CN112556852B - 星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统 - Google Patents

星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统 Download PDF

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Abstract

星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统，属于空间微波遥感技术领域。包括如下步骤：在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。本发明能够对大口径天线反射面辐射效率亮温贡献的进行在轨高精度、实时确定，填补了目前大口径反射面辐射效率贡献亮温高精度确定的空白，是一种实用的星载大口径微波辐射计天线反射面辐射效率亮温贡献亮温确定方法。

Description

星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统
技术领域
本发明涉及星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统，属于空间微波遥感技术领域。
背景技术
随着星载微波辐射计系统的发展和对高分辨率地面测量的需求，为了提升地面观测辐射计，星载微波辐射计可以通过采用大口径反射面天线来增大其天线口径。然而，由于星载微波辐射计大口径反射面无法采用有效地温度控制手段，在轨后整个反射面的物理温度一般都会存在很大的梯度，并且随着运行，也呈现出很大的温度变化，通过天线反射面的辐射效率就会产生一个不确定辐射亮温，造成天线辐射效率亮温误差，进而对辐射计系统的探测带来影响。因此必须要对星载大口径微波辐射计天线反射面辐射效率亮温贡献进行确定，保证系统测量精度。
大口径微波辐射计天线一般由反射面以及馈源组成。目前，国内外还没有公开资料与本方法相同的大口径微波辐射计反射面天线辐射效率亮温贡献校正方法。现有的类似方法包括以下：
(1)传统微波辐射计反射面辐射效率贡献亮温确定方法
对于传统的非大口径微波辐射计天线反射面，由于其口径较小，在轨后温度梯度较小，因此在校正过程中能够把反射面等效为一个点进行校正。如果大口径反射面辐射计采用这种方法，大口径反射面在轨温度梯度为100K时，就会带来约1K的亮温误差，对于海面温度探测则会带来约2℃的误差，对盐度探测而言会带来约3psu的误差，远远不能够满足0.5℃、1psu的测量精度需求。
(2)国外SMAP卫星反射面辐射效率贡献亮温确定方法
国外SMAP卫星采用6m大口径反射面天线，但是由于天线没有在轨温度测量，通过采用辐射计外定标结合地面通过模型对反射面温度分析的方式进行校正，这种方法缺陷在于：一方面由于地面反射面温度分析的精度较差，其次外定标过程中受到所采用的海面模型精度的影响，从目前公开结果可以看到，存在约0.2K校正误差，不能够满足高精度探测的需求。
发明内容
本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统，能够对大口径天线反射面辐射效率亮温贡献的进行在轨高精度、实时确定，填补了目前大口径反射面辐射效率贡献亮温高精度确定的空白，是一种实用的星载大口径微波辐射计天线反射面辐射效率亮温贡献亮温确定方法。
本发明的技术解决方案是：星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，包括如下步骤：
在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
进一步地，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图
Figure RE-GDA0002939380530000021
以及空间立体角Ω。
进一步地，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
进一步地，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
进一步地，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
Figure RE-GDA0002939380530000031
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，
Figure RE-GDA0002939380530000032
为天线反射面的温度场分布。
星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，包括：
第一模块，在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
第二模块，卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
进一步地，所述获取星载微波辐射计反射面天线的馈源的方向图，具体的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图
Figure RE-GDA0002939380530000033
以及空间立体角Ω。
进一步地，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率，具体的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
进一步地，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，具体包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
进一步地，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
Figure RE-GDA0002939380530000034
其中，TA为，
Figure RE-GDA0002939380530000035
为天线反射面的温度场分布。
本发明与现有技术相比的优点在于：
(1)本发明通过采用地面馈源方向图信息、反射面辐射效率结合在轨后的反射面温度信息进行计算得到反射面辐射效率贡献亮温，实现高精度大口径反射面辐射效率贡献亮温确定；
(2)本发明利用地面馈源测试数据以及在轨获取得到反射面温度信息，进行实时大口径反射面辐射效率贡献亮温确定，无需参考海面模型，具有高精度等特点。
具体实施方式
为了更好的理解上述技术方案，下面通过具体实施例对本申请技术方案做详细的说明，应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
一、星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法
以下对本申请实施例所提供的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法做进一步详细的说明，该方法具体实现方式可以包括如下步骤：
在本申请实施例所提供的方案中，步骤一，在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率η以及馈源的方向图
Figure RE-GDA0002939380530000041
以及空间立体角Ω；
具体的，在一种可能实现的方式中，地面测试获取馈源的方向图：大口径反射面天线由反射面以及馈源组成，在地面天线测试场地，对馈源的方向图进行测试；
可选的，在一种可能实现的方式中，地面测试获取反射面的辐射效率。在地面暗室，采用特定的方法对天线反射面的辐射效率进行测量。
在本申请实施例所提供的方案中，步骤二，卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正；
进一步，在一种可能的实现方式中，在轨反射面辐射效率亮温贡献校正，可以包括如下步骤：
1)辐射计在轨开机正常工作；
2)通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布
Figure RE-GDA0002939380530000051
3)计算反射面辐射效率亮温贡献。
具体地，在一种可能实现方式中，计算反射面辐射效率亮温贡献的方法为，按下式计算校正后的反射面辐射效率亮温贡献：
Figure RE-GDA0002939380530000052
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，
Figure RE-GDA0002939380530000053
为天线反射面的温度场分布。
二、星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统
基于与星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法相同的构思，本申请实施例提供了一种星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统。
以下对本申请实施例所提供的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统做进一步详细的说明，该系统具体实现方式可以包括用于地面测试获取基本参数的第一模块和在轨运行进行校正的第二模块。
在本申请实施例所提供的方案中，第一模块，在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
具体的，在一种可能实现的方式中，所述获取星载微波辐射计反射面天线的馈源的方向图，具体的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图
Figure RE-GDA0002939380530000054
以及空间立体角Ω。
可选的，在一种可能实现的方式中，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率，具体的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
在本申请实施例所提供的方案中，第二模块，卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
进一步，在一种可能的实现方式中，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，具体包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
可选的，在一种可能的实现方式中，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
Figure RE-GDA0002939380530000061
其中，TA为，
Figure RE-GDA0002939380530000062
为天线反射面的温度场分布。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (8)

1.星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
Figure FDA0003394636900000011
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，
Figure FDA0003394636900000012
为天线反射面的温度场分布，方向图
Figure FDA0003394636900000013
以及空间立体角Ω，反射面的辐射效率η。
2.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图
Figure FDA0003394636900000014
以及空间立体角Ω。
3.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
4.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
5.星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，包括：
第一模块，在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
第二模块，卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
Figure FDA0003394636900000021
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，
Figure FDA0003394636900000022
为天线反射面的温度场分布，方向图
Figure FDA0003394636900000023
以及空间立体角Ω，反射面的辐射效率η。
6.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的馈源的方向图，具体的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图
Figure FDA0003394636900000024
以及空间立体角Ω。
7.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率，具体的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
8.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，具体包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2411995A1 (en) * 1996-12-03 1998-06-25 Raytheon Company Radiometer system and method of calibrating radiometer receiver
CN101256231A (zh) * 2008-04-03 2008-09-03 北京航空航天大学 一种无线电高度表升降速度校核装置
CN102135613A (zh) * 2011-04-06 2011-07-27 中国人民解放军理工大学气象学院 星载极化相关型全极化微波辐射计天线交叉极化校正方法
CN102243294A (zh) * 2010-05-14 2011-11-16 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种地基微波辐射计的非线性定标方法及装置
CN103684605A (zh) * 2013-11-29 2014-03-26 西安空间无线电技术研究所 一种基于微波光子的综合孔径辐射计多路信号传输系统
CN106569186A (zh) * 2015-10-13 2017-04-19 中国科学院国家空间科学中心 一种星载微波辐射计的偏差校正方法
CN107462779A (zh) * 2017-06-30 2017-12-12 上海卫星工程研究所 微波成像卫星板间电缆相位误差测量装置及其测试方法
CN110455416A (zh) * 2019-08-21 2019-11-15 国家卫星气象中心(国家空间天气监测预警中心) 一种基于微波辐射计天线温度检测的亮温订正方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008013066B3 (de) * 2008-03-06 2009-10-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung und Verwendung der Vorrichtung
CN109725317B (zh) * 2018-12-18 2021-06-01 中国人民解放军国防科技大学 一种基于一维综合孔径微波辐射计的海面亮温成像仿真方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2411995A1 (en) * 1996-12-03 1998-06-25 Raytheon Company Radiometer system and method of calibrating radiometer receiver
CN101256231A (zh) * 2008-04-03 2008-09-03 北京航空航天大学 一种无线电高度表升降速度校核装置
CN102243294A (zh) * 2010-05-14 2011-11-16 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种地基微波辐射计的非线性定标方法及装置
CN102135613A (zh) * 2011-04-06 2011-07-27 中国人民解放军理工大学气象学院 星载极化相关型全极化微波辐射计天线交叉极化校正方法
CN103684605A (zh) * 2013-11-29 2014-03-26 西安空间无线电技术研究所 一种基于微波光子的综合孔径辐射计多路信号传输系统
CN106569186A (zh) * 2015-10-13 2017-04-19 中国科学院国家空间科学中心 一种星载微波辐射计的偏差校正方法
CN107462779A (zh) * 2017-06-30 2017-12-12 上海卫星工程研究所 微波成像卫星板间电缆相位误差测量装置及其测试方法
CN110455416A (zh) * 2019-08-21 2019-11-15 国家卫星气象中心(国家空间天气监测预警中心) 一种基于微波辐射计天线温度检测的亮温订正方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Hot Load Temperature Correction for TRMM Microwave Imager in the Legacy Brightness Temperature;Faisal Alquaied 等;《IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN APPLIED EARTH OBSERVATIONS AND REMOTE SENSING》;20180630;全文 *
基于CLEAN算法对一维综合孔径辐射计成像误差的校正;张爱丽 等;《空间科学学报》;20200531;全文 *
基于SMOS卫星数据的中国地区L波段射频干扰研究;卢海梁 等;《微波学报》;20160229;全文 *

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