CN113063455B - 探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质，其中，该探测器参数配置方法包括：获取探测器参数的多个第一参数值；根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线；根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。通过本申请，解决了相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，提高了医学成像扫描系统中探测器的参数配置效率，降低了探测器参数配置成本。

Description

探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质

技术领域

本申请涉及医疗设备技术领域，特别是涉及探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质。

背景技术

医学成像扫描系统一般由千个或万个基本的探测器感光元件构成，由于加工精度、生产批次等因素的影响，每个探测器元件的物理性能存在不可避免的波动。因此，在使用医学成像扫描系统之前，需要对医学成像扫描系统中的探测器参数配置进行统一化处理，通常情况下，依靠探测器元件本身物理性能的一致性对探测器参数进行配置。对于一致性较好的探测器元件，探测器参数可以满足医学成像扫描系统的基本工作需要，然而，探测器元件的物理性能不可避免地存在不一致，因此即使部分探测器元件存在继续优化调参的可能性，却无法进一步进行优化调整。

在相关技术中，通过人工对每个探测器的参数进行配置，使得每个探测器的物理性能达到最优，最终可以使整个医学成像扫描系统达到最佳物理性能。然而，基于人工实现探测器参数的配置，效率较低，时间成本较高。

目前针对相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质，以至少解决相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种探测器参数配置方法，包括：

获取探测器参数的多个第一参数值；

根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数。

在其中一些实施例中，所述根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线包括：

根据扫描数据获得与第一参数值对应的至少一个物理量，其中，所述物理量用于表征所述探测器的物理性能；

确定反映所述物理量与第一参数值对应关系的参数值曲线。

在其中一些实施例中，所述根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值包括：

根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；

根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值，其中，探测器在所述第二参数值处的物理量在预设范围内。

在其中一些实施例中，所述根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值。

在其中一些实施例中，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值之前，所述方法包括：

在所述曲线波动参数大于所述波动阈值的情况下，对所述第一参数值进行更新；

根据更新后的第一参数值进行扫描，并根据更新后的第一参数值及对应的扫描结果确定所述探测器参数的参数值曲线，直到所述曲线波动参数小于或者等于所述波动阈值。

在其中一些实施例中，所述根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述参数值曲线中的物理量存在极值的情况下，将所述极值作为所述第二参数值。

在其中一些实施例中，所述获取探测器参数的多个第一参数值包括：

获取多种探测器参数，其中，每一种探测器参数包括多个第一参数值。

第二方面，本申请实施例提供了一种探测器参数配置设备，包括获取模块、扫描模块和确定模块：

所述获取模块，用于获取探测器参数的多个第一参数值；

所述扫描模块，用于根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

所述确定模块，用于根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的探测器参数配置方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的探测器参数配置方法的步骤。

相比于相关技术，本申请实施例提供的探测器参数配置方法，通过获取探测器参数的多个第一参数值，根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线，根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。解决了相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，提高了医学成像扫描系统中探测器的参数配置效率，降低了探测器参数配置成本。

本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请实施例的探测器参数配置方法的应用环境示意图；

图2是根据本申请实施例的探测器参数配置方法的流程图；

图3是根据本申请实施例的一种第二参数值的计算方法的流程图；

图4是根据本申请实施例的另一种第二参数值的计算方法的流程图；

图5是根据本申请实施例的探测器参数配置方法的终端的硬件结构框图；

图6是根据本申请实施例的探测器参数配置设备的结构框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行描述和说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请提供的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。

除非另作定义，本申请所涉及的技术术语或者科学术语应当为本申请所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请所涉及的“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。本申请所涉及的术语“包括”、“包含”、“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含；例如包含了一系列步骤或模块(单元)的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可以还包括没有列出的步骤或单元，或可以还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。本申请所涉及的“连接”、“相连”、“耦接”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电气的连接，不管是直接的还是间接的。本申请所涉及的“多个”是指大于或者等于两个。“和/或”描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。本申请所涉及的术语“第一”、“第二”、“第三”等仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序。

本申请提供的探测器参数配置方法，可以应用于如图1所示的应用环境中，图1是根据本申请实施例的探测器参数配置方法的应用环境示意图，如图1所示。其中，医学成像扫描系统包括扫描设备101、扫描床102、处理器103以及多个探测器。扫描设备101通过探测器对扫描床102上的患者进行扫描，处理器103对扫描数据进行重建，得到扫描图像。进一步地，在医学成像扫描系统对扫描床102上的患者进行扫描之前，工作人员需要对探测器的参数进行配置，以提高扫描结果的精度。具体地，处理器103获取探测器参数的多个第一参数值，根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线，其中，根据多个第一参数值进行扫描可以通过模拟计算实现；处理器103根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。

本申请提供的探测器参数配置方法，可以用于正电子发射型计算机断层显像(Positron Emission Computed Tomography，简称为PET)、电子计算机断层扫描(ComputedTomography，简称为CT)系统或者PET/CT系统。

本实施例提供了一种探测器参数配置方法。图2是根据本申请实施例的探测器参数配置方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：

步骤S210，获取探测器参数的多个第一参数值。

医学成像扫描系统的探测器具有多种与扫描过程以及工作条件相关的参数需要进行配置，不同的探测器参数对探测器物理量的影响也不相同，其中，探测器参数包括探测器感光元件的硅光电倍增管(Silicon Photomultiplier，简称为SiPM)加载电压、信号定时触发阈值、信号能量触发阈值、丢数率、积分时长、符合窗宽、能量窗阈值等等，探测器物理量为用于表征探测器物理性能的参数。

从探测器参数中选择一种或者多种进行配置，以一种为例，由于要测试不同参数值下探测器的物理量，因此需要获取该探测器参数的多个第一参数值。其中，第一参数值为模拟计算的初始值，可以随机设置，也可以由工作人员输入，可以为规律变化的数列，也可以根据经验在使得探测器物理性能更优的参数值附近进行设置。

步骤S220，根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线。

本实施例中可以通过计算机算法进行模拟以实现扫描过程。在每一个第一参数值下进行扫描得到对应的扫描数据，根据多个第一参数值得到多个对应的扫描数据，进而根据扫描数据和对应的探测器参数确定参数值曲线，具体地，可以以第一参数值作为横坐标，以物理量的值作为纵坐标。其中，扫描数据可以反映探测器的物理性能，因此参数值曲线可以表征探测器物理性能随探测器参数的变化情况。

步骤S230，根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。

在确定参数值曲线之后，可以根据参数值曲线的变化情况，确定使得探测器物理性能更优的第二参数值作为探测器配置参数。具体地，参数值曲线可能出现单调递增、单调递减、先升后降或者先降后升的情况，本实施例中根据探测器参数的不同，可能选择参数值曲线中纵坐标值最大的点对应的参数值作为第二参数值，也可能选择参数值曲线中纵坐标值最小的点对应的参数值作为第二参数值。

通过上述步骤S210至步骤S230，本实施例根据多个第一参数值进行扫描得到对应的扫描数据，然后根据扫描数据和探测器参数得到参数值曲线，在该参数值曲线中确定第二参数值作为探测器配置参数。本实施例中对第一参数值的扫描，以及确定参数值曲线和确定第二参数值的过程均可以通过处理器实现，避免了通过人工对探测器参数配置逐一进行配置，解决了相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，提高了医学成像扫描系统中探测器的参数配置效率，降低了探测器参数配置成本。

在其中一些实施例中，确定参数值曲线的方法具体如下：根据扫描数据获得与第一参数值对应的至少一个物理量，确定反映物理量与第一参数值对应关系的参数值曲线。其中，探测器的物理量为用于表征探测器物理性能的参数，对扫描数据进行计算分析，可以得到对应的第一参数值下的一个物理量的值，其中，物理量包括探测器能量、时间分辨率、灵敏度中的至少一个，获取物理量的值可以通过多种方法得到，例如，探测器能量可以通过统计学计算和寻峰方法得到，时间分辨率可以通过累积和拟合方法得到等。

本实施例在模拟过程中，需要设置合理的扫描时长，具体地，在扫描时长内，应能够获取足够的扫描数据以进行探测器物理量的计算。在有多个第一参数值的情况下，会得到多个物理量，根据多个物理量与第一参数值之间的对应关系得到参数值曲线，具体地，可以以第一参数值作为横坐标，以物理量的值作为纵坐标，得到多个离散点，基于离散点得到具有一定变化趋势的参数值曲线。进一步地，在对多个物理量进行表征时，可以将多个物理量分别绘制在不同的参数值曲线中，通过综合判断在参数值曲线中选择第二参数值，也可以将多个物理量的值进行加权计算，得到加权物理量的值，以加权物理量的值作为纵坐标进行参数值曲线的绘制。本实施例中，根据扫描数据得到一个能够反映探测器物理性能的物理量，根据该物理量与第一参数值得到参数值曲线，在该参数值曲线的基础上，可以更加直观地得到第二参数值。

本实施例还提供了一种第二参数值的计算方法。图3是根据本申请实施例的一种第二参数值的计算方法的流程图，如图3所示，该方法包括如下步骤：

步骤S310，根据参数值曲线计算曲线波动参数。

由于在不同的第一参数下，探测器的物理性能表现不一，因此参数值曲线存在波动，本实施例中的曲线波动参数用于表征参数值曲线的波动情况，具体地，可以为不同第一参数下物理量的统计学参数，例如，方差、标准差等等，也可以为多个物理量中，最大值与最小值的差值。

步骤S320，根据曲线波动参数以及参数值曲线，确定探测器参数的第二参数值。

其中，探测器在第二参数值处的物理量在预设范围内，进一步地，在预设范围内的物理量表示对应的探测器的物理性能满足较优的性能条件，例如，时间分辨率较高，灵敏度较高等等。该预设范围可以通过工作人员的经验进行设置，也可以通过算法计算得出。

通过上述步骤S310和步骤S320，本实施例依据曲线波动参数在参数值曲线中选取第二参数值，有利于提高第二参数值选择的准确度。

进一步地，基于曲线波动参数选择第二参数值还包括：在曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在与物理量对应的参数值中选择第二参数值。本实施例中，若曲线波动参数小于或者等于波动阈值，则证明参数值曲线趋近稳定，参数值曲线中的物理量可视为探测器的性能最优值，与物理量对应的各个探测器参数值均可作为第二参数值。其中，波动阈值为预设的对曲线波动参数的限制，可以根据对探测器物理性能的需求进行设置，例如，对探测器的物理性能要求较高，则对第二参数值的选取准确度要求就更高，相应的，波动阈值会更小，即要求探测器物理量仅在较小的范围内波动，以达到更优的探测器物理性能。本实施例中，通过波动阈值对第二参数值的选取进行限制，使得第二参数值下，探测器的物理性能更优。

更近一步的，本实施例给出了另一种第二参数值的计算方法，图4是根据本申请实施例的另一种第二参数值的计算方法的流程图，如图4所示，该方法包括如下步骤：

步骤S410，在曲线波动参数大于波动阈值的情况下，对第一参数值进行更新。

在曲线波动参数大于波动阈值的情况下，参数值曲线中与物理量对应的各个参数值均不符合要求，此时，需要对第一参数值进行更新，实现对探测器配置参数的迭代计算。

本实施例中，对第一参数值的更新可以通过多种方式进行，例如，重新选取一组第一参数值，或者在已有的参数值曲线中选取基准值，根据预设步长和基准值对第一参数值进行更新。优选地，基准值为参数值曲线中使得探测器物理性能最优的参数值，预设步长也使得探测器物理性能更优。

例如，在一个参数值曲线中，物理量随着第一参数值的增加而增加，表明探测器的物理性能越来越好，但该参数值曲线的曲线波动参数大于波动阈值，此时，需要对第一参数值进行更新，基准值可以选择参数值曲线中最大的一个，预设步长为增加一定的数值。

步骤S420，根据更新后的第一参数值进行扫描，并根据更新后的第一参数值及对应的扫描结果确定探测器参数的参数值曲线，直到曲线波动参数小于或者等于波动阈值。

在对第一参数值进行更新后，重新得到参数值曲线，对该参数值曲线进行分析，如果参数值曲线的曲线波动参数仍然大于预设阈值，则需要对更新后的第一参数值再次进行更新，直到得到的参数值曲线的曲线波动参数小于或者等于波动阈值。其中，对第一参数值的更新、曲线波动参数的迭代计算均可以通过处理器实现。

进一步地，对第一参数值进行更新可以使用边界条件和最优值差值迭代算法实现，处理器可以自动对多个第一参数值下与探测器物理性能相关的物理量进行最优求解，从而实现对第一参数值的自动预测和配置。其中，边界条件用于限制每次迭代计算过程中，探测器参数的起始值及结束值。

步骤S430，在曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在参数值曲线中选择第二参数值。

通过上述步骤S410至步骤S430，在参数值曲线的曲线波动参数大于波动阈值的情况下，本实施例通过处理器的模拟计算对第一参数值进行迭代更新，最终得到第二参数值作为探测器配置参数，使得探测器物理性能达到最优。

具体地，在已有的参数值曲线的基础上实现第一参数值的更新还可以通过如下方式实现：在参数值曲线为单调递增或者单调递减的情况下，获取参数值曲线的斜率，以该斜率为步长，以参数值曲线中物理性能最优点对应的参数值为基准值对第一参数值进行更新。

在其中一些实施例中，在参数值曲线中的物理量存在极值的情况下，将极值作为第二参数值。参数值曲线中若存在极值，表明探测器物理性能在该极值处达到最优，因此，可直接将极值处的参数值作为第二参数值对探测器进行配置，以节约配置时间，提高配置效率。

在其中一些实施例中，在将第二参数值作为探测器配置参数之后，还可以依次获取同一探测器在不同探测器参数下的探测器配置参数，直到完成对该探测器所有的参数配置，然后依次计算医学成像扫描系统中所有探测器的探测器配置参数。本实施例中，将医学扫描成像系统中的探测器参数进行迭代计算，直至探测器的物理性能达到最优，将探测器物理性能最优时的第二参数值作为各个探测器的探测器配置参数。

在其中一些实施例中，在对一种探测器参数进行模拟时，其他种类的探测器参数设定为固定变量。

在其中一些实施例中，可以同时获取多种探测器参数，对多种探测器参数同时进行配置。其中，每一种探测器参数包括多个第一参数值，不同种类的参数之间存在关联关系。根据该关联关系，可以对多种探测器参数建立多维函数，基于多维函数同时对多个变量进行迭代计算，求解多维函数的最优解，以得到不同种类探测器参数的第二参数值，进而确定多个探测器配置参数。具体地，在有多种探测器参数同时进行配置的情况下，也有多个和物理量相关的评价指标。其中，一个评价指标可能受多种探测器参数的影响，同时一种探测器参数也可能影响多个评价指标。如果评价指标之间不互斥则可以通过调节探测器参数的值，使与评价指标对应的物理量均达到极值；如果评价指标之间互斥，则跟据实际情况，对于与互斥的评价指标对应的物理量规定可调整范围，然后调节其他评价指标的探测器参数，使其他的物理量达到极值。本实施例中，通过建立不同种类探测器参数之间的多维函数，实现同时求解多个探测器配置参数，可以大大提高探测器配置参数的计算效率，节省配置时间。

下面通过优选实施例对本申请实施例进行描述和说明。

在对SiPM加载电压进行探测器参数配置的过程中，可以先设置预设电压值作为多个第一参数值的基准值，然后向探测器物理性能优化方向配置若干个加载电压参数值，从而得到多个第一参数值。根据多个第一参数值进行模拟计算，得到扫描数据，然后根据扫描数据计算与探测器物理性能相关的物理量，从而得到物理量随第一参数值变化的参数值曲线。在参数值曲线的曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，停止迭代计算，将参数值曲线中探测器物理性能最优的物理量对应的加载电压参数值作为第二参数值，对探测器进行配置。在参数值曲线的曲线波动参数大于波动阈值的情况下，对多个第一参数值进行更新，具体为，将参数值曲线中，表明探测器物理性能最优的物理量对应的加载电压参数值作为更新后的基准值，根据参数值曲线的斜率确定步长，由基准值和步长得到更新后的多个第一参数值，根据更新后的多个第一参数值对SiPM加载电压进行迭代计算，直到曲线波动参数小于或者等于波动阈值，选择使得探测器物理性能最优的SiPM加载电压作为探测器配置参数。

需要说明的是，在上述流程中或者附图的流程图中示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本申请提供的方法实施例可以在终端、计算机或者类似的运算装置中执行。以运行在终端上为例，图5为本申请实施例的探测器参数配置方法的终端的硬件结构框图。如图5所示，终端50可以包括一个或多个(图5中仅示出一个)处理器502(处理器502可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器504，可选地，上述终端还可以包括用于通信功能的传输设备506以及输入输出设备508。本领域普通技术人员可以理解，图5所示的结构仅为示意，其并不对上述终端的结构造成限定。例如，终端50还可包括比图5中所示更多或者更少的组件，或者具有与图5所示不同的配置。

存储器504可用于存储控制程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本申请实施例中的探测器参数配置方法对应的控制程序，处理器502通过运行存储在存储器504内的控制程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器504可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器504可进一步包括相对于处理器502远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至终端50。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输设备506用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括终端50的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备506包括一个网络适配器(Network Interface Controller，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备506可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

本实施例还提供了一种探测器参数配置设备，该设备用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”、“单元”、“子单元”等可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图6是根据本申请实施例的探测器参数配置设备的结构框图，如图6所示，该设备包括获取模块61、扫描模块62和确定模块63：

获取模块61，用于获取探测器参数的多个第一参数值；扫描模块62，用于根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线；确定模块63，用于根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。

本实施例的扫描模块62根据获取模块61得到的多个第一参数值进行扫描，并得到对应的扫描数据，然后根据扫描数据和探测器参数得到参数值曲线，确定模块63在该参数值曲线中确定第二参数值作为探测器配置参数。通过第一参数值的扫描，以及确定参数值曲线和确定第二参数值的过程均可以通过处理器实现，避免了通过人工对探测器参数配置逐一进行配置，解决了相关技术中基于人工实现探测器参数的配置效率较低的问题，提高了医学成像扫描系统中探测器的参数配置效率，降低了探测器参数配置成本。

需要说明的是，上述各个模块可以是功能模块也可以是程序模块，既可以通过软件来实现，也可以通过硬件来实现。对于通过硬件来实现的模块而言，上述各个模块可以位于同一处理器中；或者上述各个模块还可以按照任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

本实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：

S1，获取探测器参数的多个第一参数值。

S2，根据多个第一参数值进行扫描，并根据多个第一参数值及对应的扫描数据确定探测器参数的参数值曲线。

S3，根据参数值曲线确定探测器参数的第二参数值，将第二参数值作为探测器配置参数。

需要说明的是，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

另外，结合上述实施例中的探测器参数配置方法，本申请实施例可提供一种存储介质来实现。该存储介质上存储有计算机程序；该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种探测器参数配置方法的步骤。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种探测器参数配置方法，其特征在于，包括：

获取探测器参数的多个第一参数值；

根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数；其中包括：根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值。

2.根据权利要求1所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线包括：

根据扫描数据获得与第一参数值对应的至少一个物理量，其中，所述物理量用于表征所述探测器的物理性能；

确定反映所述物理量与第一参数值对应关系的参数值曲线。

3.根据权利要求2所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述探测器在所述第二参数值处的物理量在预设范围内。

4.根据权利要求3所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值。

5.根据权利要求4所述的探测器参数配置方法，其特征在于，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值之前，所述方法包括：

在所述曲线波动参数大于所述波动阈值的情况下，对所述第一参数值进行更新；

根据更新后的第一参数值进行扫描，并根据更新后的第一参数值及对应的扫描结果确定所述探测器参数的参数值曲线，直到所述曲线波动参数小于或者等于所述波动阈值。

6.根据权利要求2所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述参数值曲线中的物理量存在极值的情况下，将所述极值作为所述第二参数值。

7.根据权利要求1至6任一项所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述获取探测器参数的多个第一参数值包括：

获取多种探测器参数，其中，每一种探测器参数包括多个第一参数值。

8.一种探测器参数配置设备，其特征在于，包括获取模块、扫描模块和确定模块：

所述获取模块，用于获取探测器参数的多个第一参数值；

所述扫描模块，用于根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

所述确定模块，用于根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数；其中包括：根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值。

9.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7中任一项所述的探测器参数配置方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至7中任一项所述的探测器参数配置方法的步骤。

Images