CN113064526A - 应用于tddi芯片遇到小坑时触控面板tp的扫描方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long H Mode；S2、在该模式下，当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从而消除BASE差现象。

Description

应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法
技术领域
本发明触控与显示驱动器集成(TDDI)的技术领域，尤其涉及一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法。
背景技术
随着技术的发展与进步，Driver和Touch IC得到了极大的发展，现在的一些高端芯片会把触摸和显示做在一起。在亮屏模式，显示面板DP和触控面板TP都会给对方带来较大的干扰。因此，对于显示面板DP和触控面板TP来说，工作要错开对方的较大干扰点。
对于不同的面板，显示面板DP留给触控面板TP扫描的时间不同，有的比较长，够触控面板TP完成一次或多次扫描，有的则比较短，不够触控面板TP完成一次扫描。如果触控面板TP在坑外扫描(坑表示DP不工作时间段)，一方面会对显示面板DP的显示产生影响，另一方面，触控面板TP也会受到显示面板DP很大的干扰，导致整体SX(触控面板TP的扫描通道)的Rawdata朝着一个方向偏移，Rawdata表示触控面板TP正常扫描时读取的数据，产生BASE差，BASE表示触控面板TP在某一颜色画面下空扫时(无手指触摸)得到的Rawdata，BASE差表示触控面板TP在不同颜色下空扫得到的BASE之间的差异。不同颜色下BASE差不同，BASE差比较大时会导致软件无法设计。
亮屏模式，触控面板TP需要在显示面板DP不工作的时候进行扫描，因为这个时候显示面板DP对触控面板TP的干扰最小。显示面板DP不工作时间段有2种场景，一种是前后line之间有一段时间显示面板DP不工作，用信号H_Te表示，高电平表示显示面板DP工作，低电平表示显示面板DP不工作。H_Te低电平也被称之为“小坑”，在小坑内进行扫描是Long HMode。
另外一种显示面板DP不工作时间段是前后Frame之间，用信号V_Te表示，高电平表示显示面板DP工作，低电平表示显示面板DP不工作。V_Te低电平也被称之为“大坑”，在大坑内进行扫描是Long V Mode。
当小坑长度够触控面板TP完成一次性扫描时，如图1所示，图中Vsync是场信号，图中每个1line为一个场界，行同步信号Hsync信号上的灰色背景部分代表显示面板DP进行工作，白色背景部分表示显示面板DP不工作。Hsync是行信号，H_Te和V_Te分别是显示面板DP送给触控面板TP的Long H Mode和Long V Mode指示信号，P1是触控面板TP的CA电路充电信号，Adc_sh为触控面板TP的AD电路采样信号。触控面板TP处在Long H Mode，当检测到H_Te下降沿，触控面板TP开始扫描，P1为触控面板TP电路的CA进行充电，Adc_sh为AD的采样信号，一个小坑的长度够触控面板TP进行扫描一次，这种坑的长度无BASE差现象。
当小坑长度不够触控面板TP完成一次性扫描时，如图2所示，，触控面板TP处在Long H Mode，当检测到H_Te下降沿，触控面板TP开始扫描，一个小坑的长度不够触控面板TP扫描一次，Adc_sh落在坑外被显示面板DP信号干扰到，这种坑的长度存在BASE差现象。
传统的实现方案为了避免base差一般选择在Long V Mode，即在大坑内进行扫描，但是这种方案有一个弊端就是Long V Mode留给触控面板TP的扫描时间较少，无法满足特定的SNR以及报点率，所述SNR表示有效信号与噪声的比值。
发明内容
针对背景技术中的不足，为此，本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，具体方案如下：
应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：
S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long HMode；
S2、在该模式下，判断小坑长度是否够TP完成一次扫描，当小坑长度够TP完成一次扫描时，进入步骤S3，当长度不够TP完成一次扫描时采用2个坑够TP完成一次扫描，进入步骤S4；
S3、当检测到触控面板TP的扫描信号TP处在Long H Mode，当检测到H_Te下降沿，TP开始扫描，P1为TP电路的CA进行充电，Adc_sh为AD的采样信号；
S4、当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。
本发明的有益效果在于：基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从而消除BASE差现象。
附图说明
图1是中小坑长度够TP完成一次扫描。
图2是中小坑长度不够完成一次扫描。
图3是本方案中小坑长度不够完成一次扫描，采用2个坑扫描一次。
具体实施方式
参照图1-3所示，一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：
S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long HMode；
S2、在该模式下，判断小坑长度是否够TP完成一次扫描，当小坑长度够TP完成一次扫描时，进入步骤S3，当长度不够TP完成一次扫描时采用2个坑够TP完成一次扫描，进入步骤S4；
S3、当检测到触控面板TP的扫描信号TP处在Long H Mode，当检测到H_Te下降沿，TP开始扫描，P1为TP电路的CA进行充电，Adc_sh为AD的采样信号；
S4、当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。
在步骤S2前还包括对软件进行配置，所述软件为：
配置方式包括：
S21、软件配置寄存器使信号Long_h_mode＝1,使扫描模式处在第一扫描模式LongH Mode；
S22、软件配置P1的低电平长度和高电平长度，使P1低电平长度加上P1高电平长度大于H_Te周期长度；
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long HMode；
S2、在该模式下，判断小坑长度是否够TP完成一次扫描，当小坑长度够TP完成一次扫描时，进入步骤S3，当长度不够TP完成一次扫描时采用2个坑够TP完成一次扫描，进入步骤S4；
S3、当检测到触控面板TP的扫描信号TP处在Long H Mode，当检测到H_Te下降沿，TP开始扫描，P1为TP电路的CA进行充电，Adc_sh为AD的采样信号；
S4、当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。
2.根据权利要求1所述的应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，其特征在于，在步骤S2前还包括对软件进行配置，所述软件为：
配置方式包括：
S21、软件配置寄存器使信号Long_h_mode＝1,使扫描模式处在第一扫描模式Long HMode；
S22、软件配置P1的低电平长度和高电平长度，使P1低电平长度加上P1高电平长度大于H_Te周期长度。
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