CN112925007A - 一种pet探测器的测量方法、系统及计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种PET探测器的测量方法、系统及计算机可读存储介质，先通过所述电子学测量模块预设电子学参数，然后测量两个待检测PET探测器模块的符合数据，最后调用分析软件自动分析测量结果，能够一次采集，自动分析像素级别和模块级别时间性能和能量性能，以及探测器的计数率，模块级探测器性能与PET系统整机性能相近，故可以认为获得了PET系统整机性能。本发明不仅可用来评估PET探测器本征性能以及检测两个探测器符合性能，也可以扩展用于检测其他辐射探测器、闪烁晶体和光电转换器件。
Description
技术领域
本发明涉及PET探测器技术领域，尤其涉及一种PET探测器的测量方法、系统及计算机可读存储介质。
背景技术
正电子发射计算机断层扫描成像系统(Positron Emission TomographyScanner，PET)是一种核医学影像设备，主要由探测器系统、电子学系统和重建系统组成。其中探测器系统由闪烁晶体、光电转换器件和前端电子学组成。PET通过采集判选注入活体的放射性示踪剂产生的一对gamma光子来实现断层扫描成像，其基本原理是利用闪烁晶体将高能gamma光子捕获转换为低能可见光，然后通过光电转换器件将可见光转换为模拟电信号，并利用模拟调理电路将模拟电信号进行放大成形后测量该信号的能量和到达时间信息，通过汇总整个PET系统所有探测器测量得到的所有信息，并对这些信息在后端进行合理的符合判选挑选出真实有效的信号，再通过一系列图像算法，可以重建出具有临床诊断意义的PET图像。其中探测器模块作为PET系统最前端的部件，其性能直接影响到PET图像质量。因此，随着PET成像技术的进一步发展，对PET探测器进行快速高效的性能检测在PET研发及生产过程中变得愈发重要。
然而，当前不存在一套标准的PET探测器检测平台，目前主流的检测方法是使用示波器或者数据采集卡根据特定的测量参数逐项手动采集数据分析结果，整个过程耗时耗力，且结果多关注单通道性能。在PET系统中，单通道的性能最终决定了整个系统的性能，但因为PET系统通道多(上万通道)，且因为闪烁晶体、光电转换器件以及电子学之间皆存在不一致性，加之PET探测器前端电子学往往采用多路复用的电路结构来降低电子学复杂度，这些都导致单通道的性能往往远好用PET系统整体性能，因此只检测单通道性能无法预估PET系统整机性能。
发明内容
为了克服上述技术缺陷，本发明的目的在于提供一种可以一次性获取PET探测器的模块级性能的PET探测器的测量方法、系统及计算机可读存储介质。
本发明公开了一种PET探测器的测量方法，所述PET探测器包括若干个探测器模块，包括如下步骤：解码所述探测器模块的符合事件的数据包，获取各像素的能谱；将所述各像素的能谱以预设全能峰为修正目标刻度，获取各像素的能量修正系数a；获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率；设定一预设能量窗范围；获取所述任意两探测器模块的符合事件，一对像素的能量值均位于所述预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率。
优选地，所述设定一预设能量窗范围步骤后还包括：统计每个像素位于所述预设能量窗范围内的计数；获取每个探测器模块内位于所述预设能量窗内的总计数，并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。
优选地，所述获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布包括：获取所述选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布，并通过高斯函数进行拟合，平均值记为所述选定符合事件的时间修正常数，通过所述时间差分布的sigma值获取所述选定符合事件的时间分辨率；获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布。
优选地，所述通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率包括：将两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个所述选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为所述两探测器模块的时间差分布；并通过高斯函数进行拟合，通过所述时间差分布的sigma值获取所述两探测器模块的时间分辨率。
优选地，所述获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率包括：获取各像素的能量值E0，各像素的能量值E0与该像素的能量修正系数a的乘积记为该像素的修正后能量值E1＝a*E0；根据每个所述探测器模块的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块的总能谱，对任意两探测器模块的总能谱拟合获取该任意两探测器模块的每个探测器模块的能量分辨率。
本发明还公开了一种PET探测器的测量系统，其特征在于，包括电子学测量模块、数据采集模块、时钟模块、控制模块和分析模块；所述时钟模块用于为所述电子学测量模块和所述数据采集模块提供时钟，并为所述电子学测量模块提供同步信号；所述数据采集模块用于捕获所述探测器模块的符合事件；所述电子学测量模块测量获取所述符合事件的各像素的能量信息和时间信息，并打包形成数据包；所述控制模块控制所述分析模块解码所述数据包，获取各像素的能谱；并将所述各像素的能谱以预设全能峰为修正目标刻度，获取各像素的能量修正系数a；获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率；所述控制模块设定一预设能量窗范围，并判定对像素的能量值均位于所述预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；所述分析模块获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；并通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率。
优选地，所述分析模块统计每个像素位于所述预设能量窗范围内的计数、和每个探测器模块内位于所述预设能量窗内的总计数，并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。
优选地，所述分析模块获取所述选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布，并通过高斯函数进行拟合，平均值记为所述选定符合事件的时间修正常数，通过所述时间差分布的sigma值获取所述选定符合事件的时间分辨率；获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；所述分析模块还将两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个所述选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为所述两探测器模块的时间差分布；并通过高斯函数进行拟合，通过所述时间差分布的sigma值获取所述两探测器模块的时间分辨率。
优选地，所述分析模块获取各像素的能量值E0，并将a*E0记为该像素的修正后能量值E1；所述分析模块根据每个所述探测器模块的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块的总能谱，并对任意两探测器模块的总能谱通过高斯函数进行拟合，以获取该任意两探测器模块的每个探测器模块的能量分辨率。
本发明还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一所述的方法的步骤。
采用了上述技术方案后，与现有技术相比，具有以下有益效果：
1.可以自动分析评估PET探测器的像素级的能量性能、时间性能、计数率，还可以自动分析评估模块级的能量性能、时间性能、计数率，且检测过程高度自动化，节省人工成本和时间成本；由于模块级别的性能指标与整机更为接近，满足在PET研发和生产过程中对PET探测器性能快速、精确测量的需求；
2.本发明提供的测量系统，可以将其中一个探测器模块替换为已知性能的标准探头，用来评估待检测模块的本征性能，也可以使用两个待检测探测器模块符合自检测，甚至可以扩展用来评估检测其他辐射探测器、闪烁晶体和光电转换器件。
附图说明
图1为本发明提供的PET探测器的测量方法的流程图；
图2为本发明提供的PET探测器的测量系统的结构示意图；
图3为本发明提供的PET探测器的测量方法的一优选实施例的像素级能量分布图；
图4为本发明提供的PET探测器的测量方法的一优选实施例的模块级能量分布图；
图5为本发明提供的PET探测器的测量方法的一优选实施例的计数flood map；
图6为本发明提供的PET探测器的测量方法的一优选实施例的模块级时间分布图；
图7为本发明提供的PET探测器的测量方法的一优选实施例的模块级能量分布图。
附图标记：1-暗箱，2-放射源，3-探测器模块，4-电源模块，5-电子学测量模块，6-DAQ模块，7-时钟模块，8-控制模块，9-分析模块。
具体实施方式
以下结合附图与具体实施例进一步阐述本发明的优点。
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身并没有特定的意义。因此，“模块”与“部件”可以混合地使用。
参见附图1，本发明公开了一种PET探测器的测量方法，PET探测器包括若干个探测器模块，包括如下步骤：
S1、解码探测器模块的符合事件的数据包，获取各像素的能谱；
S2、将各像素的能谱以预设全能峰为修正目标刻度，获取各像素的能量修正系数a；
S3、获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取探测器模块的能量分辨率；
S4、设定一预设能量窗范围；获取任意两探测器模块的符合事件，一对像素的能量值均位于预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；
S5、获取选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取两探测器模块的每个探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；通过任意两探测器模块的选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率。
本发明提供一优选实施例，对两个待测量探测器模块进行性能分析测量，在该实施例中，探测器模块为8*8的探测器阵列，故步骤S1中共能获取2*8*8＝128个能谱。
步骤S2中，预设全能峰为511KeV全能峰，511KeV全能峰是标准的gamma光子具备的能量，在实际过程中，像素点得到的能量不可能达到511KeV，电路上芯片，走线，阻容等无源器件都会造成损耗，故实际得到的能力值可能有200Kev，300Kev等。则需要对各像素的能量进行修正，使其位于511Kev能量值的位置。不同的像素点能量修正系数是不同的，故需要做各像素的能量修正系数。
步对于骤S3，参见附图3-4，由于一个模块具有8*8＝64个像素点，每个像素点都会产生的能量曲线，将所有像素点进行修正后的能量曲线叠加即可获得模块的总能谱。
具体的，获取各像素的能量值E0，各像素的能量值E0与该像素的能量修正系数a的乘积记为该像素的修正后能量值E1＝a*E0。根据每个探测器模块的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块的总能谱，对任意两探测器模块的总能谱拟合获取该任意两探测器模块的每个探测器模块的能量分辨率。
在PET探测器的性能评估过程中，通常还需要统计计数率，是PET探测器性能的一项非常重要的指标，能量分辨率和时间分辨率也必须要有一定量的数据才具备实际的意义，即需要有足够的样本。故本发明在设定一预设能量窗范围之后还需要统计每个像素位于预设能量窗范围内的计数和每个探测器模块内位于预设能量窗内的总计数，绘制计数flood map，参见附图5，以计数率的形式输出；并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。预设能量窗通常为425keV～650keV。
放射源会产生一对反向近180°的光子打到探测器模块上，接收到两个光子之间的连线称为响应线，响应线上的一对数据称为符合事件。理论上两个模块之间的任何像素点都可以有响应线，本实施例中的响应线理论上则有64*64＝4096个，而位于预设能量窗内的响应线的数量应小于此数。
参见附图6-7，步骤S4具体包括：
S401、获取选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块的所有选定符合事件的时间差分布；
S402、通过高斯函数对所有选定符合事件的时间差分布进行拟合，平均值记为选定符合事件的时间修正常数，通过时间差分布的sigma值获取选定符合事件的时间分辨率；
S403、获取两探测器模块的每个探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；
S404、将两探测器模块的所有选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为两探测器模块的时间差分布；
S405、通过高斯函数对两探测器模块的时间差分布进行拟合，通过时间差分布的sigma值获取两探测器模块的时间分辨率。
需要说明的是，时间差分布图为标准的高斯分布，时间分辨率为：半高宽*时间轴刻度；峰值一半的宽度即为半高宽，半高宽＝sigma*2.354，2.354在本实施例的高斯拟合中为一标准参数。
综上所述，本发明可以自动分析评估PET探测器的像素级的能量性能、时间性能、计数率，还可以自动分析评估模块级的能量性能、时间性能、计数率，且检测过程高度自动化，节省人工成本和时间成本；由于模块级别的性能指标与整机更为接近，满足在PET研发和生产过程中对PET探测器性能快速、精确测量的需求。
参见附图2，本发明还公开了一种PET探测器的测量系统，包括：
-暗箱1，用于为待检测PET探测器模块3提供光屏蔽环境；
-放射源2，为PET探测器模块3提供辐射源，本实施例使用Na22正电子源，放射源2通过特定支架精确放置于两个待检测探测器模块3的中央；
-探测器模块3，由闪烁晶体、SiPM以及载板构成；闪烁晶体用于捕获gamma光子，并将其转换为低能可见光；SiPM为光电转换器件，用于将低能可见光转换为模拟电信号；载板用于将SiPM输出的模拟信号进行预处理，闪烁晶体与SiPM一一对应；载板使用多路复用的电阻网络将64个SiPM信号引出，并以行和列为单位对信号加和，以此达到减少信号通道数的目的；
-电子学测量模块5，通过FPC线与探测器模块3相连，用于对探测器测量到的模拟信号进行处理后测量其能量和时间信息，并对射线击中探测器位置进行编码，最后将能量、时间和位置信息打包上传至数据采集(Data acquisition，DAQ)模块6；在本实施例中，测量获取符合事件的各像素的能量信息和时间信息，并打包形成数据包上传至DAQ模块6；
-DAQ模块6，通过光纤与电子学测量模块5通讯，用于接收电子学测量模块5上传的两个探测器模块3探测到的gamma事例，在一定深度范围内，对gamma事例进行两两比较，假若两个事例分别来自不同的探测器模块3，且到达探测器的时间差在预设时间范围内，则认为这两个事例来自同一次正负电子湮灭事件，将这两个事例的能量、位置和时间差打包，通过PCIE传输到PC端；
-时钟模块7，用于为电子学测量模块5和DAQ模块6提供时钟，并为电子学测量模块5提供同步信号；
-电源模块4，用于为电子学测量模块5供电，并向SiPM提供偏压；
-控制模块8，通过PC端软件设置电子学参数，如能量阈值、时间阈值、位置甄别阈值和符合时间窗等；控制和检测PET探测器SiPM偏压；检测PET探测器载板温度；为电子学系统分配本地地址指令；为电子学测量模块5提供同步信号指令；读取并存储DAQ模块6的测量数据；调用分析模块9分析测试数据、获取测试参数；在本实施例中，设定一预设能量窗范围，并判定对像素的能量值均位于预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；
-分析模块9，用于解码DAQ模块传输的数据，并通过算法计算PET探测器的像素级的能量性能、时间性能、计数率，还可以自动分析评估模块级的能量性能、时间性能、计数率等。
具体地，分析模块9统计每个像素位于预设能量窗范围内的计数、和每个探测器模块3内位于预设能量窗内的总计数，并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。
分析模块9还获取选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块3的所有选定符合事件的时间差分布，并通过高斯函数进行拟合，平均值mean记为选定符合事件的时间修正常数，通过时间差分布的sigma值获取选定符合事件的时间分辨率；获取两探测器模块3的每个探测器模块3内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；分析模块9还将两探测器模块3的所有选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为两探测器模块3的时间差分布；并通过高斯函数进行拟合，通过时间差分布的sigma值获取两探测器模块3的时间分辨率。
分析模块9还获取各像素的能量值E0，并将a*E0记为该像素的修正后能量值E1；分析模块9根据每个探测器模块3的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块3的总能谱，并对两探测器模块3的总能谱通过高斯函数进行拟合，以获取该两探测器模块3的每个探测器模块3的能量分辨率。
本发明提供的测量系统，可以将其中一个探测器模块替换为已知性能的标准探头，用来评估待检测模块的本征性能，也可以使用两个待检测探测器模块符合自检测，甚至可以扩展用来评估检测其他辐射探测器、闪烁晶体和光电转换器件。
本发明还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一的方法的步骤。
应当注意的是，本发明的实施例有较佳的实施性，且并非对本发明作任何形式的限制，任何熟悉该领域的技术人员可能利用上述揭示的技术内容变更或修饰为等同的有效实施例，但凡未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何修改或等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种PET探测器的测量方法，所述PET探测器包括若干个探测器模块，其特征在于，包括如下步骤：
解码所述探测器模块的符合事件的数据包，获取各像素的能谱；
将所述各像素的能谱以预设全能峰为修正目标刻度，获取各像素的能量修正系数a；
获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率；
设定一预设能量窗范围；获取所述任意两探测器模块的符合事件，一对像素的能量值均位于所述预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；
获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率。
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述设定一预设能量窗范围步骤后还包括：
统计每个像素位于所述预设能量窗范围内的计数；
获取每个探测器模块内位于所述预设能量窗内的总计数，并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。
3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布包括：
获取所述选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布，并通过高斯函数进行拟合，平均值记为所述选定符合事件的时间修正常数，通过所述时间差分布的sigma值获取所述选定符合事件的时间分辨率；
获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布。
4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率包括：
将两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个所述选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为所述两探测器模块的时间差分布；
并通过高斯函数进行拟合，通过所述时间差分布的sigma值获取所述两探测器模块的时间分辨率。
5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率包括：
获取各像素的能量值E0，各像素的能量值E0与该像素的能量修正系数a的乘积记为该像素的修正后能量值E1＝a*E0；
根据每个所述探测器模块的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块的总能谱，对任意两探测器模块的总能谱拟合获取该任意两探测器模块的每个探测器模块的能量分辨率。
6.一种PET探测器的测量系统，其特征在于，包括电子学测量模块、数据采集模块、时钟模块、控制模块和分析模块；
所述时钟模块用于为所述电子学测量模块和所述数据采集模块提供时钟，并为所述电子学测量模块提供同步信号；
所述数据采集模块用于捕获所述探测器模块的符合事件；
所述电子学测量模块测量获取所述符合事件的各像素的能量信息和时间信息，并打包形成数据包；
所述控制模块控制所述分析模块解码所述数据包，获取各像素的能谱；并将所述各像素的能谱以预设全能峰为修正目标刻度，获取各像素的能量修正系数a；获取各像素的修正后能量值E1，并根据各像素的修正后能量值E1获取所述探测器模块的能量分辨率；
所述控制模块设定一预设能量窗范围，并判定对像素的能量值均位于所述预设能量窗范围内的符合事件记为选定符合事件；
所述分析模块获取所述选定符合事件的时间修正常数和时间分辨率；并获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；并通过所述任意两探测器模块的所述选定符合事件的时间差分布获取该任意两探测器模块的时间差分布和时间分辨率。
7.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述分析模块统计每个像素位于所述预设能量窗范围内的计数、和每个探测器模块内位于所述预设能量窗内的总计数，并以像素为横坐标、计数为纵坐标获取二维的计数统计图。
8.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述分析模块获取所述选定符合事件的两个像素之间的时间差，并获取两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布，并通过高斯函数进行拟合，平均值记为所述选定符合事件的时间修正常数，通过所述时间差分布的sigma值获取所述选定符合事件的时间分辨率；获取所述两探测器模块的每个所述探测器模块内的所有选定符合事件的时间分辨率分布；
所述分析模块还将两探测器模块的所有所述选定符合事件的时间差分布平移至时间修正常数值的位置，获取每个所述选定符合事件的平移值，该平移值的分布记为所述两探测器模块的时间差分布；并通过高斯函数进行拟合，通过所述时间差分布的sigma值获取所述两探测器模块的时间分辨率。
9.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述分析模块获取各像素的能量值E0，并将a*E0记为该像素的修正后能量值E1；
所述分析模块根据每个所述探测器模块的像素数量和每个像素的修正后能量值E1获取该探测器模块的总能谱，并对任意两探测器模块的总能谱通过高斯函数进行拟合，以获取该任意两探测器模块的每个探测器模块的能量分辨率。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一所述的方法的步骤。
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