CN112947654B - 阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置，阈值电压产生电路包括：可调低压源模块，用于产生扫描电压，扫描电压以第一步长进行步进调节；可调基准源模块，用于产生基准电压，基准电压以第二步长进行步进调节；以及加法模块，分别与可调低压源模块和可调基准源模块连接，用于对扫描电压和基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，其中，第一步长小于第二步长且第一步长与第二步长属于不同的量级。可以实现对充电保护芯片高精度的过压阈值扫描和快速测试。

Description

阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置

技术领域

本发明涉及电路设计技术领域，具体涉及一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置。

背景技术

目前的芯片多项关键模拟指标在研发设计阶段不进行一体化测试，多项性能指标在多套系统中测试或者测试效率不高，给测试工作的实施带来了很大的不便；系统的测量精度不高和测试数据准确性差异等，存在误测误判的问题，加上芯片设计、工艺及封装等方面的因素影响，系统供给芯片所需的信号精度不够，对于准确的评估芯片性能带来了一定的困扰。

如现有技术中，在使用测试机对充电保护芯片的性能进行测试时，需要对充电保护芯片进行过阈值电压扫描，同时对充电电池的数量进行调节时，充电保护芯片的过压阈值也要相应的进行调节，但是现有的测试机台自身的精度和分辨率无法满足测试要求，在芯片测试中不能精确测试芯片各指标项、不能给被测芯片提供较精确的信号源，且外围电路较复杂、测试时间长、硬件成本高且维护难度增加等缺陷，制约了测试效率的提高。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置，可以实现对充电保护芯片高精度的过压阈值扫描和快速测试。

根据本发明提供的一种阈值电压产生电路，包括：可调低压源模块，用于产生扫描电压，扫描电压以第一步长进行步进调节；可调基准源模块，用于产生基准电压，基准电压以第二步长进行步进调节；以及加法模块，分别与所述可调低压源模块和所述可调基准源模块连接，用于对所述扫描电压和所述基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，其中，所述第一步长小于所述第二步长且所述第一步长与所述第二步长属于不同的量级。

优选地，所述可调低压源模块包括：第一参考电压单元，用于提供第一参考电压；第一数模转换单元，第一输入端与所述第一参考电压单元连接，以接收所述第一参考电压，第二输入端接收第一数字信号，用于根据所述第一数字信号和所述第一参考电压输出第一模拟电压；以及第一运算放大单元，与所述第一数模转换单元连接，用于根据所述第一模拟电压输出所述扫描电压。

优选地，所述第一数模转换单元包括：第一运算放大器，同相输入端与所述第一参考电压单元连接，输出端依次通过第一电阻和第一电容接地；第一数模转换器，第一参考电压输入端与所述第一运算放大器的反相输入端连接，第二参考电压输入端通过所述第一电阻与所述第一运算放大器的输出端连接，第一模拟接地端通过第二电阻接地，第二模拟接地端通过第四电阻接地，时钟输入端接收所述第一数字信号，输出端输出所述第一模拟电压；以及第二运算放大器，同相输入端接地，反相输入端与所述第一数模转换器的第一模拟接地端连接，输出端通过第三电阻与所述第一数模转换器的第二模拟接地端连接。

优选地，所述第一运算放大单元包括：第三运算放大器，同相输入端接收所述第一模拟电压，反相输入端与输出端连接，所述第三运算放大器的输出端输出所述扫描电压。

优选地，可调基准源模块包括：第二参考电压单元，用于提供第二参考电压；第二数模转换单元，第一输入端与所述第二参考电压单元连接，以接收所述第二参考电压，第二输入端接收第二数字信号，用于根据所述第二数字信号和所述第二参考电压输出第二模拟电压；以及第二运算放大单元，与所述第二数模转换单元连接，用于根据所述第二模拟电压输出所述基准电压。

优选地，所述第二数模转换单元包括：第四运算放大器，同相输入端与所述第二参考电压单元连接，输出端依次通过第五电阻和第二电容接地；第二数模转换器，第一参考电压输入端与所述第四运算放大器的反相输入端连接，第二参考电压输入端通过所述第五电阻与所述第四运算放大器的输出端连接，第一模拟接地端通过第六电阻接地，第二模拟接地端通过第八电阻接地，时钟输入端接收所述第二数字信号，输出端输出所述第二模拟电压；以及第五运算放大器，同相输入端接地，反相输入端与所述第二数模转换器的第一模拟接地端连接，输出端通过第七电阻与所述第二数模转换器的第二模拟接地端连接。

优选地，所述第二运算放大单元包括：第六运算放大器，同相输入端接收所述第二模拟电压，反相输入端通过第九电阻接地，且反相输入端通过并联的第十电阻和第三电容与所述第六运算放大器的输出端连接，所述第六运算放大器的输出端输出所述基准电压。

优选地，所述第二数模转换单元的数量为多个，每个所述第二数模转换单元均输出一个所述第二模拟电压。

优选地，第二运算放大单元的输入端接收多个所述第二模拟电压，对多个所述第二模拟电压相加以输出基准电压。

优选地，所述第二模拟电压为调节所述基准电压的第二步长。

优选地，所述加法模块包括：第七运算放大器，同相输入端通过第十三电阻接收所述扫描电压以及通过第十四电阻接收所述基准电压，反相输入端通过第十一电阻接地，且反相输入端通过并联的第十二电阻和第四电容与所述第七运算放大器的输出端连接，所述第七运算放大器的输出端输出所述阈值电压。

优选地，所述阈值电压产生电路还包括：校准模块，所述校准模块分别与可调低压源模块、可调基准源模块和加法模块连接，用于根据所述可调低压源模块和所述可调基准源模块获取校准数据，并根据所述校准数据对所述加法模块输出的阈值电压进行电压补偿。

优选地，所述阈值电压产生电路还包括：校准模块，所述校准模块分别与可调低压源模块和可调基准源模块连接，用于根据所述可调低压源模块和所述可调基准源模块获取校准数据，并根据所述校准数据分别对所述可调低压源模块输出的扫描电压和所述可调基准源模块输出的基准电压进行电压补偿。

根据本发明提供的一种测试机，包括：上述的阈值电压产生电路，阈值电压产生电路用于提供高精度的阈值电压。

根据本发明提供的一种充电保护芯片测试装置，包括：上述的测试机，测试机用于提供高精度的阈值电压；以及充电保护芯片，包括电压检测单元和保护单元，电压检测单元用于接收阈值电压，以根据阈值电压判断充电电压是否超过阈值，并根据判断结果输出控制信号，保护单元与电压检测单元连接，用于接收控制信号，并根据控制信号连通或断开充电路径。

本发明的有益效果是：本发明通过两个电压源电路分别产生一个可调基准电压和一个高分辨率的可调扫描电压，可调基准电压可实现粗精度、大范围的电压输出与调节，可调扫描电压可实现高精度、小范围的电压输出与调节，通过基准电压和扫描电压相加得到的阈值电压具有高精度和快速可调的优点。

本发明在阈值电压产生电路中还设置有校准单元，在进行测试之前，分别对两个电压源电路进行校准，并根据校准数据对输出电压进行相应精度的补偿，减少了测量环节和测试时间，进一步的提高了测试速度，提高了测试机输出阈值电压的精度，满足了芯片的测试精度要求。

应当说明的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出本发明实施例提供的一种充电保护芯片测试装置的结构示意图；

图2示出本发明实施例提供的一种阈值电压产生电路的结构示意图；

图3示出图2中可调低压源模块的电路结构图；

图4示出图2中可调基准源模块的电路结构图；

图5示出图2中加法模块的电路结构图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以通过不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反的，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

下面，参照附图对本发明进行详细说明。

图1示出本发明实施例提供的一种充电保护芯片测试装置的结构示意图。

如图1所示，本实施例中，充电保护芯片测试装置包括测试机1以及充电保护芯片2。测试机1和充电保护芯片2电连接，测试机1用于提供高精度的阈值电压以对充电保护芯片2的各项性能指标进行测试。

其中，测试机1上设置有阈值电压产生电路11，阈值电压产生电路11用于提供高精度的阈值电压。

充电保护芯片2包括电压检测单元21和保护单元22。

电压检测单元21接收阈值电压产生电路11提供的阈值电压，以根据该阈值电压判断充电电压是否超过阈值，并根据判断结果输出控制信号。

保护单元22与电压检测单元21连接，用于根据电压检测单元21输出的控制信号连通或断开相应的充电路径。

图2示出本发明实施例提供的一种阈值电压产生电路的结构示意图，图3示出图2中可调低压源模块的电路结构图，图4示出图2中可调基准源模块的电路结构图，图5示出图2中加法模块的电路结构图。

如图2所示，阈值电压产生电路11包括：可调低压源模块111、可调基准源模块112以及加法模块113。

其中，可调低压源模块111包括第一参考电压单元1111、第一数模转换单元1112和第一运算放大单元1113，用于产生扫描电压。

进一步地，上述扫描信号可以第一步长进行电压的步进调节，即可以在期望的阈值范围内进行高精度的过压阈值的扫描。

参考图3，第一参考电压单元1111用于提供第一参考电压。

本实施例中，第一参考电压单元1111根据正电压源VDD如5.5V稳压输出第一参考电压如2.5V。

进一步地，第一参考电压的电压值即为扫描电压的最大调节范围。

第一数模转换单元1112的第一输入端与第一参考电压单元1111的输出端连接以接收第一参考电压，第二输入端接收第一数字信号，用于根据第一数字信号和第一参考电压输出第一模拟电压。

本实施例中，第一数模转换单元1112包括：第一运算放大器U1、第一数模转换器U2、第二运算放大器U3、第一电容C1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4。第一运算放大器U1的同相输入端与第一参考电压单元1111连接，接收第一参考电压，反相输入端连接第一数模转换器U2的第一参考电压输入端，第一运算放大器U1的输出端通过第一电阻R1和第一电容C1接地，同时第一运算放大器U1的输出端通过第一电阻R1连接第一数模转换器U2的第二参考电压输入端；第二运算放大器U3的同相输入端接地，反相输入端与第一数模转换器U2的第一模拟接地端连接，输出端通过第三电阻R3与第一数模转换器U2的第二模拟接地端连接；第一数模转换器U2的第一模拟接地端通过第二电阻R2接地，第二模拟接地端通过第四电阻R4接地，第一数模转换器U2的时钟输入端接收第一数字信号，输出端输出第一模拟电压。

进一步地，第一运算放大器U1和第一数模转换器U2的供电端接收正电压源VDD，接地端接地。第二运算放大器U3的供电端分别接收正电压源VDD和负电压源VEE。

第一运算放大单元1113的输入端与第一数模转换单元1112的输出端连接，用于根据第一模拟电压输出扫描电压。

本实施例中，第一运算放大单元1113包括第三运算放大器U4，第三运算放大器U4的同相输入端接收第一模拟电压，反相输入端与输出端连接，第三运算放大器U4的输出端输出扫描电压。

进一步地，第三运算放大器U4的供电端分别接收正电压源VDD和负电压源VEE。

进一步地，本实施例中，通过调节第一数模转换器U2的时钟输入端接收第一数字信号，可以实现对可调低压源模块111输出的扫描电压的高精度调节，进而实现扫描电压可在期望的阈值范围如0～2.5V内进行高精度过压阈值的扫描。

可调基准源模块112包括第二参考电压单元1121、第二数模转换单元1122和第二运算放大单元1123，用于产生基准电压。

进一步地，上述基准信号可以第二步长进行电压的步进调节。

参考图4，第二参考电压单元1121用于提供第二参考电压。

本实施例中，第二参考电压单元1121根据正电压源VDD如5.5V稳压输出第二参考电压如5V。

进一步地，第二参考电压的电压值即为基准电压的最大步进电压。

第二数模转换单元1122的第一输入端与第二参考电压单元1121的输出端连接以接收第二参考电压，第二输入端接收第二数字信号，用于根据第二数字信号和第二参考电压输出第二模拟电压。

本实施例中，第二数模转换单元1122包括：第四运算放大器U5、第二数模转换器U6、第五运算放大器U7、第二电容C2、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7和第八电阻R8。第四运算放大器U5的同相输入端与第二参考电压单元1121连接，接收第二参考电压，反相输入端连接第二数模转换器U6的第一参考电压输入端，第四运算放大器U5的输出端通过第五电阻R5和第二电容C2接地，同时第四运算放大器U5的输出端通过第五电阻R5连接第二数模转换器U6的第二参考电压输入端；第五运算放大器U7的同相输入端接地，反相输入端与第二数模转换器U6的第一模拟接地端连接，输出端通过第七电阻R7与第二数模转换器U6的第二模拟接地端连接；第二数模转换器U6的第一模拟接地端通过第六电阻R6接地，第二模拟接地端通过第八电阻R8接地，第二数模转换器U6的时钟输入端接收第二数字信号，输出端输出第二模拟电压。

进一步地，第四运算放大器U5和第二数模转换器U6的供电端接收正电压源VDD，接地端接地。第五运算放大器U7的供电端分别接收正电压源VDD和负电压源VEE。

第二运算放大单元1123的输入端与第二数模转换单元1122的输出端连接，用于根据第二模拟电压输出基准电压。

本实施例中，第二运算放大单元1123包括第六运算放大器U8、第九电阻R9、第十电阻R10和第三电容C3。第二运算放大单元1123的同相输入端接收第二模拟电压，反相输入端通过第九电阻R9接地，同时第二运算放大单元1123的反相输入端通过并联的第十电阻R10和第三电容C3与输出端连接，输出端输出基准电压。

进一步地，第六运算放大器U8的供电端分别接收正电压源VDD和负电压源VEE。

进一步地，本实施例中，基准电压为电压值高的共模电压，其可以在电压值允许的范围内按照一定的步长如5V对基准电压进行步进调节。

本实施例中，可调基准源模块112中第二数模转换单元1122的数量为多个，且每个第二数模转换单元1122的规格相同，用于输出多个第二模拟电压。该多个第二模拟电压均与第二运算放大单元1123的输入端连接，通过控制与第二运算放大单元1123的输入端连接的第二数模转换单元1122的数量，进而可以按照一定的步长如5V对基准电压进行步进调节。

加法模块113的输入端分别与可调低压源模块111和可调基准源模块112的输出端连接，用以接收扫描电压和基准电压，并对扫描电压和基准电压进行加法运算以输出阈值电压。如扫描电压为1.8V，基准电压为20V，则阈值电压的电压值为1.8V+20V＝21.8V。

参考图5，本实施例中，加法模块113包括第七运算放大器U9、第四电容C4、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十三电阻R13和第十四电阻R14。第七运算放大器U9的反相输入端通过第十一电阻R11接地，同相输入端通过第十三电阻R13接收扫描电压，和通过第十四电阻R14接收基准电压，第七运算放大器U9的反相输入端通过并联连接的第四电容C4和第十二电阻R12与输出端连接，第七运算放大器U9的输出端输出阈值电压。

进一步地，第七运算放大器U9的供电端分别接收正电压源VDD和负电压源VEE。

本实施例中，通过将扫描电压和基准电压相加得到阈值电压，使得阈值电压既可以通过仅调节扫描电压的方式，实现以第一步长为调节精度的高精度、小范围的电压调节，也可以通过仅调节基准电压的方式，实现以第二步长为调节精度的粗精度、大范围的电压调节，或通过调节扫描电压加调节基准电压的方式进行电压调节，调节方式灵活可控，可以实现高精度的阈值电压输出和快速的阈值电压调节。

优选地，上述第一步长小于第二步长且第一步长与第二步长属于不同的量级。进一步地，本文中量级表示第一步长和第二步长相差至少10倍，如第一步长为0.1mV，第二步长为5V。

进一步地，本文中所涉及的各运算放大器以及各数模转换单元仅为本发明所公开的一种优选试试结构，该结构在实现如图3至图5中所描述的相应功能的基础上，具有最少的测量引脚，成本低。本发明也可以采用其它的运算放大器以及各数模转换单元结构，只要具有上述引脚即可。

在一个优选的实施例中，阈值电压产生电路11还包括校准模块114，校准模块114分别与可调低压源模块111、可调基准源模块112和加法模块113连接，用于根据可调低压源模块111和可调基准源模块112获取校准数据，并根据校准数据对加法模块113输出的阈值电压进行补偿。可以减少测量环节和测试时间，进一步的提高测试速度，使得测试机输出阈值电压的精度能更好的满足芯片的测试精度要求。

在有另一个优选的实施例中，阈值电压产生电路11还包括校准模块114，校准模块114分别与可调低压源模块111和可调基准源模块112连接，用于根据可调低压源模块111和可调基准源模块112获取校准数据，并根据校准数据分别对可调低压源模块111输出的扫描电压和可调基准源模块112输出的基准电压进行补偿。可以减少测量环节和测试时间，进一步的提高测试速度，使得测试机输出阈值电压的精度能更好的满足芯片的测试精度要求。

进一步地，对上述各模块输出电压的补偿可以在程序中进行，进而减少电路设计的复杂性。

需要说明的是，上述图1所示的充电保护芯片测试装置仅是图2至图5所公开的阈值电压产生电路的其中一个应用实施例，本发明所公开的阈值电压产生电路还可应用于其他任何需要阈值电压的集成电路，如：移位寄存器电路、变频器直流母线电压保护电路、电压检测电路、同步整流控制电路、比较器电路等，此处不再一一赘述。

本发明通过两个电压源电路分别产生一个可调基准电压和一个高分辨率的可调扫描电压，可调基准电压可实现粗精度、大范围的电压输出与调节，可调扫描电压可实现高精度、小范围的电压输出与调节，通过基准电压和扫描电压相加得到的阈值电压具有高精度和快速可调的优点。

本发明在阈值电压产生电路中还设置有校准单元，在进行测试之前，分别对两个电压源电路进行校准，并根据校准数据对输出电压进行相应精度的补偿，减少了测量环节和测试时间，进一步的提高了测试速度，提高了测试机输出阈值电压的精度，满足了芯片的测试精度要求。

应当说明的是，在本文中，所含术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。

Claims (13)

1.一种阈值电压产生电路，用于实现对充电保护芯片的性能测试，其特征在于，包括：

可调低压源模块，用于根据第一参考电压和第一数字信号产生扫描电压，所述扫描电压根据所述第一参考电压和所述第一数字信号以第一步长进行步进调节；

可调基准源模块，用于根据第二参考电压和第二数字信号产生基准电压，所述基准电压根据所述第二参考电压以第二步长进行步进调节；以及

加法模块，分别与所述可调低压源模块和所述可调基准源模块连接，用于对所述扫描电压和所述基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，

其中，所述第一步长小于所述第二步长且所述第一步长与所述第二步长属于不同的量级；

所述可调低压源模块包括：

第一参考电压单元，用于提供第一参考电压；

第一数模转换单元，所述第一数模转换单元的第一输入端与所述第一参考电压单元连接，以接收所述第一参考电压，所述第一数模转换单元的第二输入端接收第一数字信号，用于根据所述第一数字信号和所述第一参考电压输出第一模拟电压；

第一运算放大单元，与所述第一数模转换单元连接，用于根据所述第一模拟电压输出所述扫描电压；

所述第一数模转换单元包括：

第一运算放大器，同相输入端与所述第一参考电压单元连接，输出端依次通过第一电阻和第一电容接地；

第一数模转换器，第一参考电压输入端与所述第一运算放大器的反相输入端连接，第二参考电压输入端通过所述第一电阻与所述第一运算放大器的输出端连接，第一模拟接地端通过第二电阻接地，第二模拟接地端通过第四电阻接地，时钟输入端接收所述第一数字信号，输出端输出所述第一模拟电压；以及

第二运算放大器，同相输入端接地，反相输入端与所述第一数模转换器的第一模拟接地端连接，输出端通过第三电阻与所述第一数模转换器的第二模拟接地端连接。

2.根据权利要求1所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述第一运算放大单元包括：

第三运算放大器，同相输入端接收所述第一模拟电压，反相输入端与输出端连接，所述第三运算放大器的输出端输出所述扫描电压。

3.根据权利要求1所述的阈值电压产生电路，其特征在于，可调基准源模块包括：

第二参考电压单元，用于提供第二参考电压；

第二数模转换单元，所述第二数模转换单元的第一输入端与所述第二参考电压单元连接，以接收所述第二参考电压，所述第二数模转换单元的第二输入端接收第二数字信号，用于根据所述第二数字信号和所述第二参考电压输出第二模拟电压；以及

第二运算放大单元，与所述第二数模转换单元连接，用于根据所述第二模拟电压输出所述基准电压。

4.根据权利要求3所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述第二数模转换单元包括：

第四运算放大器，同相输入端与所述第二参考电压单元连接，输出端依次通过第五电阻和第二电容接地；

第二数模转换器，第一参考电压输入端与所述第四运算放大器的反相输入端连接，第二参考电压输入端通过所述第五电阻与所述第四运算放大器的输出端连接，第一模拟接地端通过第六电阻接地，第二模拟接地端通过第八电阻接地，时钟输入端接收所述第二数字信号，输出端输出所述第二模拟电压；以及

第五运算放大器，同相输入端接地，反相输入端与所述第二数模转换器的第一模拟接地端连接，输出端通过第七电阻与所述第二数模转换器的第二模拟接地端连接。

5.根据权利要求3所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述第二运算放大单元包括：

第六运算放大器，同相输入端接收所述第二模拟电压，反相输入端通过第九电阻接地，且反相输入端通过并联的第十电阻和第三电容与所述第六运算放大器的输出端连接，所述第六运算放大器的输出端输出所述基准电压。

6.根据权利要求3所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述第二数模转换单元的数量为多个，每个所述第二数模转换单元均输出一个所述第二模拟电压。

7.根据权利要求6所述的阈值电压产生电路，其特征在于，第二运算放大单元的输入端接收多个所述第二模拟电压，对多个所述第二模拟电压相加以输出基准电压。

8.根据权利要求7所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述第二模拟电压为调节所述基准电压的第二步长。

9.根据权利要求1所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述加法模块包括：

第七运算放大器，同相输入端通过第十三电阻接收所述扫描电压以及通过第十四电阻接收所述基准电压，反相输入端通过第十一电阻接地，且反相输入端通过并联的第十二电阻和第四电容与所述第七运算放大器的输出端连接，所述第七运算放大器的输出端输出所述阈值电压。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述阈值电压产生电路还包括：

校准模块，所述校准模块分别与可调低压源模块、可调基准源模块和加法模块连接，用于根据所述可调低压源模块和所述可调基准源模块获取校准数据，并根据所述校准数据对所述加法模块输出的阈值电压进行电压补偿。

11.根据权利要求1至9中任一项所述的阈值电压产生电路，其特征在于，所述阈值电压产生电路还包括：

校准模块，所述校准模块分别与可调低压源模块和可调基准源模块连接，用于根据所述可调低压源模块和所述可调基准源模块获取校准数据，并根据所述校准数据分别对所述可调低压源模块输出的扫描电压和所述可调基准源模块输出的基准电压进行电压补偿。

12.一种测试机，其特征在于，包括如权利要求1至11中任一项所述的阈值电压产生电路，所述阈值电压产生电路用于提供高精度的阈值电压。

13.一种充电保护芯片测试装置，其特征在于，包括：

如权利要求12所述的测试机，所述测试机用于提供高精度的阈值电压；以及

充电保护芯片，包括电压检测单元和保护单元，

所述电压检测单元用于接收所述阈值电压，以根据所述阈值电压判断充电电压是否超过阈值，并根据判断结果输出控制信号，

所述保护单元与所述电压检测单元连接，用于接收所述控制信号，并根据所述控制信号连通或断开充电路径。

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