CN112798230B - 一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法 - Google Patents

一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法，涉及半导体激光技术领域；该系统包括：待测试的半导体激光器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和光功率计；所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器均为2×2的光纤耦合器；所述激光器和所述光功率计分别连接至所述第一光纤耦合器一端的两个端口；所述第一光纤耦合器另一端的一个端口连接至所述第二光纤耦合器的一端的其中一个端口，另一个端口连接至所述第二光纤耦合器的另一端的其中一个端口，组成一个环形光路。通过光功率计读数计算激光器接收的回返光功率，可以直观且准确的计算半导体激光器的耐回返光阈值。

Description

一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法
技术领域
本发明涉及半导体激光技术领域，尤其涉及一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法。
背景技术
随着激光技术的发展和激光器输出功率水平的提高，对激光芯片的抗激光破坏能力的要求越来越高。在激光芯片正常工作过程中，会有少量激光沿原路反射回激光芯片，回返光的强度达到一定程度时会影响激光器的传输性能。因此，准确评估半导体激光器的耐回返光能力是激光器的使用前提条件。
发明内容
为了解决上述问题，本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统及方法。
一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，包括：待测试的半导体激光器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和光功率计；所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器均为2×2的光纤耦合器；
所述激光器和所述光功率计分别连接至所述第一光纤耦合器一端的两个端口；所述第一光纤耦合器另一端的一个端口连接至所述第二光纤耦合器的一端的其中一个端口，另一个端口连接至所述第二光纤耦合器的另一端的其中一个端口，组成一个环形光路；所述激光器发出的激光经所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器后分成两路分别返回至所述激光器和所述光功率计，通过逐渐增加所述激光器的输出功率，增大所述激光器和所述光功率计接收到的激光功率，直至所述激光器被回返光烧毁，根据此时所述光功率计接收的激光功率计算得到所述激光器接收的回返光的功率，并作为所述激光器的耐回返光能力阈值。
进一步地，所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为m:n；其中，m和n均为大于0的预设值。
进一步地，所述激光器和所述光功率计分别通过光纤连接至所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口；所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口通过光纤连接至所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口，所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口通过光纤连接至所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口；所述激光器发出的激光通过所述第一光纤耦合器分为两路：
一路通过所述第二光纤耦合器第二端的m/(m+n)端口进入所述第二光纤耦合器，通过所述第二光纤耦合器分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口返回所述第一光纤耦合器，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口分别返回至所述激光器和所述光功率计；
另一路通过所述第二光纤耦合器第一端的m/(m+n)端口进入所述第二光纤耦合器，通过所述第二光纤耦合器分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口返回所述第一光纤耦合器，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口分别返回至所述激光器和所述光功率计。
进一步地，根据所述光功率计接收的激光功率计算得到所述激光器接收的回返光的功率，计算公式如公式(1)所示：
x1＝(m/n)x2   (1)
上式中，x1为所述激光器1接收的回返光的功率；x2为所述光功率计接收到的激光功率。
进一步地，所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为50:50；所述光功率计的读数等于所述激光器接收的回返光功率。
进一步地，所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为10:90；所述光功率计的读数等于所述激光器接收的回返光功率的九倍。
本发明还提出一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试方法，包括：
激光器发出功率为x的第一激光束至2×2的第一光纤耦合器；所述第一光纤耦合器的耦合比为m:n，所述激光器连接在所述第一光纤耦合器第一端的m/(m+n)端口上；
所述第一激光束通过所述第一光纤耦合器分成第二路激光和第三路激光；其中，第二路激光通过所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口输出，功率为mx/(m+n)；第三路激光通过所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口输出，功率为nx/(m+n)；
所述第二路激光输入至2×2的第二光纤耦合器；所述第二光纤耦合器的耦合比为m:n；所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口连接至所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口,所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口连接至所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口；
所述第二路激光通过所述第二光纤耦合器分为第四路激光和第五路激光；其中，第四路激光通过所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口输出，功率为m2x/(m+n)2；
第四路激光通过所述第一光纤耦合器分为第六路激光和第七路激光；其中，第六路激光返回至所述激光器，功率为m3x/(m+n)3；第七路激光传输至光功率计，功率为m2nx/(m+n)3；所述光功率计连接在所述第一光纤耦合器的第一端的n/(m+n)端口上；
所述第三路激光通过所述第二光纤耦合器分为第八路激光和第九路激光；其中，所述第八路激光通过所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口输出，功率为mn/(m+n)2；
第八路激光通过所述第一光纤耦合器分为第十路激光和第十一路激光；其中，第十路激光通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口输出至所述激光器，功率为m2nx/(m+n)3，第十一路激光通过所述第一光纤耦合器的第一端的n/(m+n)端口输出至所述光功率计，功率为n2mx/(m+n)3；
所述激光器接收的回返光功率x1为所述第十路激光和所述第六路激光功率和，如公式(2)：
x1＝m2nx/(m+n)3+m3x/(m+n)3＝m2x/(m+n)2   (2)
所述光功率计接收的激光功率x2为所述第七路激光和所述第十一路激光功率和，如公式(3)：
x2＝m2nx/(m+n)3+n2mx/(m+n)3＝mnx/(m+n)2   (3)
得到：x1/x2＝m/n，即：
x1＝x2m/n   (4)
通过逐渐增加所述激光器的输出功率，直至所述激光器被回返光烧毁，根据此时所述光功率计接收的激光功率x2和公式(4)计算得到所述激光器接收的回返光的功率x1，并作为所述激光器的耐回返光能力阈值。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是：本发明提出的技术方案通过两个光纤耦合器组成一个环形测试光路，通过光功率计读数计算激光器接收的回返光功率，可以直观且准确的计算半导体激光器的耐回返光阈值，对半导体激光器的设计与制造具有重要的参考意义。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
图1是本发明实施例中一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统的结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述地实施例是本发明一部分实施例，而不是全部地实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
本实施例提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统。请参阅图1，图1是本发明实施例中一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统的结构图；所述测试系统包括：待测试的半导体激光器1、第一光纤耦合器2、第二光纤耦合器3和光功率计4；所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3均为2×2的光纤耦合器；
所述激光器1和所述光功率计4分别连接至所述第一光纤耦合器2一端的两个端口；所述第一光纤耦合器2另一端的一个端口连接至所述第二光纤耦合器3的一端的其中一个端口，另一个端口连接至所述第二光纤耦合器3的另一端的其中一个端口，组成一个环形光路；
所述激光器1发出的激光经所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3后分成两路分别返回至所述激光器1和所述光功率计4，通过逐渐增加所述激光器1的输出功率，增大所述激光器1和所述光功率计4接收到的激光功率，直至所述激光器1被回返光烧毁，根据此时所述光功率计4接收的激光功率计算得到所述激光器1接收的回返光的功率，并作为所述激光器1的耐回返光能力阈值。
所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3的耦合比均为m:n；其中，m和n均为大于0的预设值。
所述激光器1和所述光功率计4分别通过光纤连接至所述第一光纤耦合器2的第一端21的m/(m+n)端口211和n/(m+n)端口212；所述第一光纤耦合器2的第二端22的m/(m+n)端口221通过光纤连接至所述第二光纤耦合器3的第二端32的m/(m+n)端口321，所述第一光纤耦合器2的第二端22的n/(m+n)端口222通过光纤连接至所述第二光纤耦合器3的第一端31的m/(m+n)端口311；所述激光器1发出的激光通过所述第一光纤耦合器2分为两路：
一路通过所述第二光纤耦合器3第二端32的m/(m+n)端口321进入所述第二光纤耦合器3，通过所述第二光纤耦合器3分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器2的第二端22的n/(m+n)端口222返回所述第一光纤耦合器2，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器2再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器2的第一端21的m/(m+n)端口211和n/(m+n)端口212分别返回至所述激光器1和所述光功率计4；
另一路通过所述第二光纤耦合器3第一端31的m/(m+n)端口311进入所述第二光纤耦合器3，通过所述第二光纤耦合器3分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器2的第二端22的m/(m+n)端口221返回所述第一光纤耦合器2，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器2再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器2的第一端21的m/(m+n)端口211和n/(m+n)端口212分别返回至所述激光器1和所述光功率计4。
根据所述光功率计4接收的激光功率计算得到所述激光器1接收的回返光的功率，计算公式如公式(1)所示：
x1＝(m/n)x2   (1)
上式中，x1为所述激光器1接收的回返光的功率；x2为所述光功率计4接收到的激光功率。
在本实施例中，所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3均为单模光纤耦合器。
本实施例还提供一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试方法，包括：
S1：激光器1发出功率为x的第一激光束至2×2的第一光纤耦合器2；所述第一光纤耦合器2的耦合比为m:n，所述激光器1连接在所述第一光纤耦合器2第一端21的m/(m+n)端口211上；
所述第一激光束通过所述第一光纤耦合器2分成第二路激光和第三路激光；其中，第二路激光通过所述第一光纤耦合器2的第二端22的m/(m+n)端口221输出，功率为mx/(m+n)；第三路激光通过所述第一光纤耦合器2的第二端22的n/(m+n)端口222输出，功率为nx/(m+n)；
S2：所述第二路激光输入至2×2的第二光纤耦合器3；所述第二光纤耦合器3的耦合比为m:n；所述第一光纤耦合器2的第二端22的m/(m+n)端口221连接至所述第二光纤耦合器3的第二端32的m/(m+n)端口321,所述第一光纤耦合器2的第二端22的n/(m+n)端口222连接至所述第二光纤耦合器3的第一端31的m/(m+n)端口311；
所述第二路激光通过所述第二光纤耦合器3分为第四路激光和第五路激光；其中，第四路激光通过所述第二光纤耦合器3的第一端31的m/(m+n)端口311输出，功率为m2x/(m+n)2；
第四路激光通过所述第一光纤耦合器2分为第六路激光和第七路激光；其中，第六路激光返回至所述激光器1，功率为m3x/(m+n)3；第七路激光传输至光功率计，功率为m2nx/(m+n)3；所述光功率计4连接在所述第一光纤耦合器2的第一端21的n/(m+n)端口212上；
S3：所述第三路激光通过所述第二光纤耦合器3分为第八路激光和第九路激光；其中，所述第八路激光通过所述第二光纤耦合器3的第二端32的m/(m+n)端口321输出，功率为mn/(m+n)2；
第八路激光通过所述第一光纤耦合器2分为第十路激光和第十一路激光；其中，第十路激光通过所述第一光纤耦合器2的第一端21的m/(m+n)端口211输出至所述激光器1，功率为m2nx/(m+n)3，第十一路激光通过所述第一光纤耦合器2的第一端21的n/(m+n)端口212输出至所述光功率计，功率为n2mx/(m+n)3；
S4：所述激光器1接收的回返光功率x1为所述第十路激光和所述第六路激光功率和，如公式(2)：
x1＝m2nx/(m+n)3+m3x/(m+n)3＝m2x/(m+n)2   (2)
所述光功率计4接收的激光功率x2为所述第七路激光和所述第十一路激光功率和，如公式(3)：
x2＝m2nx/(m+n)3+n2mx/(m+n)3＝mnx/(m+n)2   (3)
得到：x1/x2＝m/n，即：
x1＝x2m/n   (4)
S5：通过逐渐增加所述激光器1的输出功率，直至所述激光器1被回返光烧毁，根据此时所述光功率计4接收的激光功率x2和公式(4)计算得到所述激光器1接收的回返光的功率x1，并作为所述激光器1的耐回返光能力阈值。
在一较佳实施例中，所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3的耦合比均为50:50，则m/n＝1；所述光功率计4接收的激光功率x2等于所述激光器1接收的回返光的功率x1；通过增加所述激光器的输出激光的功率，增大所述激光器1和所述光功率计4接收到的激光功率，直至所述激光器1被回返光烧毁，此时所述光功率计4接收的激光功率即为所述激光器1的耐回返光能力阈值，可以直接通过光功率计4的读数得到所述激光器1的耐回返光能力阈值。
在另一较佳实施例中，所述第一光纤耦合器2和所述第二光纤耦合器3的耦合比均为10:90，则m/n＝1/9，所述激光器1接收的回返光的功率x1＝x2/9，所述光功率计4接收的激光功率x2是所述激光器1接收的回返光功率x1的9倍，该实施例中将光功率计4接收的激光功率比例适当放大，可以更方便计算激光器1接收的回返光功率。
本发明的有益效果是：本发明提出的技术方案通过两个光纤耦合器组成一个环形测试光路，通过光功率计读数计算激光器接收的回返光功率，可以直观且准确的测得半导体激光器的耐回返光阈值，对半导体激光器的设计与制造具有重要的参考意义。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，比如添加或者减少光纤耦合器的数量，组成多个环形光路，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，其特征在于：包括：待测试的半导体激光器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和光功率计；所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器均为2×2的光纤耦合器；
所述激光器和所述光功率计分别连接至所述第一光纤耦合器一端的两个端口；所述第一光纤耦合器另一端的一个端口连接至所述第二光纤耦合器的一端的其中一个端口，另一个端口连接至所述第二光纤耦合器的另一端的其中一个端口，组成一个环形光路；所述激光器发出的激光经所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器后分成两路分别返回至所述激光器和所述光功率计，通过逐渐增加所述激光器的输出功率，增大所述激光器和所述光功率计接收到的激光功率，直至所述激光器被回返光烧毁，根据此时所述光功率计接收的激光功率计算得到所述激光器接收的回返光的功率，并作为所述激光器的耐回返光能力阈值；
所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为m:n；其中，m和n均为大于0的预设值；
根据所述光功率计接收的激光功率计算得到所述激光器接收的回返光的功率，计算公式如公式（1）所示：
x 1=(m/n)x 2  （1）
上式中，x 1为所述激光器1接收的回返光的功率；x 2为所述光功率计接收到的激光功率。
2.如权利要求1所述的一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，其特征在于：所述激光器和所述光功率计分别通过光纤连接至所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口；所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口通过光纤连接至所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口，所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口通过光纤连接至所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口；所述激光器发出的激光通过所述第一光纤耦合器分为两路：
一路通过所述第二光纤耦合器第二端的m/(m+n)端口进入所述第二光纤耦合器，通过所述第二光纤耦合器分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口返回所述第一光纤耦合器，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口分别返回至所述激光器和所述光功率计；
另一路通过所述第二光纤耦合器第一端的m/(m+n)端口进入所述第二光纤耦合器，通过所述第二光纤耦合器分为两路，其中一路通过所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口返回所述第一光纤耦合器，返回的该路激光通过所述第一光纤耦合器再次分为两路后，通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口和n/(m+n)端口分别返回至所述激光器和所述光功率计。
3.如权利要求1所述的一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，其特征在于：所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为50:50；所述光功率计的读数等于所述激光器接收的回返光功率。
4.如权利要求1所述的一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，其特征在于：所述第一光纤耦合器和所述第二光纤耦合器的耦合比均为10:90；所述光功率计的读数等于所述激光器接收的回返光功率的九倍。
5.一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试方法，其特征在于：包括：
激光器发出功率为x的第一激光束至2×2的第一光纤耦合器；所述第一光纤耦合器的耦合比为m:n，所述激光器连接在所述第一光纤耦合器第一端的m/(m+n)端口上；
所述第一激光束通过所述第一光纤耦合器分成第二路激光和第三路激光；其中，第二路激光通过所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口输出，功率为mx/(m+n)；第三路激光通过所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口输出，功率为nx/(m+n)；
所述第二路激光输入至2×2的第二光纤耦合器；所述第二光纤耦合器的耦合比为m:n；所述第一光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口连接至所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口,所述第一光纤耦合器的第二端的n/(m+n)端口连接至所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口；
所述第二路激光通过所述第二光纤耦合器分为第四路激光和第五路激光；其中，第四路激光通过所述第二光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口输出，功率为m 2 x/(m+n)2；
第四路激光通过所述第一光纤耦合器分为第六路激光和第七路激光；其中，第六路激光返回至所述激光器，功率为m 3 x/(m+n)3；第七路激光传输至光功率计，功率为m 2 nx/(m+n)3；所述光功率计连接在所述第一光纤耦合器的第一端的n/(m+n)端口上；
所述第三路激光通过所述第二光纤耦合器分为第八路激光和第九路激光；其中，所述第八路激光通过所述第二光纤耦合器的第二端的m/(m+n)端口输出，功率为mn/(m+n)2；
第八路激光通过所述第一光纤耦合器分为第十路激光和第十一路激光；其中，第十路激光通过所述第一光纤耦合器的第一端的m/(m+n)端口输出至所述激光器，功率为m 2 nx/(m+n)3，第十一路激光通过所述第一光纤耦合器的第一端的n/(m+n)端口输出至所述光功率计，功率为n 2 mx/(m+n)3；
所述激光器接收的回返光功率x 1为所述第十路激光和所述第六路激光功率和，如公式（2）：
x 1 =m 2 nx/(m+n)3+ m 3 x/(m+n)3=m 2 x/(m+n)2  （2）
所述光功率计接收的激光功率x 2为所述第七路激光和所述第十一路激光功率和，如公式（3）：
x 2 =m 2 nx/(m+n)3+ n 2 mx/(m+n)3=mnx/(m+n)2  （3）
得到：x 1/x 2=m/n，即：
x 1=x 2 m/n  （4）
通过逐渐增加所述激光器的输出功率，直至所述激光器被回返光烧毁，根据此时所述光功率计接收的激光功率x 2和公式（4）计算得到所述激光器接收的回返光的功率x 1，并作为所述激光器的耐回返光能力阈值。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114243444A (zh) * 2021-12-21 2022-03-25 武汉思创精密激光科技有限公司 半导体激光器返回光耐受性测试装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001083040A (ja) * 1999-09-16 2001-03-30 Hitachi Cable Ltd 光ファイバケーブルの試験方法
CN107219063A (zh) * 2017-06-30 2017-09-29 华中科技大学鄂州工业技术研究院 一种高功率光纤激光器安全监测方法及装置
CN108923232A (zh) * 2018-07-18 2018-11-30 杭州电子科技大学 一种用于多波长光纤激光器的稳频装置
CN110429453A (zh) * 2019-07-19 2019-11-08 东莞理工学院 一种带回光监测系统的高功率激光器
CN111106512A (zh) * 2019-11-19 2020-05-05 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种处理回返光的监控装置、光纤激光器及方法
CN111129915A (zh) * 2019-12-23 2020-05-08 北京航天控制仪器研究所 一种用于光纤激光器的防反射系统及方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU643115B2 (en) * 1991-06-03 1993-11-04 Sumiden Opcom Ltd. Method for farbicating optical fibre couplers
KR101254676B1 (ko) * 2010-11-23 2013-04-15 아이피지 포토닉스 코포레이션 고출력 광섬유 레이저 시스템의 출력을 감시하기 위한 방법 및 시스템
CN204612901U (zh) * 2015-05-22 2015-09-02 武汉光迅科技股份有限公司 一种插损、回损、波长相关损耗测试装置
CN105043726B (zh) * 2015-09-15 2016-07-27 深圳市创鑫激光股份有限公司 一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备
CN106872027A (zh) * 2017-04-18 2017-06-20 中国电子科技集团公司第四十六研究所 一种高功率光纤激光器回光探测及其保护电路
CN107991061A (zh) * 2018-01-16 2018-05-04 南京理工大学 高功率光纤激光器qbh光缆光束质量检测系统及其检测方法
CN111934194B (zh) * 2020-07-01 2022-02-22 苏州创鑫激光科技有限公司 一种激光器
CN112051036B (zh) * 2020-08-26 2024-05-31 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种半导体激光器腔面光学灾变损伤峰值功率的测试方法及装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001083040A (ja) * 1999-09-16 2001-03-30 Hitachi Cable Ltd 光ファイバケーブルの試験方法
CN107219063A (zh) * 2017-06-30 2017-09-29 华中科技大学鄂州工业技术研究院 一种高功率光纤激光器安全监测方法及装置
CN108923232A (zh) * 2018-07-18 2018-11-30 杭州电子科技大学 一种用于多波长光纤激光器的稳频装置
CN110429453A (zh) * 2019-07-19 2019-11-08 东莞理工学院 一种带回光监测系统的高功率激光器
CN111106512A (zh) * 2019-11-19 2020-05-05 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种处理回返光的监控装置、光纤激光器及方法
CN111129915A (zh) * 2019-12-23 2020-05-08 北京航天控制仪器研究所 一种用于光纤激光器的防反射系统及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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盛泉 等.高功率光纤激光器反向光放大和损伤特性数值分析.红外与激光工程.2020,第49卷(第49期),第111-117页. *

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