CN112804467A - 一种基于多cmos传感器的图像编码方法及装置 - Google Patents

一种基于多cmos传感器的图像编码方法及装置 Download PDF

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CN112804467A CN202110407380.0A CN202110407380A CN112804467A CN 112804467 A CN112804467 A CN 112804467A CN 202110407380 A CN202110407380 A CN 202110407380A CN 112804467 A CN112804467 A CN 112804467A
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Abstract

本发明提出了一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置，该方法包括：获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；基于剩余N‑1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。其使用多个CMOS传感器中的最优的一个传感器采集的电压作为基准电压，并使用其他传感器采集的电压最该基准电压中存在缺陷的电压进行校正，然后编码得到数字图像，从而提高图像的质量。

Description

一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置。
背景技术
COMS传感器中，由于在像元结构中集成了多个功能晶体管的原因，CMOS图像传感器也存在着若干缺点，主要是噪声影响图像质量。现有技术中，对图像质量的改善主要是在图像生成后，采用图像处理算法解决生成的图像的缺陷。
图像后期的处理算法，由于生成了像素值，一般为RGB等，再进行处理时，处理效率低下，且处理后的图像不自然，或者生成的图像会显示有修图（即人工更改）的痕迹，这是很多人不愿意看到的。
现有技术中，也有基于多个摄像头采集的图像进行合成或修复的技术，但也是在生成图像后进行的后期处理，同样存在上述缺陷。
发明内容
本发明针对上述现有技术中一个或多个技术缺陷，提出了如下技术方案。
一种基于多CMOS传感器的图像编码方法，该方法包括：
获取步骤S1，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；
确定步骤S2，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；
检测步骤S3，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；
校正步骤S4，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；
编码步骤S5，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
更进一步地，所述确定步骤S2的操作为：
对于每一个CMOS传感器X，使用滑动窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数 sumwx，当该对象的所有像素电压使用滑动窗口扫描完毕后计算该CMOS传感器X采集的异常 像素电压的总个数sumx，将sumx值最小的CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为 该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像素电压的判断方式为：
Figure 133975DEST_PATH_IMAGE001
，且
Figure 168796DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 562868DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的所有像素的电 压都为异常，即m*n个像素的电压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的 大小，
Figure 210012DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为i、j的像素的电压，
Figure 396143DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素电压的均值， sumx为使用滑动窗口对所有像素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、 th2为第一阈值、第二阈值。
更进一步地，所述检测步骤S3的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压。
更进一步地，所述校正步骤S4的操作为：
获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
更进一步地，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
本发明还提出了一种基于多CMOS传感器的图像编码装置，该装置包括：
获取单元201，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；
确定单元202，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；
检测单元203，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；
校正单元204，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；
编码单元205，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
更进一步地，所述确定单元202的操作为：
对于每一个CMOS传感器X，使用滑动窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数 sumwx，当该对象的所有像素电压使用滑动窗口扫描完毕后计算该CMOS传感器X采集的异常 像素电压的总个数sumx，将sumx值最小的CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为 该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像素电压的判断方式为：
Figure 604795DEST_PATH_IMAGE001
，且
Figure 876376DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 45321DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的所有像素的电 压都为异常，即m*n个像素的电压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的 大小，
Figure 351537DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为i、j的像素的电压，
Figure 728161DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素电压的均值， sumx为使用滑动窗口对所有像素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、 th2为第一阈值、第二阈值。
更进一步地，所述检测单元203的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压。
更进一步地，所述校正单元204的操作为：
获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
更进一步地，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
本发明还提出了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序代码，当所述计算机程序代码被计算机执行时执行上述之任一的方法。
本发明的技术效果在于：本发明的一种基于多CMOS传感器的图像编码方法及装置，该方法包括：获取步骤S1，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；确定步骤S2，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；检测步骤S3，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；校正步骤S4，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；编码步骤S5，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。本发明中，使用多个CMOS传感器中的最优的一个传感器采集的电压作为基准电压，并使用其他传感器采集的电压最该基准电压中存在缺陷的电压进行校正，然后编码得到数字图像，从而解决了单个CMOS传感器的噪声影响图像的质量，且也不用像现有技术中那样，采用图像处理算法解决生成的图像的缺陷，本发明是从源头上，也就是对生成像素的电压进行校正，使得生成像素的电压最优，不需要后续对图像处理即可获得高质量的图像，本发明中通过多个CMOS传感器采集的电压数据使用滑动窗口进行扫描，以确定每个传感器所采集的异常电压的个数，将异常电压个数最少的传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，从而保证生成图像的基础电压是最优的，且在异常电压的判断过程中采用了双阈值的判断方式，使得判断准确性更高，从而提高了后续的编码后的图像质量，本发明中使用一个像素的电压与周围像素（比如8个像素）进行差分计算，所有差分值求和后，如果大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压，否则为正常的基准电压，该检测方法检测速度度，便于在DSP中实现，本发明中，为了进一步地提高生成图像的质量，使用剩余N-1个CMOS传感器采集的较好的像素电压值对存在缺陷的基准电压进行校正，并提出具体的电压过滤、校正方法，从而提高图像的质量。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显。
图1是根据本发明的实施例的一种基于多CMOS传感器的图像编码方法的流程图。
图2是根据本发明的实施例的一种基于多CMOS传感器的图像编码装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
图1示出了本发明的一种基于多CMOS传感器的图像编码方法，该方法包括：
获取步骤S1，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；本发明中使用多个CMOS传感器对同一对象，比如人进行拍摄，可以是同时，也可以是前后顺序，多个CMOS传感器拍摄时的位置是相同的，这是解决问题的前提，即本发明中N至少为2。
确定步骤S2，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压。
检测步骤S3，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压。
校正步骤S4，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
编码步骤S5，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
本发明中，使用多个CMOS传感器中的最优的一个传感器采集的电压作为基准电压，并使用其他传感器采集的电压最该基准电压中存在缺陷的电压进行校正，然后编码得到数字图像，从而解决了单个CMOS传感器的噪声影响图像的质量，且也不用像现有技术中那样，采用图像处理算法解决生成的图像的缺陷，本发明是从源头上，也就是对生成像素的电压进行校正，使得生成像素的电压最优，不需要后续对图像处理即可获得高质量的图像，这是本发明的重要发明点之一。
在于各实施例中，所述确定步骤S2的操作为：对于每一个CMOS传感器X，使用滑动 窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数sumwx，当该对象的所有像素电压使用滑动窗口 扫描完毕后计算该CMOS传感器X采集的异常像素电压的总个数sumx，将sumx值最小的CMOS 传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像 素电压的判断方式为：
Figure 274987DEST_PATH_IMAGE001
，且
Figure 700152DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 939503DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的所有像素的电压都为异常，即m*n个像素的电 压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的大小，
Figure 424711DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为 i、j的像素的电压，
Figure 936464DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素电压的均值，sumx为使用滑动窗口对所有像 素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、th2为第一阈值、第二阈值。
本发明中通过多个CMOS传感器（可简称为传感器）采集的电压数据使用滑动窗口进行扫描，以确定每个传感器所采集的异常电压的个数，将异常电压个数最少的传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，从而保证生成图像的基础电压是最优的，且在异常电压的判断过程中采用了双阈值的判断方式，使得判断准确性更高，从而提高了后续的编码后的图像质量，这是本发明的重要发明点之一。
在一个实施例中，所述检测步骤S3的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压。本发明中使用一个像素的电压与周围像素（比如8个像素）进行差分计算，所有差分值求和后，如果大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压，否则为正常的基准电压，该检测方法检测速度度，便于在DSP中实现，这是本发明的另一个重要发明点。
在一个实施例，所述校正步骤S4的操作为：获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。所述过滤为计算存在缺陷的基准电压Uq与电压集合（U1、U2、……UN-1）中的每一个电压的差值，如果该差值绝对大小大于第四阈值，则将电压集合的电压过滤掉，最后得到M个电压值（U1、U2、……UM），M小于N-1；校正方法为Uq=w1Uq+w2Ua，w1、w2为相应的权重值，其具体值可以根据历史数据计算出来，默认值可以各为0.5。
本发明中，为了进一步地提高生成图像的质量，使用剩余N-1个CMOS传感器采集的较好的像素电压值对存在缺陷的基准电压进行校正，并提出具体的过滤、校正方法，从而提高图像的质量，这是本发明的另一个发明点。
本发明中，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
图2示出了本发明的本发明的一种基于多CMOS传感器的图像编码装置，该装置包括：
获取单元201，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；本发明中使用多个CMOS传感器对同一对象，比如人进行拍摄，可以是同时，也可以是前后顺序，多个CMOS传感器拍摄时的位置是相同的，这是解决问题的前提，即本发明中N至少为2。
确定单元202，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压。
检测单元203，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压。
校正单元204，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
编码单元205，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
本发明中，使用多个CMOS传感器中的最优的一个传感器采集的电压作为基准电压，并使用其他传感器采集的电压最该基准电压中存在缺陷的电压进行校正，然后编码得到数字图像，从而解决了单个CMOS传感器的噪声影响图像的质量，且也不用像现有技术中那样，采用图像处理算法解决生成的图像的缺陷，本发明是从源头上，也就是对生成像素的电压进行校正，使得生成像素的电压最优，不需要后续对图像处理即可获得高质量的图像，这是本发明的重要发明点之一。
在于各实施例中，所述确定单元202的操作为：对于每一个CMOS传感器X，使用滑动 窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数sumwx，当该对象的所有像素电压使用滑动窗口 扫描完毕后计算该CMOS传感器X采集的异常像素电压的总个数sumx，将sumx值最小的CMOS 传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像 素电压的判断方式为：
Figure 496146DEST_PATH_IMAGE001
，且
Figure 308113DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 511692DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的所有像素的电压都为异常，即m*n个像素的电 压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的大小，
Figure 510741DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为 i、j的像素的电压，
Figure 605605DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素电压的均值，sumx为使用滑动窗口对所有像 素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、th2为第一阈值、第二阈值。
本发明中通过多个CMOS传感器（可简称为传感器）采集的电压数据使用滑动窗口进行扫描，以确定每个传感器所采集的异常电压的个数，将异常电压个数最少的传感器采集的采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，从而保证生成图像的基础电压是最优的，且在异常电压的判断过程中采用了双阈值的判断方式，使得判断准确性更高，从而提高了后续的编码后的图像质量，这是本发明的重要发明点之一。
在一个实施例中，所述检测单元203的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压。本发明中使用一个像素的电压与周围像素（比如8个像素）进行差分计算，所有差分值求和后，如果大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压，否则为正常的基准电压，该检测方法检测速度度，便于在DSP中实现，这是本发明的另一个重要发明点。
在一个实施例，所述校正单元204的操作为：获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。所述过滤为计算存在缺陷的基准电压Uq与电压集合（U1、U2、……UN-1）中的每一个电压的差值，如果该差值绝对大小大于第四阈值，则将电压集合的电压过滤掉，最后得到M个电压值（U1、U2、……UM），M小于N-1；校正方法为Uq=w1Uq+w2Ua，w1、w2为相应的权重值，其具体值可以根据历史数据计算出来，默认值可以各为0.5。
本发明中，为了进一步地提高生成图像的质量，使用剩余N-1个CMOS传感器采集的较好的像素电压值对存在缺陷的基准电压进行校正，并提出具体的电压过滤、校正方法，从而提高图像的质量，这是本发明的另一个发明点。
本发明中，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
本发明的为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质 中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的装置。
最后所应说明的是：以上实施例仅以说明而非限制本发明的技术方案，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明进行修改或者等同替换，而不脱离本发明的精神和范围的任何修改或局部替换，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种基于多CMOS传感器的图像编码方法，其特征在于，该方法包括：
获取步骤S1，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；
确定步骤S2，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；
检测步骤S3，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；
校正步骤S4，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；
编码步骤S5，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定步骤S2的操作为：
对于每一个CMOS传感器，使用滑动窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数sumwx，将 sumx值最小的CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准 电压，其中，异常像素电压的判断方式为：
Figure 477392DEST_PATH_IMAGE001
，且
Figure 418191DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 962174DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的所有像素的电压都为异常，即m*n个像素的电压 均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表示滑动窗口的大小，
Figure 671504DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为i、j 的像素的电压，
Figure 671077DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素电压的均值，sumx为使用滑动窗口对所有像素的 电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1≤X≤N，th1、th2为第一阈值、第二阈值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测步骤S3的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压Uq。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述校正步骤S4的操作为：
获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS管的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
6.一种基于多CMOS传感器的图像编码装置，其特征在于，该装置包括：
获取单元，获取N个CMOS传感器对同一对象的各个像素电压；
确定单元，确定N个CMOS传感器中的一个CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压；
检测单元，对该对象的各个像素的基准电压进行检测，查找出存在缺陷的基准电压；
校正单元，基于剩余N-1个CMOS传感器采集的该对象的各个像素电压对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压；
编码单元，将该对象的基准电压及校正后的基准电压使用数字信号处理器编码为数字图像。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述确定单元的操作为：
对于每一个CMOS传感器，使用滑动窗口计算该窗口中的异常像素电压的个数sumwx，将sumx值最小的CMOS传感器采集的所述对象的各个像素电压作为该对象的各个像素的基准电压，其中，异常像素电压的判断方式为：
Figure 209375DEST_PATH_IMAGE005
，且
Figure 889755DEST_PATH_IMAGE002
，如果
Figure 284833DEST_PATH_IMAGE002
不成立，该窗口中的 所有像素的电压都为异常，即m*n个像素的电压均异常，其中，m、n为滑动窗口的参数，m*n表 示滑动窗口的大小，
Figure 129292DEST_PATH_IMAGE003
为滑动窗口内坐标为i、j的像素的电压，
Figure 118284DEST_PATH_IMAGE004
为该滑动窗口内所有像素 电压的均值，sumx为使用滑动窗口对所有像素的电压扫描完毕后所有的sumwx的和，其中，1 ≤X≤N，th1、th2为第一阈值、第二阈值。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述检测单元的操作为：计算每一像素的基准电压与周围所有相邻像素差分值之和，如果所述差分值之和大于第三阈值，则该像素的基准电压为存在缺陷的基准电压Uq。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述校正单元的操作为：
获取存在缺陷的基准电压Uq对应的MOS管的坐标，获取剩余N-1个CMOS传感器在所述坐标处的MOS管的电压形成电压集合（U1、U2、……UN-1），对所述电压集合中的N-1个电压值进行过滤，得到M个电压值（U1、U2、……UM），对所述M个电压值求均值得到Ua，使用所述Ua对存在缺陷的基准电压进行校正，得到校正后的基准电压。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述数字信号处理器编码后的数字图像为jpeg或jpg格式的数字图像。
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