CN112598784B - 轮廓扫描结果的调整方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请的目的在于提供轮廓扫描结果的调整方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取产品的三维数字模型的至少一个截线；分别对每个所述截线进行拟合处理；获取所述产品的轮廓扫描数据；针对每个所述轮廓线执行以下处理：将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差；确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。上述方法，通过将轮廓线上的坐标点数据代入到与所述轮廓线对应的截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，并根据累积残差与预定残差的比较结果对轮廓线进行调整，从而得到精细化的调整结果。

Description

轮廓扫描结果的调整方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术和工业检测技术领域，尤其涉及轮廓扫描结果的调整方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

计算机视觉技术作为一门综合性的学科，目前在军事，工业，农业，生活等各个领域有广泛的应用，所及之处无不给人们的工作和生活带来便利，因此越来越被重视，相关的技术也在日益改进和发展。

比如，视觉技术在工业生产过程中物品轮廓调整方面的也有所应用。现有技术提供了一种轮毂的轮廓调整方法，该方法包括：建立标准轮毂的三维模型，基于三维模型提取标准轮毂的矢量轮廓数据；对待打磨轮毂的轮廓进行视觉识别，读取待打磨轮毂的当前轮廓数据；将矢量轮廓数据与待打磨轮毂的当前轮廓数据进行比对融合，基于五次样条曲线插值获取待打磨轮毂的初步打磨轨迹数据；选取N个合格轮毂，通过视觉识别的方式获取N个合格轮毂的当前轮廓数据后进行柔顺参数学习，获取N个合格轮毂的样条曲线柔顺参数范围；基于样条曲线柔顺参数范围，对待打磨轮毂的初步打磨轨迹数据进行柔顺参数优化，输出待打磨轮毂的最终打磨轨迹。

这种方法计算量相对较大，而且精确度较低，效率不高，不能满足用户的需求。

发明内容

本申请的目的在于提供轮廓扫描结果的调整方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，解决了现有技术计算量相对较大，而且精确度较低，效率不高，不能满足用户需求的问题。

本申请的目的采用以下技术方案实现：

第一方面，本申请提供了一种轮廓扫描结果的调整方法，所述方法包括：获取产品的三维数字模型的至少一个截线；分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果；获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据；针对每个所述轮廓线执行以下处理：将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差；确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。该技术方案的有益效果在于，通过将轮廓线上的坐标点数据代入到与所述轮廓线对应的截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，并根据累积残差与预定残差的比较结果对轮廓线进行调整，从而得到精细化的调整结果。

在一些可选的实施例中，所述获取产品的三维数字模型的至少一个截线，包括：获取所述产品对应的三维数字模型；对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。该技术方案的有益效果在于，从三维数字模型中提取截线，并进行等值面处理，为后续轮廓线的调整提供了精确的参考依据；对三维数字模型进行等值面截线处理，可以利用相关软件，例如：CATIA、UG、Pro/E等。

在一些可选的实施例中，所述获取所述产品对应的三维数字模型，包括：获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据；根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。该技术方案的有益效果在于，将参考产品转化为三维数字模型，便于根据三维数字模型获取截线；若在实际环境中很难拿到实体三维数字模型数据，可以拣选golden品，并扫描golden品，通过逆向软件，例如Geomagic Studio、3d Max、Imageware等，处理得到实体三维数字模型。

在一些可选的实施例中，所述获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据，包括：生成控制指令并发送至轮廓检测设备，以使所述轮廓检测设备根据所述控制指令对所述参考产品进行轮廓扫描，得到所述参考产品的轮廓扫描数据；接收所述轮廓检测设备发送的所述参考产品的轮廓扫描数据。该技术方案的有益效果在于，根据控制指令扫描参考产品，获取参考产品的轮廓扫描数据，以便得到参考产品对应的三维数字模型。

在一些可选的实施例中，所述对每个所述截线进行拟合处理，包括：采用高次多项式逼近拟合的方式，对每个所述截线进行拟合处理。该技术方案的有益效果在于，通过高次多项式逼近拟合的方式，有效地提高了拟合的精度和拟合效果，从而有利于得到精确的截线参照方程式。

在一些可选的实施例中，拟合处理后的所述截线的类型包括以下至少一种：Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。该技术方案的有益效果在于，每种曲线方程都有各自的优点，根据截线的类型选用适当的曲线进行表示，并且高次多项式拟合处理后得到的曲线不限于Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

在一些可选的实施例中，所述截线的参数化结果是所述截线的参数化方程。该技术方案的有益效果在于，用参数化方程表达参数化结果，有利于进行精确的计算，从而使后续轮廓线的累积残差与预定残差的比较结果更具有直观性，使轮廓线的扫描结果的调整更具有可行性。

在一些可选的实施例中，所述将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，包括：针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据；根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差；根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。该技术方案的有益效果在于，基于所述轮廓线上的扫描数据得到所述点的偏差，再得到所述轮廓线的累积残差，能准确反应轮廓线的偏差程度，进而进行相应的调整。

在一些可选的实施例中，所述根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差，包括：计算所述轮廓线上所有所述点的偏差之和，作为所述轮廓线的累积残差。该技术方案的有益效果在于，根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差，保证了后续程序中可靠的对比结果和调整结果。

在一些可选的实施例中，所述根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整，包括：针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差；若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。该技术方案的有益效果在于，检测所述点的偏差与预定偏差的大小，即将偏差控制在一定的范围，保证结果的精确性；对于偏差较大的位置，及时根据参数化方程调整其坐标数据。

在一些可选的实施例中，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；所述根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整，包括：针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点；根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据；根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。该技术方案的有益效果在于，对于需要进行细化处理的部分，可以根据参数化方程进行插值处理，得到更加精细的轮廓数据。

第二方面，本申请提供了一种轮廓扫描结果的调整装置，所述装置包括：截线获取模块，用于获取产品的三维数字模型的至少一个截线；截线拟合模块，用于分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果；数据获取模块，用于获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据；轮廓线处理模块，用于针对每个所述轮廓线执行以下处理：将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差；确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。

在一些可选的实施例中，所述截线获取模块包括：模型获取子模块，用于获取所述产品对应的三维数字模型；截线子模块，用于对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。

在一些可选的实施例中，所述模型获取子模块包括：数据获取单元，用于获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据；获取模型单元，用于根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。

在一些可选的实施例中，所述数据获取单元包括：指令生成子单元，用于生成控制指令并发送至轮廓检测设备，以使所述轮廓检测设备根据所述控制指令对所述参考产品进行轮廓扫描，得到所述参考产品的轮廓扫描数据；数据接收子单元，用于接收所述轮廓检测设备发送的所述参考产品的轮廓扫描数据。

在一些可选的实施例中，所述截线拟合模块用于采用高次多项式逼近拟合的方式，对每个所述截线进行拟合处理。

在一些可选的实施例中，拟合处理后的所述截线的类型包括以下至少一种：Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

在一些可选的实施例中，所述截线的参数化结果是所述截线的参数化方程。

在一些可选的实施例中，所述轮廓线处理模块包括残差计算子模块，所述残差计算子模块包括：偏差计算单元，用于针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差；累积残差计算单元，用于根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。

在一些可选的实施例中，所述累积残差计算单元用于计算所述轮廓线上所有所述点的偏差之和，作为所述轮廓线的累积残差。

在一些可选的实施例中，所述轮廓线处理模块还包括坐标调整子模块，所述坐标调整子模块用于针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差；若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。

在一些可选的实施例中，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；所述轮廓线处理模块还包括插值子模块，所述插值子模块用于针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点；根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据；根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。

第三方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项方法的步骤。

第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。

附图说明

下面结合附图和实施例对本申请进一步说明。

图1是本申请实施例提供的一种轮廓扫描结果的调整方法的流程示意图；

图2是本申请实施例提供的一种获取产品对应的三维数字模型的截线的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的一种获取产品对应的三维数字模型的流程示意图；

图4是本申请实施例提供的一种获取参考产品的轮廓扫描数据的流程示意图；

图5是本申请实施例提供的一种计算得到轮廓线的累积残差的流程示意图；

图6是本申请实施例提供的一种调整坐标数据的流程示意图；

图7是本申请实施例提供的一种调整轮廓线的流程示意图；

图8是本申请实施例提供的一种轮廓扫描结果的调整方法的流程示意图；

图9是本申请实例提供的一种轮廓扫描结果的调整装置的结构示意图；

图10是本申请实例提供的一种截线获取模块的结构示意图；

图11是本申请实例提供的一种模型获取子模块的结构示意图；

图12是本申请实例提供的一种数据获取单元的结构示意图；

图13是本申请实例提供的一种轮廓线处理模块的结构示意图；

图14是本申请实例提供的一种轮廓线处理模块的结构示意图；

图15是本申请实例提供的一种轮廓线处理模块的结构示意图；

图16是本申请实施例提供的一种调整设备的结构示意图；

图17是本申请实施例提供的一种用于实现调整方法的程序产品的结构示意图。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本申请做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

参见图1，本申请实施例提供了轮廓扫描结果的调整方法，所述方法包括步骤S101～S105。

步骤S101：获取产品的三维数字模型的至少一个截线。

在具体实施中，参见图2，所述步骤S101可以包括步骤S201～S202。

步骤S201：获取所述产品对应的三维数字模型。所述三维数字模型例如是CAD模型。

参见图3，在一些可选的实施例中，步骤S201可以包括步骤S301～S302。

步骤S301：获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据。

在具体实施中，参见图4，步骤S301可以包括步骤S401～S402。

步骤S401：生成控制指令并发送至轮廓检测设备，以使所述轮廓检测设备根据所述控制指令对所述参考产品进行轮廓扫描，得到所述参考产品的轮廓扫描数据。

步骤S402：接收所述轮廓检测设备发送的所述参考产品的轮廓扫描数据。

本申请实施例的上述步骤，根据控制指令扫描参考产品，获取参考产品的轮廓扫描数据，以便得到参考产品对应的三维数字模型。

步骤S302：根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。

本申请实施例的上述步骤，将参考产品转化为三维数字模型，便于根据三维数字模型获取截线；若在实际环境中很难拿到实体三维数字模型数据，可以拣选golden品，并扫描golden品，通过逆向软件，例如Geomagic Studio、3d Max、Imageware等，处理得到实体三维数字模型。

步骤S202：对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。

本申请实施例的上述步骤，从三维数字模型中提取截线，并进行等值面处理，为后续轮廓线的调整提供了精确的参考依据；对三维数字模型进行等值面截线处理，可以利用相关软件，例如：CATIA、UG、Pro/E等。

步骤S102：分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果。

在具体实施中，所述步骤S102可以包括步骤S501。

步骤S501：采用高次多项式逼近拟合的方式，对每个所述截线进行拟合处理。

本申请实施例的上述步骤，通过高次多项式逼近拟合的方式，有效地提高了拟合的精度和拟合效果，从而有利于得到准确的截线参照方程式。

在具体实施中，拟合处理后的所述截线的类型包括以下至少一种：Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

本申请实施例的上述步骤，每种曲线方程都有各自的优点，根据截线的类型选用适当的曲线进行表示，并且高次多项式拟合处理后得到的曲线不限于Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

在具体实施中，所述截线的参数化结果可以是所述截线的参数化方程。

本申请实施例的上述步骤，用参数化方程表达参数化结果，有利于进行精确的计算，从而使后续轮廓线的累积残差与预定残差的比较结果更具有直观性，使轮廓线的扫描结果的调整更具有可行性；各个截线的参数化结果存储在介质中，介质不限于服务器、传感器等。

步骤S103：获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据。

步骤S104：针对每个所述轮廓线执行以下处理：将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差。

参见图5，在具体实施中，所述步骤S104可以包括步骤S601～S603。

步骤S601：针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据。

步骤S602：根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差。

步骤S603：根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。

在具体实施中，所述步骤S603可以包括步骤S701。

步骤S701：计算所述轮廓线上所有所述点的偏差之和，作为所述轮廓线的累积残差。根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差，保证了后续程序中可靠的对比结果和调整结果。

本申请实施例的上述步骤，基于所述轮廓线上的扫描数据得到所述点的偏差，再得到所述轮廓线的累积残差，能准确反应轮廓线的偏差程度，进而进行相应的调整。

步骤S105：确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。

在具体实施中，参见图6，所述步骤S105可以包括步骤S801～S802。

步骤S801：针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差。

步骤S802：若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。

本申请实施例的上述步骤，检测所述点的偏差与预定偏差的大小，即将偏差控制在一定的范围，保证结果的精确性；对于偏差较大的位置，及时根据参数化方程调整其坐标数据。

在具体实施中，参见图7，步骤S105可以包括步骤S901～S903。

所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；所述根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整，包括：针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：

步骤S901：根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点。

步骤S902：根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据。

步骤S903：根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。

由此，对于累积偏差大于预定偏差的截线，以及拟合并放大后存在毛刺或者缺失的截线，需要进行细化处理，可以根据曲率变化自动补全，用参数化方程进行插值处理，得到更加精细的轮廓数据。

本申请实施例的上述步骤，通过将轮廓线上的坐标点数据代入到与所述轮廓线对应的截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，并根据累积残差与预定残差的比较结果对轮廓线进行调整，从而得到精细化的调整结果。

参见图8，本申请实例还提供了一种轮廓的扫描结果调整方法，包括步骤S1001～S1012。

步骤S1001：获取参考产品的实体三维数字模型。三维数字模型例如是CAD模型。

步骤S1002：根据三维数字模型获取截线，并对截线进行处理。

步骤S1003：对截线进行高次多项式拟合。

步骤S1004：将截线进行参数化处理，得到参数化方程，并进行存储。

步骤S1005：用传感器扫描待测产品。

步骤S1006：检测轮廓线是否全部计算完成；如果是，则执行步骤S1007；如果否，则执行步骤S1009。

步骤S1008：将轮廓线数据代入参数化方程。

步骤S1009：将累积偏差与预计偏差进行对比，如果偏差较大，则执行步骤S1010。

步骤S1010：调整当前坐标点坐标。

步骤S1011：检测拟合曲线，确定是否需要细化处理；如果是，则执行步骤S1022；如果否，则执行步骤S1006。

步骤S1012：对需要进行细化的轮廓线，根据参数化方程插值处理，然后执行步骤S1006。

参见图9，本申请实例还提供了一种轮廓扫描结果的调整装置，其具体实现方式与上述方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致，部分内容不再赘述。

所述装置包括：截线获取模块101，用于获取产品的三维数字模型的至少一个截线；截线拟合模块102，用于分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果；数据获取模块103，用于获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据；轮廓线处理模块104，用于针对每个所述轮廓线执行以下处理：将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差；确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。

在具体实施中，所述截线拟合模块102可以用于采用高次多项式逼近拟合的方式，对每个所述截线进行拟合处理。

在具体实施中，拟合处理后的所述截线的类型可以包括以下至少一种：Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

在具体实施中，所述截线的参数化结果可以是所述截线的参数化方程。

参见图10，在具体实施中，所述截线获取模块101可以包括：模型获取子模块1011，用于获取所述产品对应的三维数字模型；截线子模块1012，用于对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。

参见图11，在具体实施中，所述模型获取子模块1011可以包括：数据获取单元1011a，用于获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据；获取模型单元1011b，用于根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。

参见图12，在具体实施中，所述数据获取单元1011a可以包括：指令生成子单元201，用于生成控制指令并发送至轮廓检测设备，以使所述轮廓检测设备根据所述控制指令对所述参考产品进行轮廓扫描，得到所述参考产品的轮廓扫描数据；数据接收子单元202，用于接收所述轮廓检测设备发送的所述参考产品的轮廓扫描数据。

在具体实施中，参见图13，所述轮廓线处理模块104可以包括残差计算子模块1041，所述残差计算子模块1041包括：偏差计算单元1041a，用于针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差；累积残差计算单元1041b，用于根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。

在具体实施中，所述累积残差计算单元1041b可以用于计算所述轮廓线上所有所述点的偏差之和，作为所述轮廓线的累积残差。

在具体实施中，参见图14，所述轮廓线处理模块104还可以包括坐标调整子模块1042，所述坐标调整子模块1042用于针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差；若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。

在具体实施中，参见图15，所述轮廓线的扫描数据可以包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；所述轮廓线处理模块104还可以包括插值子模块1043，所述插值子模块1043用于针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点；根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据；根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。

参见图16，本申请实施例还提供了一种电子设备200，电子设备200包括至少一个存储器210、至少一个处理器220以及连接不同平台系统的总线230。

存储器210可以包括易失性存储器形式的可读介质，例如随机存取存储器(RAM)211和/或高速缓存存储器212，还可以进一步包括只读存储器(ROM)213。

其中，存储器210还存储有计算机程序，计算机程序可以被处理器220执行，使得处理器220执行本申请实施例中轮廓扫描结果的调整方法的步骤。存储器210还可以包括具有一组(至少一个)程序模块215的程序/实用工具214，这样的程序模块包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

相应的，处理器220可以执行上述计算机程序，以及可以执行程序/实用工具214。

总线230可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器、外围总线、图形加速端口、处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备200也可以与一个或多个外部设备240例如键盘、指向设备、蓝牙设备等通信，还可与一个或者多个能够与该电子设备200交互的设备通信，和/或与使得该电子设备200能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口250进行。并且，电子设备200还可以通过网络适配器260与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。网络适配器260可以通过总线230与电子设备200的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备200使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储平台等。电子设备200其执行时实现本申请实施例中轮廓扫描结果的调整方法的步骤过程中，具体实现方式与上述轮廓扫描结果的调整方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致，部分内容不再赘述。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序被执行时实现本申请实施例中轮廓扫描结果的调整方法的步骤，其具体实现方式与上述轮廓扫描结果的调整方法的实施例中记载的实施方式、所达到的技术效果一致，部分内容不再赘述。图17示出了本实施例提供的用于实现上述方法的程序产品300，其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码，并可以在终端设备，例如个人电脑上运行。然而，本发明的程序产品300不限于此，在本文件中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。程序产品300可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

本申请从使用目的上，效能上，进步及新颖性等观点进行阐述，其设置有的实用进步性，已符合专利法所强调的功能增进及使用要件，本申请以上的说明及附图，仅为本申请的较佳实施例而已，并非以此局限本申请，因此，凡一切与本申请构造，装置，特征等近似、雷同的，即凡依本申请专利申请范围所作的等同替换或修饰等，皆应属本申请的专利申请保护的范围之内。

Claims (19)

1.一种轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述方法包括：

获取产品的三维数字模型的至少一个截线；

分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果；

获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据；

针对每个所述轮廓线执行以下处理：

将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差；

确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。

2.根据权利要求1所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述获取产品的三维数字模型的至少一个截线，包括：

获取所述产品对应的三维数字模型；

对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。

3.根据权利要求2所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述获取所述产品对应的三维数字模型，包括：

获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据；

根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。

4.根据权利要求3所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据，包括：

生成控制指令并发送至轮廓检测设备，以使所述轮廓检测设备根据所述控制指令对所述参考产品进行轮廓扫描，得到所述参考产品的轮廓扫描数据；

接收所述轮廓检测设备发送的所述参考产品的轮廓扫描数据。

5.根据权利要求1所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述对每个所述截线进行拟合处理，包括：

采用高次多项式逼近拟合的方式，对每个所述截线进行拟合处理。

6.根据权利要求5所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，拟合处理后的所述截线的类型包括以下至少一种：Bezier曲线、B样条曲线和NURBS曲线。

7.根据权利要求1所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述截线的参数化结果是所述截线的参数化方程。

8.根据权利要求1所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，包括：

针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差；

根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。

9.根据权利要求8所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差，包括：

计算所述轮廓线上所有所述点的偏差之和，作为所述轮廓线的累积残差。

10.根据权利要求8所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整，包括：

针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：

根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差；

若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。

11.根据权利要求8所述的轮廓扫描结果的调整方法，其特征在于，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；

所述根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整，包括：

针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：

根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点；

根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据；

根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。

12.一种轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述装置包括：

截线获取模块，用于获取产品的三维数字模型的至少一个截线；

截线拟合模块，用于分别对每个所述截线进行拟合处理，得到每个所述截线的参数化结果；

数据获取模块，用于获取所述产品的轮廓扫描数据，所述轮廓扫描数据包括至少一个轮廓线的扫描数据，每个所述轮廓线与其中一个所述截线相对应，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少一个点的坐标数据；

轮廓线处理模块，用于针对每个所述轮廓线执行以下处理：

将所述轮廓线的扫描数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述轮廓线的累积残差，所述累积残差用于指示所述轮廓线与对应所述截线的偏差；

确定所述轮廓线的累积残差大于预定累积残差，则根据对应所述截线的参数化结果，对所述轮廓线进行调整。

13.根据权利要求12所述的轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述截线获取模块包括：

模型获取子模块，用于获取所述产品对应的三维数字模型；

截线子模块，用于对所述三维数字模型进行等值面截线处理，得到至少一个所述截线。

14.根据权利要求13所述的轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述模型获取子模块包括：

数据获取单元，用于获取所述产品对应的参考产品的轮廓扫描数据；

获取模型单元，用于根据所述参考产品的轮廓扫描数据，获取所述产品对应的三维数字模型。

15.根据权利要求12所述的轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述轮廓线处理模块包括残差计算子模块，所述残差计算子模块包括：

偏差计算单元，用于针对所述轮廓线上每个所述点，将所述点的坐标数据代入对应所述截线的参数化结果中，计算得到所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，根据所述点的坐标数据和所述点的对应点的坐标数据，计算所述点与所述点的对应点之间的距离作为所述点的偏差；

累积残差计算单元，用于根据所述轮廓线上所有所述点的偏差，计算得到所述轮廓线的累积残差。

16.根据权利要求15所述的轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述轮廓线处理模块还包括坐标调整子模块，所述坐标调整子模块用于：

针对所述轮廓线上每个所述点执行以下处理：

根据对应所述截线的参数化结果，检测所述点的偏差是否大于预定偏差；

若大于所述预定偏差，则根据所述点的对应点的坐标数据调整所述点的坐标数据。

17.根据权利要求15所述的轮廓扫描结果的调整装置，其特征在于，所述轮廓线的扫描数据包括所述轮廓线上至少两个所述点的坐标数据；

所述轮廓线处理模块包括还插值子模块，所述插值子模块用于针对所述轮廓线上每两个相邻所述点执行以下处理：

根据两个相邻所述点在对应所述截线上的对应点的坐标数据，在对应所述截线上确定两个相邻所述点的对应点之间的至少一个插值点；

根据对应所述截线的参数化结果，确定每个所述插值点的坐标数据；

根据所有所述插值点的坐标数据，对两个相邻所述点之间的所述轮廓线进行调整，以使两个相邻所述点之间的所述轮廓线经过所述插值点。

18.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-11任一项所述方法的步骤。

19.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-11任一项所述方法的步骤。

Images