CN112598616A - 一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法，该电子设备曝光参数的确定方法，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，该方法包括：根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。依据该电子设备曝光参数对该类型的电子设备进行成像，成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

Description

一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法

技术领域

本申请涉及元器件识别领域，尤其涉及一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法。

背景技术

在智能制造领域，对于电子设备内部元器件识别，尤其是对于电子设备内主板上元器件识别，主板成像时的曝光参数非常关键。这是因为主板成像时的曝光参数直接影响主板成像后图像的清晰度，进而影响主板上元器件识别的精度。目前，对电子设备内主板成像时，一般都是通过预先设定一组经验曝光参数对主板进行成像。但是由于不同类型的主板，其上元器件的材质和颜色会有不同，通常经验曝光参数不能覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，从而造成对电子设备内主板上元器件识别不精准的问题。

申请内容

本申请实施例通过提供一种电子设备曝光参数的确定方法及成像方法，用以解决现有技术中存在对电子设备内主板上元器件识别不精准的问题。

为了解决上述问题，第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备曝光参数的确定方法，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，电子设备曝光参数的确定方法包括：根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。

可选地，根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，包括：根据第一预设规则调节第二光源参数；根据第二预设规则调节第二摄像机参数；采用第二光源参数及第二摄像机参数对电子设备进行成像，得到电子设备的多张图像。

可选地，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于标表征主板的元器件，包括：根据图像检测模型分别对多张图像进行元器件识别，得到各图像检测结果；根据各图像检测结果从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

可选地，主板包括多个元器件，图像检测结果包括元器件及其对应的置信度，根据各图像检测结果从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，包括：根据各元器件及其对应的置信度从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

可选地，根据各元器件及其对应的置信度从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，包括：统计置信度大于第一预设阈值的各元器件，得到元器件列表；根据第三预设规则及元器件列表从各图像检测结果中确定多个目标图像检测结果，目标图像检测结果用于识别主板的元器件；根据多个目标图像检测结果对应的多张图像确定多张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备成像方法，包括：获取待成像电子设备主板的第二主板参数；根据第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定待成像主板的第二曝光参数，第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，各电子设备曝光参数通过采用如第一方面或第一方面任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法确定；根据第三光源参数、第三摄像机参数对待成像主板进行成像。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备曝光参数的确定装置，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，包括：第一获取单元，用于根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；第一确定单元，用于根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；第二确定单元，用于确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；第一生成单元，用于根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；第二生成单元，用于根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。

第四方面，本发明实施例提供了一种电子设备成像装置，包括：第二获取单元，用于获取待成像电子设备主板的第二主板参数；第三确定单元，用于根据第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定待成像主板的第二曝光参数，第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，各电子设备曝光参数通过采用如第一方面或第一方面任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法确定；成像单元，用于根据第三光源参数、第三摄像机参数对待成像主板进行成像。

第五方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行如第一方面或第一方面任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法或如第二方面或第二方面任意实施方式中的电子设备成像方法。

第六方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使计算机执行如第一方面或第一方面任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法或如第二方面或第二方面任意实施方式中的电子设备成像方法。

本发明实施例提供的电子设备曝光参数的确定方法及成像方法，通过根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，这样不管主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，都能够得到表征主板的元器件的至少一张目标图像，也即能够得到要精准识别主板上的元器件需要用到的至少一张目标图像，然后通过确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数，根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而可以将目标图像对应的第一曝光参数和第一主板参数进行关联，生成电子设备曝光参数，从而通过这种方式得到的该电子设备的第一曝光参数比经验曝光参数更加精确，更符合该电子设备。并且该电子设备曝光参数中包括第一主板参数，从而该电子设备曝光参数中可以包括主板上元器件材质和颜色，从而通过这种方式，可以得到各电子设备的曝光参数，从而可以构建电子设备曝光参数模型，这样，该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，这样，对于同一类型的第一主板参数，就可以依据该类型的第一主板参数对应的第一曝光参数对该类型的电子设备进行成像，从而通过成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

图1为本发明实施例中一种电子设备曝光参数的确定方法的流程示意图；

图2为本发明实施例中一种电子设备成像方法的流程示意图；

图3为本发明实施例中一种电子设备曝光参数的确定装置的结构示意图；

图4为本发明实施例中一种电子设备成像装置的结构示意图；

图5为本发明实施例中一种电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种电子设备曝光参数的确定方法，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，如图1所示，电子设备曝光参数的确定方法包括：

S101.根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；具体地，对电子设备成像时，需要设定光源的参数和摄像机的参数。可以通过第一预设规格和第二预设规则对第二光源参数和第二摄像机参数进行调节，从而可以对电子设备拍摄一组不同曝光程度的图像。这样不管电子设备内主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，多张图像中包含表征主板的元器件的清晰图像。

S102.根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；具体地，图像检测模型用于检测图像中的元器件。图像检测模型可以通过神经网络进行构建。图像检测模型也可以为相关技术中提供的已经训练好的且能够识别主板的元器件的模型。图像检测模型可以包括元器件检测模型和光学字符识别模型。目标图像是指主板的元器件拍摄的非常清晰的图像，也即根据目标图像，可以准确识别主板的元器件。采用图像检测模型对多张图像分别进行检测，可以确定至少一张目标图像，使得目标图像能够表征主板的元器件。

S103.确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；具体地，根据目标图像可以确定拍摄该目标图像时对应的第一光源参数、第一摄像机参数。通过对目标图像进行特征提取，可以得到目标图像拍摄时的第一主板参数，第一主板参数可以包括主板的大小、主板上元器件的材质和颜色、主板放置的位置信息等。

S104.根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；具体地，第一曝光参数包括第一光源参数和第一摄像机参数，可以将第一曝光参数与第一主板参数进行关联，从而可以生成第一主板参数对应的第一曝光参数。

S105.根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。具体地，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而通过这种方式得到的该电子设备曝光参数包括了第一主板参数和第一曝光参数。第一曝光参数是通过图像检测模型得到的，比人工选择的经验曝光参数更加精准，更加符合该电子设备。

本发明实施例提供的电子设备曝光参数的确定方法，通过根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，这样不管主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，都能够得到表征主板的元器件的至少一张目标图像，也即能够得到要精准识别主板上的元器件需要用到的至少一张目标图像，然后通过确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数，根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而可以将目标图像对应的第一曝光参数和第一主板参数进行关联，生成电子设备曝光参数，从而得到的该电子设备的曝光参数比经验曝光参数更加精确，更符合该电子设备。并且该电子设备曝光参数中包括第一主板参数，从而该电子设备曝光参数中可以包括主板上元器件材质和颜色，从而通过这种方式，可以得到各电子设备的曝光参数，从而可以构建电子设备曝光参数模型，这样，该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，这样，对于同一类型的第一主板参数，就可以依据该类型的第一主板参数对应的第一曝光参数对该类型的电子设备进行成像，从而通过成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

在可选的实施例中，步骤S101，根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，可以具体包括：根据第一预设规则调节第二光源参数；根据第二预设规则调节第二摄像机参数；采用第二光源参数及第二摄像机参数对电子设备进行成像，得到电子设备的多张图像。

具体地，第一预设规格可用于调节第二光源参数。第一预设规则可以为根据第二光源参数的最高值和最低值进行差值取值。第二光源参数的最高值和最低值可以通过经验值确定，也可以将光源支持的最高边界值和最低边界值作为第二光源参数的最高值和最低值。第二预设规则可用于调节第二摄像机参数，第二预设规则可以为根据第二摄像机参数的最高值和最低值进行差值取值。第二摄像机参数的最高值和最低值可以通知经验值确定，也可以将摄像机支持的最高边界值和最低边界值作为第二摄像机参数的最高值和最低值。采用第二光源参数及第二摄像机参数对电子设备进行成像，可以得到电子设备的多张图像。

通过根据第一预设规则调节第二光源参数，根据第二预设规则调节第二摄像机参数，采用第二光源参数及第二摄像机参数对电子设备进行成像，得到电子设备的多张图像，这样，不管电子设备内主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，可以使得多张图像中包含表征主板的元器件的清晰图像。

在可选的实施例中，步骤S102，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于标表征主板的元器件，可以具体包括：根据图像检测模型分别对多张图像进行元器件识别，得到各图像检测结果；根据各图像检测结果从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

具体地，图像检测模型可以为相关技术中提供的已经训练好的且能够识别主板的元器件的模型。将多张图像分别输入图像检测模型，可以得到各图像的检测结果。根据各图像检测结果可以确定识别主板的元器件最准确的至少一个目标图像检测结果。根据至少一个目标图像检测结果对应的图像可以确定至少一张目标图像。该目标图像就用于表征主板的元器件。

通过根据图像检测模型分别对多张图像进行元器件识别，得到各图像检测结果，根据各图像检测结果从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，是通过图像检测模型对各图像中的元器件识别的方法，来确定表征主板的元器件的目标图像，从而确定的至少一张目标图像更加准确。

在可选的实施例中，主板可以包括多个元器件，图像检测结果可以包括元器件及其对应的置信度，根据各图像检测结果从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，可以包括：根据各元器件及其对应的置信度从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

具体地，当主板包括多个元器件，当图像检测结果中包括元器件及其对应的置信度，则在对各图像检测结果进行分析时，就可以根据各元器件对应的最大置信度来确定识别各元器件需要用到的目标图像，从而可以确定至少一张目标图像；或可以从置信度大于第一预设阈值，但同时包含多个元器件的图像来确定识别各元器件需要用到的目标图像，从而可以确定至少一张目标图像。

通过根据各元器件及其对应的置信度从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，则可以更加准确地得到目标图像。

在可选的实施例中，根据各元器件及其对应的置信度从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，可以包括：统计置信度大于第一预设阈值的各元器件，得到元器件列表；根据第三预设规则及元器件列表从各图像检测结果中确定多个目标图像检测结果，目标图像检测结果用于识别主板的元器件；根据多个目标图像检测结果对应的多张图像确定多张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件。

具体地，第一预设阈值可以根据图像检测模型中元器件检测的精度确定。当元器件的置信度大于第一预设阈值，则可以认为元器件的识别是准确的。从而可以统计置信度大于第一预设阈值的各元器件，得到元器件列表。在统计时，需要去除重复的各元器件。对于主板上可能存在不同材质和不同颜色的元器件，往往一张目标图像是不能够完全表征主板的元器件的，因此，可能需要多张目标图像同时来表征主板的元器件。第三预设规则可以为根据各元器件对应的最大置信度来确定各元器件对应的目标图像检测结果，也可以为从置信度大于第一预设阈值，但同时包含多个元器件的图像检测结果中来确定目标检测结果等。根据第三预设规则就可以确定各元器件对应的目标图像检测结果，根据各元器件对应的图像就可以得到多张目标图像。

通过统计置信度大于第一预设阈值的各元器件，得到元器件列表；根据第三预设规则及元器件列表从各图像检测结果中确定多个目标图像检测结果，目标图像检测结果用于识别主板的元器件，根据多个目标图像检测结果对应的多张图像确定多张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，从而可以确定能够表征置信度大于第一预设阈值的各元器件的多张目标图像，从而可以得到能够准确表征主板各元器件的多张目标图像。

本发明实施例还提供了一种电子设备成像方法，如图2所示，包括：

S201.获取待成像电子设备主板的第二主板参数；具体地，可以通过对待成像电子设备主板进行拍摄，得到待成像电子设备主板图像，通过对待成像电子设备主板图像进行特征提取，得到待成像电子设备主板的第二主板参数。第二主板参数可以包括主板的大小、主板上元器件的材质和颜色、主板放置的位置信息等。

S202.根据第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定待成像主板的第二曝光参数，第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，各电子设备曝光参数通过采用如上述任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法确定；具体地，各电子设备曝光参数的确定详见上述任意实施例中电子设备曝光参数的确定方法的描述，在此不再赘述。根据各电子设备曝光参数可以构建电子设备曝光参数模型，从而该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性。可以将第二主板曝光参数输入电子设备曝光参数模型，从而得到第二主板曝光参数对应的第二曝光参数，也即得到待成像主板的第二曝光参数。

S203.根据第三光源参数、第三摄像机参数对待成像主板进行成像。具体地，确定了第三光源参数和第三摄像机参数，就可以采用第三光源参数和第三摄像机参数对待成像主板进行成像。

本发明实施例提供的电子设备成像方法，通过根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，这样不管主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，都能够得到表征主板的元器件的至少一张目标图像，也即能够得到要精准识别主板上的元器件需要用到的至少一张目标图像，然后通过确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数，根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而可以将目标图像对应的第一曝光参数和第一主板参数进行关联，生成电子设备曝光参数，从而通过这种方式得到的该电子设备的第一曝光参数比经验曝光参数更加精确，更符合该电子设备。并且该电子设备曝光参数中包括第一主板参数，从而该电子设备曝光参数中可以包括主板上元器件材质和颜色，从而通过这种方式，可以得到各电子设备的曝光参数，从而可以构建电子设备曝光参数模型，这样，该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，这样，对于同一类型的第一主板参数，就可以依据该类型的第一主板参数对应的第一曝光参数对该类型的电子设备进行成像，从而通过成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

本发明实施例还提供了一种电子设备曝光参数的确定装置，用于电子设备内部结构成像，电子设备包括主板，主板包括元器件，如图3所示，装置包括：第一获取单元401，用于根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S101的描述，在此不再赘述。第一确定单元402，用于根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S102的描述，在此不再赘述。第二确定单元403，用于确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S103的描述，在此不再赘述。第一生成单元404，用于根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S104的描述，在此不再赘述。第二生成单元405，用于根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。具体的实施方式详见上述实施例中步骤S105的描述，在此不再赘述。

本发明实施例提供的电子设备曝光参数的确定装置，通过根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，这样不管主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，都能够得到表征主板的元器件的至少一张目标图像，也即能够得到要精准识别主板上的元器件需要用到的至少一张目标图像，然后通过确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数，根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而可以将目标图像对应的第一曝光参数和第一主板参数进行关联，生成电子设备曝光参数，从而通过这种方式得到的该电子设备的第一曝光参数比经验曝光参数更加精确，更符合该电子设备。并且该电子设备曝光参数中包括第一主板参数，从而该电子设备曝光参数中可以包括主板上元器件材质和颜色，从而通过这种方式，可以得到各电子设备的曝光参数，从而可以构建电子设备曝光参数模型，这样，该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，这样，对于同一类型的第一主板参数，就可以依据该类型的第一主板参数对应的第一曝光参数对该类型的电子设备进行成像，从而通过成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

本发明实施例提供了一种电子设备成像装置，如图4所示，包括：第二获取单元501，用于获取待成像电子设备主板的第二主板参数；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S201的描述，在此不再赘述。第三确定单元502，用于根据第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定待成像主板的第二曝光参数，第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，各电子设备曝光参数通过采用如上述任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法确定；具体的实施方式详见上述实施例中步骤S202描述，在此不再赘述。成像单元503，用于根据第三光源参数、第三摄像机参数对待成像主板进行成像。具体的实施方式详见上述实施例中步骤S203描述，在此不再赘述。

本发明实施例提供的电子设备成像装置，通过根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像，根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件，这样不管主板是什么类型，其上元器件的材质和颜色是什么样的，都能够得到表征主板的元器件的至少一张目标图像，也即能够得到要精准识别主板上的元器件需要用到的至少一张目标图像，然后通过确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数，根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数，根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数，从而可以将目标图像对应的第一曝光参数和第一主板参数进行关联，生成电子设备曝光参数，从而通过这种方式得到的该电子设备的第一曝光参数比经验曝光参数更加精确，更符合该电子设备。并且该电子设备曝光参数中包括第一主板参数，从而该电子设备曝光参数中可以包括主板上元器件材质和颜色，从而通过这种方式，可以得到各电子设备的曝光参数，从而可以构建电子设备曝光参数模型，这样，该电子设备曝光参数模型可以覆盖不同类型主板上元器件材质和颜色的多样性，这样，对于同一类型的第一主板参数，就可以依据该类型的第一主板参数对应的第一曝光参数对该类型的电子设备进行成像，从而通过成像后的主板图像可以精准地识别电子设备内主板上的元器件。

基于与前述实施例中一种电子设备曝光参数的确定方法或电子设备成像方法同样的发明构思，本发明还提供一种电子设备，电子设备上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前文所述一种电子设备曝光参数的确定方法或电子设备成像方法的任一方法的步骤。

其中，在图5中，总线架构(用总线300来代表)，总线300可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线300将包括由处理器302代表的一个或多个处理器和存储器304代表的存储器的各种电路链接在一起。总线300还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口306在总线300和接收器301和发送器303之间提供接口。接收器301和发送器303可以是同一个元件，即收发机，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。

处理器302负责管理总线300和通常的处理，而存储器304可以被用于存储处理器302在执行操作时所使用的数据。

基于与前述实施例中一种电子设备曝光参数的确定方法或电子设备成像方法同样的发明构思，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据第一预设规则及第二预设规则获取电子设备的多张图像；根据图像检测模型从多张图像中确定至少一张目标图像，目标图像用于表征主板的元器件；确定目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；根据第一光源参数、第一摄像机参数生成第一主板参数对应的第一曝光参数；根据第一主板参数对应的第一曝光参数生成电子设备曝光参数。

或该程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待成像电子设备主板的第二主板参数；根据第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定待成像主板的第二曝光参数，第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，各电子设备曝光参数通过采用如上述任意实施方式中的电子设备曝光参数的确定方法确定；根据第三光源参数、第三摄像机参数对待成像主板进行成像。

在具体实施过程中，该程序被处理器执行时，还可以实现上述实施例中的任一方法步骤。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程信息处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程信息处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程信息处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程信息处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，用于电子设备内部结构成像，所述电子设备包括主板，所述主板包括元器件，包括：

根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像；

根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件；

确定所述目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；

根据所述第一光源参数、第一摄像机参数生成所述第一主板参数对应的第一曝光参数；

根据所述第一主板参数对应的第一曝光参数生成所述电子设备曝光参数。

2.根据权利要求1所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像，包括：

根据第一预设规则调节第二光源参数；

根据第二预设规则调节第二摄像机参数；

采用所述第二光源参数及所述第二摄像机参数对所述电子设备进行成像，得到所述电子设备的多张图像。

3.根据权利要求1所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于标表征所述主板的元器件，包括：

根据图像检测模型分别对所述多张图像进行元器件识别，得到各图像检测结果；

根据各所述图像检测结果从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。

4.根据权利要求3所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述主板包括多个元器件，所述图像检测结果包括所述元器件及其对应的置信度，

所述根据各所述图像检测结果从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件，包括：

根据各所述元器件及其对应的置信度从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。

5.根据权利要求4所述的电子设备曝光参数的确定方法，其特征在于，所述根据各所述元器件及其对应的置信度从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件，包括：

统计置信度大于第一预设阈值的各所述元器件，得到元器件列表；

根据第三预设规则及所述元器件列表从各所述图像检测结果中确定多个目标图像检测结果，所述目标图像检测结果用于识别所述主板的元器件；

根据所述多个目标图像检测结果对应的多张图像确定多张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件。

6.一种电子设备成像方法，其特征在于，包括：

获取待成像电子设备主板的第二主板参数；

根据所述第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定所述待成像主板的第二曝光参数，所述第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，所述电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，所述各电子设备曝光参数通过采用如权利要求1-5任意一项所述的电子设备曝光参数的确定方法确定；

根据所述第三光源参数、所述第三摄像机参数对所述待成像主板进行成像。

7.一种电子设备曝光参数的确定装置，其特征在于，用于电子设备内部结构成像，所述电子设备包括主板，所述主板包括元器件，包括：

第一获取单元，用于根据第一预设规则及第二预设规则获取所述电子设备的多张图像；

第一确定单元，用于根据图像检测模型从所述多张图像中确定至少一张目标图像，所述目标图像用于表征所述主板的元器件；

第二确定单元，用于确定所述目标图像对应的第一光源参数、第一摄像机参数及第一主板参数；

第一生成单元，用于根据所述第一光源参数、第一摄像机参数生成所述第一主板参数对应的第一曝光参数；

第二生成单元，用于根据所述第一主板参数对应的第一曝光参数生成所述电子设备曝光参数。

8.一种电子设备成像装置，其特征在于，包括：

第二获取单元，用于获取待成像电子设备主板的第二主板参数；

第三确定单元，用于根据所述第二主板参数及预设电子设备曝光参数模型确定所述待成像主板的第二曝光参数，所述第二曝光参数包括第三光源参数和第三摄像机参数，所述电子设备曝光参数模型通过各电子设备曝光参数构建，所述各电子设备曝光参数通过采用如权利要求1-5任意一项所述的电子设备曝光参数的确定方法确定；

成像单元，用于根据所述第三光源参数、所述第三摄像机参数对所述待成像主板进行成像。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求1-5任意一项所述的电子设备曝光参数的确定方法或如权利要求6所述的电子设备成像方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1-5任意一项所述的电子设备曝光参数的确定方法或如权利要求6所述的电子设备成像方法。

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