CN112557435A - 玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 279
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 67
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 2
- 238000007573 shrinkage measurement Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
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Abstract
本公开涉及热收缩检测技术领域,具体地,涉及一种玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备,所述系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;所述衍射装置,用于对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
Description
技术领域
本公开涉及热收缩检测技术领域,具体地,涉及一种玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备。
背景技术
随着显示技术的发展,人们对显示器分辨率和画质的要求也随之升高,要想提高显示器的分辨率,需要使用变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃。在对玻璃的品质管控时,玻璃的热收缩率是核心参数之一,玻璃热收缩率测定精度的要求也因为对玻璃品质要求的提升而随之升高。
现有技术中,通常采用在待测玻璃表面上做两个标记,在光学显微镜下测量未经过热处理的玻璃和经过热处理的玻璃的标记之间的距离,根据热处理前标记间的距离和热处理后标记间的距离计算待测玻璃的热收缩率,然而,使用这种方法时测得的玻璃热收缩率数据浮动范围较大,其精度无法满足对热收缩率测定精度的要求,并且,使用光学显微镜进行测量操作复杂,给操作者带来了不便。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备。
根据本公开实施例的第一方面,提供一种玻璃热收缩率测定系统,所述系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;所述衍射装置,用于对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
可选地,所述衍射装置包括光源、衍射屏和图像接收器;所述光源,用于分别照射所述第一待测玻璃上的衍射光栅和所述第二待测玻璃上的衍射光栅;所述衍射屏,用于接收所述光源照射所述衍射光栅后的光线,并将所述光线叠加到所述图像接收器,以便在所述图像接收器上分别生成所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像。
可选地,所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像确定所述第一待测玻璃上的衍射光栅的第一光栅常数,根据所述第二光栅衍射图像确定所述第二待测玻璃上的衍射光栅的第二光栅常数,并将所述第一光栅常数和所述第二光栅常数的差值,作为所述待测玻璃的热收缩率。
可选地,所述处理器,用于通过以下方式计算光栅常数:获取所述光源的波长、通过所述衍射装置对所述衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;根据所述波长、所述衍射角以及所述衍射系数计算所述光栅常数。
根据本公开实施例的第二方面,提供一种玻璃热收缩率测定的方法,应用于玻璃热收缩率测定系统,所述系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;
所述方法包括:通过所述衍射装置对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;所述处理器根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
可选地,所述衍射装置包括光源、衍射屏和图像接收器;所述通过所述衍射装置对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像包括:利用所述光源分别照射所述第一待测玻璃上的衍射光栅和所述第二待测玻璃上的衍射光栅;通过所述衍射屏接收所述光源照射所述衍射光栅后的光线,并将所述光线叠加到所述图像接收器,以便在所述图像接收器上分别生成所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像。
可选地,所述处理器根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率包括:所述处理器根据所述第一光栅衍射图像确定所述第一待测玻璃上的衍射光栅的第一光栅常数,根据所述第二光栅衍射图像确定所述第二待测玻璃上的衍射光栅的第二光栅常数,并将所述第一光栅常数和所述第二光栅常数的差值,作为所述待测玻璃的热收缩率。
可选地,通过以下方式计算光栅常数:获取所述光源的波长、通过所述衍射装置对所述衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;根据所述波长、所述衍射角以及所述衍射系数计算所述光栅常数。
根据本公开实施例的第三方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,该程序指令被处理器执行时实现本公开第二方面所提供的玻璃热收缩率测定的方法的步骤。
根据本公开实施例的第四方面,提供一种电子设备,包括本公开第一方面所述的玻璃热收缩率测定系统。
通过上述技术方案,所述系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;所述衍射装置,用于对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率;这样,通过所述衍射装置对预先刻蚀有衍射光栅的待测玻璃在热处理前后分别进行衍射并获取待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息,根据所述待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息确定所述待测玻璃的热收缩率,采用此系统,可以根据获取到的光栅衍射图像计算得到待测玻璃的热收缩率,减少了因为人为测量可能导致的误差,简化了热收缩率测量的操作,给玻璃热收缩率的测量带来了便利;另外,由于衍射光栅为大量间距无限小的等宽等间距的平行刻痕,因此采用此系统测得的热收缩率的极差通常可达到0.5PPM(Part PerMillion,百万分之几),此系统显著提升了玻璃热收缩率测量的精度,满足了对玻璃热收缩率测量的高精度要求,方便显示器制造时选择其适配的变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃。
本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明,应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
附图是用来提供对本公开的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本公开,但并不构成对本公开的限制。在附图中:
图1是根据一示例性实施例示出的第一种玻璃热收缩率测定系统的结构框图;
图2是根据一示例性实施例示出的第二种玻璃热收缩率测定系统的结构框图;
图3是刻蚀有衍射光栅的待测玻璃的示意图;
图4是根据一示例性实施例示出的一种玻璃热收缩率测定方法的流程图;
图5是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。
具体实施方式
以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开,并不用于限制本公开
目前,要想进一步提高显示器的分辨率和画质,需要使用变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃,这样一来,对玻璃的热收缩度的测定精度要求也随之升高。现有技术中,通常采用在光学显微镜下观察未经过热处理的玻璃和经过热处理的玻璃的标记的偏移量来测定玻璃的热收缩率,然而,使用这种方法测得的玻璃热收缩率数据浮动范围较大,其精度无法满足对热收缩率测定精度的要求,例如,有的高分辨率显示屏在制造时为能达到预设的分辨率对玻璃的热收缩率测定需要精确到1PPM级别,现有技术通过划线装置在玻璃表面进行标记线的制作,两条标记线之间的距离过大,而且由操作员利用光学显微镜肉眼测量标记的偏移量时,存在人为测量可能导致的误差,所以在通过该标记偏移量测定玻璃的热收缩率时测得的玻璃热收缩率数据浮动范围较大,表1为3块不同化学材质组成的待测玻璃试验样品1#、2#、3#分别使用现有技术测试方法和本发明测试方法测定玻璃热收缩率的结果,如表1所示,使用现有技术测得的玻璃1#、2#、3#的热收缩率的极差分别为3.08PPM、2.57PPM和2.87PPM,使用现有技术测得的玻璃热收缩率的误差较大,无法满足显示屏对玻璃热收缩率测定精度的要求,并且,使用光学显微镜进行测量操作复杂,给操作者带来了不便。
表1现有技术和本发明测定玻璃热收缩率的数据表
为解决上述存在的问题,本公开提供一种玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备,该系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与该衍射装置连接的处理器,该待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,该待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对该第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;该衍射装置,用于对该第一待测玻璃和该第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取该第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和该第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;该处理器,用于根据该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像确定该待测玻璃的热收缩率;这样,通过该衍射装置对预先刻蚀有衍射光栅的待测玻璃在热处理前后分别进行衍射并获取待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息,根据该待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息确定该待测玻璃的热收缩率,采用此系统,可以根据获取到的光栅衍射图像计算得到待测玻璃的热收缩率,减少了因为人为测量可能导致的误差,简化了热收缩率测量的操作,给玻璃热收缩率的测量带来了便利;另外,由于衍射光栅为大量间距无限小的等宽等间距的平行刻痕,因此采用此系统测得的热收缩率的极差通常可达到0.5PPM,如表1所示,现有技术测得玻璃1#、2#、3#的热收缩率的极差分别为3.08PPM、2.57PPM和2.87PPM,而采用此系统测得玻璃1#、2#、3#的热收缩率的极差分别为0.56PPM、0.47PPM和0.48PPM,相比现有技术,测得的玻璃热收缩率的误差明显缩小,此系统显著提升了玻璃热收缩率测量的精度,满足了对玻璃热收缩率测量的高精度要求,方便显示器制造时选择其适配的变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃。
下面结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。
图1是根据一示例性实施例示出的第一种玻璃热收缩率测定系统的结构框图,如图1所示,该玻璃热收缩率测定系统10包括:待测玻璃101,衍射装置102,以及与该衍射装置连接的处理器103,该待测玻璃101上预先刻蚀有衍射光栅1011,该待测玻璃101包括进行热处理前的第一待测玻璃101和对该第一待测玻璃101进行热处理后的第二待测玻璃101;该衍射装置102,用于对该第一待测玻璃101和该第二待测玻璃101上的衍射光栅1011进行衍射,并获取该第一待测玻璃101对应的第一光栅衍射图像和该第二待测玻璃101对应的第二光栅衍射图像;该处理器103,用于根据该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像确定该待测玻璃101的热收缩率。
其中,该待测玻璃101是指需要进行热收缩率测定的玻璃,该待测玻璃101的材质本公开不做出限定,可以是任意化学材质组成的玻璃,该第一待测玻璃101是指进行热处理前的该待测玻璃101,该第二待测玻璃101,是将该第一待测玻璃101放入热处理装置中进行热处理后的玻璃;该衍射装置102是用于对该待测玻璃上的衍射光栅进行衍射的装置;该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像分别是该第一待测玻璃101和该第二待测玻璃101上的衍射光栅,通过衍射装置102进行衍射后形成的图像。
在本步骤中,该热处理可以是在预设升温速率下,将该第一待测玻璃101加热到第一预设温度,为了使该第一待测玻璃101的玻璃丝受热均匀受热,还可以将升温后的该第一待测玻璃101在预设时间内进行保温,然后,按照预设冷却速率将该第一待测玻璃101退火冷却至第二预设温度,最后,得到对该第一待测玻璃101进行热处理后的第二待测玻璃101。
示例地,将该第一待测玻璃至置于瓷舟或耐火材料上,放入退火炉中进行热处理,按照10℃/min的升温速率升温到600℃,然后保温1小时,使玻璃丝受热均匀,然后,按照5/min的冷却速率退火冷却到20℃(室温),取出热处理后玻璃,则该玻璃即为该第二待测玻璃。
可选地,图2是根据一示例性实施例示出的第二种玻璃热收缩率测定系统的结构示意图,如图2所示,该衍射装置102包括光源1021、衍射屏1022和图像接收器1023;该光源1021,用于分别照射该第一待测玻璃101上的衍射光栅1011和该第二待测玻璃101上的衍射光栅1011;该衍射屏1022,用于接收该光源照射该衍射光栅1011后的光线,并将该光线叠加到该图像接收器1023,以便在该图像接收器1023上分别生成该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像。
其中,该第一光栅衍射图像是未进行热处理的该第一待测玻璃101通过该衍射装置102进行衍射后形成的图像,该第二光栅衍射图像是经过热处理后的该第二待测玻璃101通过该衍射装置102进行衍射后形成的图像。
在一种可以实现的实施例中,该光源1021可以是氦氖激光器,该衍射屏1022可以是透镜,利用氦氖激光器照射热处理前的该第一待测玻璃101上的衍射光栅1011部分,经过透镜形成该第一光栅衍射图像,由图像接收器1023接受并记录该第一光栅衍射图像;对该第一待测玻璃101进行热处理后得到该第二待测玻璃101,利用氦氖激光器照射经过热处理后的该第二待测玻璃101上的衍射光栅1011部分,经过透镜形成该第二光栅衍射图像,由图像接收器1023接受并记录该第二光栅衍射图像。
可选地,该处理器103,用于根据该第一光栅衍射图像确定该第一待测玻璃101上的衍射光栅1011的第一光栅常数,根据该第二光栅衍射图像确定该第二待测玻璃101上的衍射光栅1011的第二光栅常数,将该第一光栅常数和该第二光栅常数的差值,作为该待测玻璃101的热收缩率。
图3是刻蚀有衍射光栅的待测玻璃的示意图,如图3所示,待测玻璃上两刻痕之间的光滑部分可以透光,相当于狭缝,狭缝的宽度a和刻痕的宽度b之和d=a+b称为光栅常数,该第一光栅常数是未进行热处理的该第一待测玻璃101上衍射光栅1011的第一光栅常数,该第二光栅常数是经过热处理后的该第二待测玻璃101上衍射光栅1011的第二光栅常数。在本步骤中,该处理器103,用于通过以下方式计算光栅常数:获取该光源的波长、通过该衍射装置102对该衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;根据该波长、该衍射角以及该衍射系数计算该光栅常数。
进一步地,获取通过该衍射装置102对该衍射光栅进行衍射时的衍射角时,该处理器103通过获取该第一光栅衍射图像确定任意一个主极大的级数、位置和该主极大到该光栅衍射图像中心点的距离,其中,该主极大的级数即为该衍射系数,当该主极大位于该光栅衍射图像中心线上方时,该主极大的级数为正级数,当该主极大位于该光栅衍射图像中心线下方时,该主极大的级数为负级数,进一步的,获取该衍射屏的焦距,根据该主极大到该光栅衍射图像中心点的距离和该衍射屏的焦距的比值确定该衍射角的大小。
具体地,可以根据光栅方程d·sinθ=±Kλ(K=0,1,2……)获得该第一光栅常数和该第二光栅常数,在此公式中,d是光栅常数,sinθ是该衍射角,λ是该光源的波长,±K是该主极大的级数。
其中,该光源1021的波长和该衍射屏1022的焦距信息由用户进行预设,该处理器103可以直接获取用户预设的该光源的波长和该衍射屏1022的焦距信息。
另外,可以通过以下方式确定该衍射角的大小。
示例地,该处理器103通过获取该第一光栅衍射图像信息确定该第一光栅衍射图像中第二主极大距离该光栅衍射图像中心点的距离为x,且该第二主极大位于该光栅衍射图像中心线上方,该计算机还获取到用户预设的光源1021波长为λ,该衍射屏1022的焦距为f,根据公式1确定该第二主极大的衍射角θ:
则,可以根据光栅方程确定未经过热处理的该第一光栅衍射图像中该第二主极大的第一光栅参数d1:
同理,可以通过上述示例示出的方法获取经过热处理后的该第二光栅衍射图像的第二光栅常数d2,将该第一光栅常数d1和该第二光栅常数d2的差值作为该待测玻璃101的热收缩率,即该待测玻璃101的热收缩率为d1-d2。
采用上述玻璃热收缩率测定系统,通过该衍射装置对预先刻蚀有衍射光栅的待测玻璃在热处理前后分别进行衍射并获取待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息,根据该待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息确定该待测玻璃的热收缩率,这样,可以根据获取到的光栅衍射图像计算得到待测玻璃的热收缩率,减少了因为人为测量可能导致的误差,简化了热收缩率测量的操作,给玻璃热收缩率的测量带来了便利;另外,由于衍射光栅为大量间距无限小的等宽等间距的平行刻痕,因此采用此系统测得的热收缩率的极差通常可达到0.5PPM,此系统显著提升了玻璃热收缩率测量的精度,满足了对玻璃热收缩率测量的高精度要求,方便显示器制造时选择其适配的变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃。
图4是根据一示例性实施例示出的一种玻璃热收缩率测定方法的流程图,该方法可以应用于如图1所示的玻璃热收缩率测定系统,该玻璃热收缩率测定系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与该衍射装置连接的处理器,该待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,该待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对该第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;
其中,该待测玻璃是指需要进行热收缩率测定的玻璃,该待测玻璃的材质本公开不做出限定,可以是任意化学材质组成的玻璃,该第一待测玻璃是指进行热处理前的该待测玻璃,该第二待测玻璃,是将该第一待测玻璃放入热处理装置中进行热处理后的玻璃;该衍射装置是用于对该待测玻璃上的衍射光栅进行衍射的装置;该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像分别是该第一待测玻璃和该第二待测玻璃上的衍射光栅,通过衍射装置进行衍射后形成的图像。
该热处理可以是在预设升温速率下,将该第一待测玻璃加热到第一预设温度,为了使该第一待测玻璃的玻璃丝受热均匀受热,还可以将升温后的该第一待测玻璃在预设时间内进行保温,然后,按照预设冷却速率将该第一待测玻璃退火冷却至第二预设温度,最后,得到对该第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃。
如图4所示,该方法包括以下步骤:
在步骤401中,通过该衍射装置对该第一待测玻璃和该第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射。
其中,该衍射装置可以包括光源、衍射屏和图像接收器。
在本步骤中,利用该光源分别照射该第一待测玻璃上的衍射光栅和该第二待测玻璃上的衍射光栅。
在步骤402中,获取该第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和该第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像。
在本步骤中,通过该衍射屏接收该光源照射该衍射光栅后的光线,并将该光线叠加到该图像接收器,以便在该图像接收器上分别生成该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像。
其中,该第一光栅衍射图像是未进行热处理的该第一待测玻璃通过该衍射装置进行衍射后形成的图像,该第二光栅衍射图像是经过热处理后的该第二待测玻璃通过该衍射装置进行衍射后形成的图像。
在一种可以实现的实施例中,该光源可以是氦氖激光器,该衍射屏可以是透镜,利用氦氖激光器照射热处理前的该第一待测玻璃上的衍射光栅部分,经过透镜形成该第一光栅衍射图像,由图像接收器接受并记录该第一光栅衍射图像;对该第一待测玻璃进行热处理后得到该第二待测玻璃,利用氦氖激光器照射经过热处理后的该第二待测玻璃上的衍射光栅部分,经过透镜形成该第二光栅衍射图像,由图像接收器接受并记录该第二光栅衍射图像。
在步骤403中,该处理器根据该第一光栅衍射图像和该第二光栅衍射图像确定该待测玻璃的热收缩率。
在本步骤中,该处理器可以根据该第一光栅衍射图像确定该第一待测玻璃上的衍射光栅的第一光栅常数,根据该第二光栅衍射图像确定该第二待测玻璃上的衍射光栅的第二光栅常数,然后将该第一光栅常数和该第二光栅常数的差值,作为该待测玻璃的热收缩率。
如图3所示,待测玻璃上两刻痕之间的光滑部分可以透光,相当于狭缝,狭缝的宽度a和刻痕的宽度b之和d=a+b称为光栅常数,该第一光栅常数是未进行热处理的该第一待测玻璃上衍射光栅的第一光栅常数,该第二光栅常数是经过热处理后的该第二待测玻璃上衍射光栅的第二光栅常数。在本步骤中,该处理器,通过以下方式计算光栅常数:获取该光源的波长、通过该衍射装置对该衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;根据该波长、该衍射角以及该衍射系数计算该光栅常数。
进一步地,获取通过该衍射装置对该衍射光栅进行衍射时的衍射角时,该处理器通过获取该第一光栅衍射图像确定任意一个主极大的级数、位置和该主极大到该光栅衍射图像中心点的距离,其中,该主极大的级数即为该衍射系数,当该主极大位于该光栅衍射图像中心线上方时,该主极大的级数为正级数,当该主极大位于该光栅衍射图像中心线下方时,该主极大的级数为负级数,进一步的,获取该衍射屏的焦距,根据该主极大到该光栅衍射图像中心点的距离和该衍射屏的焦距的比值确定该衍射角的大小。
具体地,可以根据光栅方程d·sinθ=±Kλ(K=0,1,2……)获得该第一光栅常数和该第二光栅常数,在此公式中,d是光栅常数,sinθ是该衍射角,λ是该光源的波长,±K是该主极大的级数。
其中,该光源的波长和该衍射屏的焦距信息由用户进行预设,该处理器可以直接获取用户预设的该光源的波长和该衍射屏的焦距信息。
另外,可以通过以下方式确定该衍射角的大小。
示例地,该处理器通过获取该第一光栅衍射图像信息确定该第一光栅衍射图像中第二主极大距离该光栅衍射图像中心点的距离为x,且该第二主极大位于该光栅衍射图像中心线上方,该计算机还获取到用户预设的光源波长为λ,该衍射屏的焦距为f,根据公式1确定该第二主极大的衍射角θ:
则,可以根据光栅方程确定未经过热处理的该第一光栅衍射图像中该第二主极大的第一光栅参数d1:
同理,可以通过上述示例示出的方法获取经过热处理后的该第二光栅衍射图像的第二光栅常数d2,将该第一光栅常数d1和该第二光栅常数d2的差值作为该待测玻璃的热收缩率,即该待测玻璃的热收缩率为d1-d2。
采用上述玻璃热收缩率测定方法,通过该衍射装置对预先刻蚀有衍射光栅的待测玻璃在热处理前后分别进行衍射并获取待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息,根据该待测玻璃热处理前后的光栅衍射图像信息确定该待测玻璃的热收缩率,这样,可以根据获取到的光栅衍射图像计算得到待测玻璃的热收缩率,减少了因为人为测量可能导致的误差,简化了热收缩率测量的操作,给玻璃热收缩率的测量带来了便利;另外,由于衍射光栅为大量间距无限小的等宽等间距的平行刻痕,因此采用此系统测得的热收缩率的极差通常可达到0.5PPM,此系统显著提升了玻璃热收缩率测量的精度,满足了对玻璃热收缩率测量的高精度要求,方便显示器制造时选择其适配的变形率小、热稳定性强的具有高热稳定性的玻璃。
本公开还提供了一种存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述本公开提供的玻璃热收缩率测定方法的步骤。
图5是根据一示例性实施例示出的一种电子设备500的框图,如图5所示,该电子设备500包括上述的该玻璃热收缩率测定系统。
在另一示例性实施例中,还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质,该程序指令被处理器执行时实现上述的玻璃热收缩率测定方法的步骤。
在另一示例性实施例中,还提供一种计算机程序产品,该计算机程序产品包含能够由可编程的装置执行的计算机程序,该计算机程序具有当由该可编程的装置执行时用于执行上述的玻璃热收缩率测定方法的代码部分。
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式,但是,本公开并不限于上述实施方式中的具体细节,在本公开的技术构思范围内,可以对本公开的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本公开的保护范围。
另外需要说明的是,在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合,为了避免不必要的重复,本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外,本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本公开的思想,其同样应当视为本公开所公开的内容。
Claims (10)
1.一种玻璃热收缩率测定系统,其特征在于,所述系统包括:
待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;
所述衍射装置,用于对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;
所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述衍射装置包括光源、衍射屏和图像接收器;
所述光源,用于分别照射所述第一待测玻璃上的衍射光栅和所述第二待测玻璃上的衍射光栅;
所述衍射屏,用于接收所述光源照射所述衍射光栅后的光线,并将所述光线叠加到所述图像接收器,以便在所述图像接收器上分别生成所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述处理器,用于根据所述第一光栅衍射图像确定所述第一待测玻璃上的衍射光栅的第一光栅常数,根据所述第二光栅衍射图像确定所述第二待测玻璃上的衍射光栅的第二光栅常数,并将所述第一光栅常数和所述第二光栅常数的差值,作为所述待测玻璃的热收缩率。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述处理器,用于通过以下方式计算光栅常数:
获取所述光源的波长、通过所述衍射装置对所述衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;
根据所述波长、所述衍射角以及所述衍射系数计算所述光栅常数。
5.一种玻璃热收缩率测定方法,其特征在于,应用于玻璃热收缩率测定系统,所述系统包括:待测玻璃,衍射装置,以及与所述衍射装置连接的处理器,所述待测玻璃上预先刻蚀有衍射光栅,所述待测玻璃包括进行热处理前的第一待测玻璃和对所述第一待测玻璃进行热处理后的第二待测玻璃;
所述方法包括:
通过所述衍射装置对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像;
所述处理器根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述衍射装置包括光源、衍射屏和图像接收器;所述通过所述衍射装置对所述第一待测玻璃和所述第二待测玻璃上的衍射光栅进行衍射,并获取所述第一待测玻璃对应的第一光栅衍射图像和所述第二待测玻璃对应的第二光栅衍射图像包括:
利用所述光源分别照射所述第一待测玻璃上的衍射光栅和所述第二待测玻璃上的衍射光栅;
通过所述衍射屏接收所述光源照射所述衍射光栅后的光线,并将所述光线叠加到所述图像接收器,以便在所述图像接收器上分别生成所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述处理器根据所述第一光栅衍射图像和所述第二光栅衍射图像确定所述待测玻璃的热收缩率包括:
所述处理器根据所述第一光栅衍射图像确定所述第一待测玻璃上的衍射光栅的第一光栅常数,根据所述第二光栅衍射图像确定所述第二待测玻璃上的衍射光栅的第二光栅常数,并将所述第一光栅常数和所述第二光栅常数的差值,作为所述待测玻璃的热收缩率。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,通过以下方式计算光栅常数:
获取所述光源的波长、通过所述衍射装置对所述衍射光栅进行衍射时的衍射角,以及衍射系数;
根据所述波长、所述衍射角以及所述衍射系数计算所述光栅常数。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求5-8中任一项所述方法的步骤。
10.一种电子设备,其特征在于,包括权利要求1-4中任一项所述的玻璃热收缩率测定系统。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011444108.1A CN112557435A (zh) | 2020-12-08 | 2020-12-08 | 玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备 |
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Family
ID=75060993
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CN202011444108.1A Pending CN112557435A (zh) | 2020-12-08 | 2020-12-08 | 玻璃热收缩率测定系统、方法、存储介质和电子设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN112557435A (zh) |
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