CN113010338B - 一种内存ce的漏错阈值调整方法、装置、设备及介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种内存CE的漏错阈值调整方法、装置、设备及介质。所述方法包括：读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值。本发明的方案达到了适配不同的内存配置和/或内存温度确定漏错阈值的目地，具有较佳的灵活性，对不同配置服务器上或温度下经过漏错阈值调整后内存CE都能均匀输出，有效改善产生大量错误而影响用户使用的情形。

Description

一种内存CE的漏错阈值调整方法、装置、设备及介质
技术领域
本发明涉及服务器技术领域，尤其涉及一种内存CE的漏错阈值调整方法、装置、设备及介质。
背景技术
随着服务器市场客户定制需求日益增加以及客户业务量的增加，服务器数量也在急剧增加。内存是服务器的重要一部分，内存CE(Correctable Error，可矫正错误)是使用时出现可修复性的单比特的错误，通常允许内存漏掉此类错误。
目前，各家服务器厂商采用的内存漏错机制基本都是通过设定固定漏错阈值的方式。然而，固定漏错阈值的方式并适合定制化的服务器，例如目前市场上有32G内存配置的服务器，也有64G内存配置的服务器等等，对所有内存配置的服务器都采用相同的阈值(假如固定漏错设置为5000个/小时，则对所有内存配置的服务器没小都会漏掉5000个内存CE)，此种方式会导致小内存配置的服务器产生大量错误，甚至会影响用户正常使用，因而亟需改进。
发明内容
有鉴于此，有必要针对以上技术问题提供更加灵灵活、且适合不同配置服务器的一种内存CE的漏错阈值调整方法、装置、设备及介质。
根据本发明的第一方面，提供了一种内存CE的漏错阈值调整方法，所述方法包括：
读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值。
在其中一个实施例中，所述读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数的步骤包括：
将目标内存的容量与预设内存容量的比值作为所述第一系数。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
将内存工作温度范围划分成多个子温度区间；
为每一子温度区间分配一个系数值，其中，不同子温度区间对应不同的系数值。
在其中一个实施例中，所述读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数的步骤包括：
将目标内存的温度与多个子温度区间进行匹配；
若目标内存的温度属于某一子温度区间，则将所述某一子温度区间对应的系数值作为所述第二系数值。
在其中一个实施例中，所述根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值的步骤包括：
将预设漏错阈值、所述第一系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、所述第二系数的乘积作为新漏错阈值。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
若所述第二系数参与确定新漏错阈值，则按照预设间隔时间重新读取目标内存的温度；
若相邻两个预设间隔时间内读取的温度属于不同的子温度区间，则根据当前预设间隔时间内读取的温度所述的子温度区间对应的系数值更新第二系数；
将预设漏错阈值、更新后的第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、更新后第二系数的乘积作为新漏错阈值。
在其中一个实施例中，所述方法还包括；
若接收到固定式漏错命令，则基于所述固定式漏错命令确定漏错阈值。
根据本发明的第二方面，提供了一种内存CE的漏错阈值调整装置，所述装置包括：
容量读取模块，用于读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
温度读取模块，用于读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
漏错阈值确定模块，用于根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值。
根据本发明的第三方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
至少一个处理器；以及
存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行前述的内存CE的漏错阈值调整方法。
根据本发明的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时执行前述的内存CE的漏错阈值调整方法。
上述一种内存CE的漏错阈值调整方法，通过读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或通过读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；从而根据预设漏错阈值以及第一系数和/或第二系数确定目标内存的新漏错阈值，从而达到了适配不同的内存配置和/或内存温度确定漏错阈值的目地，具有较佳的灵活性，对不同配置服务器上或温度下经过漏错阈值调整后内存CE都能均匀输出，有效改善产生大量错误而影响用户使用的情形。
此外，本发明还提供了一种内存CE的漏错阈值调整装置、一种计算机设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果，这里不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明一个实施例提供的一种内存CE的漏错阈值调整方法；
图2为本发明另一个实施例提供的内存CE的漏错机制实现方式示意图；
图3为本发明另一个实施例提供一种内存CE的漏错阈值调整装置的结构示意图；
图4为本发明另一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
在一个实施例中，请参照图1所示，一种内存CE的漏错阈值调整方法，所述方法包括以下步骤：
S100，读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
S200，读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
S300，根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值。
上述一种内存CE的漏错阈值调整方法，通过读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或通过读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；从而根据预设漏错阈值以及第一系数和/或第二系数确定目标内存的新漏错阈值，从而达到了适配不同的内存配置和/或内存温度确定漏错阈值的目地，具有较佳的灵活性，对不同配置服务器上或温度下经过漏错阈值调整后内存CE都能均匀输出，有效改善产生大量错误而影响用户使用的情形。
在又一个实施例中，前述步骤S100具体包括：将目标内存的容量与预设内存容量的比值作为所述第一系数。
举例来说，通常服务器上内存为32G，假如读取到某一分服务器的内存容量是128G，此时确定的第一系数即为4，又如读取到另一个服务器的内存容量是8G，那么对其对应的第一系数即为0.25。
在又一个实施例中，所述方法还包括：
S410，将内存工作温度范围划分成多个子温度区间；
举例来说，通常服务器的工作时其温度范围是30℃至100℃，可以20℃和/或10摄氏度为间隔，将30℃至100℃构成的温度区间划分成四个子区间。
S420，为每一子温度区间分配一个系数值，其中，不同子温度区间对应不同的系数值。
继续举例来说，其中30℃至50℃的子温度区间分配的系数值是1，51℃至70℃的子温度区间分配的系数值是1.5，71℃至90℃的子温度区间分配的系数值是2，91℃至100℃的子温度区间分配的系数值是2.5。需要说明的以上温度区间的换分和系数值的分配仅仅用于举例，不应当理解为对本发明方法的限定，可以缩短子区间的温度范围从而使得子区间的数量增加，以实现更加精确的调整漏错阈值。
在又一个实施例中，在前述实施例的基础上步骤S200包括：
S210，将目标内存的温度与多个子温度区间进行匹配；
S220，若目标内存的温度属于某一子温度区间，则将所述某一子温度区间对应的系数值作为所述第二系数值。
举例来说，假设读取到内存的温度也是84℃，84℃属于71℃至90℃的子温度区间，那么此时该内存对应的第二系数即为预先为71℃至90℃的子温度区间分配的系数值是2。
在又一个实施例中，前述步骤S300具体包括：
S310，将预设漏错阈值、所述第一系数乘积作为新漏错阈值；或
S320，将预设漏错阈值、所述第二系数乘积作为新漏错阈值；或
S330，将预设漏错阈值、所述第一系数、所述第二系数的乘积作为新漏错阈值。
需要说明的是，在具体实施过程中可以仅根据内存的容量调整漏错阈值，也可仅根据内存的温度调整漏错阈值，也可结合内存的容量和内存温度来调整漏错阈值，具体的可以根据用户的需求选择。
在又一个实施例中，为了实现动态调整漏错阈值在前述实施例的基础上，所述方法还包括：
S510，若所述第二系数参与确定新漏错阈值，则按照预设间隔时间重新读取目标内存的温度；
S520，若相邻两个预设间隔时间内读取的温度属于不同的子温度区间，则根据当前预设间隔时间内读取的温度所述的子温度区间对应的系数值更新第二系数；
S530，将预设漏错阈值、更新后的第二系数乘积作为新漏错阈值；或
S550，将预设漏错阈值、所述第一系数、更新后第二系数的乘积作为新漏错阈值。
在又一个实施例中，所述方法还包括；
S600，若接收到固定式漏错命令，则基于所述固定式漏错命令确定漏错阈值。
在又一个实施例中，为了便于理解本发明的技术方案，请参照图2所示，以某一服务器的内存容量64G，假设原有漏错预设固定设置为5000个/小时，则对于该服务内存的内存CE的调整方法的步骤如下：
步骤1，设置调整漏错阈值方式和固定漏错阈值方式两个选项；
步骤2，当用户选择固定漏错阈值方式时，对所有配置的内存和内存的运行状态都采取1小时漏错5000个。
步骤3，当用户选择调整漏错阈值方式时，则读取该内存的容量、以及当前该内存的温度，假设第一次读取到温度为30摄氏度，则此时确定第一系数等于2，第二系数等于1；
步骤4，以结合第一系数和第二系数的方式调整漏错阈值，则此时确定的漏错阈值为10000个/小时；
步骤5，假设十分钟后，再次读取到内存的温度为84℃，则此时重新确定第二系数为2倍，相应的得到新漏错阈值为20000个/小时，同理后续过程持续监测内存的温度，从而实现了动态的调整漏错阈值。
本发明方法与固定漏错阈值方式相比，使得不同内存大小配置的服务器能够使用更合理的漏错阈值，并且能够根据内存运行过程中的实际温度动态的调整漏错阈值，使得不同温度下、内存容量的调整完漏错阈值后内存CE都能均匀输出，降低了由于漏错阈值设置不合理产生大量错误的情形。
在又一个实施例中，请参照图3所示，本发明还提供了一种内存CE的漏错阈值调整装置70，所述装置包括：
容量读取模块71，用于读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
温度读取模块72，用于读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
漏错阈值确定模块73，用于根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值。
需要说明的是，关于内存CE的漏错阈值调整装置的具体限定可以参见上文中对内存CE的漏错阈值调整方法的限定，在此不再赘述。上述内存CE的漏错阈值调整装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
根据本发明的另一方面，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图请参照图4所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时实现以上所述的内存CE的漏错阈值调整方法。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种内存CE的漏错阈值调整方法，其特征在于，所述方法包括：
读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值；
所述读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数的步骤包括：将目标内存的容量与预设内存容量的比值作为所述第一系数；
所述方法还包括：将内存工作温度范围划分成多个子温度区间；
为每一子温度区间分配一个系数值，其中，不同子温度区间对应不同的系数值；
所述读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数的步骤包括：
将目标内存的温度与多个子温度区间进行匹配；
若目标内存的温度属于某一子温度区间，则将所述某一子温度区间对应的系数值作为所述第二系数值；
所述根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值的步骤包括：
将预设漏错阈值、所述第一系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、所述第二系数的乘积作为新漏错阈值；
所述方法还包括：
若所述第二系数参与确定新漏错阈值，则按照预设间隔时间重新读取目标内存的温度；
若相邻两个预设间隔时间内读取的温度属于不同的子温度区间，则根据当前预设间隔时间内读取的温度所述的子温度区间对应的系数值更新第二系数；
将预设漏错阈值、更新后的第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、更新后第二系数的乘积作为新漏错阈值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括；
若接收到固定式漏错命令，则基于所述固定式漏错命令确定漏错阈值。
3.一种内存CE的漏错阈值调整装置，其特征在于，所述装置包括：
容量读取模块，用于读取目标内存的容量，并基于目标内存的容量确定第一系数；和/或
温度读取模块，用于读取所述目标内存的温度，并基于目标内存的温度确定第二系数；
漏错阈值确定模块，用于根据预设漏错阈值以及所述第一系数和/或所述第二系数确定所述目标内存的新漏错阈值；
所述容量读取模块进一步用于：
将目标内存的容量与预设内存容量的比值作为所述第一系数；
所述装置还包括用于执行以下步骤的模块：
将内存工作温度范围划分成多个子温度区间；
为每一子温度区间分配一个系数值，其中，不同子温度区间对应不同的系数值；
所述温度读取模块进一步用于：
将目标内存的温度与多个子温度区间进行匹配；
若目标内存的温度属于某一子温度区间，则将所述某一子温度区间对应的系数值作为所述第二系数值；
所述漏错阈值确定模块进一步用于：
将预设漏错阈值、所述第一系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、所述第二系数的乘积作为新漏错阈值；
所述装置还包括用于执行以下步骤的模块：
若所述第二系数参与确定新漏错阈值，则按照预设间隔时间重新读取目标内存的温度；
若相邻两个预设间隔时间内读取的温度属于不同的子温度区间，则根据当前预设间隔时间内读取的温度所述的子温度区间对应的系数值更新第二系数；
将预设漏错阈值、更新后的第二系数乘积作为新漏错阈值；或
将预设漏错阈值、所述第一系数、更新后第二系数的乘积作为新漏错阈值。
4.一种计算机设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，所述存储器存储有可在所述处理器中运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时执行权利要求1-2任意一项所述的方法。
5.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行权利要求1-2任意一项所述的方法。
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