CN113052076A - 信号优化方法、电子装置以及存储芯片 - Google Patents
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Abstract
一种信号优化方法、电子装置以及存储芯片，所述信号优化方法包括：将检测通道划分形成多个检测区域；设置至少一个公共检测通道；公共检测通道在至少两个不同检测时刻均被扫描；采用分时扫描方式对检测通道和公共检测通道进行扫描以得到扫描数据；扫描数据包括驱动信号以及噪声信号；根据公共检测通道在至少两个不同检测时刻对应的扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值；噪声参照值为一个检测区域内的噪声信号；归一化处理后每个检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联；根据噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
Description
技术领域
本发明涉及一种信号优化方法、电子装置以及存储芯片。
背景技术
随着电子技术的不断发展，手机、便携式计算机、个人数字助理(PDA)、平板计算机、媒体播放器等电子装置在数据处理通常包括检测以及分析处理。在运行过程中，不同的电子器件之间会产生干扰，进而使得检测到的信号通常存在噪声。对于采用分时方式进行检测的信号，不同时刻采集到的信号之间可能噪声差异较大，进而使得在对采集到的信号进行分析处理时操作较为复杂，无法简单快捷的对噪声进行滤除操作。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种信号优化方法、电子装置以及存储芯片，旨在解决现有技术中分时检测过程中采集信号之间差异性较大以及降噪处理复杂的问题。
一种信号优化方法，应用于电子装置中；所述电子装置包括多个检测通道、至少一个处理器以及存储芯片；所述处理器用于执行所述存储芯片中存储的计算机程序时实现如下步骤：
将所述检测通道划分形成多个检测区域；
设置至少一个公共检测通道；所述公共检测通道在至少两个不同检测时刻均被扫描；
采用分时扫描方式对所述检测通道和所述公共检测通道进行扫描以得到扫描数据；其中，所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号；
对所述公共检测通道在至少两个不同所述检测时刻对应的所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值；所述噪声参照值为某一个所述检测区域内的噪声信号；归一化处理后每个所述检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联；
根据所述噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
一种电子装置，包括多个检测通道、至少一个处理器以及存储芯片；所述处理器用于执行所述存储芯片中存储的计算机程序时实现如下步骤：
将所述检测通道划分形成多个检测区域；
设置至少一个公共检测通道；所述公共检测通道在至少两个不同检测时刻均被扫描；
采用分时扫描方式对所述检测通道和所述公共检测通道进行扫描以得到扫描数据；其中，所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号；
对所述公共检测通道在至少两个不同所述检测时刻对应的所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值；所述噪声参照值为某一个所述检测区域内的噪声信号；归一化处理后每个所述检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联；
根据所述噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
一种存储芯片，所述存储芯片为计算机可读存储芯片，存储有至少一个指令，所述至少一个指令被处理器执行时实现如下步骤：
将所述检测通道划分形成多个检测区域；
设置至少一个公共检测通道；所述公共检测通道在至少两个不同检测时刻均被扫描；
采用分时扫描方式对所述检测通道和所述公共检测通道进行扫描以得到扫描数据；其中，所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号；
对所述公共检测通道在至少两个不同所述检测时刻对应的所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值；所述噪声参照值为某一个所述检测区域内的噪声信号；归一化处理后每个所述检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联；
根据所述噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
上述信号优化方法、电子装置以及存储芯片，通过设置公共检测通道，并公共检测通道在至少两个检测时刻均被扫描，通过对公共检测通道对应的扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值，以将不同检测区域之间的噪音进行关联，进而优化扫描数据的降噪处理难度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明电子装置的立体示意图。
图2为图1中所述电子装置的模块示意图。
图3为图1中第一实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图4为图1中第二实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图5为图1中第三实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图6为图1中第四实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图7为图1中第五实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图8为图1中第六实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图9为图1中第七实施方式之所述电子装置中检测通道和公共检测通道的模块示意图。
图10为本发明至少一个实施方式的信号优化方法的流程图。
主要组件符号说明
电子装置 1
盖板 11
第一功能层 12
第一触控电极 120
第一子电极 121
第二子电极 123
第二触控电极 140
第二功能层 14
检测通道 16
第一检测通道 16a
第二检测通道 16b
检测区域 101
第一检测区域 101a
第二检测区域 101b
第三检测区域 101c
第四检测区域 101d
公共检测通道 18
第一公共检测通道 18a
第二公共检测通道 18b
第一走线 102
第二走线 104
处理器 20
存储芯片 30
步骤 S10-S14
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分的实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。此外，术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或模块，而是可选地还包括没有列出的步骤或模块，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。
下面结合附图对本发明电子装置的具体实施方式进行说明。
请参照图1，其为本发明一实施方式的电子装置1的立体示意图。在本发明的至少一个实施方式中，所述电子装置1可以为个人计算机、平板电脑、智能手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、游戏机、交互式网络电视(Internet ProtocolTelevision,IPTV)、智能式穿戴式设备、导航装置等等的可移动设备，也可以为台式电脑、服务器、数字电视等等的固定设备。所述电子装置1可具有触控功能、指纹识别功能以及摄像功能中的一种或多种的结合。
所述电子装置1包括盖板11以及第一功能层12。
所述盖板11为可以为玻璃基板、或其他具有高强度、高硬度的透明基板。在本发明的至少一个实施方式中，所述盖板11可以由如聚碳酸酯(Polycarbonate,PC)，聚酯(Polythylene terephthalate,PET)、聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethylmethacrylate,PMMA)、环烯烃共聚合物(Cyclic Olefin Copolymer,COC)或聚醚砜(Polyether sulfone,PES)等材料制成。
所述第一功能层12用于识别用户的触摸操作和/或生物特征。在本发明的至少一个实施方式中，所述第一功能层12可以为触控层(图未示)，以识别用户的触摸位置以及触摸力度中的至少一者或二者的结合。所述第一功能层12由导电材料制成，且可被图案化形成多个第一触控电极120(如图3所示)。同时，所述第一功能层12还可以为生物特征识别层(图未示)，以识别用户的生物特征。在本发明的至少一个实施方式中，所述生物特征可以为指纹、人脸、虹膜等等，但并不局限于此。所述第一功能层12还可以可被图案化形成多个感测电极(图未示)。
所述电子装置1还包括第二功能层14。所述第二功能层14用于显示图像信息。在本发明的至少一个实施方式中，所述第二功能层14可以为液晶显示层(Liquid crystaldisplay，LCD)、发光二极管(Light emitting diode,LED)显示层、有机发光二极管(Organic light emitting diode，OLED)显示层、有机发光二极管(Micro Organic lightemitting diode，OLED)显示层、电泳显示层等等，但并不局限于此。所述第二功能层14由导电材料制成，且可被图案化形成多个像素电极。在其他实施方式中，所述第二功能层14还可形成多个感光元件(图未示)，例如电荷耦合器件(Charge coupled device，CCD)或互补金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)元件，以感测光线变化并产生响应的信号(图未示)。
进一步地，所述电子装置1还包括多个检测通道16。在本发明的至少一个实施方式中，所述检测通道16可根据需求设置为所述电子装置1中的不同结构。本实施例中，所述检测通道16可以为所述第一功能层12中的触控电极、所述第一功能层12中的感测电极、所述第二功能层14中的像素电极、所述第二功能层14中的感光元件等等。
请一并参阅图2及图3，其为所述电子装置1的模块示意图以及所述检测通道16的模块示意图。所述电子装置1还包括处理器20以及存储芯片30。所述处理器20用于执行所述存储芯片30中存储的计算机程序时实现各种功能。具体地，所述处理器20依据预定规则将所述检测通道16划分形成多个检测区域101，并设置至少一个公共检测通道18。所述公共检测通道18在至少两个不同检测时刻均被扫描。在本发明的至少一个实施方式中，所述公共检测通道18与所述检测通道16为相同的结构。举例来说，在所述检测通道16为触控电极时，所述公共检测通道18也为触控电极；在所述检测通道16为指纹感测电极时，所述公共检测通道18也为指纹感测电极；在所述检测通道16为像素电极时，所述公共检测通道18也为像素电极；在所述检测通道16为传感电极时，所述公共检测通道18也为传感电极。其中，所述预定规则可以根据所述电子装置1的工作原理进行不同的设定。
所述处理器20采用分时扫描方式根据指定顺序对所述检测通道16和所述公共检测通道18进行扫描并得到所述扫描数据。其中，所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号。所述处理器20进一步地根据所述公共检测通道18在不同检测时刻对应的多个所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值，所述处理器20根据所述噪声参照值对每个所述检测通道16以及每个所述公共检测通道18对应的所述扫描数据进行降噪处理。
实施方式一
请一并参阅图3，其为第一实施方式中所述检测区域101和所述公共检测通道18的模块示意图。在本实施例中，所述电子装置1包括第一至第三检测区域101a-101c和一个所述公共检测通道18。位于同一所述检测区域101内的所述检测通道16相邻设置。所述公共检测通道18设置于所述检测区域101的上边缘。在其他实施方式中，所述公共检测通道18还可以设置于任意两个所述检测区域101之间，或设置于所述检测区域101的底部、左侧或右侧，并不以此为限。
具体地，所述处理器20根据每个所述公共检测通道18对应的所述扫描数据Scan(n)计算在两个不同检测时刻之间的扫描数据差值Br，对所有所述扫描数据差值Br进行归一化处理得到所述噪声参照值。其中，所述扫描数据Scan(n)根据如下公式一计算得到。
Scan(n)＝Signal(n)+Noise(n) 公式一
其中，Scan表示扫描信号；Signal表示有效信号；Niose表示噪声信号；Scan(n)表示第n时刻的扫描信号；Scan(n)表示第n时刻的扫描信号；Noise(n)表示第n时刻的噪声信号。
在第一检测时刻，所述处理器20同时对所述第一检测区域101a内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描并得到对应的所述扫描数据SCAN1。在第二检测时刻，所述处理器20同时对所述第二检测区域101b内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描并得到对应的所述扫描数据SCAN2。所述处理器20计算所述公共检测通道18在所述第一检测时刻和所述第二检测时刻的扫描数据差值Br1。在第三检测时刻，所述处理器20同时对所述第三检测区域101c内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描并得到对应的所述扫描数据SCAN3。所述处理器20计算所述公共检测通道18在所述第二检测时刻和所述第三检测时刻的扫描数据差值Br2。
fsignal表示有效信号的频率；fNoise表示噪声信号的频率；当fsignal＜＜fNoise时，多次扫描有效信号的差异可以忽略不计。即存在以下关系：
Signal(n-1)＝Signal(n)(fsignal＜＜fNoise)
所述归一化处理为对所有所述扫描数据差值Br进行求和。
从而得到：
Scan(n)＝Signal(n)+Noisen
从上述公式中可以看出，每个所述检测区域101的噪声均被归一到与最后一个所述检测区域101内的噪声Noise(n)相关联。即，消除了不同检测时刻下，每个所述检测区域101之间的噪声差异。
在所述电子装置1中的所述检测通道16和所述公共检测通道18为触控电极时，所述公共检测通道18由呈一行且串联设置的多个触控电极构成。
在本实施例中，所述处理器20根据指定顺序对多个所述检测区域101内的多个所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描。其中，所述指定顺序可以为根据排列顺序从上至下。所述指定顺序还可以根据用户的需求进行设定，例如，所述扫描顺序还还可以为先依次对位于两端的所述检测区域101内的所述检测通道16进行扫描后，再对位于中间的所述检测区域101内的所述检测通道16进行扫描。以图3为例，所述处理器20可以在第一检测时刻对第一所述检测区域101a内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描，在第二检测时刻对第三个所述检测区域101c内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描，在第三检测时刻对第二个所述检测区域101b内的所述检测通道16以及所述公共检测通道18进行扫描。
实施方式二
请一并参阅图4，其为第二实施方式中所述检测区域101和所述公共检测通道18的模块示意图。所述第二实施方式的所述电子装置1与所述第一实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第一实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第二实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：位于所述检测区域101内的所述检测通道16呈相等间隔设置。每个所述检测通道16之间被位于其他所述检测区域101内的所述检测通道16间隔。在本实施例中，位于第一个检测区域101内的相邻两个所述检测通道16之间间隔有一个位于第二个所述检测区域101内的以及一个位于第三个所述检测区域101内的所述检测通道16。
实施方式三
请一并参阅图5，其为第三实施方式中所述检测区域101和所述公共检测通道18的模块示意图。所述第三实施方式的所述电子装置1与所述第一实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第一实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第三实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：所述电子装置1包括第一公共检测通道18a和第二公共检测通道18b。所述第一公共检测通道18a和所述第二公共检测通道18b分别设置于相邻两个所述检测区域101之间。在本实施方式中，所述第一公共检测通道18a设置于所述第一检测区域101a和第二检测区域101b之间，所述第二公共检测通道18b设置于所述第二检测区域101b和第三检测区域101c之间。
在本实施例中，所述处理器20根据指定顺序对多个所述检测区域101内的多个所述检测通道16以及至少一个所述公共检测通道18进行扫描。其中，所述指定顺序可以为根据排列顺序从上至下。所述指定顺序还可以根据用户的需求进行设定，例如，所述扫描顺序还还可以为先依次对位于两端的所述检测区域101内的所述检测通道16进行扫描后，再对位于中间的所述检测区域101内的所述检测通道16进行扫描。以图6为例，所述处理器20可以在第一检测时刻对第一所述检测区域101a内的所述检测通道16以及所述第一公共检测通道18a进行扫描，在第二检测时刻对第二个所述检测区域101b内的所述检测通道16、所述第一公共检测通道18a以及所述第二公共检测通道18b进行扫描，在第三检测时刻对第三个所述检测区域101c内的所述检测通道16以及所述第二公共检测通道18b进行扫描。
实施方式四
请一并参阅图6，其为第四实施方式中所述检测区域101、所述公共检测通道18以及所述处理器20的模块示意图。所述第四实施方式的所述电子装置1与所述第三实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第三实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第四实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：第三实施方式描述的所述电子装置为自容式触控电子装置，本实施方式所述电子装置1为互容式触控电子装置。所述电子装置1包括多个相互平行设置的第一触控电极120以及与所述第一触控电极120垂直设置的第二触控电极140。每个所述检测通道16为一个所述第一触控电极120。在本实施方式中，所述检测通道16、所述第一公共检测通道18a以及所述第二公共检测通道18b均为触摸驱动电极。在所述第一检测区域101a内的所述检测通道16被扫描时，所述第一公共检测通道18a一并被扫描；在所述第二检测区域101b内的所述检测通道16被扫描时，所述第一公共检测通道18a和所述第二公共检测通道18b一并被扫描。在所述第三检测区域101c内的所述检测通道16被扫描时，所述第二公共检测通道18b被扫描。在所述第二触控电极140被扫描时，所述第一公共检测通道18a和所述第二公共检测通道18b均未被扫描。此时，所述第二触控电极140作为屏蔽层使用，每个所述第二触控电极140上加载相同信号，或者每个所述第二触控电极140悬空设置。在本实施方式中，所述处理器20通过第一走线102与所述第一触控电极120电性连接，通过第二走线104与所述第二触控电极140电性连接。
实施方式五
请一并参阅图7，其为第五实施方式中所述检测区域101、所述公共检测通道18以及所述处理器20的模块示意图。所述第五实施方式的所述电子装置1与所述第一实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第一实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第五实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：所述电子装置1为自容式触控电子装置。所述电子装置1包括呈矩阵设置的多个第一触控电极120。所述处理器20通过第一走线102与所述第一触控电极120电性连接。所述处理器20将所述第一触控电极120沿与所述第一走线102延伸方向进行划分形成所述检测通道16。多条所述检测通道16对称设置于所述公共检测通道18的两侧。即，所述电子装置1包括第一检测区域101a和第二检测区域101b。
实施方式六
请一并参阅图8，其为第六实施方式中所述检测区域101、所述公共检测通道18以及所述处理器20的模块示意图。所述第六实施方式的所述电子装置1与所述第五实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第五实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第六实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：所述电子装置1包括呈矩阵设置的多个第一触控电极120。每个所述第一触控电极120包括第一子电极121和第二子电极123。所述第一子电极121和所述第二子电极123均大致呈三角形。所述第一子电极121和所述第二子电极123互补排列，以形成四边形的所述第一触控电极120。每个所述第一子电极121和每个所述第二子电极123分别构成一条所述检测通道16。所述公共检测通道18为两个所述第一触控电极120。多条所述检测通道16对称设置于所述公共检测通道18的两侧。即，所述电子装置1包括第一检测区域101a和第二检测区域101b，且二者相对所述公共检测通道18对称设置。
在本实施例中，Br1值等于第一时刻的公共检测通道18的两个所述第一触控电极120的信号平均值或求和值，Br2值等于第二时刻的公共检测通道18的两个所述第一触控电极120的信号平均值或求和值。
实施方式七
请一并参阅图9，其为第七实施方式中所述检测区域101、所述公共检测通道18以及所述处理器20的模块示意图。所述第七实施方式的所述电子装置1与所述第四实施方式中的所述电子装置1的结构相同。也就是说，所述第四实施方式描述的所述电子装置1的描述基本上均可以适用于所述第七实施方式的所述电子装置1，二者的主要差别在于：所述电子装置1为自容互容一体式触控显示装置。所述电子装置1包括多个相互平行设置的第一触控电极120以及与所述第一触控电极120垂直设置的第二触控电极140。所述电子装置1包括多个第一检测通道16a以及多个第二检测通道16b。每个所述第一检测通道16a为一个所述第一触控电极120。每个所述第二检测通道16b为一个所述第二触控电极140。所述电子装置1包括第一至第四检测区域101a-101d。其中，所述第一检测区域101a和所述第二检测区域101b沿第一方向延伸设置，所述第三检测区域101c和所述第四检测区域101d沿与所述第一方向垂直的第二方向延伸设置。所述电子装置1还包括第一公共检测通道18a以及第二公共检测通道18b。所述第一公共检测通道18a和所述第二公共检测通道18b垂直设置。所述第一公共检测通道18a为两个平行设置的所述第一触控电极120构成。所述第二公共检测通道18b为两个平行设置的所述第二触控电极140构成。在所述第一检测区域101a内的所述第一检测通道16a被扫描时，所述第一公共检测通道18a一并被扫描；在所述第二检测区域101b内的所述第一检测通道16a被扫描时，所述第一公共检测通道18a一并被扫描。在所述第三检测区域101c内的所述第二检测通道16b被扫描时，所述第二公共检测通道18b被扫描。在所述第四检测区域101d内的所述第二检测通道16b被扫描时，所述第二公共检测通道18b被扫描。在本实施方式中，所述处理器20通过第一走线102与所述第一触控电极120电性连接，通过第二走线104与所述第二触控电极140电性连接。
在本实施例中，驱动所述第一触控电极120时，Br1值等于第一时刻的第一公共检测通道18a的两个所述第一触控电极120的信号平均值或求和值，Br2值等于第二时刻的所述第一公共检测通道18a的两个所述第一触控电极120的信号平均值或求和值。
驱动所述第二触控电极140时，Br1值等于第一时刻的第二公共检测通道18b的两个所述第二触控电极140的信号平均值或求和值，Br2值等于第二时刻的所述第二公共检测通道18b的两个所述第二触控电极140的信号平均值或求和值。
上述所述电子装置1，通过设置所述公共检测通道18，并所述公共检测通道18在至少两个检测时刻均被扫描，通过对所述公共检测通道18对应的扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值，已将不同检测区域之间的噪音进行关联，进而优化扫描数据的降噪处理难度。
请参阅图10，其为示出了一种信号优化方法的流程图。所述信号优化方法应用于实施方式一至实施方式七对应的所述电子装置1中。所述电子装置1包括多条检测通道16、至少一个处理器20以及存储芯片30。
S10、所述处理器20根据预定规则将所述检测通道16划分形成多个检测区域101。
S11、所述处理器20设置至少一个公共检测通道18。
S12、所述处理器20采用分时扫描方式对所述检测通道和所述公共检测通道进行扫描以得到扫描数据。
其中，所述公共检测通道18在两个不同检测时刻均被扫描。所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号。
S13、所述处理器20根据每个所述公共检测通道18在至少两个不同检测时刻对应的所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值。
其中，所述噪声参照值为某一个所述检测区域内的噪声信号。归一化处理后每个所述检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联。
S14、所述处理器20根据所述噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
上述所述信号优化方法，通过设置所述公共检测通道18，并所述公共检测通道18在至少两个检测时刻均被扫描，通过对所述公共检测通道18对应的扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值，已将不同检测区域之间的噪音进行关联，进而优化扫描数据的降噪处理难度。
本发明创造提出的信号优化方法，可应用于电容式触控芯片、电容式指纹芯片、光学式指纹芯片、CMOS/CCD摄像头芯片等采用分时检测、且数据的降噪要求较高的电子装置中。
需要说明的是，对于前述的各方法实施方式，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施方式均属于优选实施方式，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
在本申请所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施方式仅仅是示意性的，例如所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施方式方案的目的。
还需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
以上所述，以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施方式对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施方式技术方案的范围。
Claims (20)
1.一种信号优化方法，应用于电子装置中；所述电子装置包括多个检测通道、至少一个处理器以及存储芯片；其特征在于：所述处理器用于执行所述存储芯片中存储的计算机程序时实现如下步骤：
将所述检测通道划分形成多个检测区域；
设置至少一个公共检测通道；所述公共检测通道在至少两个不同检测时刻均被扫描；
采用分时扫描方式对所述检测通道和所述公共检测通道进行扫描以得到扫描数据；其中，所述扫描数据包括驱动信号以及噪声信号；
对所述公共检测通道在至少两个不同所述检测时刻对应的所述扫描数据进行归一化处理得到噪声参照值；所述噪声参照值为某一个所述检测区域内的噪声信号；归一化处理后每个所述检测区域的噪声信号均被归一到与噪声参照值相关联；
根据所述噪声参照值对扫描数据进行降噪处理，以优化扫描数据的降噪处理难度。
2.如权利要求1所述的信号优化方法，其特征在于，所述电子装置包括一个所述公共检测通道；在任意一个所述检测时刻，所述公共检测通道均被扫描。
3.如权利要求2所述的信号优化方法，其特征在于，所述公共检测通道设置于所述电子装置的边缘。
4.如权利要求2所述的信号优化方法，其特征在于，所述公共检测通道夹设于相邻两个所述检测区域之间。
5.如权利要求4所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为自容式触控电子装置时，所述电子装置包括呈矩阵设置的多个第一触控电极；所述处理器通过第一走线与所述第一触控电极电性连接；多个所述检测区域对称设置于所述公共检测通道两侧；呈直线设置的所述第一触控电极作为一条所述检测通道；所述公共检测通道由另一条所述第一触控电极构成。
6.如权利要求4所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为自容式触控电子装置时，所述电子装置包括呈矩阵设置的多个第一触控电极；每个所述检测通道和所述公共检测通道分别由至少一个所述第一触控电极构成。
7.如权利要求6所述的信号优化方法，其特征在于，每个所述第一触控电极包括第一子电极和第二子电极；所述第一子电极和所述第二子电极互补排列，以形成四边形的所述第一触控电极；所述公共检测通道由两个所述第一触控电极构成。
8.如权利要求4所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为自容互容一体式触控电子装置时，所述电子装置包括多个相互平行设置的第一触控电极以及与所述第一触控电极垂直设置的第二触控电极；所述电子装置包括多个第一检测通道以及多个第二检测通道；每个所述第一触控电极作为一个所述第一检测通道；每个所述第二触控电极作为一个所述第二检测通道；所述电子装置包括至少一个第一公共检测通道和至少一个第二公共检测通道；所述第一公共检测通道与所述第一检测通道对应，所述第二公共检测通道与所述第二检测通道对应；所述第一公共检测通道由至少一个所述第一触控电极构成；所述第二公共检测通道由至少一个所述第二触控电极构成；在对所述第一检测通道进行扫描时，所述第一公共检测通道被扫描，且所述第二公共检测通道未被扫描；在对所述第二检测通道进行扫描时，所述第一公共检测通道未被扫描，且所述第二公共检测通道被扫描。
9.如权利要求1所述的信号优化方法，其特征在于，所述电子装置包括多个所述公共检测通道；所述公共检测通道设置于相邻两个所述检测区域之间；在任意一个检测时刻，至少一个所述公共检测通道被扫描。
10.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，每个所述检测区域内多个所述检测通道间隔设置；位于同一所述检测区域内且相邻的所述检测通道之间存在位于其他所述检测区域内的所述检测通道。
11.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，每个所述检测区域内的多个所述检测通道相邻设置。
12.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为互容式触控电子装置时，所述电子装置包括多个相互平行设置的第一触控电极以及与所述第一触控电极垂直设置的多个第二触控电极；所述处理器将所述第一触控电极识别为所述检测通道以及所述公共检测通道。
13.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，在对位于中间的所述检测区域内的所述检测通道进行扫描时，与所述检测区域相邻的所述公共检测通道均被扫描。
14.如权利要求1所述的信号优化方法，其特征在于，所述处理器根据排列顺序依次对一个所述检测区域内的所述检测通道以及所述公共检测通道进行扫描。
15.如权利要求1所述的信号优化方法，其特征在于，所述处理器先依次对位于端部的一个所述检测区域内的所述检测通道以及所述公共检测通道进行扫描，然后对位于中间的所述检测区域内所述检测通道以及所述公共检测通道进行扫描。
16.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为自容式触控电子装置时，所述电子装置包括呈矩阵设置的多个第一触控电极；所述处理器通过第一走线与所述第一触控电极电性连接；呈直线设置的所述第一触控电极作为一条所述检测通道；所述公共检测通道由另一条所述第一触控电极构成。
17.如权利要求9所述的信号优化方法，其特征在于，在所述电子装置为自容式触控电子装置时，所述电子装置包括呈矩阵设置的多个第一触控电极；每个所述检测通道和所述公共检测通道分别由至少一个所述第一触控电极构成。
18.如权利要求17所述的信号优化方法，其特征在于，每个所述第一触控电极包括第一子电极和第二子电极；所述第一子电极和所述第二子电极互补排列，以形成四边形的所述第一触控电极；所述公共检测通道由两个所述第一触控电极构成。
19.一种电子装置，包括多个检测通道、至少一个处理器以及存储芯片；其特征在于：所述电子装置将所述检测通道划分形成多个检测区域；所述电子装置采用分时扫描方式所述检测区域内的所述检测通道进行扫描；所述处理器用于执行所述存储芯片中存储的计算机程序时实现如权利要求1至18中任意一项所述信号优化方法。
20.一种存储芯片，其特征在于，所述存储芯片为计算机可读存储芯片，存储有至少一个指令，所述至少一个指令被处理器执行时实现如权利要求1至18中任意一项所述信号优化方法。
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