CN112994927B - 一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置 - Google Patents

一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置,该检索方法包括:关闭第一层网络上的所有SIB;更新菊花链拓扑;向TDI推入标识符;向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。通过先关闭第一层网络中的所有SIB,向TDI中推入标识符,再向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,TDO推出的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度,便于得到第一层网络上的SIB长度,能够进行自动扫描卷积测试,减少大量测试和管理成本。

Description

一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置
技术领域
本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置。
背景技术
IEEE1687 Internal_Jtag协议常用于SOC(System On Chip,系统级芯片)设计的菊花链链接,使用多级菊花链进行分级访问。外部通过1149.7TAP(Test Access Port,测试访问口)协议的路选接入;其内部链接直接到IP核(Intellectual Property core,知识产权核)的具体位置,其网络拓补由SOC配置决定。SOC的配置在产品的设计验证过程中常常会调整,在SOC定型后也常有子系列产品经常发生一些变更的情况。随着SOC内部配置的变化,I_Jtag(I_Jtag为Internal_Jtag协议的缩写)的网络也会产生多种不同的配置。目前I_Jtag的网络一般是由设计人员通过人工方式整理并生成拓扑图。在遇到设计阶段SOC配置频繁变更和产品子型号较多的情况下,对拓补图维护和管理带来较大的压力。
发明内容
本发明提供了一种菊花链拓扑的检索方法及检索装置,以便于检索出每层网络中SIB长度,便于识别菊花链拓扑结构,便于对拓补图进行维护和管理。
第一方面,本发明提供了一种菊花链拓扑的检索方法,该检索方法用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑。其中,菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;第一层网络具有至少一个SIB(Segment Insert Bit,段插入位),且TDI(Test Data In,测试数据输入)、至少一个SIB及TDO(Test Data Out,测试数据输出)的首尾依次连接。该检索方法包括:关闭第一层网络上的所有SIB;更新菊花链拓扑;向TDI推入标识符;向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。
在上述的方案中,通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。
在一个具体的实施方式中,关闭第一层网络上的所有SIB具体为:向TDI推入足够的“0”,使第一层网络上的所有SIB都关闭。向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出具体为:向TDI推入足够的“0”,使标识符从TDO推出。统计从TDI推入标识码之后,到标识码从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量具体为:统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的“0”的比特位数量。以便于关闭第一层网络上的所有SIB,以及便于快速的识别出从TDO推出的标识符。
在一个具体的实施方式中,N≥2;任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR(Test Data Register,测试数据寄存器)。该检索方法包括:打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB;关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB;更新菊花链拓扑;向TDI推入标识符;向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;根据所统计的比特位数量,判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR;如果判断结果是SIB,则根据所统计的比特位数量,得出连接在第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度;如果判断结果是TDR,则记录该TDR的位置。以便于自动扫描第二层网络上的SIB或TDR,便于对不同层级的菊花链网络进行检索,减少大量测试和管理成本。
在一个具体的实施方式中,打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB具体为:向第一层网络上的第一个SIB推入“1”,第一层网络上的其他SIB推入“0”,以打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB。关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB具体为:向第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB中推入足够的“0”,以关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。以便于根据检索的菊花链网络的位置,进行合理的SIB配置,以对目标的菊花链网络进行检索。
在一个具体的实施方式中,该检索方法还包括:采用上述方法依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置。以对菊花链网络的完整性检测和测试。
在一个具体的实施方式中,该检索方法还包括:根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图;根据所绘制的菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。以便于根据前述测试的结果及设计库中的IP核参数,生成相匹配的I_Jtag拓扑图,提高设计效率。
在一个具体的实施方式中,上述标识符为单个的字符“1”,或所述标识符为二进制下的“55”或“AA”,以便于快速识别出标识符从TDO推出。
第二方面,本发明还提供了一种菊花链拓扑的检索装置,该检索装置用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑。其中,该菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;第一层网络具有至少一个SIB,且TDI、至少一个SIB及TDO的首尾依次连接。该检索装置包括开关模块、更新模块、标识符推入模块、字符推入模块、统计模块及记录模块。其中,开关模块用于关闭或打开第一层网络上的所有SIB;更新模块用于更新菊花链拓扑;标识符推入模块用于向TDI推入标识符;字符推入模块用于向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计模块用于根据从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;记录模块用于根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。
在上述的方案中,通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。
在一个具体的实施方式中,N≥2,任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR。其中,开关模块还用于打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB;开关模块还用于关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。该检索装置还包括判断模块,该判断模块用于根据所统计的比特位数量,判断第二层网络上连接的第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR。且记录模块还用于在判断模块判断结果为SIB时,根据所统计的比特位数量,得出连接在第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度;记录模块还用于在判断模块判断结果为TDR时,记录该TDR的位置。以便于自动扫描第二层网络上的SIB或TDR,便于对不同层级的菊花链网络进行检索,减少大量测试和管理成本。
在一个具体的实施方式中,该检索装置还包括递归模块,该递归模块用于控制开关模块、更新模块、标识符推入模块、字符推入模块、统计模块、判断模块及记录模块,采用上述方式依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置。以对菊花链网络的完整性检测和测试。
在一个具体的实施方式中,该检索装置还包括菊花链拓扑图绘制模块,该菊花链拓扑图绘制模块用于根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图。该检索装置还包括I_Jtag拓扑图生成模块,该I_Jtag拓扑图生成模块用于根据所绘制的菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。以便于根据前述测试的结果及设计库中的IP核参数,生成相匹配的I_Jtag拓扑图,提高设计效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种检索方法的流程图;
图2为本发明实施例提供的一种菊花链拓扑的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的另一种检索方法的流程图;
图4为本发明实施例提供的另一种检索方法的流程图;
图5为本发明实施例提供的另一种检索方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
为了方便理解本发明实施例提供的菊花链拓扑的检索方法,下面首先说明一下本发明实施例提供的菊花链拓扑的检索方法的应用场景,该检索方法应用于SOC设计过程中。下面结合附图对该检索方法进行详细的叙述。
参考图1,本发明实施例提供的菊花链拓扑的检索方法用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑。其中,菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;第一层网络具有至少一个SIB,且TDI、至少一个SIB及TDO的首尾依次连接。该检索方法包括:
Step10:关闭第一层网络上的所有SIB;
Step20:更新菊花链拓扑;
Step30:向TDI推入标识符;
Step40:向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;
Step50:统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;
Step60:根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。
在上述的方案中,通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。下面结合附图对上述各个步骤进行详细的介绍。
首先需要介绍下菊花链拓扑的结构,参考图2,菊花链拓扑具有N层网络,分别为第一层网络至第N层网络,其中,N的个数可以为1、2、3、4等任意正整数。在第一层网络(R1)上具有至少一个SIB。还具有一个TDI,TDI作为向菊花链拓扑推入字符的接口。还具有一个TDO,作为从菊花链推出字符的接口。且TDI、至少一个SIB及TDO的首尾依次连接,形成移位的菊花链拓扑。继续参考图2,通常N≥2,以实现SOC设计的各种功能。且在任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR。例如,如图2所示,在第一层网络上具有n个SIB,n个SIB首尾依次连接,并且第一层网络中的两端分别连接有一个TDI和TDO。可以在第一层网络中的n个SIB前加入一个SEB(SIB Exclusion Bit,SIB旁路位),以控制该路由节点(SRT,StacRouter,菊花链路由)是否被旁路掉。在第二层网络(R2)中,有m个SIB首尾依次连接后,与第一层网络中的第一个SIB连接;有p个SIB首尾依次连接后,与第一层网络中的第二个SIB连接;……。在第三层网络(R3)中,有q个SIB首尾依次连接后,与第二层网络中的第一个SIB连接;有e个SIB首尾依次连接后,与第二层网络中的第二个SIB连接;……。在第四层网络中,第一个SIB下方连接有一个TDR,第二个SIB下方连接有一个TDR。
在进行检索时,首先关闭第一层网络上的所有SIB。具体的,参考图3,可以向TDI推入足够的“0”,使第一层网络上的所有SIB都关闭,以便于关闭第一层网络上的所有SIB。
接下来,参考图1及图3,更新菊花链拓扑。
接下来,参考图1及图3,向TDI推入标识符。具体的,如图3所示,该标识符可以为单个的字符“1”。当然,标识符并不限于单个的字符,还可以采用多个字符组成的字符串作为标识符,例如,可以采用二进制下的“55”或“AA”作为标识符,以便于快速识别出标识符从TDO推出。
接下来,参考图1,向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出。具体的,可以向TDI推入足够的“0”,使标识符从TDO推出。由于字符“0”和前序的标识符之间具有较大的差别,从而可以快速识别出标识符从TDO推出。
接下来,参考图1,统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量。在前述通过向TDI推入足够的“0”,使第一层网络上的所有SIB都关闭时,由于在推入标识符之前,第一层网络上的所有SIB都为字符“0”,此时,统计从TDI推入标识码之后,到标识码从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量具体为:统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的“0”的比特位数量,以及便于快速的识别出从TDO推出的标识符。
接下来,参考图1,根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。具体的,参考图2,由于第一层网络中具有一个SEB,也占用一个位宽,从而能够得出第一层网络上的SIB长度为统计的比特位数量减去1。当然,如果第一层网络上还具有其他占用比特位的器件,则还需要减去相应的比特位数量,得出有效的SIB长度。通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。
另外,在N≥2,任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR时,还可以采用上述方式识别出不同节点处的SIB长度或TDR位置。下面以识别第二层网络上与第一层网络中的第一个SIB连接的是SRT,还是TDR为例进行说明。首先需要解释的是,此处的SRT指的是采用SIB组成的节点,而对于的TDR相当于菊花链拓扑中的叶子。参考图4,该检索方法包括:
首先,打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB。具体的,参考图5,可以向第一层网络上的第一个SIB推入“1”,第一层网络上的其他SIB推入“0”,以打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB。以便于根据检索的菊花链网络的位置,进行合理的SIB配置,以对目标的菊花链网络进行检索。
接下来,继续参考图4,关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。具体的,参考图5,可以向第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB中推入足够的“0”,以关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。以便于根据检索的菊花链网络的位置,进行合理的SIB配置,以对目标的菊花链网络进行检索。
接下来,参考图4及图5,更新菊花链拓扑。
接下来,如图4及图5所示,向TDI推入标识符。该标识符可以为单个的字符“1”。当然,标识符并不限于单个的字符,还可以采用多个字符组成的字符串作为标识符,例如,可以采用二进制下的“55”或“AA”作为标识符,以便于快速识别出标识符从TDO推出。
接下来,如图4及图5所示,向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出。具体的,可以向TDI推入足够的“0”,使标识符从TDO推出。由于字符“0”和前序的标识符之间具有较大的差别,从而可以快速识别出标识符从TDO推出。
接下来,参考图4及图5,统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量。在前述通过向TDI推入足够的“0”时,由于在推入标识符之前,打开的菊花链拓扑网络上的所有SIB都为字符“0”,此时,统计从TDI推入标识码之后,到标识码从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量具体为:统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的“0”的比特位数量,以及便于快速的识别出从TDO推出的标识符。
接下来,根据所统计的比特位数量,判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR。具体可以根据打开的菊花链拓扑中已知的第一层网络上的各个器件占用的比特位数量,以及刚刚统计出的比特位数量,判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR。如果判断结果是SIB,则根据所统计的比特位数量,得出连接在第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度。如果判断结果是TDR,则记录该TDR的位置。以便于自动扫描第二层网络上的SIB或TDR,便于对不同层级的菊花链网络进行检索,减少大量测试和管理成本。另外,在判断结果为SIB时,还可以进一步判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是否为TAP(Test Access Port,测试访问口)操作位,若判断结果为TAP,此时第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上应该为为32位,可尝试推入IDCODE命令读取子网络的Jtag,得到相关信息。还可以进一步判定是否为BC1500,判断方式与前述判断方式大同小异。
应当理解的是,前述仅仅以第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB下的功能位为例,介绍检索方法。此外,还采用上述方法依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,以对菊花链网络的完整性检测和测试。
另外,在检索到Tile中的菊花链拓扑时,可以将Tile(DFT和IP核链接的接口部分,其中,DFT是指Design for Test,用来硬件调试和边缘扫描)中的指令寄存器配置为1687指令,采用前述方式检索出Tile中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,以得出Tile中的菊花链拓扑。
在识别出所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置之后,该检索方法还可以包括:根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图。即根据前述检索扫描结果,整合所有叶子节点(TDR)的TDR拓补图,绘制出整个结构的菊花链拓扑图。之后还可以根据所绘制的菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。即根据IP核设计库中各IP核内部的TDR设计布局,推导各叶子节点(TDR)接入的实际IP核,生成最终的I_Jtag拓补图。以便于根据前述测试的结果及设计库中的IP核参数,生成相匹配的I_Jtag拓扑图,提高设计效率。
通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。
另外,本发明实施例还提供了一种菊花链拓扑的检索装置,该检索装置用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑。其中,该菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;第一层网络具有至少一个SIB,且TDI、至少一个SIB及TDO的首尾依次连接。该检索装置包括开关模块、更新模块、标识符推入模块、字符推入模块、统计模块及记录模块。其中,开关模块用于关闭或打开第一层网络上的所有SIB;更新模块用于更新菊花链拓扑;标识符推入模块用于向TDI推入标识符;字符推入模块用于向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;统计模块用于根据从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量;记录模块用于根据所统计的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。上述各个模块相互之间进行配合的方式参考前述关于检索方法部分的描述,每个功能模块用于实现对应的功能,具体可以通过存储在存储介质中的计算机程序、以及执行存储介质中的计算机程序的处理器组成。
在上述的方案中,通过先关闭第一层网络中的所有SIB,之后向TDI中推入标识符,再继续向TDI推入与标识符不一致的字符,使标识符从TDO推出;通过统计从TDI推入标识符之后,到标识符从TDO推出之前,从TDO推出的字符的比特位数量,得出第一层网络上的SIB长度。以便于得到第一层网络上的SIB长度。与现有技术中通过人工整理的方式相比,本申请的方式能够进行自动扫描卷积测试,从而降低了设计人员对拓扑图进行维护及管理的压力,减少大量测试和管理成本。
另外,在N≥2,任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR时。其中的开关模块还可以用于打开第一层网络上的第一个SIB,并关闭第一层网络上的其他SIB。开关模块还可以用于关闭第二层网络中与第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。该检索装置还可以包括判断模块,该判断模块用于根据所统计的比特位数量,判断第二层网络上连接的第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR。且记录模块还用于在判断模块判断结果为SIB时,根据所统计的比特位数量,得出连接在第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度;记录模块还用于在判断模块判断结果为TDR时,记录该TDR的位置。以便于自动扫描第二层网络上的SIB或TDR,便于对不同层级的菊花链网络进行检索,减少大量测试和管理成本。
在具体对整个菊花链拓扑进行检索时,该检索装置还可以包括递归模块,该递归模块用于控制开关模块、更新模块、标识符推入模块、字符推入模块、统计模块、判断模块及记录模块,采用上述方式依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置。以对菊花链网络的完整性检测和测试。
在具体实现菊花链拓扑图的绘制、以及生成I_Jtag拓扑图时,该检索装置还可以包括菊花链拓扑图绘制模块,该菊花链拓扑图绘制模块用于根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图。该检索装置还包括I_Jtag拓扑图生成模块,该I_Jtag拓扑图生成模块用于根据所绘制的菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。以便于根据前述测试的结果及设计库中的IP核参数,生成相匹配的I_Jtag拓扑图,提高设计效率。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种菊花链拓扑的检索方法,用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑,其中,所述菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;所述第一层网络具有至少一个SIB,且TDI、所述至少一个SIB及TDO的首尾依次连接,其特征在于,所述检索方法包括:
关闭所述第一层网络上的所有SIB;
更新所述菊花链拓扑;
向所述TDI推入标识符;
向所述TDI推入与所述标识符不一致的字符,使所述标识符从所述TDO推出;
统计从所述TDI推入所述标识码之后,到所述标识码从所述TDO推出之前,从所述TDO推出的字符的比特位数量;
根据所统计的所述比特位数量,得出所述第一层网络上的SIB长度。
2.如权利要求1所述的检索方法,其特征在于,所述关闭所述第一层网络上的所有SIB具体为:向所述TDI推入足够的“0”,使所述第一层网络上的所有SIB都关闭;
所述向所述TDI推入与所述标识符不一致的字符,使所述标识符从所述TDO推出具体为:向所述TDI推入足够的“0”,使所述标识符从所述TDO推出;
所述统计从所述TDI推入所述标识码之后,到所述标识码从所述TDO推出之前,从所述TDO推出的字符的比特位数量具体为:统计从所述TDI推入所述标识符之后,到所述标识符从所述TDO推出之前,从所述TDO推出的“0”的比特位数量。
3.如权利要求1所述的检索方法,其特征在于,所述N≥2;任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR;所述检索方法还包括:
打开所述第一层网络上的第一个SIB,并关闭所述第一层网络上的其他SIB;
关闭所述第二层网络中与所述第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB;
更新所述菊花链拓扑;
向所述TDI推入所述标识符;
向所述TDI推入与所述标识符不一致的字符,使所述标识符从所述TDO推出;
统计从所述TDI推入所述标识符之后,到所述标识符从所述TDO推出之前,从所述TDO推出的字符的比特位数量;
根据所统计的所述比特位数量,判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR;
如果判断结果是SIB,则根据所统计的所述比特位数量,得出连接在所述第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度;
如果判断结果是TDR,则记录该TDR的位置。
4.如权利要求3所述的检索方法,其特征在于,所述打开所述第一层网络上的第一个SIB,并关闭所述第一层网络上的其他SIB具体为:向所述第一层网络上的第一个SIB推入“1”,所述第一层网络上的其他SIB推入“0”,以打开所述第一层网络上的第一个SIB,并关闭所述第一层网络上的其他SIB;
所述关闭所述第二层网络中与所述第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB具体为:向所述第二层网络中与所述第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB中推入足够的“0”,以关闭所述第二层网络中与所述第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB。
5.如权利要求3所述的检索方法,其特征在于,所述检索方法还包括:采用上述方式依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置。
6.如权利要求5所述的检索方法,其特征在于,还包括:
根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图;
根据所绘制的所述菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。
7.如权利要求3所述的检索方法,其特征在于,所述标识符为单个的字符“1”,或所述标识符为二进制下的“55”或“AA”。
8.一种菊花链拓扑的检索装置,用于检索系统级芯片中的菊花链拓扑,其中,所述菊花链拓扑具有第一层网络至第N层网络,其中,N为正整数;所述第一层网络具有至少一个SIB,且TDI、所述至少一个SIB及TDO的首尾依次连接,其特征在于,所述检索装置包括:
开关模块,用于关闭或打开所述第一层网络上的所有SIB;
更新模块,用于更新所述菊花链拓扑;
标识符推入模块,用于向所述TDI推入标识符;
字符推入模块,用于向所述TDI推入与所述标识符不一致的字符,使所述标识符从所述TDO推出;
统计模块,用于统计从所述TDI推入所述标识符之后,到所述标识符从所述TDO推出之前,从所述TDO推出的字符的比特位数量;
记录模块,用于根据所统计的所述比特位数量,得出所述第一层网络上的SIB长度。
9.如权利要求8所述的检索装置,其特征在于,所述N≥2;任意相邻的两层网络中,上层网络中的每个SIB在下层网络中均连接有至少一个SIB或一个TDR;
其中,所述开关模块还用于打开所述第一层网络上的第一个SIB,并关闭所述第一层网络上的其他SIB;所述开关模块还用于关闭所述第二层网络中与所述第一层网络上的第一个SIB连接的所有SIB;
所述检索装置还包括:判断模块,用于根据所统计的所述比特位数量,判断第二层网络上连接在第一层网络的第一个SIB上的是SIB还是TDR;且所述记录模块还用于在所述判断模块判断结果为SIB时,根据所统计的所述比特位数量,得出连接在所述第一层网络上的第一个SIB上的SIB长度;所述记录模块还用于在所述判断模块判断结果为TDR时,记录该TDR的位置。
10.如权利要求9所述的检索装置,其特征在于,还包括递归模块,用于控制所述开关模块、更新模块、标识符推入模块、字符推入模块、统计模块、判断模块及记录模块,采用上述方式依次检索出每层网络中的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置。
11.如权利要求10所述的检索装置,其特征在于,还包括:
菊花链拓扑图绘制模块,用于根据所检索出的所有SIB及SIB长度、和所有TDR及TDR位置,绘制菊花链拓扑图;
I_Jtag拓扑图生成模块,用于根据所绘制的所述菊花链拓扑图和IP核设计库中每个IP核参数,生成I_Jtag拓扑图。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101144844A (zh) * 2007-03-07 2008-03-19 中兴通讯股份有限公司 一种芯片焊接质量的检测方法
CN102165328A (zh) * 2008-09-26 2011-08-24 Nxp股份有限公司 用于测试部分地组装的多管芯器件的方法、集成电路管芯和多管芯器件
US10528689B1 (en) * 2016-11-29 2020-01-07 Cadence Design Systems, Inc. Verification process for IJTAG based test pattern migration

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080155126A1 (en) * 2006-12-22 2008-06-26 Texas Instruments, Inc. Auto-Configuration Of Daisy-Chained Devices
CN101470170B (zh) * 2007-12-27 2011-04-13 华为技术有限公司 Jtag链路测试方法及其装置
US7958417B2 (en) * 2008-01-30 2011-06-07 Alcatel-Lucent Usa Inc. Apparatus and method for isolating portions of a scan path of a system-on-chip
US8775884B2 (en) * 2009-03-04 2014-07-08 Alcatel Lucent Method and apparatus for position-based scheduling for JTAG systems
US8108742B2 (en) * 2009-06-11 2012-01-31 Texas Instruments Incorporated Tap control of TCA scan clock and scan enable
CN102682017B (zh) * 2011-03-15 2014-04-23 阿里巴巴集团控股有限公司 一种信息检索方法和系统
CN103001734B (zh) * 2012-10-17 2015-05-06 海军工程大学 一种基于电平采样的异步串口通信协议自动侦测方法
CN106547487A (zh) * 2016-10-21 2017-03-29 华中科技大学 一种提高闪存可靠性的数据塑型方法
US10520550B2 (en) * 2017-05-22 2019-12-31 Mentor Graphics Corporation Reconfigurable scan network defect diagnosis
US11196657B2 (en) * 2017-12-21 2021-12-07 Advanced Micro Devices, Inc. Self identifying interconnect topology

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101144844A (zh) * 2007-03-07 2008-03-19 中兴通讯股份有限公司 一种芯片焊接质量的检测方法
CN102165328A (zh) * 2008-09-26 2011-08-24 Nxp股份有限公司 用于测试部分地组装的多管芯器件的方法、集成电路管芯和多管芯器件
US10528689B1 (en) * 2016-11-29 2020-01-07 Cadence Design Systems, Inc. Verification process for IJTAG based test pattern migration

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IEEE Standard for Access and Controlof Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device;IEEE标准协会;《IEEE Computer Society》;20141205;全文 *

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