CN113358994A - 晶闸管测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种晶闸管测试装置和方法。所述装置包括：多个晶闸管接口、多个电压表、通讯模块以及处理器。多个晶闸管接口用于接入多个待测晶闸管，并将多个待测晶闸管串联。电压表与待测晶闸管一一对应，用于测量每个待测晶闸管两端的电压值。通讯模块用于接收每个待测晶闸管两端的电压值。处理器用于根据每个待测晶闸管两端的电压值确定每个待测晶闸管是否正常。通过这样的装置可以一次对多个待测晶闸管进行测试，提高了晶闸管的测试效率。并且通过处理器根据每个待测晶闸管两端的电压值进行计算，从而能够迅速的判断每个待测晶闸管是否正常。提高了晶闸管的测试效率。

Description

晶闸管测试装置及方法

技术领域

本申请涉及直流输电技术领域，特别是涉及一种晶闸管测试装置及方法。

背景技术

随着直流输电技术的发展，换流阀的应用越来越广泛。换流阀是电压整流和逆变的核心器件，换流阀的基本结构为多级晶闸管的串联。在实际应用中，由于晶闸管的老化、元件性能的变化等因素，可能导致晶闸管的阻抗发生变化，使得换流阀中各个晶闸管的分压不均匀，分压较高的晶闸管承受较高电压，具有损坏的风险。因此，对晶闸管的均压状态进行测试十分重要。

传统技术中，采用万用表、电容桥等测试仪器逐个测量晶闸管两端的电压值，再基于采样的多个晶闸管两端的电压值计算晶闸管的均压分布值，从而确定每个晶闸管是否正常。

然而，实际中一个换流站内的晶闸管数量在2000只以上，使用传统技术无法迅速地确定晶闸管是否正常。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够迅速地确定晶闸管是否正常的晶闸管测试装置及方法。

一种晶闸管测试装置，所述装置包括：多个晶闸管接口，用于接入多个串联的待测晶闸管；多个电压表，与所述多个待测晶闸管一一对应；每个所述电压表具有两个输入端和一个输出端，所述两个输入端连接对应的待测晶闸管的阳极和阴极，用于测量对应的待测晶闸管的电压值；通讯模块，与所述多个电压表的输出端连接，用于接收所述多个待测晶闸管的电压值；处理器，与所述通讯模块连接，用于确定各个所述待测晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定所述目标晶闸管的电压值正常；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定所述目标晶闸管的电压值异常；其中，所述目标晶闸管为所述多个待测晶闸管的任意一个。

在其中一个实施例中，所述多个晶闸管接口为间隔排列在一条直线上的多个香蕉接口，每相邻两个所述香蕉接口插入同一个所述待测晶闸管的阳极和阴极。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：多个指示灯，与所述多个待测晶闸管一一对应，并与所述处理器连接，用于在对应的待测晶闸管的电压值正常时发出第一颜色光线，在对应的待测晶闸管的电压值异常时发出第二颜色光线。

在其中一个实施例中，所述多个指示灯与所述多个香蕉接口在一条直线上交替排列。

在其中一个实施例中，所述电压表为带有RS485通讯接口的数显电压表，所述通讯模块为RS485通讯模块。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：交流电源，用于提供交流电；单向AC/DC变换器，串联在所述交流电源和所述处理器之间，用于将所述交流电转换为直流电提供给所述处理器；变压器，串联在所述交流电源和所述多个待测晶闸管之间，用于将所述交流电的电压升高至所述多个待测晶闸管的工作电压。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：切换开关，串联在所述变压器和所述多个晶闸管接口之间，用于根据所述待测晶闸管的数量，控制变压器与所述多个晶闸管接口中的对应接口连接。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：控制开关，串联在所述交流电源和所述多个待测晶闸管之间，用于控制所述交流电源为所述多个待测晶闸管供电。

在其中一个实施例中，所述装置还包括：上位机，与所述处理器连接，用于存储所述多个待测晶闸管的测试结果。

一种晶闸管测试方法，所述方法包括：测量串联的多个待测晶闸管中各个待测晶闸管的电压值；确定各个所述待测晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定所述目标晶闸管的电压值正常；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定所述目标晶闸管的电压值异常；其中，所述目标晶闸管为所述多个待测晶闸管的任意一个。

上述晶闸管测试装置和方法，通过设置多个晶闸管接口，使得该装置能够一次接入多个晶闸管。通过设置与多个待测晶闸管一一对应的多个电压表，能够同时对多个串联的待测晶闸管两端的电压值进行采样，从而提高了晶闸管测试的效率。通过与多个电压表连接的通讯模块能够接收多个晶闸管两端的电压值。通过与通讯模块连接的处理器，能够确定各个晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值是否在设定范围内，若多个晶闸管中任意一个晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值在设定范围内，则确定这个晶闸管正常；若多个晶闸管中任意一个晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值在设定范围外，则确定这个晶闸管异常。通过判断每个待测晶闸管两端的电压值与待测晶闸管的平均电压值的比值是否在设定范围内，从而能够确定每个待测晶闸管是否正常。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中晶闸管测试装置的结构示意图；

图2为另一个实施例中晶闸管测试装置的结构示意图；

图3为一个实施例中晶闸管测试装置的面板布局示意图；

图4为一个实施例中晶闸管测试装置的示意图；

图5为一个实施例中晶闸管测试装置的内部结构示意图；

图6为一个实施例中晶闸管测试方法的流程示意图；

附图标记说明：10-多个晶闸管接口，11-第一接口，12-第二接口，20-电压表，30-通讯模块，40-处理器，50-指示灯，60-交流电源，70-单向AC/DC变换器，80-变压器，90-切换开关，100-控制开关，110-上位机，120-测试开关，1-电源插座，2-机箱外壳，3-转接端子。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件时，它可以是直接连接到另一个元件，或者通过居中元件连接另一个元件。此外，以下实施例中的“连接”，如果被连接的对象之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。

正如背景技术所述，现有技术中的晶闸管测试装置存在测试效率低，无法迅速确定晶闸管是否正常的问题。经发明人研究发现，出现这种问题的原因在于，实际中每个晶闸管级一般包含5-6个晶闸管，现有技术的方案对晶闸管进行逐个的测量，采样了晶闸管的电压值之后，再进行计算，从而确定晶闸管是否正常。这种逐个测量的方式采样效率低，而且需要采样后再进行计算，从而无法迅速的确定晶闸管是否正常。

基于以上原因，本发明提供了一种晶闸管测试装置和方法。一方面，可以同时接入多个待测晶闸管进行测试，提高了测试的效率。另一方面，能够根据每个待测晶闸管两端的电压值，确定每个晶闸管两端的电压值是否在正常范围内，从而能够确定每个待测晶闸管是否正常。从而，能够迅速的确定多个待测晶闸管是否正常。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种晶闸管测试装置，该装置包括：多个晶闸管接口10、多个电压表20、通讯模块30以及处理器40。多个晶闸管接口10，用于接入多个串联的待测晶闸管。多个电压表20，与多个待测晶闸管一一对应。每个电压表20具有两个输入端和一个输出端，两个输入端连接对应的待测晶闸管的阳极和阴极，用于测量对应的待测晶闸管的电压值。通讯模块30，与多个电压表20的输出端连接，用于接收多个待测晶闸管的电压值。处理器40，与通讯模块30连接，用于确定各个待测晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内。若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定目标晶闸管的电压值正常。若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定目标晶闸管的电压值异常。其中，目标晶闸管为多个待测晶闸管的任意一个。

示例性地，多个晶闸管接口10为七个晶闸管接口，最多可同时接入六个待测晶闸管。

示例性地，设定范围为0.95到1.05；使用如下公式确定目标晶闸管是否正常：

其中，U_i为目标晶闸管两端的电压值，

为所有待测晶闸管两端的电压值之和，n为待测晶闸管的数目。

示例性地，处理器40可以为中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

在本实施例中，通过设置多个晶闸管接口，使得该装置能够一次接入多个晶闸管。通过设置与多个待测晶闸管一一对应的多个电压表，能够同时对多个串联的待测晶闸管两端的电压值进行采样，从而提高了晶闸管测试的效率。通过与多个电压表连接的通讯模块能够接收多个晶闸管两端的电压值。通过与通讯模块连接的处理器，能够根据多个晶闸管两端的电压值来确定，各个晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值，是否在设定范围内，若目标晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值在设定范围内，则确定目标晶闸管正常；若目标晶闸管两端的电压值与多个晶闸管两端的电压值的平均值的比值在设定范围外，则确定目标晶闸管异常；目标晶闸管为多个晶闸管中的任意一个。通过该装置，可以同时接入多个待测晶闸管进行测试，提高了测试的效率。并且通过判断每个待测晶闸管两端的电压值与待测晶闸管的平均电压值的比值是否在设定范围内，从而能够确定每个待测晶闸管是否正常。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种晶闸管测试装置，该装置包括多个指示灯50。多个指示灯50与多个待测晶闸管一一对应，并与处理器40连接，用于在对应的待测晶闸管的电压值正常时发出第一颜色光线，在对应的待测晶闸管的电压值异常时发出第二颜色光线。

示例性地，指示灯50为双色指示灯，第一颜色光线为绿光，第二颜色光线为红光。

在本实施例中，通过设置与多个待测晶闸管一一对应的指示灯，指示灯与处理器连接，当处理器的运算结果确定目标晶闸管正常时，控制与目标晶闸管对应的指示灯发出绿光；当处理器的运算结果确定目标晶闸管异常时，控制与目标晶闸管对应的指示灯发出红光；目标晶闸管为待测晶闸管中的任意一个。从而能够使用户直观方便的确定目标晶闸管是否正常。

在一个实施例中，如图2所示，晶闸管测试装置还包括交流电源60、单向AC/DC变换器70以及变压器80。交流电源60，用于提供交流电。单向AC/DC变换器70，串联在交流电源60和处理器40之间，用于将交流电转换为直流电提供给处理器40。变压器80，串联在交流电源60和多个待测晶闸管之间，用于将交流电的电压升高至多个待测晶闸管的工作电压。

示例性地，交流电源60提供220V交流市电。

示例性地，单向AC/DC变换器70为220V交流电转24V直流电的单向AC/DC变换器70。

示例性地，变压器80为220V转600V交流变压器。

在本实施例中，通过交流电源为晶闸管测试装置供电，通过单向AC/DC变换器将交流电源的输出转换为适用处理器的直流工作电压，通过变压器将交流电源的输出转换为适用于待测晶闸管的测试电压。通过对交流电源的输出进行转换，使其满足该装置中各个部分所需的电压。

在一个实施例中，如图2所示，晶闸管测试装置还包括切换开关90。切换开关90，串联在变压器80和多个晶闸管接口10之间，用于根据待测晶闸管的数量，控制变压器80与多个晶闸管接口10中的对应接口连接。

示例性地，切换开关90为单刀多掷开关，用于根据实际接入的待测晶闸管的级数，切换变压器80的一端与对应的晶闸管接口10连接。

例如，如图2所示，七个晶闸管接口11、12、13、14、15、16、17依次排成一列。如果接入的待测晶闸管级数为一，即只有一个待测晶闸管接入时，切换开关90与晶闸管接口12连接，此时晶闸管接口11、12接入电路中，晶闸管接口13、14、15、16、17未接入电路中。如果接入的待测晶闸管的级数为六，即有六个待测晶闸管时，切换开关90与晶闸管接口17连接，此时晶闸管接口11、12、13、14、15、16、17都接入电路中。

在一个实施例中，电压表20为带有RS485通讯接口的数显电压表，通讯模块30为RS485通讯模块。

在本实施例中，电压表采用带有RS485通讯接口的数显电压表，从而每个电压表可以将自己采样的对应的待测晶闸管的电压值通过RS485通讯接口进行发送。通讯模块采用RS485通讯模块，从而可以接收电压表通过RS485通讯接口发送出的电压信息。通过这样的装置，通过RS485通讯将采样的电压值进行传输，从而无需人工对每个电压表的数据进行记录，减小了人工的工作量，提高了测试的效率。

在一个实施例中，如图2所示，晶闸管测试装置还包括控制开关100。控制开关100，串联在交流电源60和多个待测晶闸管之间，用于控制交流电源60为多个待测晶闸管供电。

示例性地，控制开关100可以为单刀开关或者继电器开关。

在本实施例中，通过设置控制开关，使得用户可以控制晶闸管测试装置是否进行工作。

在一个实施例中，如图2所示，晶闸管测试装置还包括上位机110。上位机110，与处理器40连接，用于存储多个待测晶闸管的测试结果。

示例性的，上位机110与处理器40之间通过RJ45接口进行连接。

在本实施例中，通过上位机与处理器连接，接收处理器中计算的每个待测晶闸管的测试结果，并记录测试结果。方便管理者查看。

在一个实施例中，如图2所示，晶闸管测试装置还包括测试开关120。测试开关120串联在交流电源60和单向AC/DC变换器70之间，用于控制交流电源60为处理器40供电。

示例性地，测试开关120可以为单刀开关或者继电器开关。

在本实施例中，通过设置测试开关，使得用户可以控制电源是否为处理器进行供电，从而可以控制是否开始对晶闸管进行测试。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种晶闸管测试装置的面板布局示意图。图中最上面一排的七个较小的圆形代表七个晶闸管接口10，最上面一排六个较大的圆形代表六个指示灯50。第二排为待测晶闸管的示意连接方式，代表接入待测晶闸管时按照图示方式与对应的晶闸管接口10连接。第三排的六个矩形代表六个电压表20，左下方的圆形代表控制开关100，中间的圆形代表切换开关90，右边的圆形代表测试开关120。

示例性地，多个晶闸管接口10为间隔排列在一条直线上的多个香蕉接口，每相邻两个香蕉接口插入同一个待测晶闸管的阳极和阴极。

示例性地，多个指示灯50与多个香蕉接口在一条直线上交替排列。

在本实施例中，通过将晶闸管接口、指示灯、电压表、测试开关、切换开关以及控制开关按照这样的面板布局进行布置。使得用户可以方便的使用晶闸管测试装置，也可以直观的看到晶闸管的测试结果。

在一个实施例中，如图4所示，提供了一种晶闸管测试装置的示意图。图中最上面一排的七个较小的圆形代表七个晶闸管接口10。最上面一排的六个较大的圆形代表六个指示灯50。中间一排的六个矩形代表六个电压表20。左下方的圆形代表控制开关100，中间的圆形代表切换开关90，右边的圆形代表测试开关120。

在本实施例中，通过这样的设计，将操控设备和显示设备都集成布置在该装置的机箱前面板上，使用户能够方便的进行操作以及直观的看到测试结果。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种晶闸管测试装置的内部结构示意图。晶闸管测试装置包括电源插座1、处理器40、交流电源60、变压器80、机箱外壳2、控制开关100以及转接端子3。电源插座1设置在机箱外壳2的内壁上，处理器40、交流电源60、变压器80、转接端子3设置在机箱外壳2内，控制开关100设置在机箱外壳2上。电源插座1与交流电源60连接，交流电源60与处理器40连接，交流电源60通过控制开关100与变压器80连接。

示例性地，控制开关100为接触器。

示例性地，转接端子3为RJ45转接端子。

在本实施例中，采用如图5所示的结构对晶闸管测试装置的内部电气元件进行布局，使装置体积较小，方便内部的走线。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种晶闸管测试方法，该方法包括：

步骤S100，测量串联的多个待测晶闸管中各个待测晶闸管的电压值。

步骤S110，确定各个待测晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内。

步骤S120，若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定目标晶闸管的电压值正常。

步骤S130，若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定目标晶闸管的电压值异常。

示例性地，所述目标晶闸管为所述多个待测晶闸管的任意一个。

在本实施例中，通过测量多个待测晶闸管中的各个待测晶闸管两端的电压值，然后根据各个待测晶闸管两端的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值的比值，来判断各个待测晶闸管是否正常。若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值的比值在设定范围内，则判定目标晶闸管正常；若目标晶闸管的电压值与多个待测晶闸管的电压平均值的比值在设定范围外，则判定目标晶闸管异常。从而可以判断每个待测晶闸管是否正常。

应该理解的是，虽然图4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图4中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种晶闸管测试装置，其特征在于，所述装置包括：

多个晶闸管接口(10)，用于接入多个串联的待测晶闸管；

多个电压表(20)，与所述多个待测晶闸管一一对应；每个所述电压表(20)具有两个输入端和一个输出端，所述两个输入端连接对应的待测晶闸管的阳极和阴极，用于测量对应的待测晶闸管的电压值；

通讯模块(30)，与所述多个电压表(20)的输出端连接，用于接收所述多个待测晶闸管的电压值；

处理器(40)，与所述通讯模块(30)连接，用于确定各个所述待测晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定所述目标晶闸管的电压值正常；若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定所述目标晶闸管的电压值异常；其中，所述目标晶闸管为所述多个待测晶闸管的任意一个。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多个晶闸管接口(10)为间隔排列在一条直线上的多个香蕉接口，每相邻两个所述香蕉接口插入同一个所述待测晶闸管的阳极和阴极。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

多个指示灯(50)，与所述多个待测晶闸管一一对应，并与所述处理器(40)连接，用于在对应的待测晶闸管的电压值正常时发出第一颜色光线，在对应的待测晶闸管的电压值异常时发出第二颜色光线。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述多个指示灯(50)与所述多个香蕉接口在所述直线上交替排列。

5.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述电压表(20)为带有RS485通讯接口的数显电压表，所述通讯模块(30)为RS485通讯模块。

6.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

交流电源(60)，用于提供交流电；

单向AC/DC变换器(70)，串联在所述交流电源(60)和所述处理器(40)之间，用于将所述交流电转换为直流电；

变压器(80)，串联在所述交流电源(60)和所述多个待测晶闸管之间，用于将所述交流电的电压升高至所述多个待测晶闸管的工作电压。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

切换开关(90)，串联在所述变压器(80)和所述多个晶闸管接口(10)之间，用于根据所述待测晶闸管的数量，控制变压器(80)与所述多个晶闸管接口(10)中的对应接口连接。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

控制开关(100)，串联在所述交流电源(60)和所述多个待测晶闸管之间，用于控制所述交流电源(60)为所述多个待测晶闸管供电。

9.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

上位机(110)，与所述处理器(40)连接，用于存储所述多个待测晶闸管的测试结果。

10.一种晶闸管测试方法，其特征在于，所述方法包括：

测量串联的多个待测晶闸管中各个待测晶闸管的电压值；

确定各个所述待测晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比是否在设定范围内；

若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围内，则确定所述目标晶闸管的电压值正常；

若目标晶闸管的电压值与所述多个待测晶闸管的电压平均值之比在设定范围外，则确定所述目标晶闸管的电压值异常；

其中，所述目标晶闸管为所述多个待测晶闸管的任意一个。

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