与相位误差序列差值，由此得到高次误差序列，计算高次误差序列中的最大值与最小值的差值，得到单天线的相位误差。

两两天线之间的相位误差计算方法：计算出真实环境下，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

(5)单区域贴附吸波材料后抑制多径效应

对天线相位方向图有影响的电磁波反射区域分别贴附吸波材料，并分别进行全波仿真，量化各个反射区域分别贴附吸波材料后多径效应对方向图平坦度的影响；对机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线等构型对天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料，然后再分别进行全波仿真，基于全波仿真结果计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差。

其中，单天线的相位误差计算方法为：针对任意一个单天线，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出贴附吸波材料下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到单天线的相位误差。

两两天线之间的相位误差为：天线集成安装桁架后，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，计算出两两天线的3dB主瓣宽度内相位方向图之间的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

(6)评估机载复杂构型下反射区域分别贴附吸波材料对方向图平坦度的影响，评估吸波材料贴附区域，具体为：

针对某一反射区域贴附吸波材料的情况下，先分析单天线的幅度方向图的振幅大小，若贴附吸波材料后对幅度方向图的振幅大小变化较大，则该区域的吸波材料影响天线正常工作，无法贴附吸波材料。

然后，分析天线相位方向图产生“抖动”的辐射角度，若某电磁波反射区域贴附吸波材料后能够改善3dB波束辐射角度内的方向图平坦度，则该电磁波反射区域贴附吸波材后对多径效应抑制较大，多径效应抑制强弱根据相位误差判断；若某电磁波反射区域帖附吸波材料后能够改善的是方向图副瓣辐射角度内的方向图平坦度，则该电磁波反射区域贴附吸波材后对多径效应抑制较小；

上述分析中，根据所有电磁波反射区域相位误差大小，量化所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料时对方向图平坦度影响，相位误差变化小，说明该反射区域贴附吸波材料后多径效应抑制较大，反之抑制较小。

(7)根据单区域贴附吸波材料后对方向图平坦度的影响大小对吸波材料进行拓扑排布及全波仿真计算，具体为：

本步骤中，根据单区域贴附吸波材料后对方向图平坦度的影响大小对吸波材料进行拓扑排布及全波仿真计算。根据对天线方向图有影响的所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料时对天线收发信号强度的影响、相位方向图产生“抖动”的辐射角度、相位误差结果大小，在不影响天线收发信号强度的前提下，选择对多径效应抑制较大的一些反射区域进行贴附吸波材料(例如多径抑制效果排在前面的几个反射区域，书目可以根据实际需求进行选择)，由此得到一个贴附吸波材料的拓扑排布，然后再该拓扑排布下进行全波仿真，最后计算单天线的相位误差和计算两两天线之间的相位误差。

(8)对吸波材料进行拓扑排布后的仿真结果进行优选，并对优选结果进一步对吸波材料不同拓扑结构下迭代评估，确定最优贴附区域，具体为：

根据各拓扑排布下计算的单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差，对拓扑排布结果进行优选，优选出相位误差较小吸波材料贴附方案，即根据设定指标判断是否合格，如典型合格指标：相位误差小于5°。如果合格，吸波材料进行拓扑排布后贴附区域为最优贴附区域；

如果不合格，则重新选择贴附区域，构成新的拓扑排布，再进行全波仿真计算和评估，如此迭代，直到指标合格。

实施例：

步骤(1)：确定机载复杂构型对天线相位方向图有影响的电磁波反射区域。

参照图1，确定机载复杂构型所有反射区域，包括：天线罩背部圆弧段10，天线罩内侧整流段20，天线罩平直段30，天线罩正面40，天线背部50，支架正面60，天线罩正面四分之三及支架四分之一65，支架背面及侧面70，飞机桁架两侧80。

步骤(2)：完成全波电磁仿真建模

根据机腹下方的桁架结构参数、天线罩的电磁特性参数和阵列天线的辐射性能参数建立全波电磁仿真模型。

步骤(3)：获取成像雷达阵列天线的单天线在机载复杂构型下的辐射方向图。

参照图2、图3，基于时域有限积分法全波仿真计算得到所有单天线的幅度方向图和相位方向图，包括：在理想模型下，无多径效应时，获取单天线的幅度方向图和相位方向图；在真实环境下，安装在机腹不同位置时，获取单天线的幅度方向图和相位方向图。

步骤(4)：根据幅度方向图和相位方向图，计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差，量化多径效应对方向图平坦度的影响，其中幅度方向图用于计算3dB波束宽度以及3dB波束的辐射角度，相位方向图用于量化多径效应对3dB波束宽度内方向图平坦度的影响。

参照图4、图5，根据幅度方向图和相位方向图，计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差，量化多径效应对方向图平坦度的影响，单天线相位误差计算方法如图4所示，两两天线之间的相位误差计算方法如图5所示。

步骤(5)：单区域贴附吸波材料后抑制多径效应。

对机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线等构型对天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料时进行全波仿真，计算单天线的相位误差，计算两两天线之间的相位误差。

步骤(6)：评估机载复杂构型下反射区域分别贴附吸波材料对方向图平坦度的影响，评估吸波材料贴附区域，具体为：

分析幅度方向图的振幅大小，若某电磁波反射区域贴附吸波材料后对幅度方向图的振幅大小变化较大，则该区域的吸波材料影响天线正常工作，无法贴附吸波材料；分析相位方向图产生“抖动”的辐射角度，若某电磁波反射区域贴附吸波材料后能够改善3dB波束辐射角度内的方向图平坦度，则该电磁波反射区域贴附吸波材后对多径效应抑制较大，多径效应抑制强弱根据相位误差判断，若某电磁波反射区域帖附吸波材料后能够改善的方向图副瓣辐射角度内的方向图平坦度，则该电磁波反射区域贴附吸波材后对多径效应抑制较小；分析相位误差结果，根据所有电磁波反射区域相位误差大小，量化所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料时对方向图平坦度影响。

步骤(7)：根据单区域贴附吸波材料后对方向图平坦度的影响大小对吸波材料进行拓扑排布及全波仿真计算，具体为：

根据对天线方向图有影响的所有电磁波反射区域分别贴附吸波材料时对天线收发信号强度的影响、相位方向图产生“抖动”的辐射角度、相位误差结果大小，在不影响天线收发信号强度的前提下，根据相位误差大小对吸波材料进行拓扑排布贴附及全波仿真，计算单天线的相位误差，计算两两天线之间的相位误差。

步骤(8)：对吸波材料进行拓扑排布后的仿真结果进行优选，并对优选结果进一步对吸波材料不同拓扑结构下迭代评估，确定最优贴附区域，具体为：

参照图6，对吸波材料进行拓扑排布后的仿真结果进行优选，并对优选结果进一步对吸波材料不同拓扑结构下迭代评估，确定最优贴附区域。相位误差小于5°最优吸波材料拓扑贴附区域，包括：天线罩背部圆弧段10、天线罩内侧整流段20、天线罩平直段30、天线背部50、天线罩正面四分之三及支架四分之一65和飞机桁架两侧80。

仿真结果分析：

参照图6，经过多径效应的抑制，相位误差从8.3559°减小到4.2915°，大幅度抑制了多径效应的影响，以及经过多径效应抑制后实际相位误差值，为飞机成像和测距提供了数据基础。

综上所述，以上仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1、确定机腹下方的桁架结构、天线罩、天线构型对单天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域；

步骤2、根据机腹下方的桁架结构参数、天线罩的电磁特性参数和天线的辐射性能参数建立全波电磁仿真模型；

步骤3、基于时域有限积分法全波仿真计算得到所有单天线的幅度方向图和相位方向图，包括：在理想模型下，无多径效应时，获取单天线的幅度方向图和相位方向图；在真实环境下，安装在机腹不同位置的单天线的幅度方向图和相位方向图；

步骤4、根据相位方向图，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出真实环境下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，最终得到天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

根据相位方向图，计算出真实环境下，两两天线相位方向图之间的差值，最终得到两两单天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

步骤5、对天线相位方向图有影响的电磁波反射区域分别贴附吸波材料，并分别进行全波仿真，基于全波仿真结果计算单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差；

其中，单天线的相位误差计算方法为：针对任意一个单天线，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出贴附吸波材料下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，最终得到天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

两两单天线之间的相位误差为：在其中一个反射区域贴附吸波材料下，计算两两天线相位方向图之间的差值，最终得到两两单天线相位方向图在3dB主瓣宽度内的相位误差；

步骤6、评估反射区域分别贴附吸波材料对方向图平坦度的影响，具体为：

针对某一反射区域贴附吸波材料的情况下，先分析单天线的幅度方向图的振幅大小，若贴附吸波材料后对幅度方向图的振幅变化超过设定值，则该反射区域的吸波材料影响天线正常工作，无法贴附吸波材料；

然后，根据所有反射区域相位误差大小，评估出各反射区域贴附吸波材料后对多径效应抑制效果；

步骤7、根据各反射区域贴附吸波材料后对多径效应抑制效果，选择对多径效应抑制大的一些反射区域进行贴附吸波材料，由此得到一个贴附吸波材料的拓扑排布，然后在该拓扑排布下进行全波仿真，最后计算单天线的相位误差和计算两两天线之间的相位误差；

步骤8、评估步骤7计算的单天线的相位误差和两两天线之间的相位误差是否满足设定指标，如果满足，当前拓扑排布即为最优贴附区域；

如果不满足，返回步骤7，重新选择反射区域进行贴附吸波材料，构成新的拓扑排布，再进行全波仿真并计算相位差，再按照步骤8的方法进行评估，如此迭代，直到满足设定指标。

2.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤4中，单天线的相位误差计算方法为：以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出真实环境下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对该相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，再计算拟合序列与相位误差序列差值，由此得到高次误差序列，计算高次误差序列中的最大值与最小值的差值，得到单天线的相位误差。

3.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤4中，两两天线之间的相位误差计算方法为：计算出真实环境下，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

4.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤5中，单天线的相位误差计算方法为：针对任意一个单天线，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，以理想模型下单天线的相位方向图为基准，计算出贴附吸波材料下相位方向图与单天线的相位方向图的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到单天线的相位误差。

5.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤5中，两两天线之间的相位误差为：天线集成安装桁架后，在其中一个反射区域贴附吸波材料下，计算出两两天线的3dB主瓣宽度内相位方向图之间的差值，即相位误差序列，对相位误差序列进行二阶多项式拟合，拟合的二阶多项式按采样点离散化得到拟合序列，计算拟合序列与相位误差序列差值得到高次误差序列，计算高次误差序列的最大值与最小值的差值得到两两天线之间的相位误差。

6.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤1中，所述反射区域包括机腹下方的桁架结构、天线罩、阵列天线构型对天线相位方向图有影响的所有电磁波反射区域。

7.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述全波电磁仿真模型包括：桁架结构的环境模型建立，天线罩电磁模型建立，各单天线辐射模型建立。

8.如权利要求1所述的一种用于机载成像雷达阵列天线的多径效应抑制方法，其特征在于，所述步骤8中，设定指标为相位误差小于5°。

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