CN112858388B - 一种冷镜式露点仪探头 - Google Patents

一种冷镜式露点仪探头 Download PDF

Info

Publication number
CN112858388B
CN112858388B CN202011607668.4A CN202011607668A CN112858388B CN 112858388 B CN112858388 B CN 112858388B CN 202011607668 A CN202011607668 A CN 202011607668A CN 112858388 B CN112858388 B CN 112858388B
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
probe
sealing ring
mirror
mirror surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011607668.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112858388A (zh
Inventor
张宾
何伟生
陈新准
马鹏飞
郑晓银
赵罗恒
刘光亮
邱国财
刘新雅
张运龙
奉贞丽
李修龙
傅王勇
李国宁
周海岽
吴凯萍
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou Aosong Electronics Co Ltd
Original Assignee
Guangzhou Aosong Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou Aosong Electronics Co Ltd filed Critical Guangzhou Aosong Electronics Co Ltd
Priority to CN202011607668.4A priority Critical patent/CN112858388B/zh
Publication of CN112858388A publication Critical patent/CN112858388A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112858388B publication Critical patent/CN112858388B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/56Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
    • G01N25/66Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

本发明涉及结露测量技术领域,提供一种冷镜式露点仪探头。该探头包括探头本体和光电检测元件,还包括结露系统、检测上盖、检测盖体、第一密封圈和第二密封圈。其中结露系统包括封装密封圈、镜面和制冷组件,检测盖体包括检测腔。其中,检测上盖、第一密封圈、检测盖体、第二密封圈及探头本体从上往下依次连接。光电检测元件设置于检测盖体的内部。结露系统设置于探头本体的上表面,其封装密封圈嵌于检测盖体的内部,其镜面位于检测腔内。通过密封圈和特殊的检测盖体设计,在使镜面能有效地与被测气体接触的同时,提升了探头内部的密封性,从而达到延长探头使用寿命、避免有毒或腐蚀性气体泄漏的效果。

Description

一种冷镜式露点仪探头
技术领域
本发明涉及结露测量技术领域,更具体地,涉及一种冷镜式露点仪探头。
背景技术
在天然气、冶金、卫生检疫、含有有毒或腐蚀性气体等作业环境中,气体中的水蒸气含量对作业产生重要的影响。而目前常常通过露点仪来检测气体的露点温度,从而间接得出气体中的湿度。
气体的露点,也称为露点温度,是在固定气压之下,气体中所含的气态水达到饱和,而在物体表面上凝结成液态水所需要降至的温度。当露点降到0℃以下时,此时从气体中析出的水汽并不会结成液态水,而是直接凝固成固态的冰。微细的冰粒沾在物体表面上形成霜,这时的露点亦会被称为霜点。
冷镜式露点仪作为测量精度相对较高的一种露点仪,被广泛采用。冷镜式露点仪的基本原理为:不同水蒸气含量的气体在不同温度下的镜面上会结露或结霜;采用光电检测技术,检测出露层或霜层,并测量结露或结霜时的温度。镜面常用制冷的方法有:半导体制冷、液氮制冷和高压空气制冷。常见的冷镜式露点仪由散热系统、制冷系统、精密测温电阻、镜面、光电检测、控制主机等部件组成,并分为一体式与分体式。分体式时,检测露点的相关元件被集成为一个探头,放置于作业环境中。探头再通过缆线与控制主机连接,传输测量数据。控制主机接受、处理数据后,通过显示屏等方式呈现被测气体的露点、湿度等信息。
冷镜式露点仪探头在实际应用场合中,对其体积大小、粉尘污染环境适应能力、密封耐气体压力、耐腐蚀性等都有较高要求。常规的探头密封性能不佳。在对被测气体的湿度进行检测时,气体中的部分水蒸气会渗入探头的内部,对其内部的电路及元器件造成损坏,降低探头的使用寿命。在对含有有毒或腐蚀性气体的作业环境进行检测时,有毒或腐蚀性会由作业环境通过探头泄露出外界,对工作人员的生命安全造成威胁。
发明内容
本发明旨在克服上述现有技术的缺陷,提供一种冷镜式露点仪探头,用于提升探头内部的密封性,从而达到延长探头使用寿命、避免有毒或腐蚀性气体泄漏的效果。
本发明采取的技术方案是,一种冷镜式露点仪探头,包括探头本体和光电检测元件、结露系统,还包括检测上盖、检测盖体、第一密封圈和第二密封圈。其中结露系统包括封装密封圈、镜面和制冷组件,检测盖体包括检测腔。其中,检测上盖、第一密封圈、检测盖体、第二密封圈及探头本体从上往下依次连接。光电检测元件设置于检测盖体的内部。结露系统设置于探头本体的上表面,其封装密封圈嵌于检测盖体的内部,其镜面位于检测腔内。
本方案中,第一密封圈、第二密封圈保证了被测气体无法从检测上盖、检测盖体和探头本体的装配间隙中,进入冷镜式露点仪探头的内部。通过特殊设计的检测盖体设置有被测气体的检测腔,能够避免气流波动对检测结果产生影响,使得检测结果不精准。此外,检测盖体在提供了检测腔的同时,实现了光电检测元件的内部安装,避免了元件线路被腐蚀。结露系统设置于探头本体的上表面并位于检测盖体的内部。结露系统的镜面位于检测腔内,与被测气体接触,实现露点测量。结露系统的封装密封圈则保证了被测气体无法从检测腔进入结露系统与探头的内部。当探头安装在作业环境后,只要气体无法进入探头的内部,则可以避免腐蚀与气体泄漏,延长探头使用寿命,保证工作人员的生命安全。
优选地,所述检测盖体通过在实心体外壁上,设置两个相互交错的通孔,形成第一通气孔和第二通气孔,且通孔交汇处形成所述检测腔。双通气孔的设计,有利于加快被测气体的流速,从而缩短结露的时间,提高效率。被测气体通过通气孔进入检测腔内后,即可直接接触所述镜面的上表面,且气流在检测腔内波动较小,能够使得检测结果更加精准。
优选地,所述检测盖体的下表面设置有第三凹槽,其截面呈“凸”字形。第三凹槽与所述检测腔相贯通,所述结露系统的镜面通过第三凹槽进入检测腔。第三凹槽上半部分的内表面与结露系统的封装密封圈的外表面型面配合,从而保证被测气体无法从检测腔进入结露系统与探头的内部。同时,型面配合也形成一种限位,以限定结露系统的位置,避免结露系统晃动,使得其镜面随之发生晃动,对测温结构造成影响。第三凹槽下半部分留有的空间,则用于容纳结露系统以及探头内部的接线。
优选地,所述检测盖体的上表面设置有光电安装孔,并贯通至所述检测腔。所述光电检测元件安装在光电安装孔内,通过灌胶实现固定和与检测腔的密封。光电检测元件通过光电安装孔发出和接收信号,以实现露层或霜层的检测。灌胶后,被测气体则无法通过光电安装孔进入探头的内部,保证了探头的密封性。
优选地,所述检测盖体的上下表面设置有贯通的布线孔。所述光电检测元件的线束经过布线孔连接至所述探头本体。光电检测元件的线束通过探头内部连接,避免了被测气体的腐蚀。
优选地,所述检测盖体和探头本体的上表面分别设置有第一凹槽和第二凹槽。所述第一密封圈和第二密封圈分别放入第一凹槽和第二凹槽内,以保证检测上盖、检测盖体和探头本体连接紧固后的密封性。
优选地,所述检测盖体的上表面设置有凸台,所述检测上盖设置有与凸台相配合的第四凹槽。凸台与第四凹槽的设置,固定了检测上盖与检测盖体之间的相对位置,避免了滑移,从而避免了第一密封圈的失效,保证了密封性。同时,也方便了检测上盖与检测盖体的装配,保证装配精度。
优选地,所述制冷组件包括制冷片、测温计和导热结构。所述结露系统从下往上依次设置有:制冷片、测温计、导热结构、镜面,同时测温计内嵌入于导热结构。制冷片的下表面为散热面,且连接于所述探头本体的上表面。制冷片的上表面为制冷面,制冷面的冷量从下往上依次传递至所述镜面,使被测气体中的水蒸气结露或结霜于镜面的上表面,形成冷凝物。
上述结露系统中,制冷片的制冷面所产生的冷量通过导热结构传递到镜面的上表面,以使被测气体中的水蒸气结露或结霜到镜面的上表面,再通过测温计检测出导热结构的温度,从而间接检测出镜面的温度,即检测出气体的露点温度。散热面连接于所述探头本体的上表面,以便于散热面产生的热量由探头本体散发出去。
综上所述,本方案通过结露系统中的制冷片进行制冷,当镜面的上表面的温度下降至被测气体的露点温度以下时,镜面的上表面开始结露或结霜。在所述控制主机的控制下,所述光电检测元件对镜面的上表面的冷凝物的厚度进行检测,并将检测出的冷凝物的厚度信息以反馈至控制主机。控制主机调节制冷片的制冷功率,从而使得镜面的温度与被测气体的露点温度一致。
相比现有技术,测温计嵌入导热结构内,使得测温计和导热结构总的占用空间维持在导热结构所占空间的范围之内,测温计不增加占用空间。相比现有技术,将结露系统的热量传导部件拆分成制冷片、导热结构、镜面三个部分,能够减小结露系统的体积,从而提高所述露点传感器的响应速度,避免制冷性能损耗。
更进一步,所述封装密封圈为空心柱状;封装密封圈的内部包裹了所述测温计、导热结构、镜面以及制冷片的上端局部。相比现有技术,采用封装密封圈对结露系统整体进行封装,既提升了结露系统元件装配的可靠性,又有效防止被测气体与水汽渗入到结露系统和探头内部,造成结露系统和探头内部的电路及元件的损坏。
更进一步,所述结露系统中的镜面设计为硅片;或为硅片,且其外表面设有铂层或金层或铑层;或为硅片,且其外表面设有铂层或金层或铑层,所述铂层或金层或铑层上表面设有疏水性材料涂层。
采用冷镜式测量露点的方案,镜面应疏水,具有良好的导热性,还要耐磨、耐腐蚀,光学性能好,从而避免温度梯度、开尔文效应和拉乌尔效应对检测精度的影响。舍弃常规铜加镀层的镜面,采用表面平整光亮且导热效率高的硅片,极大提高了结露系统的检测精度。其次,镜面的外表面设有铂层或金层或铑层和疏水性材料涂层,也能够提高镜面的抗污能力,且使得镜面不易被划损,进一步保证结露系统的检测精度。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:通过密封圈、灌胶和特殊的检测盖体设计,在使镜面能有效地与被测气体接触的同时,提升了探头内部密封性,从而达到延长探头使用寿命、避免有毒或腐蚀性气体泄漏的效果。通过将结露系统改进为制冷片、导热结构、镜面三个部分,能够减小结露系统的体积,从而提高响应速度,避免制冷性能损耗。通过使用硅片作为镜片,综合提升了结露系统的检测精度和抗污抗划损能力。
附图说明
图1为冷镜式露点仪探头的爆炸图。
图2为冷镜式露点仪探头的结构图。
图3为检测上盖与检测盖体的结构图一。
图4为检测上盖与检测盖体的结构图二。
图5为结露系统的结构示意图。
附图标记:结露系统10、镜面11、封装密封圈12、导热结构13、测温计14、制冷片15、检测上盖20、第四凹槽21、光电检测元件30、检测盖体40、第一凹槽41、布线孔42、凸台43、光电安装孔44、第一通气孔46、第二通气孔47、检测腔48、第三凹槽49、探头本体50、第二凹槽51、第一密封圈61、第二密封圈62。
具体实施方式
本发明附图仅用于示例性说明,不能理解为对本发明的限制。为了更好说明以下实施例,附图某些部件会有省略、放大或缩小,并不代表实际产品的尺寸;对于本领域技术人员来说,附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
实施例1
如图5所示,本实施例提供了一种结露系统。结露系统通过封装密封圈12封装为一个部件,用于安装在冷镜式露点仪探头的内部。
结露系统从下往上依次设置有:制冷片15、测温计14、导热结构13、镜面11,同时测温计14内嵌入于导热结构13。制冷片15的下表面为散热面,后续连接于所述探头本体50的上表面。制冷片15的上表面为制冷面,制冷面的冷量从下往上依次传递至所述镜面11,使被测气体中的水蒸气结露或结霜于镜面11的上表面,形成冷凝物。
结露系统的具体工作过程为:制冷片15的制冷面所产生的冷量通过导热结构13传递到镜面11的上表面,以使被测气体中的水蒸气结露或结霜到镜面11的上表面,再通过测温计14检测出导热结构13的温度,从而间接检测出镜面11的温度,即检测出气体的露点温度。
具体地,制冷片15为具有三级制冷的帕尔贴(Peltier)制冷片,其整体类似金字塔结构。从下往上,每一级的横截面积逐渐变小。根据结露系统的性能要求,可以采用更多级的帕尔贴(Peltier)制冷片,但成本也会逐渐上升。
具体地,导热结构13用于传递来自于制冷片15的制冷面的冷量。详细地,导热结构13具有上表面和下表面,导热结构13的下表面与所述制冷面连接,以将所述制冷面的冷量传递至所述导热结构13的上表面。详细地,为了减小导热结构13的体积,导热结构13大体呈长方体状。详细地,为了减小所述结露系统的体积,对导热结构13作进一步的改进,导热结构13由侧面、上表面、下表面向内部凹陷以去除部分结构形成开放区域,所述测温计14嵌入所述开放区域中。详细地,所述开放区域大体呈长方体状。详细地,导热结构13可以由导热金属制成,优选为铜。
更具体地,为了进一步容纳所述测温计14,导热结构13可作进一步改进。所述导热结构13由其外壁向内部凹陷形成凹槽,测温计14嵌入于凹槽内并与凹槽匹配。
具体地,镜面11为所述结露系统的结露场所。镜面11的下表面与所述导热结构13上表面连接,以将所述导热结构13上表面的冷量传递至所述镜面11的上表面,使被测气体中的水蒸气结露于所述镜面11的上表面形成冷凝物。详细地,为了提高导热效率,镜面11为硅片,所述硅片的截面大体上呈正方形状。详细地,为了提高镜面的抗污能力,且使得所述镜面不易被划损,在镜面11的外表面上设有铂层或金层或铑层和疏水性材料涂层,进一步地,所述铂层或金层或铑层设置于镜面11的上表面,疏水性材料涂层设置于铂层或金层或铑层的上表面。
具体地,所述测温计14采用四线制铂电阻。铂电阻测温计在相当宽的温度范围内,阻值和温度近于线性关系。铂电阻测温计具有精度高,稳定性好,输出信号较强,便于数字显示的特性。详细地,测温计14大体呈长方体状,且测温计14与所述开放区域匹配。
具体地,为了进一步增大热传导效率,同时减少温度梯度的影响,所述制冷片15、测温计14、导热结构13、镜面11之间通过导热硅脂层或导热胶层,无间隙贴紧。
具体地,为了避免被测气体与水汽渗入到结露系统的内部,并提升结露系统元件装配的可靠性,结露系统采用了封装密封圈12进行封装密封。封装密封圈12具有连通上下表面的容纳腔,详细地,封装密封圈12大体为空心梯形台状,所述梯形台侧面沿导热结构13围绕形成一个框架体,并包裹住镜面11的周边。详细地,导热结构13、镜面11、测温计14均围蔽于封装密封圈12内,即导热结构13、镜面11、测温计14均位于所述容纳腔内。详细地,封装密封圈12的上表面与其下表面之间具有一定的距离,封装密封圈12的下端部围蔽于制冷片15的上端部。详细地,封装密封圈12的下端部包裹于制冷片15最上层结构的外围。详细地,为了将结露于镜面11上表面的水汽位于镜面11的上表面所在区域内,封装密封圈12的上表面与所述镜面11的上表面具有一定距离,且所述封装密封圈12的上表面高于所述镜面11的上表面。详细地,封装密封圈12可以为橡胶密封圈。
实施例2
如图1、2所示,本实施例提供了一种冷镜式露点仪探头,探头采用了实施例1的结露系统10。探头还包括探头本体50、光电检测元件30、检测上盖20、检测盖体40、第一密封圈61和第二密封圈62。检测盖体40包括检测腔48。
本实施例探头整体采用以下布局:检测上盖20、第一密封圈61、检测盖体40、第二密封圈62及探头本体50从上往下依次连接。光电检测元件30设置于检测盖体40的内部。结露系统10设置于探头本体50的上表面,其封装密封圈12嵌于检测盖体40的内部,其镜面11位于检测腔48内。
检测上盖20、检测盖体40和探头本体50整体上为圆柱形,三者之间通过螺纹紧固。探头本体50的上部具有管螺纹,用于与作业环境(例如:天然气管道)的检测口连接。探头本体50的下部具有线缆接头(例如:航空接头),用于与所述远程主机进行连接,以传输检测数据。检测盖体40的结构如图3、4所示。
具体地,所述检测盖体40通过在实心体外壁上,设置两个相互交错的通孔,形成第一通气孔46和第二通气孔47,且通孔交汇处形成所述检测腔48。第一通气孔46和第二通气孔47成90°相交,可以为方孔或圆孔。
具体地,所述检测盖体40的下表面设置有第三凹槽49,其截面呈“凸”字形。第三凹槽49与所述检测腔48相贯通,所述结露系统10的镜面11通过第三凹槽49进入检测腔48。第三凹槽49上半部分横截面为方型,与检测腔48的底部相贯通,并与结露系统10的封装密封圈12的外表面型面配合。探头装配完后,第三凹槽49的深度略低于封装密封圈12的上表面,大致与镜面11的上表面平齐。第三凹槽49下半部分横截面为圆形,直径尽可能地大,以留有足够的与探头本体50的接线空间;但同时,需要保证检测盖体40的下表面应能覆盖第二密封圈62。
具体地,所述检测盖体40的上表面设置有光电安装孔44,并贯通至所述检测腔48。所述光电检测元件30安装在光电安装孔44内,通过灌胶实现固定和与检测腔48的密封。光电检测元件30包括LED发射光源和光敏接收管,并通过LED发射光源和光敏接收管检测结露镜面11反射光强的变化,从而间接测量冷凝物的厚度。光电安装孔44为两个沿检测盖体40轴线对称,并与轴线成一定角度设置的斜通孔。在光电检测元件30安装后,灌入环氧树脂及对应的固化剂。所述环氧树脂凝固后,光电检测元件30被固定在光电安装孔44内,同时形成密封环境,使被测气体不能从光电安装孔44中进入探头内部。
具体地,所述检测盖体40的上下表面设置有贯通的布线孔42。所述光电检测元件30的线束经过布线孔42连接至所述探头本体50。所述检测上盖20设置有凹槽,光电检测元件30的线束经过所述凹槽后,穿过布线孔42,进而到达所述第三凹槽49的下半部分。在第三凹槽的空间中,所述线束进而与接线本体连接,实现数据传输。光电检测元件的线束全程线路都在探头内部,避免了被测气体的腐蚀破坏。布线孔42设置有两个,分别位于第一通气孔46和第二通气孔47之间,并分别对应所述光电检测元件30的LED发射光源和光敏接收管。
具体地,所述检测盖体40和探头本体50的上表面分别设置有第一凹槽41和第二凹槽51。所述第一密封圈61和第二密封圈62分别放入第一凹槽41和第二凹槽51内,以保证检测上盖20、检测盖体40和探头本体50连接紧固后的密封性。第一凹槽41和第二凹槽51为环形凹槽,第一密封圈61和第二密封圈62为圆形环状密封圈。
具体地,所述检测盖体40的上表面设置有凸台43,所述检测上盖20设置有与凸台43相配合的第四凹槽21。凸台43与第四凹槽21的设置,固定了检测上盖20与检测盖体40之间的相对位置,避免了滑移,从而避免了第一密封圈61的失效,保证了密封性。同时,也方便了检测上盖20与检测盖体40的装配,保证装配精度。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明技术方案所作的举例,而并非是对本发明的具体实施方式的限定。凡在本发明权利要求书的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种冷镜式露点仪探头,包括探头本体(50)和光电检测元件(30),其特征在于,还包括检测上盖(20)、检测盖体(40)、结露系统(10)、第一密封圈(61)和第二密封圈(62);结露系统(10)包括封装密封圈(12)、镜面(11)和制冷组件;检测盖体(40)包括检测腔(48);
其中,检测上盖(20)、第一密封圈(61)、检测盖体(40)、第二密封圈(62)及探头本体(50)从上往下依次连接;光电检测元件(30)设置于检测盖体(40)的内部;
结露系统(10)设置于探头本体(50)的上表面,其封装密封圈(12)嵌于检测盖体(40)的内部,其镜面(11)位于检测腔(48)内;
所述制冷组件包括制冷片(15)、测温计(14)和导热结构(13);所述结露系统(10)从下往上依次设置有:制冷片(15)、测温计(14)、导热结构(13)、镜面(11),同时测温计(14)内嵌入于导热结构(13);
制冷片(15)的下表面为散热面,且连接于所述探头本体(50)的上表面;制冷片(15)的上表面为制冷面,制冷面的冷量从下往上依次传递至所述镜面(11),使被测气体中的水蒸气结露或结霜于镜面(11)的上表面,形成冷凝物;
封装密封圈(12)为空心柱状;封装密封圈(12)的内部包裹了所述测温计(14)、导热结构(13)、镜面(11)以及制冷片(15)的上端局部。
2.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)通过在实心体外壁上,设置两个相互交错的通孔,形成第一通气孔(46)和第二通气孔(47),且通孔交汇处形成所述检测腔(48)。
3.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)的下表面设置有第三凹槽(49),其截面呈“凸”字形;第三凹槽(49)与所述检测腔(48)贯通;第三凹槽(49)的内表面与所述封装密封圈(12)的外表面型面配合。
4.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)的上表面设置有光电安装孔(44),并贯通至所述检测腔(48);所述光电检测元件(30)安装在光电安装孔(44)内,通过灌胶实现固定和与检测腔(48)的密封。
5.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)的上下表面设置有贯通的布线孔(42);所述光电检测元件(30)的线束经过布线孔(42)连接至所述探头本体(50)。
6.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)和探头本体(50)的上表面分别设置有第一凹槽(41)和第二凹槽(51);所述第一密封圈(61)和第二密封圈(62)分别放入第一凹槽(41)和第二凹槽(51)内。
7.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述检测盖体(40)的上表面设置有凸台(43);所述检测上盖(20)设置有与凸台(43)相配合的第四凹槽(21)。
8.根据权利要求1所述的一种冷镜式露点仪探头,其特征在于,所述镜面(11)为硅片;或镜面(11)为硅片,且其外表面设有铂层或金层或铑层;或镜面(11)为硅片,且其外表面设有铂层或金层或铑层,所述铂层或金层或铑层上表面设有疏水性材料涂层。
CN202011607668.4A 2020-12-30 2020-12-30 一种冷镜式露点仪探头 Active CN112858388B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011607668.4A CN112858388B (zh) 2020-12-30 2020-12-30 一种冷镜式露点仪探头

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011607668.4A CN112858388B (zh) 2020-12-30 2020-12-30 一种冷镜式露点仪探头

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112858388A CN112858388A (zh) 2021-05-28
CN112858388B true CN112858388B (zh) 2023-01-31

Family

ID=75998478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011607668.4A Active CN112858388B (zh) 2020-12-30 2020-12-30 一种冷镜式露点仪探头

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112858388B (zh)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004538464A (ja) * 2001-08-03 2004-12-24 ゼネラル・イースタン・インスツルメンツ,インコーポレイテッド ガス解析用の画像装置
WO2003044510A1 (en) * 2001-11-20 2003-05-30 Aalborg Universitet Dynamic dew point analysis method and a device for determining the dew point temperature and relative humidity
JP4575213B2 (ja) * 2005-04-04 2010-11-04 株式会社山武 鏡面冷却式センサ
CN201000442Y (zh) * 2007-01-16 2008-01-02 丁五行 智能化快速测量冷镜露点仪
CN209961716U (zh) * 2019-01-04 2020-01-17 中国人民解放军国防科技大学 一体化的空气露点温度测量探头
CN210690460U (zh) * 2019-10-09 2020-06-05 广州西森自动化控制设备有限公司 一种露点仪

Also Published As

Publication number Publication date
CN112858388A (zh) 2021-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112268930B (zh) 一种露点传感器
US20210396696A1 (en) Sensor device for determining heat transfer parameters of a fluid
KR101316517B1 (ko) 압력 감지 장치
US20100296079A1 (en) Sensing system and method
US3416356A (en) Dew point hygrometer
CN112858388B (zh) 一种冷镜式露点仪探头
US10330510B2 (en) Temperature sensing system and flow metering apparatus comprised thereof
CN112394086B (zh) 一种结露系统及其露点仪
WO2022141175A1 (zh) 一种冷镜式露点仪探头
US10352809B2 (en) Physical quantity measuring device
US9816865B2 (en) System and method for remote temperature measurements in a harsh environment
CN110687163B (zh) 一种天然气水露点光学检测仪
CN211825802U (zh) 水分活度检测装置和水分活度检测罐
CN112730518A (zh) 一种高散热的露点检测装置
CN216247759U (zh) 一种光电检测系统及露点仪
CN112730517A (zh) 一种露点制冷系统及其露点检测器
CN114935115B (zh) 一种流体管道用集成式测温结构及封装方法
CN111175346A (zh) 水分活度检测装置、水分活度检测罐及其检测方法
CN213688568U (zh) 一种磁致伸缩液位计
CN113484365B (zh) 一种高稳定性固定露点的装置
CN112858387A (zh) 一种可过滤气体的露点检测装置
CN217931345U (zh) 一种激光甲烷气体传感器
CN216954947U (zh) 压力传感器
CN216349335U (zh) 压力传感器
CN118209581B (zh) 一种流体热性质检测装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 510336 building 3, No.17 Yunjun Road, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Applicant after: Guangzhou Aosong Electronics Co.,Ltd.

Address before: 510336 building 3, No.17 Yunjun Road, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Applicant before: AOSONG (GUANGZHOU) ELECTRONICS Co.,Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant