CN112853585A - 一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子级玻璃纤维布生产技术领域，尤其是涉及一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的瑕疵修，使用修正针和/或修正剪对所述瑕疵修进行修饰，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整；其中，所述修正针的直径为0.5‑1.5mm。本发明的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，修正针直径小、针尖锋利，不仅可以对玻纤布表面的瑕疵异常进行有效修饰，而且可有效避免修饰过程中对玻纤布表面的损伤，因此，本发明的瑕疵修饰方法可对玻纤布表面的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常进行有效修饰，大大减少了电子级玻璃纤维布成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例。

Description

一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法

技术领域

本发明涉及电子级玻璃纤维布生产技术领域，尤其是涉及一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法。

背景技术

玻璃纤维是一种性能优异的无机非金属材料，种类繁多，优点是绝缘性好、耐热性强、抗腐蚀性好，机械强度高，但缺点是性脆，耐磨性较差。玻璃纤维通常用作复合材料中的增强材料，电绝缘材料和绝热保温材料，电路基板等国民经济各个领域。

玻璃纤维布是无捻粗纱平纹织物，是手糊玻璃钢重要基材。玻璃纤维布的强度主要在织物的经纬方向上，对于要求经向或纬向强度高的场合，也可以织成单向布，它可以在经向或纬向布置较多的无捻粗纱、单经向布和单纬向布。

近几年来，由于国内外电子产品的轻、薄、短小及高密度组装，导致产品不断升级换代，提高精度，改善性能，促使印制电路板迅速向多层、超多层方向发展，而这一切又都离不开薄型、极薄型和超薄型电子布。但是薄型、极薄型和超薄型电子布在织造过程中因为原纱问题、机台问题会使得电子玻璃纤维布的布面产生瑕疵异常，常见的布面瑕疵异常有纬破、经破、经污、松圈纬等。有些异常在电子布织造过程中可以避免掉，但是还会存在一些无法避免掉的布面异常，这就需要在布面直接进行表面修饰瑕疵异常。现有技术中修饰电子级玻璃纤维布的布面瑕疵异常的方法普遍存在无法满足下游客户需求的问题。

因此，开发一种新型的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，以解决上述问题，是本领域技术人员亟需解决的一项技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，该方法可对玻纤布表面的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常进行有效修饰。

本发明提供的一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，包括以下步骤：

根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的瑕疵修，使用修正针和/或修正剪对所述瑕疵修进行修饰，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整；

其中，所述修正针的直径为0.5-1.5mm。

针对玻纤布表面产生的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常，本发明分别提出了对应的修饰方法，其中，所使用的修正针直径为0.5-1.5mm，该修正针直径小、针尖锋利，对于破丝类异常的瑕疵均能够轻松修掉，因此，不仅可以对玻纤布表面的瑕疵异常进行有效修饰，而且可有效避免修饰过程中对玻纤布表面的损伤。此外，本发明使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的修饰擦布擦拭玻纤布表面，进一步提高了玻纤布表面的平整性。因此，本发明的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，可对玻纤布表面的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常进行有效修饰，大大减少了电子级玻璃纤维布成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例。

进一步，所述修饰擦布的规格比待修饰电子级玻璃纤维布大1-3个基重。

修饰擦布的规格比待修饰电子级玻璃纤维布大1-3个基重，可有保证玻纤布表面的平整性，例如，7628布种的基重为210g，2116布种的基重为 104g，1080布种的基重为48g，1067布种的基重为30g，1037布种的基重为23.5g。当需修饰2116布种时，使用7628布种；当需修饰1080布种时，使用2116布种；当需修饰1067布种时，使用1080布种；当需修饰1037 布种时，使用1067布种。

进一步，所述瑕疵修为纬破异常、松圈纬异常或接着纱异常中的任意一种或多种。

针对薄型、极薄型和超薄型电子级玻璃纤维布在制造过程中，因原纱问题、机台问题使得玻纤布表面产生的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常，而本发明的针对的瑕疵修包括纬破异常、松圈纬异常或接着纱异常中的任意一种或多种。

进一步，所述瑕疵修为纬破异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的纬破异常，使用所述修正针将表面凸出的纬纱的左右两端挑断，并将所述纬纱挑出，然后使用所述修正针将所述纬纱的相邻纬纱拨均匀，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

进一步，所述瑕疵修为松圈纬异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的波浪形纬纱，使用拇指与食指合力将所述波浪形纬纱拉出即可。

进一步，所述瑕疵修为松圈纬异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的松圈纬，使用所述修正剪将表面凸出的松圈纬予以剪除，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

进一步，所述瑕疵修为接着纱异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面被污染接着纱，使用所述修正针将所述被污染接着纱的两端挑断并挑出，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

进一步，所述瑕疵修为接着纱异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面含纱头接着纱，使用所述修正剪将所述含纱头接着纱的一端剪断并拉出，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

进一步，所述修饰擦布的规格比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重。

进一步，所述修正针的直径为1mm。

当修正针的直径较粗、针尖不够锋利时，修饰布卷过程中很容易划伤布卷，并且存在对异常修饰不干净的风险，因此，本发明优选的修正针的直径为1mm。

本发明的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，与现有技术相比，具有以下优点：

针对薄型、极薄型和超薄型电子级玻璃纤维布在制造过程中，因原纱问题、机台问题使得玻纤布表面产生的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常，本发明分别提出了对应的修饰方法，其中，所使用的修正针直径为 0.5-1.5mm，该修正针直径小、针尖锋利，对于破丝类异常的瑕疵均能够轻松修掉，因此，不仅可以对玻纤布表面的瑕疵异常进行有效修饰，而且可有效避免修饰过程中对玻纤布表面的损伤。此外，本发明使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的修饰擦布擦拭玻纤布表面，进一步提高了玻纤布表面的平整性。因此，本发明的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，可对玻纤布表面的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常进行有效修饰，大大减少了电子级玻璃纤维布成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明电子级玻璃纤维布纬破异常；

图2为本发明电子级玻璃纤维布松圈纬异常；

图3为本发明电子级玻璃纤维布接着纱异常。

具体实施方式

应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

对于2116布种(基重104g)的电子级玻纤布纬破异常，工作人员检验前先把CCD检测的瑕疵的米长记录下来，检布过程中根据CCD检测拍到的米长把瑕疵修找到，使用直径为0.5mm的修正针将表面凸出的纬纱的左右两端挑断，并使用修正针把突出的那个根纱挑出，(注：使用修正针的时候不能把其他纱挑断，把修断的纱挑出时不能残留余纱)，待把中间的突出纱挑出后，使用修正针把该纬纱相邻的纬纱拨均匀，最后使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的修饰擦布7628布种(基重210g)把两端挑过的纱头擦拭干净，该成品布的布面纬破瑕疵异常流向下游客户的发生比例为1％。

实施例2

对于电子级玻纤布松圈纬异常项，工作人员检验前先把CCD检测的瑕疵的米长记录下来，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的波浪形纬纱，然后使用拇指与食指合力将所述波浪形纬纱拉出即可，该成品布的布面松圈纬瑕疵异常流向下游客户的发生比例为2％。

实施例3

对于1080布种(基重48g)电子级玻纤布松圈纬异常项，工作人员检验前先把CCD检测的瑕疵的米长记录下来，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的松圈纬，使用所述修正剪将表面凸出的松圈纬予以剪除，最后使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的修饰擦布2116布种(基重104g)把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整，该成品布的布面松圈纬瑕疵异常流向下游客户的发生比例为1％。

实施例4

对于1067布种(基重30g)电子级玻纤布接着纱异常项，工作人员检验前先把CCD检测的瑕疵的米长记录下来，并根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面被污染接着纱，然后使用所述修正针将所述被污染接着纱的两端挑断并挑出，最后使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的1080布种(基重48g)修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整，该成品布的布面接着纱瑕疵异常流向下游客户的发生比例为1％。

实施例5

对于1037布种(基重23.5g)电子级玻纤布接着纱异常项，工作人员检验前先把CCD检测的瑕疵的米长记录下来，并根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面含纱头接着纱，使用所述修正剪将所述含纱头接着纱的一端剪断并拉出，最后使用比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重的1067布种(基重30g)修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整，该成品布的布面接着纱瑕疵异常流向下游客户的发生比例为1％。

对照例1

最后使用比待修饰电子级玻璃纤维布大3个基重的2116布种(基重104 g)修饰擦布把两端挑过的纱头擦拭干净，其他同实施例5，该成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例为4％。

对照例2

使用现有技术中直径为2mm的修正针，其他同实施例1，该成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例为5％。

由此可见，分别对照例1、对照例2和实施例5的方法处理同一布种的玻纤布，因布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例分别由原来的4％、5％下降到了1％。因此，本发明的电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，可对玻纤布表面的纬破、经破、经污和松圈纬等瑕疵异常进行有效修饰，大大降低电子级玻璃纤维布成品布的布面瑕疵异常流向下游客户的发生比例。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种电子级玻璃纤维布布面瑕疵修饰的方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的瑕疵修，使用修正针和/或修正剪对所述瑕疵修进行修饰，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整；

其中，所述修正针的直径为0.5-1.5mm。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述修饰擦布的规格比待修饰电子级玻璃纤维布大1-3个基重。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为纬破异常、松圈纬异常或接着纱异常中的任意一种或多种。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为纬破异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的纬破异常，使用所述修正针将表面凸出的纬纱的左右两端挑断，并将所述纬纱挑出，然后使用所述修正针将所述纬纱的相邻纬纱拨均匀，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为松圈纬异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的波浪形纬纱，使用拇指与食指合力将所述波浪形纬纱拉出即可。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为松圈纬异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面的松圈纬，使用所述修正剪将表面凸出的松圈纬予以剪除，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为接着纱异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面被污染接着纱，使用所述修正针将所述被污染接着纱的两端挑断并挑出，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述瑕疵修为接着纱异常时，根据CCD检测到的瑕疵米长找到待修饰电子级玻璃纤维布布面含纱头接着纱，使用所述修正剪将所述含纱头接着纱的一端剪断并拉出，最后使用修饰擦布把修饰后的电子级玻璃纤维布布面擦拭平整。

9.根据权利要求1-8任一项所述的方法，其特征在于，所述修饰擦布的规格比待修饰电子级玻璃纤维布大1个基重。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述修正针的直径为1mm。

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