CN113282476A - 接口性能测试方法、装置和电子设备 - Google Patents

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CN113282476A CN202110703800.XA CN202110703800A CN113282476A CN 113282476 A CN113282476 A CN 113282476A CN 202110703800 A CN202110703800 A CN 202110703800A CN 113282476 A CN113282476 A CN 113282476A
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Abstract

本发明实施例公开了一种接口性能测试方法、装置和电子设备。所述方法包括:接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。

Description

接口性能测试方法、装置和电子设备
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,具体涉及一种接口性能测试方法、装置和电子设备。
背景技术
接口能力边界测试是评估软件能力的一项重要指标。一般情况下需要借助测试工具进行反复摸索压测以确定接口能力边界值。目前的测试方式,通常需要测试人员手工编写、运行测试脚本,由于测试人员的经验、技术能力存在较大差异,使得接口性能测试的门槛较高。另外,测试接口能力边界是个盲测摸索的过程,需要反复修改参数发起测试请求,直至找到接口性能承载拐点,测试效率低下且容易出现操作错误,甚至无法完成预期的性能测试。
发明内容
为解决现有存在的技术问题,本申请的一些实施例提供一种接口性能测试方法、装置和电子设备。
为达到上述目的,本申请的一些实施例的技术方案是这样实现的:
本申请的一些实施例提供了一种接口性能测试方法,所述方法包括:
接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
上述方案中,所述方法还包括:
确定用例模板,根据所述用例模板接收用户输入的接口性能测试过程所需要的测试信息;
基于所述用例模板和所述测试信息生成接口性能测试用例,通过用户界面显示所述接口性能测试用例对应的接口性能测试用例选项。
上述方案中,所述测试信息至少包括配置参数和用例参数;
所述配置参数包括:测试服务器互联网协议(IP,Internet Protocol)地址、端口标识、每秒请求参数、运行时长和表征接口性能的参数;
所述用例参数包括:在用户界面显示的测试选项名称、请求的应用程序编程接口(API,Application Programming Interface)和请求体(body)信息;
所述基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,包括:
基于所述多组配置用例参数更新所述第一接口性能测试用例中的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数,基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
上述方案中,所述基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,包括:
对参数更新后的所述第一接口性能测试用例进行用例渲染,通过执行运行命令运行用例渲染后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
上述方案中,所述获得接口性能测试结果,包括:
获得超文本标记语言(HTML,Hyper Text Markup Language)编写的接口性能测试报告,所述接口性能测试报告中包括所述多组配置用例参数分别对应的接口性能测试结果。
上述方案中,所述接口性能测试报告中包括接口能力的边界值。
上述方案中,所述方法还包括:
通过所述用户界面显示所述接口性能测试结果。
本申请的一些实施例还提供了一种接口性能测试装置,所述装置包括:接收单元、第一确定单元和测试单元;其中,
所述接收单元,用于接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
所述第一确定单元,用于基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
所述测试单元,用于基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
本申请的一些实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本申请的一些实施例所述方法的步骤。
本申请的一些实施例还提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现本申请的一些实施例所述方法的步骤。
本申请的一些实施例提供的接口性能测试方法、装置和电子设备,所述方法包括:接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。采用本申请的一些实施例的技术方案,通过用户界面展示接口性能测试用例选项,操作者仅需要选择所需要的接口性能测试用例选项,并进行简单的配置用例参数的配置便可实现接口性能测试,使操作者无需了解测试工具的具体使用方式,快速上手操作,降低测试执行的难度,也降低了的操作者的门槛;另外,通过一次配置多组配置用例参数,便可自动运行接口性能测试用例,从而获得各组配置用例参数对应的接口性能测试结果,无需反复多次修改参数再运行接口性能测试用例,有效的提高了接口测试的效率,且降低了因反复修改参数导致出现操作错误的可能性。
附图说明
图1为本申请的一些实施例的接口性能测试方法的流程示意图;
图2为本申请的另一些实施例的接口性能测试方法的流程示意图;
图3为本申请的一些实施例的接口性能测试方法中的接口能力边界曲线示意图;
图4为本申请的一些实施例的接口性能测试装置的组成结构示意图一;
图5为本申请的一些实施例的接口性能测试装置的组成结构示意图二;
图6为本申请的一些实施例的电子设备的硬件组成结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细的说明。
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请。
本文中术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外,本文中的“多”表示两个或者多于两个。
本申请的一些实施例提供了一种接口性能测试方法。图1为本申请的一些实施例的接口性能测试方法的流程示意图;如图1所示,所述方法包括:
步骤101:接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
步骤102:基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
步骤103:基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
本实施例的接口性能测试方法应用于接口性能测试装置中,接口性能测试装置可设置于个人计算机、服务器等具有处理功能的电子设备内,或者由处理器执行计算机程序实现。以下以电子设备作为执行主体为例进行说明。
本申请的各实施例中,接口性能测试用例(简称测试用例)是为指定目标而编写的一组测试信息,以便测试某个程序或软件的路径或测试是否满足某个指定需求,体现测试方案、方法、技术和策略。示例性的,测试用例的内容可包括测试目标、测试环境、输入数据、测试步骤、预期结果、测试脚本等,最终形成测试用例(或测试用例文件)。简单来说,测试用例是为某个特殊目标而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果。
本实施例中,电子设备可接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息,所述测试信息用于确定待进行接口测试的第一接口性能测试用例以及与测试相关的配置用例参数等信息,也即本实施例中可通过用户界面显示的各个接口性能测试用例选项,通过接收用户操作确定选择哪个接口性能测试用例,以及针对待进行的测试任务进行相关配置用例参数的配置。
可选的,针对已编写完成的接口性能测试用例,通过用户界面显示各接口性能测试用例对应的接口性能测试用例选项,用户可根据测试需求通过操作选择对应的接口性能测试用例选项,进而根据选择的接口性能测试用例选项确定接口性能测试用例。示例性的,所述用户界面可以是网页(web)页面或用户界面(UI,User Interface)。
可选地,电子设备还可以通过用户界面显示各接口性能测试用例对应的测试选项名称,用户(例如操作人员或测试人员)可直接根据测试选项名称确定对应的接口性能测试用例的类型或功能,从而便于用户可直接根据用户界面上显示的各测试选项名称选择所需要的接口性能测试用例。
示例性的,电子设备可通过用户界面显示多个接口性能测试用例选项,每个接口性能测试用例选项包括测试选项名称以及对应的选项位或操作位;每个选项位或操作位可接收用户的操作,从而电子设备可根据操作确定对应的选项位或操作位被选中或未选中;若某个选项位或操作位被选中,则可确定该选项位或操作位对应的接口性能测试用例选项,即用户选定该选项位或操作位对应的接口性能测试用例选项(即第一接口性能测试用例选项),也即待测试的接口性能测试用例是选定的第一接口性能测试用例选项对应的接口性能测试用例。
本实施例中,用户还可通过电子设备的用户界面配置用于进行接口性能测试的多组配置用例参数。示例性的,在用户选定第一接口性能测试用例选项(也即确定待测试的第一接口性能测试用例选项)后,电子设备可在用户界面上显示对应的参数配置位,参数配置位可接收用户的操作,从而电子设备可根据用户的操作确定待测试的配置用例参数;其中,所述配置用例参数包括配置参数和/或用例参数中的至少一种参数。所述配置参数包括:测试服务器IP地址、端口标识、每秒请求参数、运行时长和表征接口性能的参数;所述用例参数包括:在用户界面显示的测试选项名称、请求的API和请求体(body)信息;则通过用户对各参数配置位的操作,可配置上述至少一种配置参数和/或用例参数,例如,配置用例参数中的在用户界面显示的测试选项名称,又例如,配置测试服务器IP地址、端口标识以及表征接口性能的参数等配置参数等等。
其中,所述表征接口性能的参数能够表示接口的性能;可选地,所述多组配置用例参数至少包括多组表征接口性能的参数,从而通过配置多组表征接口性能的参数对接口性能的边界值进行测量。
示例性的,用户可同时配置多组表征接口性能的参数,两组表征接口性能的参数之间以逗号隔开,以表征接口性能的参数为线程数(thread_num)为例,则可配置为(25,30,35,40,45)。电子设备可基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,具体将多组配置用例参数更新到第一接口性能测试用例中,从而在运行第一接口性能测试用例过程中,可依次按照每组配置用例参数执行对应的程序,得到每组配置用例参数对应的接口性能测试结果。对用户而言,通过用户界面确定第一接口性能测试用例选项,再配置相应的多组配置用例参数后,操作“运行”按键,即可通过一键操作,进行接口性能测试,这样无需用户反复多次修改参数,有效的提高了测试效率,且降低了因反复修改参数导致出现操作错误的可能性。
采用本申请一些实施例的技术方案,一方面,通过用户界面展示接口性能测试用例选项,操作者仅需要选择所需要的接口性能测试用例选项,并进行简单的配置用例参数的配置便可实现接口性能测试,使操作者无需了解测试工具的具体使用方式,快速上手操作,降低测试执行的难度,也降低了的操作者的门槛;另一方面,通过一次配置多组配置用例参数,便可自动运行接口性能测试用例,从而获得各组配置用例参数对应的接口性能测试结果,无需反复多次修改参数再运行接口性能测试用例,有效的提高了接口测试的效率,且降低了因反复修改参数导致出现操作错误的可能性。
基于前述实施例,本申请的一些实施例还提供了一种接口性能测试方法。图2为本申请的另一些实施例的接口性能测试方法的流程示意图;如图2所示在步骤101之前,所述方法包括:
步骤104:确定用例模板,根据所述用例模板接收用户输入的接口性能测试过程所需要的测试信息;
步骤105:基于所述用例模板和所述测试信息生成接口性能测试用例,通过用户界面显示所述接口性能测试用例对应的接口性能测试用例选项。
本实施例中,若用户通过用户界面显示的各接口性能测试用例选项,发现没有所需要的接口性能测试用例,则需要根据用例模板编写所需要的接口性能测试用例,也即本实施例适用于当前不存在用户所需的接口性能测试用例的场景。
本实施例中,电子设备中预先存储有一个或多个用例模板,多个用例模板可针对不同的测试类型或测试用途。每个用例模板中包括已编写好的执行相应测试的主体逻辑,用户仅需要编写相应的测试信息即可,进而将测试信息更新至用例模板中,得到接口性能测试用例。
在一些可选实施例中,所述测试信息至少包括配置参数和用例参数;其中,
所述配置参数包括:测试服务器IP地址、端口(port)标识、每秒请求参数(QPS,Queries Per Second)、运行时长(duration)(或者也可称为运行持续时长)和表征接口性能的参数;所述用例参数包括:在用户界面显示的测试选项名称、请求的API和请求体(body)信息。
可选地,所述测试信息还可包括:前置操作信息和断言信息;其中,所述前置操作信息又可称为设置(setup)前置操作信息,表征在通过接口发出接口性能测试请求前、需要执行的操作信息;所述断言信息表征接口性能测试过程中的测试响应相关信息。
其中,所述断言(assert)信息表征接口性能测试过程中期望的测试响应相关信息,也可以认为,用于检查接口测试过程中的响应数据是否符合预期。例如,断言信息中记载的响应代码为200,若接口性能测试过程中接收到的响应代码为200,通过校验发现接收到的响应代码与期望的响应代码一致,则表明响应正确;若接口性能测试过程中接收到的响应代码为300,通过校验发现接收到的响应代码与期望的响应代码不一致,则表明响应错误。
示例性的,用户可通过用例模板编辑界面配置上述测试信息。例如,用户通过操作选定所需要的用例模板,打开该用例模板,在用例模板编辑界面上配置上述测试信息。上述配置的测试信息可如下代码所示:
Figure BDA0003131334050000081
上述代码包括三部分内容,第一部分内容是关于配置参数(“config”部分)和用例参数(“case”部分)的相关内容,第二部分是前置操作信息(“setup(case_info)”部分)的相关内容,第三部分是断言信息(“assert_r(r)”)的相关内容。如上述代码的示例所示,前置操作信息具体可以是读取图像“image”并保存为base64格式,对图像进行特征提取,获得图像中包含的“config”参数以及路径信息。
通过上述代码可见,本实施例中在用例模板的基础上进行测试信息的编写,用户仅需要编写简单的测试信息,例如配置参数、用例参数、前置操作信息和断言信息等等,无需编写完整的接口性能测试用例代码,对于接口性能测试经验不足的测试人员来说也可以快速的完整接口性能测试工作。
在本申请的一些可选实施例中,步骤103可包括:基于所述多组配置用例参数更新所述第一接口性能测试用例中的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数,基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
本实施例中,电子设备通过测试工具执行上述步骤103的操作。示例性的,所述测试工具可以是Apache Jmeter测试工具,Apache Jmeter测试工具是Apache组织开发的基于Java的压力测试工具。当然本申请的一些实施例不限于采用上述Jmeter测试工具,其他的测试工具也可在本申请的一些实施例的保护范围之内。
本实施例中,将第一接口性能测试用例导入测试工具中,通过测试工具对第一接口性能测试用例的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数更新为所述多组配置用例参数。需要说明的是,所述多组配置用例参数中的参数种类可以是配置参数和/或用例参数中的至少一种,则测试工具可按照所述多组配置用例参数的种类对第一接口性能测试用例中的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数进行更新,例如,所述多组配置用例参数中仅包括多组表征接口性能的参数,则通过测试工具可将所述第一接口性能测试用例中的配置参数中的表征接口性能的参数更新为通过用户界面配置的所述多组表征接口性能的参数,进而再基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
在一些可选实施例中,所述基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,包括:对参数更新后的所述第一接口性能测试用例进行用例渲染,通过执行运行命令运行用例渲染后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
本实施例中,通过测试工具对第一接口性能测试用例的参数进行更新后,再基于所述第一接口性能测试用例中的前置操作信息执行对应的前置操作,如执行如前述代码示例中的setup前置操作。前置操作执行完成后,对参数更新后的所述第一接口性能测试用例进行用例渲染,得到测试工具能够识别的文件。示例性的,以测试工具为Jmeter为例,则渲染后的第一接口性能测试用例的文件格式为jmx,例如文件名为xxx,则渲染后的第一接口性能测试用例可记为“xxx.jmx”,也即渲染后的第一接口性能测试用例也可称为jmx文件。
本实施例中,通过测试工具对第一接口性能测试用例进行用例渲染,参照以下表1所示。
表1
Figure BDA0003131334050000101
可选地,所述方法还包括:对渲染后的第一接口性能测试用例(又可以称为jmx文件)进行文件持久化处理。其中,所述文件持久化处理是指将文件或数据保存到可永久保存的存储设备中,本实施例中也即将渲染后的第一接口性能测试用例(或jmx文件)保存到电子设备的存储区域中,以便于再下次进行相关的接口性能测试时,可直接通过测试工具从电子设备的存储区域中读取渲染后第一接口性能测试用例。
本实施例中,电子设备通过测试工具对渲染后的第一接口性能测试用例进行运行,具体可通过执行运行命令运行渲染后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。示例性的,以测试工具为Jmeter为例,则所述运行命令例如可以是Jmeter-cmd命令,通过运行Jmeter-cmd命令,执行渲染后的所述第一接口性能测试用例,接口性能测试开始。
在本申请的一些可选实施例中,所述获得接口性能测试结果,包括:获得HTML编写的接口性能测试报告,所述接口性能测试报告中包括所述多组配置用例参数分别对应的接口性能测试结果。
在本申请的一些可选实施例中,所述方法还包括:通过所述用户界面显示所述接口性能测试结果。
本实施例中,电子设备通过测试工具获得多组配置用例参数分别对应的接口性能测试结果并形成接口性能测试报告,本实施例的接口性能测试报告为HTML格式的测试报告,可永久化的保存并展示在用户界面(如web界面)上,方便其他人查询以及后续追溯。可选地,测试过程中产生的数据、执行日志等也可展示在用户界面(如web界面)上,方便其他人查询以及后续追溯。
可选地,所述接口性能测试报告中包括接口能力的边界值。
本实施例中,电子设备可根据每组配置用例参数对应的接口性能测试结果进行分析,确定接口能力的边界值,通过接口性能测试报告显示改接口能力的边界值。示例性的,本实施例中的接口性能测试报告可通过图形的方式显示接口能力,进而从图形中直接显示接口能力的边界值。
如图3所示,浅灰色线条代表99分位响应时间曲线,深灰色线条代表qps增长曲线。纵坐标0-1400表示99分位响应时间(99%-line响应时间),单位为毫秒(ms),纵坐标0-400表示QPS*batch,batch可表示批量请求数量。从图中可以看到99分位响应时间曲线的拐点在线程数35处,也即接口能力的边界值为线程数35*batch。
基于前述实施例,本申请的一些实施例还提供了一种接口性能测试装置。图4为本申请的一些实施例的接口性能测试装置的组成结构示意图一;如图4所示,所述装置包括:接收单元21、第一确定单元22和测试单元23;其中,
所述接收单元21,用于接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
所述第一确定单元22,用于基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
所述测试单元23,用于基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
在本申请的一些可选实施例中,如图5所示,所述装置还包括:第二确定单元24、用例生成单元25和显示单元26;其中,
所述第二确定单元24,用于确定用例模板;
所述接收单元21,还用于根据所述用例模板接收用户输入的接口性能测试过程所需要的测试信息;
所述用例生成单元25,用于基于所述用例模板和所述测试信息生成接口性能测试用例;
所述显示单元26,用于通过用户界面显示所述接口性能测试用例对应的接口性能测试用例选项。
在本申请的一些可选实施例中,所述测试信息至少包括配置参数和用例参数;
所述配置参数包括:测试服务器IP地址、端口标识、每秒请求参数、运行时长和表征接口性能的参数;
所述用例参数包括:在用户界面显示的测试选项名称、请求的API和请求体(body)信息;
所述测试单元23,用于基于所述多组配置用例参数更新所述第一接口性能测试用例中的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数,基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
在本申请的一些可选实施例中,所述测试单元23,用于对参数更新后的所述第一接口性能测试用例进行用例渲染,通过执行运行命令运行用例渲染后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
在本申请的一些可选实施例中,所述测试单元23,用于获得HTML编写的接口性能测试报告,所述接口性能测试报告中包括所述多组配置用例参数分别对应的接口性能测试结果。
在本申请的一些可选实施例中,所述接口性能测试报告中包括接口能力的边界值。
在本申请的一些可选实施例中,所述显示单元26,用于通过所述用户界面显示所述接口性能测试结果。
本申请的一些实施例中,所述接口性能测试装置应用于电子设备中。所述装置中的第一确定单元22、测试单元23、第二确定单元24和用例生成单元25,在实际应用中均可由中央处理器(CPU,Central Processing Unit)、数字信号处理器(DSP,Digital SignalProcessor)、微控制单元(MCU,Microcontroller Unit)或可编程门阵列(FPGA,Field-Programmable Gate Array)结合通信接口实现;所述装置中的接收单元21,在实际应用中可由例如键盘、鼠标、触感板或者触摸屏实现;所述装置中的显示单元26,在实际应用中可由如显示屏或显示器实现。
需要说明的是:上述实施例提供的接口性能测试装置在进行接口性能测试时,仅以上述各程序模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述处理分配由不同的程序模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的程序模块,以完成以上描述的全部或者部分处理。另外,上述实施例提供的接口性能测试装置与接口性能测试方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
本申请的一些实施例还提供了一种电子设备。图6为本申请的一些实施例的电子设备的硬件组成结构示意图,如图6所示,所述电子设备包括存储器32、处理器31及存储在存储器32上并可在处理器31上运行的计算机程序,所述处理器31执行所述程序时实现本申请的一些实施例所述接口性能测试方法的步骤。
可选地,所述电子设备中还包括一个或多个网络接口34和用户接口33。可以理解,电子设备中的各个组件通过总线系统35耦合在一起。可理解,总线系统35用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统35除包括数据总线之外,还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见,在图6中将各种总线都标为总线系统35。
其中,用户接口33可以包括显示器、键盘、鼠标、轨迹球、点击轮、按键、按钮、触感板或者触摸屏等。
可以理解,存储器32可以是易失性存储器或非易失性存储器,也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(ROM,Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM,Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM,Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM,Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM,ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM,Compact Disc Read-Only Memory);磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM,Random AccessMemory),其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明,许多形式的RAM可用,例如静态随机存取存储器(SRAM,Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM,Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM,Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM,SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM,Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM,Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM,SyncLink Dynamic Random Access Memory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM,Direct Rambus Random Access Memory)。本申请的一些实施例描述的存储器32旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
上述本申请的一些实施例揭示的方法可以应用于处理器31中,或者由处理器31实现。处理器31可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器31中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器31可以是通用处理器、DSP,或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器31可以实现或者执行本申请的一些实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请的一些实施例所公开的方法的步骤,可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中,该存储介质位于存储器32,处理器31读取存储器32中的信息,结合其硬件完成前述方法的步骤。
在示例性实施例中,电子设备可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit)、DSP、可编程逻辑器件(PLD,ProgrammableLogic Device)、复杂可编程逻辑器件(CPLD,Complex Programmable Logic Device)、FPGA、通用处理器、控制器、MCU、微处理器(Microprocessor)、或其他电子元件实现,用于执行前述方法。
在示例性实施例中,本申请的一些实施例还提供了一种计算机可读存储介质,例如包括计算机程序的存储器32,上述计算机程序可由电子设备的处理器31执行,以完成前述方法所述步骤。计算机可读存储介质可以是FRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FlashMemory、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM等存储器;也可以是包括上述存储器之一或任意组合的各种设备,如移动电话、计算机、平板设备、个人数字助理等。
本申请的一些实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本申请的一些实施例所述接口性能测试方法的步骤。
本申请所提供的几个方法实施例中所揭露的方法,在不冲突的情况下可以任意组合,得到新的方法实施例。
本申请所提供的几个产品实施例中所揭露的特征,在不冲突的情况下可以任意组合,得到新的产品实施例。
本申请所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征,在不冲突的情况下可以任意组合,得到新的方法实施例或设备实施例。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,如:多个单元或组件可以结合,或可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另外,所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口,设备或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,也可以分布到多个网络单元上;可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中,也可以是各单元分别单独作为一个单元,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中;上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
或者,本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的一些实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括:移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种接口性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:
接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定用例模板,根据所述用例模板接收用户输入的接口性能测试过程所需要的测试信息;
基于所述用例模板和所述测试信息生成接口性能测试用例,通过用户界面显示所述接口性能测试用例对应的接口性能测试用例选项。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试信息至少包括配置参数和用例参数;
所述配置参数包括:测试服务器互联网协议IP地址、端口标识、每秒请求参数、运行时长和表征接口性能的参数;
所述用例参数包括:在用户界面显示的测试选项名称、请求的应用程序编程接口API和请求体body信息;
所述基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,包括:
基于所述多组配置用例参数更新所述第一接口性能测试用例中的配置参数和/或用例参数中的至少一种参数,基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于参数更新后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,包括:
对参数更新后的所述第一接口性能测试用例进行用例渲染,通过执行运行命令运行用例渲染后的所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获得接口性能测试结果,包括:
获得超文本标记语言HTML编写的接口性能测试报告,所述接口性能测试报告中包括所述多组配置用例参数分别对应的接口性能测试结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述接口性能测试报告中包括接口能力的边界值。
7.根据权利要求1至6任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过所述用户界面显示所述接口性能测试结果。
8.一种接口性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:接收单元、第一确定单元和测试单元;其中,
所述接收单元,用于接收用户通过用户界面显示的一个或多个接口性能测试用例选项输入的测试信息;
所述第一确定单元,用于基于所述测试信息确定第一接口性能测试用例以及多组配置用例参数;
所述测试单元,用于基于所述多组配置用例参数和所述第一接口性能测试用例,进行接口性能测试,获得接口性能测试结果。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114666258A (zh) * 2022-03-22 2022-06-24 阿波罗智联(北京)科技有限公司 接口测试方法、装置、电子设备和介质

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107766190A (zh) * 2017-10-31 2018-03-06 平安科技(深圳)有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109783350A (zh) * 2018-12-13 2019-05-21 重庆金融资产交易所有限责任公司 接口测试方法、装置及计算机可读存储介质
CN109902003A (zh) * 2019-02-19 2019-06-18 阿里巴巴集团控股有限公司 测试脚本的生成方法及装置
CN110647462A (zh) * 2019-08-29 2020-01-03 凡普数字技术有限公司 接口测试方法、装置以及存储介质
CN110851361A (zh) * 2019-11-08 2020-02-28 拉扎斯网络科技(上海)有限公司 接口测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN111581083A (zh) * 2020-04-26 2020-08-25 北京字节跳动网络技术有限公司 一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN112241360A (zh) * 2019-07-19 2021-01-19 腾讯科技(深圳)有限公司 一种测试用例生成方法、装置、设备及存储介质
US10922216B1 (en) * 2019-10-15 2021-02-16 Oracle International Corporation Intelligent automation test workflow
CN112416746A (zh) * 2020-01-21 2021-02-26 上海哔哩哔哩科技有限公司 一种测试用例生成方法、装置、设备及介质
CN112559356A (zh) * 2020-12-18 2021-03-26 杭州兑吧网络科技有限公司 一种软件自动测试方法及其系统

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107766190A (zh) * 2017-10-31 2018-03-06 平安科技(深圳)有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109783350A (zh) * 2018-12-13 2019-05-21 重庆金融资产交易所有限责任公司 接口测试方法、装置及计算机可读存储介质
CN109902003A (zh) * 2019-02-19 2019-06-18 阿里巴巴集团控股有限公司 测试脚本的生成方法及装置
CN112241360A (zh) * 2019-07-19 2021-01-19 腾讯科技(深圳)有限公司 一种测试用例生成方法、装置、设备及存储介质
CN110647462A (zh) * 2019-08-29 2020-01-03 凡普数字技术有限公司 接口测试方法、装置以及存储介质
US10922216B1 (en) * 2019-10-15 2021-02-16 Oracle International Corporation Intelligent automation test workflow
CN110851361A (zh) * 2019-11-08 2020-02-28 拉扎斯网络科技(上海)有限公司 接口测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN112416746A (zh) * 2020-01-21 2021-02-26 上海哔哩哔哩科技有限公司 一种测试用例生成方法、装置、设备及介质
CN111581083A (zh) * 2020-04-26 2020-08-25 北京字节跳动网络技术有限公司 一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN112559356A (zh) * 2020-12-18 2021-03-26 杭州兑吧网络科技有限公司 一种软件自动测试方法及其系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114666258A (zh) * 2022-03-22 2022-06-24 阿波罗智联(北京)科技有限公司 接口测试方法、装置、电子设备和介质
CN114666258B (zh) * 2022-03-22 2023-11-07 阿波罗智联(北京)科技有限公司 接口测试方法、装置、电子设备和介质

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