CN112683915A - 一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法 - Google Patents

一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法 Download PDF

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CN112683915A CN202011439123.7A CN202011439123A CN112683915A CN 112683915 A CN112683915 A CN 112683915A CN 202011439123 A CN202011439123 A CN 202011439123A CN 112683915 A CN112683915 A CN 112683915A
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Abstract

本发明涉及一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法,包括:确定石质文物石材种类和采集地;获取相同的新鲜岩石样品;制备实验样品;对实验样品进行分级劣化处理;测量细观参数并建立其与劣化因素之间的相关关系;测量宏观工程参数并建立其与劣化因素之间的相关关系;建立细观参数与宏观工程参数的相关关系并汇总形成数据对应关系表;当实际劣化发生时,取样岩石小样品,测量其细观参数值,然后根据所建立的数据对应关系表反算取样位置石材宏观工程参数。本发明通过预先的大量实验和分析并且建立数据对应关系表,可以科学地快速评价劣化后的宏观工程性质,为修复和重建过程中的方案制定提供支持,取样少,对文物损害小,应用广泛。

Description

一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法
技术领域
本发明涉及石质文物劣化程度分析技术领域,具体涉及一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法,用于在石质文物发生劣化后快速评价宏观工程性质。
背景技术
我国是一个拥有数千年文明的文化古国,在这千年的历史长河中留下了数量众多珍贵的石质文物。然而,石质文物自建成以来就受到各种自然营力的作用(如日晒、冻融、酸雨等)而发生缓慢劣化,甚至损毁。火灾也是文物损毁的一个巨大威胁。在历史上许多建筑由于火灾的而受损甚至毁于一旦,如北京故宫博物院分别在1421年、1557年、以及1797 年发生火灾,圆明园于1860年被完全烧毁,目前仅存大水法、远瀛观的几个大理石石柱。虽然现代技术的帮助使得火灾发生的可能性大为降低,但是火灾的发生依然不可避免,如 2019年4月15日,在法国巴黎的巴黎圣母院发生了火灾。既然火灾不可避免,则采用科学的方法做好预研究,在火灾发生后可以快速准确地评价石质文物不同部分的材料性质和受损程度,从而快速制定抢修方案以减小损失成为一个重要的课题。
通常,石质文物发生劣化后(包括发生火灾后)的稳定性评价和修复方案的确定需要首先搞清其劣化后的宏观工程参数值。而宏观工程参数的确定需要大量较大尺寸的样品进行破坏性试验,如对力学性质参数的测定通常需要直径为50mm高为100mm的圆柱形样品。对于文物来说,这种大尺寸取样测试的方法是不可取的。因为我们希望尽可能地保存石质文物原来的材料,而获取测定宏观工程参数的样品需要大量取走文物上的石材。工程人员在实际情况中常常面临着困难的平衡:一方面是文物建筑分析过程中允许采集的样品数量十分有限;另一方面是为了尽量大地保存文物建筑的历史价值,在修复的过程中需要尽可能少的替换原有建筑的石材,同时需要保证修复后的文物安全。
因此,亟需发明一种能够根据少量的样品测试就可用于劣化后石质文物建筑石材宏观工程性质的快速评价方法,在取样量与科学评估两者之间取得平衡,使得能够快速地评估劣化后劣化区域内建筑石材的宏观工程性质,为文物修复方案的制定提供参考。
发明内容
在下文中给出了关于本发明的简要概述,以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解,该概述并不是关于本发明的穷举性概述,它并非意图确定本发明的关键或重要部分,也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念,以此作为后文的具体实施方式部分的铺垫。
鉴于现有技术的不足,本发明的目的在于基于劣化对某种岩石材料的作用和建立定量化的微观与宏观之间的关系,提供一种适用于劣化后的石质材料性质快速评价的方法,用于科学地评价劣化后石质文物材料宏观工程参数。
为实现上述目的,本发明基于如下两个认识:(1)相同地点的同种岩石的矿物成分和形态、物理和力学性质、以及耐高温性质基本相同;(2)某一处石质文物所使用的建筑石才种类通常为一种或者有限的几种,使得对该石质文物材料的精细化研究具有可操作性。
本发明的技术方案如下:
本发明提一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法,包括如下步骤:
步骤10,确定用于建造石质文物的石材种类和采集地;
步骤20,在同一采集地获取与石质文物同种类的新鲜岩石样品;
步骤30,采用所得到的新鲜岩石样品制备实验样品;
步骤40,对实验样品进行分级劣化处理;
步骤50,对每一级劣化处理后的实验样品进行细观参数测量,建立细观参数与劣化因素之间的相关关系;
步骤60,对每一级劣化处理后的实验样品进行宏观工程参数测量,建立宏观工程参数与劣化因素之间的相关关系;
步骤70,分析实验样品细观参数与宏观工程参数之间的相关关系,建立不同劣化程度下细观参数与宏观工程参数的相关关系,并将石材种类、采集地,以及细观参数与宏观工程参数的相关关系汇总形成数据对应关系表;
步骤80,当实际劣化发生时,在石质文物劣化区域内不同的位置取样岩石小样品,使用与步骤50相同的方法测量岩石小样品的细观参数值,然后根据步骤70中所建立的数据对应关系表反算取样位置石材宏观工程参数。
作为一种改进,步骤10中,根据石质文物的技术文件或者建造记录等确定石材的种类和采集地;优选地,确定石质文物所用石材子类过程中,采用历史文献记录和岩石学特征相结合的方法;岩石学特征包括岩石结构、构造、颜色、成分以及各成分的含量,还包括填隙物、胶结物等。
作为一种改进,对采集地的采坑内不同地层均采集各个典型子类的岩石作为新鲜岩石样品,以正确匹配石质文物所用岩石材料。
作为一种改进,步骤40之后还具有步骤41,分析实验样品的矿物成分,具体为:
比较劣化后实验样品的矿物成分和未劣化样品的矿物成分;
根据矿物成分结果判断主要组成矿物是否发生矿物相变;
对于未发生矿物相变的继续留用,已发生矿物相变的则表明矿物性质急剧劣化,不可继续使用;
优选地,矿物成分的分析方法采用粉末XRD方法。
作为一种改进,步骤50中,测量的细观参数包括颗粒尺寸分布和线裂纹密度;优选地,颗粒尺寸分布和线裂纹密度采用拍摄的显微照片来确定;优选地,采用偏光显微镜在反射模式和单偏光下对偏光片拍照;优选地,偏光片所采用的厚度为造岩矿物晶体直径的 10至20倍,磨片前先注入树脂进行固定。
作为一种改进,颗粒尺寸分布的测量具体为:
对于如花岗岩等颗粒边界明显的多晶体岩石,直接使用二值化图像或灰度图像后进行统计;
对于如大理岩等颗粒边界不太明显的单晶体岩石,采用下列步骤:
调节照片的亮度和对比度,强化颗粒边界,使得原始图像中的颗粒边界变得明显;
提取颗粒边界网格;
把图像转换成灰度图像,用不同的颜色填充颗粒边界所围成的颗粒;
统计填充色块颗粒的颗粒数目、平均粒径和颗粒面积;
优选地,对于高温劣化,所述颗粒尺寸分布拟合结果得到尺度参数μ和加热温度T之间满足如下相关关系式:
μ=0.073T-89.712 (R2=0.971)
其中R2为拟合优度。
作为一种改进,线裂纹密度的测量具体为:
于所拍摄偏光显微照片上建立一个透明新图层,用宽度与照片中裂纹宽度接近的曲线在该图层上描出裂纹,得到裂纹网络;
导出含有裂纹网络的图层,得到一个仅含有裂纹网络的图像;
计算图像中所有裂纹占有的面积,用该面积除以裂纹的宽度得到裂纹的总长度,量纲为[L];
裂纹总长度除以图像的总面积得到线裂纹密度,量纲为[L-1];
优选地,对于高温劣化,所述线裂纹密度ρ随着加热温度T的演化遵循线性关系,线性关系满足如下公式:
ρ=2.149×10-5T+0.00274 (R2=0.948)
其中R2为拟合优度。
作为一种改进,步骤60中,每一级劣化处理后的宏观工程参数包括单轴抗压强度和杨氏模量;优选地,进行样品的宏观工程参数测量选择直径50mm、高度100mm的圆柱形样品,加载方式采用按应力加载、按位移加载、按应变加载三种方式之一。
优选地,单轴抗压强度的测量具体为:单轴抗压强度随着尺度参数μ和线裂纹密度ρ这两个参数的增大而减小,实验时增加劣化级,通过拟合点一一对应的关系,可由细观参数直接“对应”得到相应的宏观工程参数;
优选地,对于高温劣化,所述杨氏模量E与尺度参数μ之间满足如下相关关系式:
E=0.601μ+15.890 (R2=0.912)
其中R2为拟合优度;
优选地,对于高温劣化,所述杨氏模量E与线裂纹密度ρ之间满足如下相关关系式:
E=-20845.62ρ+760.06 (R2=0.994)
其中R2为拟合优度。
作为一种改进,步骤80中,在劣化区域的石质文物上取岩石小样品,分析岩石种类;通过分析小样品的细观参数,根据数据对应关系表中的数据对应关系,或者根据细观参数与宏观工程参数的一一对应关系,反算宏观工程参数。
作为一种改进,步骤80中,所述取样岩石小样品为毫米级石质文物小样品,具体为取劣化导致的石质文物剥落的小样品,或者从石质文物表层钻取毫米级岩石小样品。
本发明相对于现有技术的有益效果是:本发明根据劣化对某种岩石材料的作用和定量化的微观与宏观性质之间的关系,通过预先的大量实验和分析并且建立数据对应关系表,可以科学地快速评价劣化后的宏观工程性质,为石质文物的整体结构稳定性提供输入参数,为修复和重建过程中的方案制定提供支持。本发明评价快速,应用广泛。具体而言,本发明至少具有如下实际效果:
(1)本发明基于石质文物同种石材细观参数、宏观工程参数及其相关关系的预先研究,在灾害发生后能够根据数据对应关系表迅速地进行评价和分级;
(2)本发明所述方法基于石质文物小样品,只需要从石质文物上取出少量的样品,对文物损害小;
(3)本发明所述方法能够根据细观参数反推得到石质文物劣化范围内各个部位的宏观工程性质;
(4)本发明所述方法通过在劣化范围内均匀地采样,能够根据细观参数得到各个部位材料的宏观工程参数分布图,为后续的文物结构稳定性分析提供科学准确的参数输入;
(5)本方法取样体积小,避免了取大块样品时导致将不同劣化程度后的样品产生的差异归入“误差”之中,测试结果更加准确。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容涵盖的范围内。
图1为本发明一个实施例的快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法流程图;
图2为本发明一个实施例的青白石与汉白玉在北京天坛的石质文物中运用部位示意图;
图3为本发明一个实施例的不同温度热处理后偏光显微图,其中图a、b、c、d分别为25℃、200℃、400℃和600℃处理后的样品;
图4为本发明一个实施例的颗粒分割方法中提取矿物边界网格示意图;
图5为本发明一个实施例的颗粒分割方法中晶体颗粒色块填充示意图;
图6为本发明一个实施例的微裂纹网格提取示意图;
图7为本发明一个实施例的不同温度处理后的样品颗粒尺寸分布曲线示意图;
图8a为本发明一个实施例的尺度参数与温度关系图;
图8b为本发明一个实施例的线裂纹密度与温度关系图;
图9a为本发明一个实施例的单轴抗压强度与温度关系图;
图9b为本发明一个实施例的杨氏模量与温度关系图;
图10a为本发明一个实施例的单轴抗压强度与尺度参数关系图;
图10b为本发明一个实施例的单轴抗压强度与线裂纹密度关系图;
图11a为本发明一个实施例的杨氏模量与尺度参数关系图;
图11b为本发明一个实施例的杨氏模量与线裂纹密度关系图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本发明实施例作进一步详细说明。在此,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,但并不作为对本发明的限定。
需要理解的是,术语“包括/包含”、“由……组成”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的产品、设备、过程或方法不仅包括那些要素,而且需要时还可以包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种产品、设备、过程或方法所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括/包含……”、“由……组成”限定的要素,并不排除在包括所述要素的产品、设备、过程或方法中还存在另外的相同要素。
还需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置、部件或结构必须具有特定的方位、以特定的方位构造或操作,不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面参照附图对本发明的技术方案进行具体阐述。
岩石材料通常主要由一种或者几种矿物经过一定的地质作用后形成。同种石材通常具有一致的矿物成分,且岩石形成过程中经历相同的地质历史,因此该种岩石物理力学性质相对均一,劣化后的性质变化程度也接近。
岩石的宏观工程性质受到其细观性质的控制,如组成矿物的种类和含量、矿物颗粒大小级配和颗粒形貌、矿物间胶结的强弱、微裂隙分布等。高温处理后岩石材料的宏观性质改变的内在原因即在于,高温作用过程使得岩石的细观特征发生了改变。这种改变通常分为两个阶段:(1)在岩石材料所受的最高温度没有超过岩石主要组成矿物的临界温度时,细观性质的改变处于物理变化范围之内,如由于矿物晶体颗粒的各向异性膨胀和收缩造成的颗粒间胶结破坏、颗粒局部破碎、晶体间微裂纹和晶体内微裂纹的产生可扩展;(2) 当岩石材料所受的最高温度超过岩石主要组成矿物的临界温度时,细观性质的改变除(1) 所述的物理变化之外还会发生化学变化,如矿物晶体的分解和重结晶,这个过程导致矿物晶体自身的力学性质发生剧烈改变;同时化学变化过程中的产物还会加剧物理变化的程度,如矿物分解产生的高压气体逃逸过程进一步促进微裂纹的产生和扩展。晶体颗粒性质和尺寸的变化以及微裂纹的增多通常导致岩石工程性质的降低。选取合适的细观参数表征细观性质的变化并且建立细观参数与劣化因素、宏观工程参数之间的关系为我们提供了一种基于细观参数评估宏观性质的新方法。
基于上述原理,如图1,本发明提供一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法,包括如下步骤:确定用于建造石质文物的石材种类和采集地;在同一采集地获取与石质文物同种类的新鲜岩石样品;采用所得到的新鲜岩石样品制备实验样品;对实验样品进行分级劣化处理;对每一级劣化处理后的实验样品进行细观参数测量,建立细观参数与劣化因素之间的相关关系;对每一级劣化处理后的实验样品进行宏观工程参数测量,建立宏观工程参数与劣化因素之间的相关关系;分析实验样品细观参数与宏观工程参数之间的相关关系,建立不同劣化程度下细观参数与宏观工程参数的相关关系,并将细观参数和宏观工程参数的测量数据、细观参数与宏观工程参数的相关关系汇总形成数据对应关系表;当实际劣化发生时,在石质文物劣化区域内不同的位置取样岩石小样品,测量岩石小样品的细观参数值,然后根据所建立的数据对应关系表反算取样位置石材宏观工程参数。该方法适用于石质文物劣化后受损程度的快速评估,由预先建立数据对应关系表和灾后石质文物小样品细观参数即可快速评价石材的宏观工程性质,用以解决现有的劣化后文物石材受损程度评价困难的问题,为灾后制定抢修方案提供参考依据。该方法基于石质文物小样品,主要为毫米级小样品,取样体积小,对文物损害小,应用广泛。
下面参照附图对本发明的技术方案进行具体阐述。
本发明通过一个实施例阐述该种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法。本实施例采用北京地区的大理石石质文物,以天坛为例,按照如下步骤进行:
步骤10,确定用于建造石质文物的石材种类和采集地;
本步骤中,根据石质文物的技术文件或者建造记录等确定石材的种类和采集地;优选地,确定石质文物所用石材子类过程中,采用历史文献记录和岩石学特征相结合的方法;岩石学特征包括岩石结构、构造、颜色、成分以及各成分的含量,还包括填隙物、胶结物等特征。
本例中,根据马庆澜于1928所著《房山县县志》,北京石质文物其所用石材主要是采用北京西南房山大石窝镇的大理岩。高林志等(2010)研究发现北京大理岩的岩石所属地层为蓟县系前寒武纪雾迷山组的碳酸盐岩层。
根据对天坛石质文物的实地勘察和矿物分析,发现石质文物所采用的北京大理岩主要为两个子类,一般采用子类青白石作为建筑的承力构件,采用子类汉白玉作为精雕和装饰构件(如图2所示)。
步骤20,在同一采集地获取与石质文物同种类的新鲜岩石样品;
本步骤中,对采集地的采坑内不同地层均采集各个典型子类的岩石作为新鲜岩石样品,以正确匹配石质文物所用岩石材料。
为清楚描述本专利所述方法,本实施例采用用于精雕和装饰构件的汉白玉材料为例,到北京房山大石窝采集了与石质文物所用相同的汉白玉石材,于后续步骤中进行阐述。
在本步骤中,为了尽可能地减少不同实验样品之间带来的误差,后续步骤所用的样品均取自一整块大致尺寸为300×400×150mm3的汉白玉。青白石研究方法和步骤与汉白玉相同,不做重复叙述。
步骤30,采用所得到的新鲜岩石样品制备实验样品;
根据不同的实验目的准备样品(表1),样品准备好后放置在一间有空调的房屋中一周,房屋的温度为25℃,相对湿度为35%。然后在烘箱中在65℃的条件下烘干48小时。在烘干后,样品装入塑料密封袋中,在实验之前密封保存。
表1不同实验目的所选用的样品参数
Figure BDA0002829918150000081
Figure BDA0002829918150000091
步骤40,对实验样品进行分级劣化处理;
具体的劣化因素根据石质文物具体使用场合和环境特征而定,可能是由火灾引起的高温劣化,也可能是干湿循环、盐分结晶、溶蚀等,本例中,以高温过火劣化为例,对实验样品分级加热至不同的目标温度进行热处理;
本步骤中,需要加热样品到不同度数的高温并冷却,温度处理在一个可编程的加热炉中完成。该加热炉的最高温度为1200℃。样品被分别加热到25℃、200℃、400℃、600℃、800℃和1000℃。相应地,这些被加热到不同温度的样品被记为M25、M200、M400、M600、 M800和M1000。每一组样品都按照1℃/min的加温速率加热到需要的温度并保持5小时使得样品的所有部分均达到最高温度。之后,样品按照1℃/min的降温速率降温到200℃;然后关闭加热炉电源,保持炉门关闭12个小时再取出样品。这样做的原因是加热炉在温度低于200℃时降温速率低于1℃/min,因此在从200℃降温到室温这个阶段的降温速率只能低于1℃/min。取出之后的样品重新装入密封袋中以避免吸收空气中的水分。
本步骤之后还具有步骤41,分析实验样品的矿物成分,测量M25、M200、M400、M600、M800和M1000立方体样品的矿物成分,比较热处理后样品的矿物成分和未加热样品的矿物成分。本实施例采用粉末X射线衍射(XRD)的方法进行样品的矿物成分测试,采用的仪器是AD/max 2400X射线衍射仪。
在本步骤中,矿物成分测试结果如表2所示。根据矿物成分结果,发现M800和M1000样品中的矿物成分发生了矿物相变,其主要矿物成分白云石全被分解,形成石灰和方镁石,表明在经过800℃和1000℃高温处理后的矿物性质急剧劣化,不可继续使用。对于未发生相变的样品(M25至M600)则根据后续步骤进行分析。
表2不同高温处理后大理岩样品的矿物成分
Figure BDA0002829918150000092
Figure BDA0002829918150000101
步骤50,对每一级劣化处理后的实验样品进行细观参数测量,建立细观参数与劣化因素之间的相关关系;
同样以高温过火劣化为例,对每一级目标温度热处理后的实验样品进行细观参数测量:
本步骤中,细观参数包括颗粒尺寸分布和线裂纹密度。
在本步骤中,对每一级目标温度热处理后的偏光片样品进行偏光显微观察和细观参数分析,偏光显微观察方法为:在热处理之后,圆饼样品切片之后浸泡在树脂中,然后磨成偏光片。为了减小磨样品的过程中产生的扰动对样品的破坏,偏光片的厚度采用1mm而不是传统上常常采用的30μm。采用德国卡尔蔡司的Axio Scope A1 microscope偏光镜在反射模式和单偏光条件下进行观察拍照;偏光显微照片通过内置照相机拍得并传输到电脑。M25到M600的偏光显微照片如图3所示。
在本步骤中,对M25、M200、M400和M600每一级温度热处理样品的三张尺寸和放大倍率都相同的偏光显微照片进行分析;提取和分析照片中的颗粒,用以研究它们的分布特征、温度依赖性、以及它们与温度之间的关系。
就颗粒尺寸分布统计而言,对于颗粒边界明显的岩石,如花岗岩等多晶体岩石,可以直接使用二值化图像或灰度图像后进行统计,对于颗粒边界不太明显的岩石,如大理岩等单晶体岩石,一般需要通过以下步骤分割和统计晶体颗粒:灰度亮度调节、提取颗粒边界、相邻颗粒填充不同颜色色块区分、统计色块的数量和大小分布。
在本步骤中,颗粒尺寸分析步骤如下:如图3所示,在拍摄得到的照片中的颗粒和颗粒边界的对比相对较弱。常用的方法,如调解对比度和亮度、转换成灰度图像之后根据灰度或者是RGB分割的方法不能正确地分割颗粒。为了保证图像处理的准确性,用提取边界、色块填充颗粒、统计色块大小相结合来分割图像。颗粒尺寸的统计方法为:先调节亮度和对比度强化颗粒边界,使得原始图像中的颗粒边界变得明显;然后提取颗粒边界网格(图 4);接着把图像转换成灰度图像,用不同的颜色填充颗粒边界所围成的颗粒(图5);最终统计填充色块颗粒的颗粒数目、平均粒径和颗粒面积。
就线裂纹密度而言,线裂纹密度定义为裂纹总长度除以图像的总面积得到线裂纹密度,量纲为[L-1],图像的总面积即图像的长乘宽。
在本步骤中,线裂纹密度分析步骤如下:首先,于偏光显微照片上方建立一个新图层,用宽度与偏光显微照片中裂纹宽度接近的曲线在该图层上描出裂纹得到裂纹网络,然后导出含有裂纹网络的图层,得到一个仅含有裂纹网络的图像(图6);接着,计算图像中所有裂纹占有的面积,则裂纹的总长度就等于所有裂纹占有的面积除以裂纹的宽度,量纲为[L]。值得注意的是,在运用这个方法计算裂纹长度的过程中,图6所示的曲线的宽度应该根据偏光显微照片的比例尺和用于追踪裂纹的曲线的宽度确定以保证计算的准确性。在本实施例中,偏光显微照片的单位是微米,根据偏光显微照片的大小和比例尺,裂纹图中的曲线宽度在计算面积时设置为6.7微米。
本步骤中,进一步建立细观参数与温度之间的相关关系:
图7展示了在25℃、200℃、400℃和600℃之下加热样品的矿物颗粒尺寸分布,粒径分布服从乘上一个放大系数的改进瑞雷分布,如公式1所示:
Figure BDA0002829918150000111
其中a和μ分别为放大系数和尺度参数。
拟合结果如表3所示。
表3改进瑞雷分布拟合结果
样品 尺度参数(μ) 放大系数(a) R<sup>2</sup>
M25 -90.2994 30308.58874 0.85452
M200 -72.16584 25869.09902 0.62062
M400 -59.75576 45585.79832 0.83705
M600 -47.59334 46910.18893 0.84130
如图8a所示,根据拟合结果可以发现尺度参数μ和加热温度T之间有强相关关系,相关关系满足如下公式2:
μ=0.073T-89.712 (R2=0.971) (2)
如图8b所示,样品的线裂纹密度ρ随着加热温度T的演化遵循线性关系,线性关系满足如下公式3:
ρ=2.149×10-5T+0.00274 (R2=0.948) (3)
步骤60,对每一级劣化处理后的实验样品进行宏观工程参数测量,建立宏观工程参数与劣化因素之间的相关关系;
同样以高温过火劣化为例,对每一级目标温度热处理后的实验样品进行宏观工程参数测量:
本步骤中,宏观工程参数包括单轴抗压强度和杨氏模量。
在本步骤中,采用美国MTS公司的MTS-815.03岩石力学实验系统进行单轴压缩测试。测试采用位移控制方式加载,加载速率为0.05mm/min。测试结果如图9a和图9b所示。由图9a和图9b还可以发现,在800℃和1000℃处理后的样品宏观性质急剧降低,此结果也证明步骤41中首先通过主要矿物性质变化判断做出判断的合理性,有利于减少分析工作量。
步骤70,分析实验样品细观参数与宏观工程参数之间的相关关系,建立不同劣化程度下细观参数与宏观工程参数的相关关系,并将细观参数和宏观工程参数的测量数据、细观参数与宏观工程参数的相关关系汇总形成数据对应关系表;
在本步骤中,如图10a和图10b所示,单轴抗压强度随着尺度参数和线裂纹密度这两个参数的增大都表现出下降趋势,虽然不能建立相关关系,但是也可以根据细观参数的大小定性地比较出两种温度后岩石宏观力学性质的优劣。随着温度的升高,岩石的单轴抗压强度降低;但是由于单边效应等因素的影响,降低的程度与细观参数之间的趋势并不是简单的线性关系。虽然无法得到很好回归关系,但实际上从图中也可以看到有一个明显的趋势,那么在测试得到细观参数的数值后,可以根据图中细观参数的坐标确定对应宏观工程参数的数值所在的大概位置,做出定性的判断。
在本步骤中,如图11a和图11b所示,杨氏模量与尺度参数和线裂纹密度这两个参数都呈现出强烈的相关关系(其关系式分别为E=0.601μ+15.890,R2=0.912; E=-20845.62ρ+760.06,R2=0.994),可建立定量的拟合模型,根据细观参数值定量估计宏观工程参数值。这种相关性关系背后的物理学依据在于,温度越高,由局部挤压破碎带产生的小颗粒数量以及微裂纹数量均越多,导致单轴压缩试验过程中的应变分量增加;而由图9a可知在M25至M600阶段的单轴抗压强度仅略微降低,即在单轴压缩过程中应力分量的变化随着温度升高十分有限;故杨氏模量与细观尺度参数的关系主要由应变分量控制,呈现出线性性质。
以上公式对于北京白云石大理岩受高温劣化尤其适用,对于其他产地和种类的石材,如果存在不适用的情况,可根据实际情况对相关公式进行适当调整即可。
以上实验中测试的数据,以及温度、细观参数、宏观工程参数之间的相关关系汇总形成数据对应关系表。
步骤80,当实际劣化发生时,在石质文物劣化区域内不同的位置取样岩石小样品,使用与步骤50相同的方法测量岩石小样品的细观参数值,然后根据步骤70中所建立的数据对应关系表反算取样位置附近石材宏观工程参数。
同样以高温过火为例,本步骤中,在劣化区域的石质文物上取岩石小样品,分析岩石种类;通过分析小样品的细观参数,根据对应数据对应关系表中的数据对应关系,或者根据细观参数与宏观工程参数的一一对应关系,反算宏观工程参数。
本步骤中,取样岩石小样品具体为钻取毫米级岩石小样品,从而石质文物小样品为毫米级石质文物小样品。
需要说明的是,由于本实施例中所述方法是作为一种预先研究方法,不可能在实施例研究中对石质文物造成损坏,因此本实施例中步骤80所述内容中对过火区域内取样这一步骤未做具体操作。而根据“同种岩石制作的建筑物部件物理力学性质接近”和“岩石的宏观工程性质受到其细观性质的控制”原理,以及本实施例中实际实验得到的样品细观参数与温度的关系,本发明所述方法的合理性可得到自证。
至此,本领域技术人员应认识到,虽本文已详尽示出和描述了本发明的示例性实施例,但是,在不脱离本发明精神和范围的情况下,仍然可根据本发明公开的内容直接确定或推导出符合本发明原理的许多其他变型或修改。因此,本发明的范围应被理解和认定为覆盖了所有这些其他变型或修改。

Claims (10)

1.一种快速测量劣化后石质文物宏观工程参数的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤10,确定用于建造石质文物的石材种类和采集地;
步骤20,在同一采集地获取与石质文物同种类的新鲜岩石样品;
步骤30,采用所得到的新鲜岩石样品制备实验样品;
步骤40,对实验样品进行分级劣化处理;
步骤50,对每一级劣化处理后的实验样品进行细观参数测量,建立细观参数与劣化因素之间的相关关系;
步骤60,对每一级劣化处理后的实验样品进行宏观工程参数测量,建立宏观工程参数与劣化因素之间的相关关系;
步骤70,分析实验样品细观参数与宏观工程参数之间的相关关系,建立不同劣化程度下细观参数与宏观工程参数的相关关系,并将石材种类、采集地,以及细观参数与宏观工程参数的相关关系汇总形成数据对应关系表;
步骤80,当实际劣化发生时,在石质文物劣化区域内不同的位置取样岩石小样品,使用与步骤50相同的方法测量岩石小样品的细观参数值,然后根据步骤70中所建立的数据对应关系表反算取样位置石材宏观工程参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤10中,根据石质文物的技术文件或者建造记录等确定石材的种类和采集地;优选地,确定石质文物所用石材子类过程中,采用历史文献记录和岩石学特征相结合的方法;岩石学特征包括岩石结构、构造、颜色、成分以及各成分的含量,还包括填隙物、胶结物等。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤20中,对采集地的采坑内不同地层均采集各个典型子类的岩石作为新鲜岩石样品,以正确匹配石质文物所用岩石材料。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤40之后还具有步骤41,分析实验样品的矿物成分,具体为:
比较劣化后实验样品的矿物成分和未劣化样品的矿物成分;
根据矿物成分结果判断主要组成矿物是否发生矿物相变;
对于未发生矿物相变的继续留用,已发生矿物相变的则表明矿物性质急剧劣化,不可继续使用;
优选地,矿物成分的分析方法采用粉末XRD方法。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤50中,测量的细观参数包括颗粒尺寸分布和线裂纹密度;优选地,颗粒尺寸分布和线裂纹密度采用拍摄的显微照片来确定;优选地,采用偏光显微镜在反射模式和单偏光下对偏光片拍照;优选地,偏光片所采用的厚度为造岩矿物晶体直径的10至20倍,磨片前先注入树脂进行固定。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,颗粒尺寸分布的测量具体为:
对于如花岗岩等颗粒边界明显的多晶体岩石,直接使用二值化图像或灰度图像后进行统计;
对于如大理岩等颗粒边界不太明显的单晶体岩石,采用下列步骤:
调节照片的亮度和对比度,强化颗粒边界,使得原始图像中的颗粒边界变得明显;
提取颗粒边界网格;
把图像转换成灰度图像,用不同的颜色填充颗粒边界所围成的颗粒;
统计填充色块颗粒的颗粒数目、平均粒径和颗粒面积;
优选地,对于高温劣化,所述颗粒尺寸分布拟合结果得到尺度参数μ和加热温度T之间满足如下相关关系式:
μ=0.073T-89.712(R2=0.971)
其中R2为拟合优度。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,线裂纹密度的测量具体为:
于所拍摄偏光显微照片上建立一个透明新图层,用宽度与照片中裂纹宽度接近的曲线在该图层上描出裂纹,得到裂纹网络;
导出含有裂纹网络的图层,得到一个仅含有裂纹网络的图像;
计算图像中所有裂纹占有的面积,用该面积除以裂纹的宽度得到裂纹的总长度,量纲为[L];
裂纹总长度除以图像的总面积得到线裂纹密度,量纲为[L-1];
优选地,对于高温劣化,所述线裂纹密度ρ随着加热温度T的演化遵循线性关系,线性关系满足如下公式:
ρ=2.149×10-5T+0.00274(R2=0.948)
其中R2为拟合优度。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤60中,每一级劣化处理后的宏观工程参数包括单轴抗压强度和杨氏模量;优选地,进行样品的宏观工程参数测量选择直径50mm、高度100mm的圆柱形样品,加载方式采用按应力加载、按位移加载、按应变加载三种方式之一。
优选地,单轴抗压强度的测量具体为:单轴抗压强度随着尺度参数μ和线裂纹密度ρ这两个参数的增大而减小,实验时增加劣化级,通过拟合点一一对应的关系,可由细观参数直接“对应”得到相应的宏观工程参数;
优选地,对于高温劣化,所述杨氏模量E与尺度参数μ之间满足如下相关关系式:
E=0.601μ+15.890(R2=0.912)
其中R2为拟合优度;
优选地,对于高温劣化,所述杨氏模量E与线裂纹密度ρ之间满足如下相关关系式:
E=-20845.62ρ+760.06(R2=0.994)
其中R2为拟合优度。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤80中,在劣化区域的石质文物上取岩石小样品,分析岩石种类;通过分析小样品的细观参数,根据数据对应关系表中的数据对应关系,或者根据细观参数与宏观工程参数的一一对应关系,反算宏观工程参数。
10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤80中,所述取样岩石小样品为毫米级石质文物小样品,具体为取劣化导致的石质文物剥落的小样品,或者从石质文物表层钻取毫米级岩石小样品。
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