CN112924890A - 一种检测电源的方法、装置和电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供的一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
Description
技术领域
本申请涉及电子设备领域,更具体的说,是涉及一种检测电源的方法、装置和电子设备。
背景技术
目前,电子设备的电源在开发时是针对某一功率的电源,但是,随着技术的发展,电子设备的电源提高了,为其供电的电源也能提供较高的功率,当其与现有的较低功率的供电电源相连接,该较低的供电电源无法为电子设备的系统提供足够的功率,导致电子设备系统关闭。
因此,亟需一种检测供电电源的方法,以确定电子设备连接的电源是哪种。
发明内容
有鉴于此,本申请提供了一种检测电源的方法,解决现有技术中无法确定电子设备连接的电源能够提供的功耗,导致电子设备可能系统关闭的问题。
为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
一种检测电源的方法,包括:
基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
可选的,上述的方法,检测到电子设备连接目标电源之后,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数之前,还包括:
检测所述目标电源的识别电压值;
基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。
可选的,上述的方法,检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:
按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,上述的方法,所述基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:
基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
可选的,上述的方法,所述将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果之后,还包括:
基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
分析所述供电参数,得到分析结果。
可选的,上述的方法,所述按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,包括:
基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,上述的方法,所述分析所述供电参数,得到第二分析结果,包括:
分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
一种检测电源的装置,包括:
检测模块,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
分析模块,用于基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
可选的,上述的装置,还包括:
识别模块,用于检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值大于预设电压阈值,触发检测模块。
一种电子设备,包括:
电源接口,用于与电源相连,接收电源提供的电能;
处理器,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本申请提供了一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1是本申请提供的一种检测电源的方法实施例1的流程图;
图2是本申请提供的一种检测电源的方法实施例2的流程图;
图3是本申请提供的一种检测电源的方法实施例3的流程图;
图4是本申请提供的一种检测电源的方法实施例4的流程图;
图5是本申请提供的一种检测电源的方法实施例4中230W和300W电源的斜率曲线示意图;
图6是本申请提供的一种检测电源的方法实施例5的流程图;
图7是本申请提供的一种检测电源的方法实施例5中两种电源的系统功率和电压值的变化示意图;
图8是本申请提供的一种检测电源的装置实施例的结构示意图;
图9是本申请提供的一种电子设备实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
如图1所示的,为本申请提供的一种检测电源的方法实施例1的流程图,该方法应用于一电子设备,该方法包括以下步骤:
步骤S101:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
其中,电子设备与电源连接后,该电源为电子设备供电。
具体实施中,电源可以基于电子设备的系统功耗提供相应的电能,后续实施例中会针对该内容进行详细说明,本实施例中不做详述。
具体的,不同的电源为电子设备提供的供电参数不同,而且不同电源的输出功率也不同。
其中,该目标电源是待确定种类的电源。
步骤S102:基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数。
其中,所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
具体的,该目标特征参数表征了该目标电源的种类,不同的电源目标特征参数不同。
例如,为电子设备供电的电源可以为203W(瓦特)电源、300W、400W等,本申请中不对于电源的具体种类做限制,而是用于说明区分不同的电源。
因此,基于目标电源的供电参数可分析得到其目标特征参数,以实现基于该目标特征参数确定该目标电源的类型。
后续实施例中会针对该过程进行详细说明,本实施例中不做详述。
综上,本实施例提供的一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
如图2所示的,为本申请提供的一种检测电源的方法实施例2的流程图,该方法包括以下步骤:
步骤S201:检测所述目标电源的识别电压值;
其中,为电子设备提供电能的电源中均设置有识别结构,基于该识别结构的电压值(识别电压),电子设备通过检测该识别电压可以初步确定该目标电源的类型。
例如,230W的电源的识别电源为2.651V(伏)到2.929V。
步骤S202:基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
其中,对于检测到的目标电源的识别电压值与预设电压阈值进行比对,判断其是否小于预设电压阈值。
其中,该预设电压阈值可以根据实际情况而定。
具体实施中,230W电源的识别电压为2.651V到2.929V,更高功率的电源供电时,没有更多的识别电压区间分配,而是将其他预留的电压范围分配成了未知电压(un-knowadapter),导致无法基于该识别电压识别目标电源。
因此,当该识别电压值小于预设电压阈值时,可以基于预设的识别电压与电源类型的对应关系,确定该识别电压值对应的电源类型。而当该识别电压值不小于该预设电压阈值时,则可能是多种电源中的某一个提供的电能,所以,需要进一步确定,执行后续步骤S203-204。
例如,当识别电压小于2.651V时,则可以基于预设的对应关系确定其对应的电源类型,而在识别电压值大于2.651V,无法确定具体是哪种电源类型,则需要进一步基于供电参数进行分析确定目标电源的目标特征参数,以实现基于该目标特征参数确定该目标电源的类型。
步骤S203:基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
步骤S204:基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数。
其中,步骤S203-204与实施例1中的步骤S101-102一致,本实施例中不做赘述。
综上,本实施例提供的一种检测电源的方法中,还包括:检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。本方案中,先基于目标电源的识别电压值来判断其是否有对应的目标电源,在无法基于识别电压值进行判断目标电源的类型时,才进行基于目标电源的供电参数进行分析判断,减小电子设备确定目标电源类型的数据处理负担。
如图3所示的,为本申请提供的一种检测电源的方法实施例3的流程图,该方法应用于一电子设备,该方法包括以下步骤:
步骤S301:基于检测到电子设备连接目标电源,按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同;
其中,目标电源在与电子设备连接后,为电子设备提供电能,具体是依据电子设备的系统需求提供相应的功率即系统功率,以及相应的电压值。
其中,该第一获取条件是按照系统功率达到特定数值时,记录该系统功率以及相应的电压值。
作为一个具体示例,第一电源为230W电源,第二电源为300W电源,该第一电源的动载荷(dynamic load)情况下,230W对应的输出电压范围为19.5-21V,300W对应的输出电压范围为17.1-21.4V,也就是说,在相同的系统功率情况下,其输出电压范围相近。而二者之间的输出电压差距是由于电源的阻抗导致。
因此,本示例中,在200W、210W、230W分别记录当前的电压值,以实现基于输出功率和电压值进行分析确定相应的电源类型的目的。
需要说明的是,具体实施中,为了降低电子设备的数据处理负担,可以在执行检测识别电压的步骤过程中,也检测供电参数的步骤,只有在基于识别电压无法识别电源时,才基于该供电参数进行分析;而在基于识别电压可以识别电源时,则抛弃该供电参数。当前,本申请中不对于该基于识别电压进行确定电源以及基于供电参数确定电源的组合方式进行限制,可以只采用基于供电参数进行确定电源,具体实施中可以根据实际情况而定。
步骤S302:基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数。
其中,步骤S302与实施例1中的步骤S102一致,本实施例中不做赘述。
综上,本实施例提供的一种检测电源的方法中,检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。本方案中,按照特定的获取条件,多次获取目标电源为电子设备供电的系统功率和电压值,以实现后续基于该系统功率和电压值进行分析确定电源的目的。
如图4所示的,为本申请提供的一种检测电源的方法实施例4的流程图,该方法包括以下步骤:
步骤S401:基于检测到电子设备连接目标电源,按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同;
其中,步骤S401与实施例3中的步骤S301一致,本实施例中不做赘述
步骤S402:基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
需要说明的是,本申请中,该目标特征参数具体是与目标电源本身的特性相关的参数,比如与电源的阻抗相关的参数。
由于不同的电源结构不同,其阻抗也不相同,因此,在电源输出电能时,其阻抗分得部分电压,导致该电源输出电压发生降低的情况,由于阻抗不同,相同输出电流而导致不同电源的输出电压发生不同程度的降低。
本申请中,基于该系统功率和电压值分析得到相应的电流值。
步骤S403:依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
本申请中,该目标特征参数具体是与电源本身的特性相关的参数,例如,不同电源内部结构不同,导致不同电源的阻抗不同,使得该电压与电流形成的斜率曲线也不同。
其中,该目标电源跟随电流变化而电压变化情况,由于U=IR,其中,U为阻抗分得的电压,I为电源输出的电流,R为电源的阻抗值,即该电压变化是由于电流的变化,而电源的阻抗值理论上是一定值,所以,其生成的斜率曲线是可以基于几个坐标点(电流电压)绘制的。
具体的,以电压值作为纵坐标,电流值作为横坐标,绘制第一斜率曲线,该第一斜率曲线,该第一斜率曲线表征了在一电流范围内,电压降低的情况。
步骤S404:将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
具体的,电子设备中预设有不同电源对应的斜率曲线,则将该第一斜率曲线与该预设斜率曲线进行比对,得到第一比对结果,二者匹配或者不匹配。
如下图5所示的为230W和300W电源的斜率曲线示意图,其中i1为300W电源的斜率曲线,i2是230W电源的斜率曲线。
步骤S405:基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
步骤S406:基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
其中,该第一比对结果表征该第一斜率曲线与哪个电源的预设斜率曲线匹配,即可确定该目标电源是哪个电源。
其中,当该第一斜率曲线与第一电源的斜率曲线匹配,则该目标电源是第一电源,当该第一斜率曲线与第二电源的斜率曲线匹配,则该目标电源是第二电源。
需要说明的是,本实施例中仅是以第一电源的斜率曲线和第二电源的斜率曲线表示有不同电源的斜率曲线,并不限制只有两种电源以及只有两种电源的斜率曲线。
而且,本实施例中,该第一斜率曲线与预设斜率曲线匹配,可以是在一误差范围内,而不限制是斜率取值完全相同,该误差范围可以根据实际情况进行设定,本申请中不做限制。
综上,本实施例提供的一种检测电源的方法中,所述基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。本方案中,基于多组供电参数计算相应数量的电流值,将电流值与相应的电压值作为横纵坐标,绘制第一斜率曲线,并与预设斜率曲线进行比对,即可得到该目标电源与哪种电源的斜率曲线对应,即确定目标电源是哪种电源。
如图6所示的,为本申请提供的一种检测电源的方法实施例5的流程图,该方法包括以下步骤:
步骤S601:基于检测到电子设备连接目标电源,按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同;
步骤S602:基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
步骤S603:依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
步骤S604:将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
步骤S605:基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
步骤S606:基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源;
其中,步骤S601-606与实施例4中的步骤S401-406一致,本实施例中不做赘述。
步骤S607:基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
需要说明的是,本实施例中是进一步验证核实实施例4中确定的目标电源的步骤。
具体的,该预设功率条件是某一电源的额定输出功率,如230W等,相应的,该预设电压阈值是电源在动载荷(dynamic load)情况下对应的输出电压范围下限值,如230W的输出电压下限值19.5V。
具体实施中,为了提高准确度,需要保证多次出现该系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值的情况。
作为一个具体示例,当连续三次系统功率达到230W且电压大于19.5V。
其中,该第二获取条件可以是按照周期进行获取,如1ms(毫秒)。
具体的,该步骤S607,包括:
基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
具体的,该第二获取条件可以是在特定范围内执行的,如在某一小功率电源的额定输出功率到大功率电源的最大输出功率之间范围进行获取。
例如,该电源为从230W或300W甚至更高输出功率的电源中确定时,则在230W(230W电源的额定功率)到345W(300W电源的最大输出功率)之间进行周期获取。
具体的,当系统功率满足预设功率条件,且与系统功率对应的电压值大于预设电压阈值时,开始以第二获取条件进行采集,以使得基于该第二获取条件采集得到的系统功率和电压值进行分析。
步骤S608:分析所述供电参数,得到分析结果。
具体的基于以第二获取条件获取的供电参数(系统功率和电压值)进行分析,得到分析结果,以确定该目标电源具体是第一电源还是第二电源。
具体的,该步骤S608,包括:
步骤S6081:分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
步骤S6082:将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
步骤S6083:基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源,所述第一电源的输出功率大于第二电源的输出功率;
步骤S6084:基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
其中,该步骤S6081-6084的过程参考实施例步骤402-406,本实施例中不做详述。
需要说明的是,当电源输出的系统功率大于其额定功率后,由于其阻抗的功耗,导致其输出的电压呈现明显下降的趋势。
例如,当该目标电源为230W电源,则其提供的系统功率大于230W后,其相应的电压值下降迅速,当该目标电源为300W电源,则其提供的系统功率大于230W后,其相应的电压值下降速度与小于230W时相近。
本实施例中,当该目标电源提供的系统功率大于某一电源的输出功率时,基于该系统功率以及相应电压值进行分析计算,确定相应的电流值与电压值组成的斜率曲线,进一步将该斜率曲线与电源预设斜率曲线进行比对,确定相应的电源。
具体实施中,可以将第一电源和第二电源的预设斜率曲线由至少两个部分组成的,两个部分的分割区是较小输出功率的电源的输出功率。
如图7所示的为两种电源的系统功率和电压值的变化示意图,包括345W和450W两种电源,该示意图中,电压为横坐标,系统功率为纵坐标,该示意图中是两条曲线ab分别表示了两种电源在17.10V到21.4V之间的系统功率变化情况,其中,c表示了与b相同斜率。根据该示意图可知的,不同的电源在相同电压范围内,其输出功率增量不同,大输出功率的电源,其输出功率的增量更大。
综上,本实施例提供的一种检测电源的方法,还包括:基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;分析所述供电参数,得到分析结果。本方案中,能够进一步验证核实前面步骤中确定的目标电源,提高分析的准确度。
与上述本申请提供的一种检测电源的方法实施例相对应的,本申请还提供了应用该检测电源的方法的装置实施例。
如图8所示的为本申请提供的一种检测电源的装置实施例的结构示意图,该装置包括以下结构:检测模块801和分析模块802;
其中,检测模块801,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
其中,分析模块802,用于基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
可选的,该装置,还包括:
识别模块,用于检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值大于预设电压阈值,触发检测模块。
可选的,检测模块,用于:
按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,分析模块,用于:
基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
可选的,分析模块,还用于:
基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
分析所述供电参数,得到分析结果。
可选的,分析模块按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,包括:
基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,分析模块分析所述供电参数,得到第二分析结果,包括:
分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
综上,本实施例提供的一种检测电源的装置,包括:检测模块,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;分析模块,用于基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
与上述本申请提供的一种检测电源的方法实施例相对应的,本申请还提供了应用该检测电源的方法的电子设备实施例。
如图9所示的为本申请提供的一种电子设备实施例的结构示意图,该电子设备包括以下结构:电源接口901和处理器902;
其中,该电源接口901,用于与电源相连,接收电源提供的电能;
其中,该处理器902,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
具体实施中,该电源接口可以采用方口电源接口。
具体实施中,该处理器可以是能够进行数据处理的功能结构,如CPU(centralprocessing unit,中央处理器)、EC(Embedded Controller,嵌入式控制器)等。
可选的,该处理器还用于:
检测所述目标电源的识别电压值;
基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。
可选的,该处理器检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:
按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,该处理器基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:
基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
可选的,该处理器将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果之后,还包括:
基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
分析所述供电参数,得到分析结果。
可选的,该处理器按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,包括:
基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
可选的,该处理器分析所述供电参数,得到第二分析结果,包括:
分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
综上,本实施例提供的一种电子设备,包括:电源接口,用于与电源相连,接收电源提供的电能;处理器,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例提供的装置而言,由于其与实施例提供的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
对所提供的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所提供的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种检测电源的方法,包括:
基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
2.根据权利要求1所述的方法,检测到电子设备连接目标电源之后,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数之前,还包括:
检测所述目标电源的识别电压值;
基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。
3.根据权利要求1所述的方法,检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:
按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
4.根据权利要求3所述的方法,所述基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:
基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
5.根据权利要求4所述的方法,所述将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果之后,还包括:
基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
分析所述供电参数,得到分析结果。
6.根据权利要求5所述的方法,所述按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,包括:
基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
7.根据权利要求6所述的方法,所述分析所述供电参数,得到第二分析结果,包括:
分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
8.一种检测电源的装置,包括:
检测模块,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
分析模块,用于基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
9.根据权利要求8所述的装置,还包括:
识别模块,用于检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
基于所述识别电压值大于预设电压阈值,触发检测模块。
10.一种电子设备,包括:
电源接口,用于与电源相连,接收电源提供的电能;
处理器,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
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