CN112540068B - 三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法 - Google Patents

三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法，该方法通过荧光、X射线和声发射分别对轮椅进行信息采样，然后依据采样点表征出的信息不同进行早期缺陷分析。一方面用荧光进行轮椅六个面的表面缺陷检测，另一方面用X射线从相对两个方向对早期缺陷进行配对的扫描，最后结合声发射获取的距离能量、距离有效值电压及波形频率耦合的双谱等参数，对轮椅早期缺陷的空间位置及尺寸大小进行较准确的识别，从而较为准确的判断轮椅结构部件早期缺陷的位置及尺寸，为轮椅安全使用奠定了基础，减少由于早期缺陷造成的经济损失和人员伤亡。

Description

三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法
技术领域
本发明涉及一种安全预警无损检测，更特别地说，是指一种能够对未在役的轮椅在三维空间进行多项容错的早期缺陷检测表征方法
背景技术
轮椅是康复的重要工具，轮椅它不仅是肢体伤残者和行动不便人士的代步工具，更重要的是使他们借助于轮椅进行身体锻炼和参与社会活动。普通轮椅一般由轮椅架、车轮、座靠、刹车装置等部分组成。手摇轮椅在普通轮椅基础上，增加手摇装置。电动轮椅在普通轮椅基础上，增加电子助力系统，减轻了使用者的体力消耗。智能轮椅在电动轮椅的基础上，增加了定位移动、站立移动、遥控移动以及相关互联网。轮椅一旦发生故障，容易引发人的生命受到伤害的灾难性事故，其后果非常严重，不但财产受到损失，还给人民生命安全造成巨大的危害。
随着现代技术日益高效发展，轮椅设备，具有以下几个特点：
1、轮椅按其功能分为：手推型和电动轮椅；手推轮椅主要用于护理用椅，这是有他人推动的轮椅，扶手可用开放式、固定式和拆卸式。
2、目前由于设计、制造等原因，部分轮椅存在缺陷服役，轮椅安全检测技术研究还不够全面，相关的制度措施也不够完善，轮椅的安全状况令人担忧。
3、轮椅主要结构部位失效模式的失效原因之一可能是早期缺陷(Early Defect)引起的。轮椅在服役过程中会受到来自于人体等所施加的应力。在应力作用下早期缺陷易发生损伤演变，影响轮椅的使用寿命和安全。
因此要实现对轮椅的安全风险防控，须对轮椅进行检测、判断检测早期缺陷的有无、位置和大小，从而进行安全评估。
发明内容
为了解决由于早期缺陷导致的轮椅结构部位失效造成的损伤危害，本发明提出一种结合荧光、X射线及声发射检测方法对未在役轮椅进行早期缺陷检测，得到声发射参数表示的有无早期缺陷的信息，并对早期缺陷的位置和尺寸大小进行评估的方法。应用本发明的检测结果能够对轮椅早期缺陷进行评估判断，从而预防减少财产损失及人员伤亡。
本发明的一种三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法包括有下列步骤：
步骤一，在轮椅上标记采样点，并记录下采样点的位置；
在实物空间的轮椅上标记多个采样点，并记录下每个采样点的位置；
将实物空间的轮椅软件化至轮椅模型中；在轮椅模型坐标系O-XYZ下，标记出每个采样点位置对应在轮椅模型上的位置；
采样点按照轮椅模型的分层分别进行记录；
位于中间层的多个采样点构成的中间层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000011
位于底层的多个采样点构成的底层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000012
位于后背层的采样点构成的后背层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000013
位于支撑层的采样点构成的支撑层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000014
则轮椅上表面布置的所有采样点构成了表面采样点集合MMP＝{MPAA,MPBB,MPCC,MPDD}；
MPAA表示中间层－采样点集合；上角标AA表示中间层的标识；
Figure BDA0002825850610000021
表示位于中间层的第一个采样点；所述
Figure BDA0002825850610000022
的位置记为
Figure BDA0002825850610000023
Figure BDA0002825850610000024
表示位于中间层的第二个采样点；所述
Figure BDA0002825850610000025
的位置记为
Figure BDA0002825850610000026
Figure BDA0002825850610000027
表示位于中间层的任意一个采样点；下角标a表示位于中间层的采样点的标识号；所述
Figure BDA0002825850610000028
的位置记为
Figure BDA0002825850610000029
Figure BDA00028258506100000210
表示位于中间层的最后一个采样点；下角标A表示位于中间层的采样点的总个数；a∈A；所述
Figure BDA00028258506100000211
的位置记为
Figure BDA00028258506100000212
MPBB表示底层－采样点集合；上角标BB表示底层的标识；
Figure BDA00028258506100000213
表示位于底层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000214
的位置记为
Figure BDA00028258506100000215
Figure BDA00028258506100000216
表示位于底层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000217
的位置记为
Figure BDA00028258506100000218
Figure BDA00028258506100000219
表示位于底层的任意一个采样点；下角标b表示位于底层的采样点的标识号；所述
Figure BDA00028258506100000220
的位置记为
Figure BDA00028258506100000221
Figure BDA00028258506100000222
表示位于底层的最后一个采样点；下角标B表示位于底层的采样点的总个数；b∈B；所述
Figure BDA00028258506100000223
的位置记为
Figure BDA00028258506100000224
MPCC表示后背层－采样点集合；上角标CC表示后背层的标识；
Figure BDA00028258506100000225
表示位于后背层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000226
的位置记为
Figure BDA00028258506100000227
Figure BDA00028258506100000228
表示位于后背层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000229
的位置记为
Figure BDA00028258506100000230
Figure BDA00028258506100000231
表示位于后背层的任意一个采样点；下角标c表示位于后背层的采样点的标识号；所述
Figure BDA00028258506100000232
的位置记为
Figure BDA00028258506100000233
Figure BDA00028258506100000234
表示位于后背层的最后一个采样点；下角标C表示位于后背层的采样点的总个数；c∈C；所述
Figure BDA00028258506100000235
的位置记为
Figure BDA00028258506100000236
MPDD表示支撑层－采样点集合；上角标DD表示支撑层的标识；
Figure BDA00028258506100000237
表示位于支撑层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000238
的位置记为
Figure BDA00028258506100000239
Figure BDA00028258506100000240
表示位于支撑层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100000241
的位置记为
Figure BDA00028258506100000242
Figure BDA00028258506100000243
表示位于支撑层的任意一个采样点；下角标d表示位于支撑层的采样点的标识号；所述
Figure BDA00028258506100000244
的位置记为
Figure BDA00028258506100000245
Figure BDA00028258506100000246
表示位于支撑层的最后一个采样点；下角标D表示位于支撑层的采样点的总个数；d∈D；所述
Figure BDA00028258506100000247
的位置记为
Figure BDA00028258506100000248
步骤二，利用荧光设备对轮椅进行表面缺陷获取；
步骤21，分别对轮椅的六个面进行荧光图像信息采集；
采用荧光设备对被测对象轮椅的六个面分别进行荧光拍照，分别得到：
对轮椅的前视面进行拍照，得到前视－荧光照片YG前视；
对轮椅的后视面进行拍照，得到后视－荧光照片YG后视；
对轮椅的左视面进行拍照，得到左视－荧光照片YG左视；
对轮椅的右视面进行拍照，得到右视－荧光照片YG右视；
对轮椅的俯视面进行拍照，得到俯视－荧光照片YG俯视；
对轮椅的仰视面进行拍照，得到仰视－荧光照片YG仰视；
步骤22，比较六个面的荧光图像，得到轮椅的表面缺陷信息；
通过对照片YG前视、YG后视、YG左视、YG右视、YG俯视和YG仰视的分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的荧光区域采样点集合，简称为荧光－缺陷集合，记为YG缺陷，且
Figure BDA0002825850610000031
Figure BDA0002825850610000032
表示中间层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000033
表示底层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000034
表示后背层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000035
表示支撑层中有荧光－缺陷的采样点集合；
步骤三，利用X射线设备对轮椅进行表面－内部缺陷获取；
步骤301，从前视图向后视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤301A，将被测对象轮椅的前视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到前视面的X射线图PXS前-后；
步骤301B，通过对X射线图PXS前-后进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集合，简称为前视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000036
且
Figure BDA0002825850610000037
步骤301C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为前视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000038
且
Figure BDA0002825850610000039
Figure BDA00028258506100000310
表示轮椅的前视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000311
表示轮椅的前视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000312
表示轮椅的前视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000313
表示轮椅的前视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000314
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000315
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000316
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000317
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤302，从后视图向前视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤302A，将被测对象轮椅的后视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到后视面的X射线图PXS后-前；
步骤302B，通过对X射线图PXS后-前进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为后视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000422
，且
Figure BDA0002825850610000041
步骤302C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为后视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000042
且
Figure BDA0002825850610000043
步骤302D，将步骤301C获得的
Figure BDA0002825850610000044
与步骤302C获得的
Figure BDA0002825850610000045
求并集，得到前视图与后视图配对的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000046
且
Figure BDA0002825850610000047
步骤302E，对比X射线图PXS前-后与X射线图PXS后-前；
(A)，发现在后视面的X射线图PXS后-前中采样点与
Figure BDA0002825850610000048
中采样点的能量载体的厚度是相同的，但是，在前视面的X射线图PXS前-后中采样点与
Figure BDA0002825850610000049
中采样点的能量载体的厚度是不相同的，从而判断出
Figure BDA00028258506100000410
中采样点是被PXS前-后中采样点覆盖的小尺寸缺陷采样点，简称为左右配对扫描重合采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000411
且
Figure BDA00028258506100000412
(B)，发现后视面的X射线图PXS后-前中采样点与
Figure BDA00028258506100000413
中采样点的能量载体的厚度是相同的，同时，在前视面的X射线图PXS前-后中采样点与
Figure BDA00028258506100000414
中采样点的能量载体的厚度是相同的，从而判断出
Figure BDA00028258506100000415
中采样点是伪缺陷采样点，简称为前后配对扫描伪缺陷采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000416
且
Figure BDA00028258506100000417
Figure BDA00028258506100000418
表示轮椅的后视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000419
表示轮椅的后视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000420
表示轮椅的后视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000421
表示轮椅的后视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000051
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000052
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000053
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000054
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000055
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000056
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000057
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000058
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000059
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000510
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000511
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000512
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000513
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于中间层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA00028258506100000514
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于底层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA00028258506100000515
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于后背层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA00028258506100000516
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于支撑层的伪缺陷采样点集合；
步骤303，从左视图向右视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤303A，将被测对象轮椅的左视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到左视面的X射线图PXS左-右；
步骤303B，通过对X射线图PXS左-右进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为左视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000517
且
Figure BDA00028258506100000518
步骤303C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为左视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000061
且
Figure BDA0002825850610000062
Figure BDA0002825850610000063
表示轮椅的左视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000064
表示轮椅的左视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000065
表示轮椅的左视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000066
表示轮椅的左视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000067
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000068
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000069
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000610
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤304，从右视图向左视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤304A，将被测对象轮椅的右视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到右视面的X射线图PXS右-左；
步骤304B，通过对X射线图PXS右-左进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为右视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000611
且
Figure BDA00028258506100000612
步骤304C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为右视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000613
且
Figure BDA00028258506100000614
步骤304D，将步骤303C获得的
Figure BDA00028258506100000615
与步骤304C获得的
Figure BDA00028258506100000616
求并集，得到左视图与右视图配对的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100000617
且
Figure BDA00028258506100000618
步骤304E，对比X射线图PXS左-右与X射线图PXS右-左；
(A)，发现在右视面的X射线图PXS右-左中采样点与
Figure BDA00028258506100000619
中采样点的能量载体的厚度是相同的，但是，在左视面的X射线图PXS左-右中采样点与
Figure BDA0002825850610000071
中采样点的能量载体的厚度是不相同的，从而判断出
Figure BDA0002825850610000072
中采样点是被PXS左-右中采样点覆盖的小尺寸缺陷采样点，简称为左右配对扫描重合采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000073
且
Figure BDA0002825850610000074
(B)，发现右视面的X射线图PXS右-左中采样点与
Figure BDA0002825850610000075
中采样点的能量载体的厚度是相同的，同时，在左视面的X射线图PXS左-右中采样点与
Figure BDA0002825850610000076
中采样点的能量载体的厚度是相同的，从而判断出
Figure BDA0002825850610000077
中采样点是伪缺陷采样点，简称为左右配对扫描伪缺陷采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000078
且
Figure BDA0002825850610000079
Figure BDA00028258506100000710
表示轮椅的右视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000711
表示轮椅的右视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000712
表示轮椅的右视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000713
表示轮椅的右视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000714
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000715
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000716
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000717
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000718
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000719
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000720
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000721
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000722
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000723
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000724
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000725
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000081
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于中间层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000082
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于底层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000083
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于后背层的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000084
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于支撑层的伪缺陷采样点集合；
步骤305，统计内部总缺陷信息；
对步骤31至步骤34中的内部缺陷对应采样点求并集，得到总内部缺陷信息对应采样点，记为
Figure BDA0002825850610000085
即
Figure BDA0002825850610000086
与
Figure BDA0002825850610000087
求并集，得到总内部缺陷信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000088
Figure BDA0002825850610000089
表示经X射线扫描后轮椅的中间层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000810
表示经X射线扫描后轮椅的底层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000811
表示经X射线扫描后轮椅的后背层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000812
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤306，统计表面与内部缺陷信息；
对步骤31至步骤34中的表面与内部缺陷对应采样点求并集，得到表面与内部所有缺陷信息对应采样点，记为ALL_XS缺陷；
即
Figure BDA00028258506100000813
与
Figure BDA00028258506100000814
与
Figure BDA00028258506100000815
与
Figure BDA00028258506100000816
求并集，得到表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure BDA00028258506100000817
Figure BDA00028258506100000818
表示经X射线扫描后轮椅的中间层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000819
表示经X射线扫描后轮椅的底层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000820
表示经X射线扫描后轮椅的后背层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000821
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤307，统计伪缺陷信息；
对步骤32和步骤34中的伪缺陷对应采样点求并集，得到总伪缺陷信息对应采样点，记为
Figure BDA0002825850610000091
即
Figure BDA0002825850610000092
与
Figure BDA0002825850610000093
求并集，得到总伪缺陷信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000094
Figure BDA0002825850610000095
表示经X射线扫描后轮椅的中间层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000096
表示经X射线扫描后轮椅的底层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000097
表示经X射线扫描后轮椅的后背层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000098
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的伪缺陷采样点集合；
步骤308，统计重合的缺陷信息；
对步骤32和步骤34中的重合缺陷信息对应采样点求并集，得到小尺寸缺陷被大尺寸缺陷覆盖的信息对应采样点，记为
Figure BDA0002825850610000099
即
Figure BDA00028258506100000910
与
Figure BDA00028258506100000911
求并集，得到小尺寸缺陷被大尺寸缺陷覆盖的信息对应采样点，记为
Figure BDA00028258506100000912
Figure BDA00028258506100000913
表示经X射线扫描后轮椅的中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure BDA00028258506100000914
表示经X射线扫描后轮椅的底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure BDA00028258506100000915
表示经X射线扫描后轮椅的后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure BDA00028258506100000916
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
步骤309，去除伪缺陷信息；
统计分析步骤31至步骤34中的X射线图，然后依据
Figure BDA00028258506100000917
从
Figure BDA00028258506100000918
中去除伪缺陷信息对应采样点后，得到X射线－缺陷对应采样点集合XS缺陷，且
Figure BDA00028258506100000919
Figure BDA00028258506100000920
表示经X射线扫描后轮椅的中间层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000921
表示经X射线扫描后轮椅的底层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA00028258506100000922
表示经X射线扫描后轮椅的后背层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure BDA0002825850610000101
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤310，获取荧光缺陷与X射线缺陷的并集信息；
YG缺陷∪XS缺陷＝DC缺陷，且
Figure BDA0002825850610000102
所述荧光－缺陷采样点集合
Figure BDA0002825850610000103
所述X射线－缺陷对应采样点集合
Figure BDA0002825850610000104
DC缺陷表示轮椅表面与内部所有缺陷的采样点；
Figure BDA0002825850610000105
表示轮椅的中间层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000106
表示轮椅的底层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000107
表示轮椅的后背层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure BDA0002825850610000108
表示轮椅的支撑层中表面与内部的缺陷采样点集合；
步骤四，采用声发射换能器获取各个采样点的距离能量、距离有效值电压、波形频率耦合的双谱；
步骤41，获取表面与内部缺陷的声发射信息；
记录下所有采样点的声发射换能器信息，记为三元组信息集合AEIALL；
Figure BDA0002825850610000109
三元组信息是指声发射换能器采集的距离能量值、距离有效值电压值和波形频率耦合的双谱值；
所有采样点是指步骤一获得的表面采样点集合MMP＝{MPAA,MPBB,MPCC,MPDD}与步骤306获得的表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure BDA00028258506100001010
的并集；
第一方面，通过声发射换能器记录下中间层－采样点集合
Figure BDA00028258506100001011
中各个采样点的三元组信息；
第二方面，通过声发射换能器记录下底层－采样点集合
Figure BDA00028258506100001012
中各个采样点的三元组信息；
第三方面，通过声发射换能器记录下后背层－采样点集合
Figure BDA00028258506100001013
中各个采样点的三元组信息；
第四方面，通过声发射换能器记录下支撑层－采样点集合
Figure BDA00028258506100001014
中各个采样点的三元组信息；
第五方面，通过声发射换能器记录下表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000111
中各个采样点的三元组信息；
经X射线扫描后轮椅的中间层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure BDA0002825850610000112
中所有采样点对应的三元组信息构成了中间层采样点的声发射信息集合，记为
Figure BDA0002825850610000113
经X射线扫描后轮椅的底层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure BDA0002825850610000114
中所有采样点对应的三元组信息构成了底层采样点的声发射信息集合，记为
Figure BDA0002825850610000115
经X射线扫描后轮椅的后背层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure BDA0002825850610000116
中所有采样点对应的三元组信息构成了后背层采样点的声发射信息集合，记为
Figure BDA0002825850610000117
经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure BDA0002825850610000118
中所有采样点对应的三元组信息构成了支撑层采样点的声发射信息集合，记为
Figure BDA0002825850610000119
采样点
Figure BDA00028258506100001110
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001111
且
Figure BDA00028258506100001112
其中，
Figure BDA00028258506100001113
表示采样点
Figure BDA00028258506100001114
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001115
表示采样点
Figure BDA00028258506100001116
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001117
表示采样点
Figure BDA00028258506100001118
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001119
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001120
且
Figure BDA00028258506100001121
其中，
Figure BDA00028258506100001122
表示采样点
Figure BDA00028258506100001123
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001124
表示采样点
Figure BDA00028258506100001125
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001126
表示采样点
Figure BDA00028258506100001127
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001128
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001129
且
Figure BDA00028258506100001130
其中，
Figure BDA00028258506100001131
表示采样点
Figure BDA00028258506100001132
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001133
表示采样点
Figure BDA00028258506100001134
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001135
表示采样点
Figure BDA00028258506100001136
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001137
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001138
且
Figure BDA00028258506100001139
其中，
Figure BDA00028258506100001140
表示采样点
Figure BDA00028258506100001141
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001142
表示采样点
Figure BDA00028258506100001143
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001144
表示采样点
Figure BDA00028258506100001145
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure BDA00028258506100001146
中各个采样点的三元组信息构成的中间层声发射信息集合，记为
Figure BDA00028258506100001147
且
Figure BDA00028258506100001148
采样点
Figure BDA00028258506100001149
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001150
且
Figure BDA00028258506100001151
其中，
Figure BDA00028258506100001152
表示采样点
Figure BDA00028258506100001153
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001154
表示采样点
Figure BDA00028258506100001155
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001156
表示采样点
Figure BDA00028258506100001157
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001158
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001159
且
Figure BDA00028258506100001160
其中，
Figure BDA00028258506100001161
表示采样点
Figure BDA00028258506100001162
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001163
表示采样点
Figure BDA00028258506100001164
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001165
表示采样点
Figure BDA00028258506100001166
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001167
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001168
且
Figure BDA00028258506100001169
其中，
Figure BDA00028258506100001170
表示采样点
Figure BDA00028258506100001171
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001172
表示采样点
Figure BDA00028258506100001173
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001174
表示采样点
Figure BDA00028258506100001175
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001176
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001177
且
Figure BDA00028258506100001178
其中，
Figure BDA00028258506100001179
表示采样点
Figure BDA0002825850610000121
的距离能量，
Figure BDA0002825850610000122
表示采样点
Figure BDA0002825850610000123
的距离有效值电压，
Figure BDA0002825850610000124
表示采样点
Figure BDA0002825850610000125
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure BDA0002825850610000126
中各个采样点的三元组信息构成的底层声发射信息集合，记为
Figure BDA0002825850610000127
且
Figure BDA0002825850610000128
采样点
Figure BDA0002825850610000129
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001210
且
Figure BDA00028258506100001211
其中，
Figure BDA00028258506100001212
表示采样点
Figure BDA00028258506100001213
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001214
表示采样点
Figure BDA00028258506100001215
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001216
表示采样点
Figure BDA00028258506100001217
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001218
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001219
且
Figure BDA00028258506100001220
其中，
Figure BDA00028258506100001221
表示采样点
Figure BDA00028258506100001222
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001223
表示采样点
Figure BDA00028258506100001224
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001225
表示采样点
Figure BDA00028258506100001226
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001227
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001228
且
Figure BDA00028258506100001229
其中，
Figure BDA00028258506100001230
表示采样点
Figure BDA00028258506100001286
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001231
表示采样点
Figure BDA00028258506100001232
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001233
表示采样点
Figure BDA00028258506100001234
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001235
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001236
且
Figure BDA00028258506100001237
其中，
Figure BDA00028258506100001238
表示采样点
Figure BDA00028258506100001239
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001240
表示采样点
Figure BDA00028258506100001241
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001242
表示采样点
Figure BDA00028258506100001243
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure BDA00028258506100001244
中各个采样点的三元组信息构成的后背层声发射信息集合，记为
Figure BDA00028258506100001245
且
Figure BDA00028258506100001246
采样点
Figure BDA00028258506100001247
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001248
且
Figure BDA00028258506100001249
其中，
Figure BDA00028258506100001250
表示采样点
Figure BDA00028258506100001251
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001252
表示采样点
Figure BDA00028258506100001253
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001254
表示采样点
Figure BDA00028258506100001255
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001256
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001257
且
Figure BDA00028258506100001258
其中，
Figure BDA00028258506100001259
表示采样点
Figure BDA00028258506100001260
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001261
表示采样点
Figure BDA00028258506100001262
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001263
表示采样点
Figure BDA00028258506100001264
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001265
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001266
且
Figure BDA00028258506100001267
其中，
Figure BDA00028258506100001268
表示采样点
Figure BDA00028258506100001269
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001270
表示采样点
Figure BDA00028258506100001271
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001272
表示采样点
Figure BDA00028258506100001273
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure BDA00028258506100001274
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100001275
且
Figure BDA00028258506100001276
其中，
Figure BDA00028258506100001277
表示采样点
Figure BDA00028258506100001278
的距离能量，
Figure BDA00028258506100001279
表示采样点
Figure BDA00028258506100001280
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100001281
表示采样点
Figure BDA00028258506100001282
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure BDA00028258506100001283
中各个采样点的三元组信息构成的支撑层声发射信息集合，记为
Figure BDA00028258506100001284
且
Figure BDA00028258506100001285
步骤42，去除伪缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤307获得的
Figure BDA0002825850610000131
从三元组信息集合
Figure BDA0002825850610000132
中去除伪缺陷采样点的三元组信息，得到去伪声发射信息集合AEIfalse；
步骤43，获取缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤310获得的
Figure BDA0002825850610000133
从去伪声发射信息集合AEIfalse中去除正常采样点，得到突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000134
步骤五，基于波形频率耦合的早期缺陷的声发射双谱信息获取；
以归一化双频率为纵坐标，以频率为横坐标，构建直角坐标系；
应用三种手段对突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000135
进行波形频率耦合的双谱分析，得到早期缺陷声发射信息的采样点集；
第一种，通过计算峰的数量，当突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000136
中有双峰存在，则为存在有峰数量早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000137
第二种，通过计算峰的占比，以50％为一划界，对突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000141
中大于50％的双峰占比的早期缺陷声发射信息，作为双峰占比的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000142
第三种，通过计算损伤度频率平均值，以120kHz为一划界，对突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000143
中损伤度频率平均值小于120kHz的早期缺陷声发射信息，作为损伤度的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000144
步骤六，基于距离能量的早期缺陷的声发射信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离能量，构件直角坐标系；
在脉冲声发射信号距离能量1000V·μs的值为一划界，位于1000V·μs之上的为正常采样点信息，而位于1000V·μs之下的或等于1000V·μs的为具有缺陷的采样点信息；
步骤61，以脉冲声发射距离能量阈值EA阈值为基准，获取突发采样点；
将突发性声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000145
进行距离能量与采集时间的坐标构建，然后采用距离能量早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，通过距离能量阈值分类条件定性判断出存在有早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000146
步骤62，判断对称视图面上采样点隐藏的小尺寸突发信息；
依据步骤308获得的
Figure BDA0002825850610000147
从
Figure BDA0002825850610000148
中找出重合缺陷信息对应采样点，则
Figure BDA0002825850610000149
步骤七，基于距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离有效值电压，构建直角坐标系；
轮椅构件在脉冲声发射距离有效值电压随持续时间的变化；以0.02V为一划界；位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息；
步骤71，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取突发采样点；
将突发声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000151
进行距离有效值电压与采集时间的坐标系构建，然后采用距离有效值电压早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000152
步骤72，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure BDA0002825850610000153
从
Figure BDA0002825850610000154
中找出重合缺陷信息对应采样点，记为
Figure BDA0002825850610000155
步骤八，基于距离能量和距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标分别为声发射突发信息中的距离能量与距离有效值电压，构建直角坐标系；
轮椅构件在脉冲声发射距离能量与距离有效值电压对持续时间的变化；距离能量与距离有效值电压分别以1000V·μs和0.02V为一划界；位于1000V·μs以上且同时位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于1000V·μs以下或等于1000V·μs且同时位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息；
步骤81，以脉冲声发射距离能量阈值和距离有效值电压阈值为基准，获取突发采样点；
将突发声发射信息集合
Figure BDA0002825850610000156
进行距离能量、距离有效值电压与采集时间坐标系构建，然后采用距离能量和距离有效值电压早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000157
步骤82，以脉冲声发射距离能量阈值和距离有效值电压阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure BDA0002825850610000158
从
Figure BDA0002825850610000159
中找出重合缺陷信息对应采样点，记为
Figure BDA00028258506100001510
本发明三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法的优点在于：
①本发明使用荧光、X射线方法，并结合声发射参数分析技术，得到了反应轮椅早期缺陷表征方法。这种方法所评估的早期缺陷，即包含荧光和X射线的信息又具备声发射信号的变化信息，因此较传统的无损检测方法能够更准确及时以及全面的判断早期缺陷，便于对轮椅早期缺陷做出正确的评估。
②本发明结合声发射技术提出了声发射参数表征的轮椅早期缺陷矩阵，早期缺陷矩阵通过对声发射波形频率耦合的双谱、距离能量、距离有效值电压参数进行处理对早期缺陷进行评估，这些声发射参数便于记录和分析，并且能够很好反映早期缺陷的位置及尺寸大小，因此使得评定结果能够较传统的无损检测方法更准确的判断出轮椅早期缺陷。
③通过荧光方法可以无损检测出轮椅构件表面的早期缺陷,通过X射线可以无损检测出轮椅构件内部的缺陷，但是这两种方法中，大尺寸的早期缺陷可以将小尺寸的早期缺陷覆盖住，进而无法准确判断出小尺寸早期缺陷的位置及尺寸大小；而结合声发射参数信息可以判断所有早期缺陷的位置及尺寸大小，从而对小尺寸早期缺陷划分和鉴定。因此可以简单易行地对未知早期缺陷的状态评价。
④使用本发明可以对未服役条件下的轮椅中早期缺陷进行监测，可及时预防危险情况出现，因此可以大大减少人员财产的损失，保证安全以及经济效益。
附图说明
图1是本发明三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法的流程图。
图2是轮椅的三维模型示意图。
图2A是标记有采样点的轮椅立体图。
图2B是标记有采样点的另一视角轮椅立体图。
图2C是经荧光设备检测到的存在缺陷的采样点示意图。
图3是X射线设备对轮椅进行检测的示意图。
图3A是X射线图像。
图4是荧光图像。
图5A是经双谱分析软件获得的单峰图。
图5B是经双谱分析软件获得的双峰图。
图6A是声发射突发信息中距离能量与采样时间的关系图。
图6B是声发射突发信息中距离能量与采样时间的关系图。
图7A是声发射突发信息中距离能量与采样时间的关系图。
图7B是声发射突发信息中距离能量与采样时间的关系图。
图8是声发射突发信息中距离能量与采样时间的关系图。
图9是本发明三维空间多项容错早期缺陷检测系统的框图。
具体实施方式
下面将结合附图和实施例对本发明做进一步的详细说明。
依据普通轮椅具有的结构，如轮椅架、车轮、座靠等进行三维软件的建模，建模得到了如图2所示的按照层次划分的轮椅模型。在图2中，将轮椅中用来座的称为轮椅模型的中间层1，轮椅的车轮称为轮椅模型的底层2，轮椅的座靠称为轮椅模型的后背层3，支撑轮椅的构件称为轮椅模型的支撑层4。
三维空间多项容错早期缺陷检测系统的组成
在本发明中，采用Matlab R2014a开发工具和Micosoft Visual Studio 2012开发工具开发的三维空间多项容错早期检测表征的软件程序，所述三维空间多项容错早期检测表征的软件程序简称为DES方法。DES方法存储于计算机的硬盘中。DES方法是对未在役轮椅早期缺陷进行的判断。
参见图9所示，本发明的三维空间多项容错早期检测系统至少有荧光采集子系统11、X光射线采集子系统12、声发射采集子系统2、图像采集卡1和存储有DES方法的计算机3。
荧光采集子系统11和X光射线采集子系统12采集的图像信息经图像采集卡1输出给存储有DES方法的计算机3中。
声发射采集子系统2包括有声发射仪21、前置放大器22和声发射换能器23。声发射仪21用于采集轮椅上各个采样点的突发型信息；前置放大器22用于将每一个所述声发射仪输出的突发型信息进行40dB放大处理形成声发射放大信息；声发射换能器23用于将所述声发射放大信息进行A/D转换处理后，提取出针对所述每一路的声发射放大信息的数字突发型信息
Figure BDA0002825850610000171
输出给存储有DES方法的计算机3。在本发明中，数字突发型信息中包含有绝对距离能量EA、距离有效值电压EB和波形频率耦合的双谱EC的三个参数。
所述存储有DES方法的计算机3将荧光、X射线与声发射参数进行结合，从而判断出缺陷尺寸。一方面用荧光进行轮椅六个面体的表面缺陷检测，另一方面用X射线从不同方向相对两个方向对早期缺陷进行配对的扫描，最后结合声发射参数距离能量、距离有效值电压及波形频率耦合的双谱，对轮椅早期缺陷的空间位置及尺寸大小进行较准确的识别，从而较为准确的判断轮椅结构部件早期缺陷的位置及尺寸。
硬件连接：荧光采集子系统11与X光射线采集子系统12通过电缆连接到图像采集卡1上；声发射前置放大器22通过电缆分别与声发射仪21的输出端和声发射换能器23的输入端连接；图像采集卡1的信号输出端和声发射换能器23的信号输出端通过R323串口连接在计算机的串口上。
在本发明中，存储有DES方法的计算机3中至少要有采样点在轮椅模型坐标系下的各个采样点的位置。计算机3运行软件的最低配置，处理器Intel Core I5 2.0GHz以上，内存4GB以上，硬盘至少10GB空间。
在本发明中，YG荧光设备型号为YX-125型荧光探伤仪，功率为125W，辐射波长为3600±300°A，照度大于2000μw/cm2，光照距离381cm。拍照得到的荧光图片如图4所示。
在本发明中，X射线设备型号为2515X射线机，最大电压为250KV，最大电流为10mA。拍照得到的X射线图片如图3A所示。
在本发明中使用的声发射仪2选取美国PAC公司生产的DiSP声发射系统，该系统中的每通道高达2MHz信号采样率，声发射仪2中自备有A/D转换器。声发射仪2至少包含有用于进行参数设置的数据参数设置模块以及用于显示定位图形的显示屏。
通过声发射仪2的数据参数设置模块设置的关联参数有：采样频率(单位kHz)、距离能量门槛值(单位电压乘以时间，电压是伏，时间是毫秒)，在本发明中初始设置的参数为：采样频率为2，能量门槛值为1。
实施例1
参见图2所示模型，分别在中间层1上布置了6个采样点，底层4上布置了5个采样点，后背后层3上布置了5个采样点，支撑层4上布置了4个采样点。记录下每个采样点的位置(x,y,z)，x为横轴上的位置值，y为纵轴上的位置值，z为距离地面的高度值。通过比较各个采样点位置(x,y,z)能够获取具有相同横轴、或者相同纵轴、或者高度的采样点。
步骤一，在轮椅上标记采样点，并记录下采样点的位置；
参见图2A、图2B所示的采样点的布局，分别记录下各自采样点的位置如表1。
表1布局在轮椅上的各个采样点的位置
Figure BDA0002825850610000181
采样点按照轮椅模型的分层分别进行记录；
位于中间层的多个采样点构成的中间层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000182
位于底层的多个采样点构成的底层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000183
位于后背层的采样点构成的后背层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000184
位于支撑层的采样点构成的支撑层－采样点集合记为
Figure BDA0002825850610000185
则轮椅上表面布置的所有采样点构成了表面采样点集合
Figure BDA0002825850610000191
MPAA表示中间层－采样点集合；上角标AA表示中间层的标识；
Figure BDA0002825850610000192
表示位于中间层的第一个采样点；所述
Figure BDA0002825850610000193
的位置记为
Figure BDA0002825850610000194
Figure BDA0002825850610000195
表示位于中间层的第二个采样点；所述
Figure BDA0002825850610000196
的位置记为
Figure BDA0002825850610000197
Figure BDA0002825850610000198
表示位于中间层的第三个采样点；所述
Figure BDA0002825850610000199
的位置记为
Figure BDA00028258506100001910
Figure BDA00028258506100001911
表示位于中间层的第四个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001912
的位置记为
Figure BDA00028258506100001913
Figure BDA00028258506100001914
表示位于中间层的第五个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001915
的位置记为
Figure BDA00028258506100001916
Figure BDA00028258506100001917
表示位于中间层的第六个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001918
的位置记为
Figure BDA00028258506100001919
MPBB表示底层－采样点集合；上角标BB表示底层的标识；
Figure BDA00028258506100001920
表示位于底层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001921
的位置记为
Figure BDA00028258506100001922
Figure BDA00028258506100001923
表示位于底层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001924
的位置记为
Figure BDA00028258506100001925
Figure BDA00028258506100001926
表示位于底层的第三个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001927
的位置记为
Figure BDA00028258506100001928
Figure BDA00028258506100001929
表示位于底层的第四个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001930
的位置记为
Figure BDA00028258506100001931
Figure BDA00028258506100001932
表示位于底层的第五个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001933
的位置记为
Figure BDA00028258506100001934
MPCC表示后背层－采样点集合；上角标CC表示后背层的标识；
Figure BDA00028258506100001935
表示位于后背层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001936
的位置记为
Figure BDA00028258506100001937
Figure BDA00028258506100001938
表示位于后背层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001939
的位置记为
Figure BDA00028258506100001940
Figure BDA00028258506100001941
表示位于后背层的第三个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001942
的位置记为
Figure BDA00028258506100001943
Figure BDA00028258506100001944
表示位于后背层的第四个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001945
的位置记为
Figure BDA00028258506100001946
Figure BDA00028258506100001947
表示位于后背层的第五个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001948
的位置记为
Figure BDA00028258506100001949
MPDD表示支撑层－采样点集合；上角标DD表示支撑层的标识；
Figure BDA00028258506100001950
表示位于支撑层的第一个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001951
的位置记为
Figure BDA00028258506100001952
Figure BDA00028258506100001953
表示位于支撑层的第二个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001954
的位置记为
Figure BDA00028258506100001955
Figure BDA00028258506100001956
表示位于支撑层的第三个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001957
的位置记为
Figure BDA00028258506100001958
Figure BDA00028258506100001959
表示位于支撑层的第四个采样点；所述
Figure BDA00028258506100001960
的位置记为
Figure BDA00028258506100001961
步骤二，利用荧光设备对轮椅进行表面缺陷获取；
步骤21，分别对轮椅的六个面进行荧光图像信息采集；
采用荧火设备对被测对象轮椅的六个面(如图2A、图2B所示)进行荧光拍照，分别得到：
对轮椅的前视面进行拍照，得到前视－荧光照片YG前视。
对轮椅的后视面进行拍照，得到后视－荧光照片YG后视。
对轮椅的左视面进行拍照，得到左视－荧光照片YG左视。
对轮椅的右视面进行拍照，得到右视－荧光照片YG右视。
对轮椅的俯视面进行拍照，得到俯视－荧光照片YG俯视。
对轮椅的仰视面进行拍照，得到仰视－荧光照片YG仰视。
步骤22，比较六个面的荧光图像，得到轮椅的表面缺陷信息；
通过对照片YG前视、YG后视、YG左视、YG右视、YG俯视和YG仰视的分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的荧光区域采样点集，简称为荧光－缺陷集合，记为YG缺陷，且
Figure BDA0002825850610000201
步骤三，利用X射线设备对轮椅进行表面－内部缺陷获取；
在本发明中，利用X射线设备按照四个方向进行扫描，一方面是为判断出轮椅内部是否存在有缺陷，另一方面是在相对方向上扫描，能获取因为缺陷尺寸相对较小而被尺寸相对较大的缺陷覆盖的小尺寸缺陷信息。
参见图3所示的X射线检测示意图，被测对象轮椅是放置在双轨道上的，双轨道相对于X射线设备能够完成前后移动的。利用X射线设备获取的图像如图3A所示。
步骤301，从前视图向后视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤301A，将被测对象轮椅的前视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到前视面的X射线图PXS前-后。
步骤301B，通过对X射线图PXS前-后进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为前视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000202
且
Figure BDA0002825850610000203
采样点
Figure BDA0002825850610000204
与采样点
Figure BDA0002825850610000205
的Y轴和Z轴是相同的，采样点
Figure BDA0002825850610000206
属于中间层的内部缺陷。
采样点
Figure BDA0002825850610000207
与采样点
Figure BDA0002825850610000208
的X轴和Z轴是相同的，采样点
Figure BDA0002825850610000209
属于中间层的内部缺陷。
采样点
Figure BDA00028258506100002010
与采样点
Figure BDA00028258506100002011
的Y轴和Z轴是相同的，采样点
Figure BDA00028258506100002012
属于支撑层的内部缺陷。
步骤301C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为前视面的内部缺陷集合，记为
Figure BDA00028258506100002013
且
Figure BDA00028258506100002014
步骤302，从后视图向前视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤302A，将被测对象轮椅的后视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到后视面的X射线图PXS后-前。
步骤302B，通过对X射线图PXS后-前进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为后视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000211
且
Figure BDA0002825850610000212
步骤302C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为后视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000213
且
Figure BDA0002825850610000214
步骤302D，将步骤301C获得的
Figure BDA0002825850610000215
与步骤302C获得的
Figure BDA0002825850610000216
求并集，得到前视图与后视图配对的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000217
且
Figure BDA0002825850610000218
步骤302E，对比前视面的X射线图PXS前-后与后视面的X射线图PXS后-前；
(B)，发现前视面的X射线图PXS前-后中采样点
Figure BDA0002825850610000219
与
Figure BDA00028258506100002110
中采样点
Figure BDA00028258506100002111
的能量载体的厚度是相同的，从而判断出采样点
Figure BDA00028258506100002112
是伪缺陷采样点，即
Figure BDA00028258506100002113
步骤303，从左视图向右视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤303A，将被测对象轮椅的左视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到左视面的X射线图PXS左-右。
步骤303B，通过对X射线图PXS左-右进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为左视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100002114
且
Figure BDA00028258506100002115
步骤303C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为左视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100002116
且
Figure BDA00028258506100002117
步骤304，从右视图向左视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤304A，将被测对象轮椅的右视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到右视面的X射线图PXS右-左。
步骤304B，通过对X射线图PXS右-左进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为右视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100002118
且
Figure BDA00028258506100002119
步骤304C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为右视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100002120
且
Figure BDA00028258506100002121
步骤304D，将步骤303C获得的
Figure BDA0002825850610000221
与步骤304C获得的
Figure BDA0002825850610000222
求并集，得到左右配对内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure BDA0002825850610000223
且
Figure BDA0002825850610000224
步骤304E，对比左视面的X射线图PXS左-右与右视面的X射线图PXS右-左；
(A)，发现在右视面的X射线图PXS右-左中采样点
Figure BDA0002825850610000225
与
Figure BDA0002825850610000226
中采样点
Figure BDA0002825850610000227
的能量载体的厚度是相同的，但是，在左视面的X射线图PXS左-右中采样点
Figure BDA0002825850610000228
与
Figure BDA0002825850610000229
中采样点
Figure BDA00028258506100002210
的能量载体的厚度是不相同的，从而判断出采样点
Figure BDA00028258506100002211
是被采样点
Figure BDA00028258506100002212
覆盖的小尺寸缺陷采样点，简称为左右配对扫描重合采样点集合，记为
Figure BDA00028258506100002213
且
Figure BDA00028258506100002214
(B)，发现右视面的X射线图PXS右-左中采样点
Figure BDA00028258506100002215
与
Figure BDA00028258506100002216
中采样点
Figure BDA00028258506100002217
的能量载体的厚度是相同的，从而判断出采样点
Figure BDA00028258506100002218
是伪缺陷采样点，即
Figure BDA00028258506100002219
步骤305，统计内部总缺陷信息；
统计步骤31至步骤34中的内部缺陷对应采样点求并集，
Figure BDA00028258506100002220
Figure BDA00028258506100002221
得到总内部缺陷信息
Figure BDA00028258506100002222
步骤306，统计表面与内部缺陷信息；
统计步骤31至步骤34中的表面与内部缺陷对应采样点求并集，
Figure BDA00028258506100002223
Figure BDA00028258506100002224
得到表面与内部所有缺陷
Figure BDA00028258506100002225
步骤307，统计伪缺陷信息；
统计步骤32和步骤34中的伪缺陷对应采样点求并集，
Figure BDA00028258506100002226
求并集，得到总伪缺陷信息
Figure BDA00028258506100002227
步骤308，统计重合的缺陷信息；
统计步骤32和步骤34中的重合缺陷信息对应采样点求并集，
Figure BDA0002825850610000231
得到小尺寸缺陷被大尺寸缺陷覆盖的信息，记为
Figure BDA0002825850610000232
步骤309，去除伪缺陷信息；
统计分析步骤31至步骤34中的X射线图，然后依据
Figure BDA0002825850610000233
从
Figure BDA0002825850610000234
中去除伪缺陷信息对应采样点后，得到X射线－缺陷对应采样点集合XS缺陷，且
Figure BDA0002825850610000235
步骤310，获取荧光缺陷与X射线缺陷的并集信息；
YG缺陷∪XS缺陷＝DC缺陷，且
Figure BDA0002825850610000236
DC缺陷表示轮椅表面与内部所有缺陷的采样点。荧光－缺陷集合
Figure BDA0002825850610000237
在本发明中使用的声发射仪2选取美国PAC公司生产的DiSP声发射系统，该系统中的每通道高达2MHz信号采样率，声发射仪2中自备有A/D转换器。声发射仪2至少包含有用于进行参数设置的数据参数设置模块以及用于显示定位图形的显示屏。
通过声发射仪2的数据参数设置模块设置的关联参数有：采样频率(单位kHz)、距离能量门槛值(单位电压乘以时间，电压是伏，时间是毫秒)，在本发明中初始设置的参数为：采样频率为2，能量门槛值为1。
步骤四，采用声发射换能器获取各个采样点的距离能量、距离有效值电压、波形频率耦合的双谱；
在本发明中，以声发射换能器的传感范围设置声发射换能器的个数，即20厘米～200厘米设置1个。在实施例1中，轮椅按照分的四层进行布局，即在底层2布置1个、在中间层1布置1个、在后背层3布置1个和在支撑层4布置1个。
参见图2A、图2B所示的采样点的布局，并结合内部缺陷对应的采样点
Figure BDA0002825850610000238
分别记录下各自的声发射换能器信息如表2。
表2采样点的声发射换能器信息
Figure BDA0002825850610000241
注：EA为距离能量值，EB为距离有效值电压值，EC为波形频率耦合的双谱值，RMS表示距离有效值电压，BPO表示波形频率耦合的双谱。
采样点
Figure BDA0002825850610000242
的三元组信息，记为
Figure BDA0002825850610000243
且
Figure BDA0002825850610000244
其中，
Figure BDA0002825850610000245
表示采样点
Figure BDA0002825850610000246
的距离能量，
Figure BDA0002825850610000247
表示采样点
Figure BDA0002825850610000248
的距离有效值电压，
Figure BDA0002825850610000249
表示采样点
Figure BDA00028258506100002410
的波形频率耦合的双谱。同理可得属于中间层1的其余采样点的声发射换能器信息。
采样点
Figure BDA00028258506100002411
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100002412
且
Figure BDA00028258506100002413
其中，
Figure BDA00028258506100002414
表示采样点
Figure BDA00028258506100002415
的距离能量，
Figure BDA00028258506100002416
表示采样点
Figure BDA00028258506100002417
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100002418
表示采样点
Figure BDA00028258506100002419
的波形频率耦合的双谱。同理可得属于底层4中的其余采样点的声发射换能器信息。
采样点
Figure BDA00028258506100002420
的三元组信息，记为
Figure BDA00028258506100002421
且
Figure BDA00028258506100002422
其中，
Figure BDA00028258506100002423
表示采样点
Figure BDA0002825850610000251
的距离能量，
Figure BDA0002825850610000252
表示采样点
Figure BDA0002825850610000253
的距离有效值电压，
Figure BDA0002825850610000254
表示采样点
Figure BDA0002825850610000255
的波形频率耦合的双谱。同理可得属于后背层3中的其余采样点的声发射换能器信息。
采样点
Figure BDA0002825850610000256
的三元组信息，记为
Figure BDA0002825850610000257
且
Figure BDA0002825850610000258
其中，
Figure BDA0002825850610000259
表示采样点
Figure BDA00028258506100002510
的距离能量，
Figure BDA00028258506100002511
表示采样点
Figure BDA00028258506100002512
的距离有效值电压，
Figure BDA00028258506100002513
表示采样点
Figure BDA00028258506100002514
的波形频率耦合的双谱。同理可得属于底层4中的其余采样点的声发射换能器信息。
步骤41，获取表面与内部缺陷的声发射信息；
在本发明中，记录下所有采样点的声发射换能器信息，记为AEIALL，且
Figure BDA00028258506100002515
此处的所有采样点指的是步骤一获得的表面采样点集合
Figure BDA00028258506100002516
与步骤306获得的表面与内部所有缺陷
Figure BDA00028258506100002517
的并集。
Figure BDA00028258506100002518
表示位于中间层的第一个采样点
Figure BDA00028258506100002519
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002520
表示位于中间层的第二个采样点
Figure BDA00028258506100002521
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002522
表示位于中间层的第三个采样点
Figure BDA00028258506100002523
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002524
表示位于中间层的第四个采样点
Figure BDA00028258506100002525
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002526
表示位于中间层的第五个采样点
Figure BDA00028258506100002527
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002528
表示位于中间层的第六个采样点
Figure BDA00028258506100002529
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002530
表示位于中间层的第一个对应采样点
Figure BDA00028258506100002531
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002532
表示位于中间层的第二个对应采样点
Figure BDA00028258506100002533
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002534
表示位于底层的第一个采样点
Figure BDA00028258506100002535
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002536
表示位于底层的第二个采样点
Figure BDA00028258506100002537
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002538
表示位于底层的第三个采样点
Figure BDA00028258506100002539
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002540
表示位于底层的第四个采样点
Figure BDA00028258506100002541
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002542
表示位于底层的第五个采样点
Figure BDA00028258506100002543
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002544
表示位于后背层的第一个采样点
Figure BDA00028258506100002545
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002546
表示位于后背层的第二个采样点
Figure BDA00028258506100002547
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002548
表示位于后背层的第三个采样点
Figure BDA00028258506100002549
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002550
表示位于后背层的第四个采样点
Figure BDA00028258506100002551
的声发射换能器信息。
Figure BDA0002825850610000261
表示位于后背层的第五个采样点
Figure BDA0002825850610000262
的声发射换能器信息。
Figure BDA0002825850610000263
表示位于支撑层的第一个采样点
Figure BDA0002825850610000264
的声发射换能器信息。
Figure BDA0002825850610000265
表示位于支撑层的第二个采样点
Figure BDA0002825850610000266
的声发射换能器信息。
Figure BDA0002825850610000267
表示位于支撑层的第三个采样点
Figure BDA0002825850610000268
的声发射换能器信息。
Figure BDA0002825850610000269
表示位于支撑层的第四个采样点
Figure BDA00028258506100002610
的声发射换能器信息。
Figure BDA00028258506100002611
表示位于支撑层的第一个对应采样点
Figure BDA00028258506100002612
的声发射换能器信息。
步骤42，去除伪缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤307获得的
Figure BDA00028258506100002613
从
Figure BDA00028258506100002614
中去除伪缺陷采样点的三元组信息，得到去伪声发射信息集合
Figure BDA00028258506100002615
步骤43，获取缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤310获得的
Figure BDA00028258506100002616
从
Figure BDA00028258506100002617
中去除正常采样点，得到突发性声发射信息集合
Figure BDA00028258506100002618
步骤五，基于波形频率耦合的早期缺陷的声发射双谱信息获取；
采用双谱分析软件分析得到两种类型的波形频率耦合的双谱，如图5A、图5B所示。图5A所示的单峰信号在187.5kHz处达到峰值，之后急剧下降直至噪声水平。而多峰信号在130kHz和200kHz处有两个主峰(如图5B所示)。
参见图5A、图5B所示，以归一化双频率为纵坐标，以频率为横坐标，构建直角坐标系。
本发明中可以应用三种手段对
Figure BDA0002825850610000271
进行双谱(EC)分析，得到早期缺陷声发射信息的采样点集。
第一种，通过计算峰的数量，当
Figure BDA0002825850610000272
中有双峰存在，则为存在有峰数量早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000273
且
Figure BDA0002825850610000274
第二种，通过计算峰的占比，以50％为一划界，对
Figure BDA0002825850610000275
中大于50％的双峰占比的早期缺陷声发射信息，作为双峰占比的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000276
且
Figure BDA0002825850610000277
第三种，通过计算损伤度频率平均值，以120kHz为一划界，对
Figure BDA0002825850610000278
中损伤度频率平均值小于120kHz的早期缺陷声发射信息，作为损伤度的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA0002825850610000279
且
Figure BDA00028258506100002710
在本发明中，所述双谱早期缺陷分类条件是指任意一采样点的双峰占比大于50％时损伤度频率平均值小于120kHz，即B双峰>50％且B损伤度<120kHz。
步骤六，基于距离能量的早期缺陷的声发射信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离能量，构件直角坐标系，如图6A所示。
参见图6A所示的距离能量构件早期缺陷分类条件图，图中在脉冲声发射信号距离能量1000V·μs的值为一划界(即距离能量阈值EA阈值)，位于1000V·μs之上的为正常采样点信息，而位于1000V·μs之下的或等于1000V·μs的为具有缺陷的采样点信息。
步骤61，以脉冲声发射距离能量阈值EA阈值为基准，获取突发采样点；
将
Figure BDA00028258506100002711
进行距离能量与采集时间的坐标构建，然后采用距离能量(EA)早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，通过距离能量阈值EA阈值分类条件定性判断出存在有早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure BDA00028258506100002712
且
Figure BDA0002825850610000281
步骤62，判断对称视图面上采样点隐藏的小尺寸突发信息；
依据步骤308获得的
Figure BDA0002825850610000282
从
Figure BDA0002825850610000283
中找出重合缺陷信息对应采样点，则
Figure BDA0002825850610000284
如图6B所示，根据距离能量值可以判断出，采样点
Figure BDA0002825850610000285
和
Figure BDA0002825850610000286
的尺寸依次减小，由于
Figure BDA0002825850610000287
点的尺寸比
Figure BDA0002825850610000288
点的尺寸小，当用X射线检测的时候，
Figure BDA0002825850610000289
点被
Figure BDA00028258506100002810
点覆盖了，而用声发射可以明确将小尺寸
Figure BDA00028258506100002811
点缺陷分类检测出来。
在本发明中，距离能量(EA阈值)早期缺陷分类条件是指任意一采样点的距离能量小于或等于1000V·μs。
步骤七，基于距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离有效值电压，构建直角坐标系，如图7A所示。
参见图7A所示的早期缺陷距离有效值电压图，轮椅构件在脉冲声发射距离有效值电压随持续时间的变化。图中以0.02V为一划界(即距离有效值电压阈值EB阈值)。位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息。
步骤71，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取突发采样点；
将
Figure BDA00028258506100002812
进行距离有效值电压与采集时间的坐标系构建，然后采用距离有效值电压(EB)早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息
Figure BDA00028258506100002813
步骤72，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure BDA00028258506100002814
从
Figure BDA00028258506100002815
中找出重合缺陷信息对应采样点，则
Figure BDA00028258506100002816
如图7B所示，根据距离有效值电压值可以判断出，采样点
Figure BDA00028258506100002817
和
Figure BDA00028258506100002818
的尺寸依次减小，由于
Figure BDA00028258506100002819
点的尺寸比
Figure BDA00028258506100002820
点的尺寸小，当用X射线检测的时候，
Figure BDA00028258506100002821
点被
Figure BDA00028258506100002822
点覆盖了，而用声发射可以明确将小尺寸
Figure BDA00028258506100002823
点缺陷分类检测出来。
在本发明中，所述距离有效值电压的早期缺陷是指在相同的持续时间下，存在任意一采样点的距离有效值电压值都小于或等于0.02V。
步骤八，基于距离能量和距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标分别为声发射突发信息中的距离能量与距离有效值电压，构建直角坐标系，距离有效值电压记为RMS，如图8所示。
参见图8所示的早期缺陷距离能量与距离有效值电压图，轮椅构件在脉冲声发射距离能量与距离有效值电压对持续时间的变化。图中距离能量与距离有效值电压分别以1000V·μs和0.02V为一划界(EA阈值,EB阈值)。位于1000V·μs以上且同时位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于1000V·μs以下或等于1000V·μs且同时位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息。
步骤81，以脉冲声发射距离能量阈值EA阈值和距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取突发采样点；
将
Figure BDA0002825850610000291
进行距离能量、距离有效值电压与采集时间坐标系构建，然后采用距离能量和距离有效值电压(EAEB)早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息对应采样点
Figure BDA0002825850610000292
步骤82，以脉冲声发射距离能量阈值EA阈值和距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure BDA0002825850610000293
从
Figure BDA0002825850610000294
中找出重合缺陷信息对应采样点，记为
Figure BDA0002825850610000295
在图8中根据距离能量和距离有效值电压值可以判断出，
Figure BDA0002825850610000296
和
Figure BDA0002825850610000297
的尺寸点的尺寸依次减小，由于
Figure BDA0002825850610000298
点的尺寸太小，当用X射线检测的时候，被
Figure BDA0002825850610000299
点覆盖了，而用声发射可以明确将小尺寸
Figure BDA00028258506100002910
点缺陷分类检测出来。
在本发明中，将荧光、X射线与声发射参数的方法进行结合，对未在役轮椅早期缺陷进行检测，并对早期缺陷的有无、位置及大小进行了评估。应用声发射参数波形频率耦合的双谱、距离能量和距离有效值电压分别对缺陷的位置及大小进行判断，发现结果是一样的，这充分肯定了本发明检测缺陷方法的可靠性与有效性。
早期缺陷识别检出率、表征误差
本发明的三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法简称为DES方法。
在本发明中，早期缺陷尺寸(Q，单位：mm)分为三类，第一类指的是早期缺陷尺寸为5＜Q一＜10，简称为第一类早期缺陷尺寸Q一；第二类指的是早期缺陷尺寸为1＜Q二≤5，简称为第二类早期缺陷尺寸Q二；第三类指的是早期缺陷尺寸为0.2≤Q三≤1，简称为第三类早期缺陷尺寸Q三。
在本发明中，由于实际缺陷个数与早期缺陷尺寸的类型是相关的，存在于第一类早期缺陷尺寸5＜Q一＜10的个数，记为
Figure BDA00028258506100002911
上角标U为第一类实际缺陷个数的标示号。存在于第二类早期缺陷尺寸1＜Q二≤5的个数，记为
Figure BDA00028258506100002912
上角标V为第二类实际缺陷个数的标示号。存在于第三类早期缺陷尺寸0.2≤Q三≤1的个数，记为
Figure BDA00028258506100002913
上角标W为第三类实际缺陷个数的标示号。
在本发明中，早期缺陷识别检出率记为
Figure BDA00028258506100002914
其中：EDD表示早期缺陷识别检出率；ND表示应用检测手段(荧光、X射线、声发射和DES方法)对被检对象进行检测得到的早期缺陷点个数；AND表示解剖后用千分尺和扫描电镜对被检对象进行检测得到的实际缺陷点个数。
表3不同范围尺度的早期缺陷检出率
Figure BDA0002825850610000301
经本发明的DES方法检测得到的早期缺陷识别检出率EDD是取三类早期缺陷尺寸范围检出率的平均值。
在本发明中，早期缺陷表征误差记为
Figure BDA0002825850610000302
其中：DCE表示早期缺陷表征误差；DC表示应用检测手段(荧光、X射线、声发射和3DES)对被检对象进行检测得到的早期缺陷尺寸；AMD表示解剖后用千分尺和扫描电镜对被检对象进行检测得到的实际缺陷尺寸。
表4早期缺陷尺寸Q一的表征误差
Figure BDA0002825850610000311
表5早期缺陷尺寸Q二的表征误差
Figure BDA0002825850610000321
表6早期缺陷尺寸Q三的表征误差
Figure BDA0002825850610000331
Figure BDA0002825850610000341
经本发明的DES方法检测后得到的早期缺陷表征误差为
Figure BDA0002825850610000342
本发明的DES方法检测的Q一类早期缺陷表征误差
Figure BDA0002825850610000343
是取Q一类中早期缺陷表征误差的平均值，Q二类早期缺陷表征误差
Figure BDA0002825850610000344
是取Q二类中早期缺陷表征误差的平均值，Q三类早期缺陷表征误差
Figure BDA0002825850610000345
是取Q三类中早期缺陷表征误差的平均值。
本发明的DES方法检测的早期缺陷表征误差DCE是取Q一类、Q二类和Q三类早期缺陷表征误差总和的平均值，即
Figure BDA0002825850610000346

Claims (4)

1.一种三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法，其特征在于：三维空间多项容错早期缺陷检测装置由荧光采集子系统(11)、X光射线采集子系统(12)、声发射采集子系统(2)、图像采集卡(1)和存储有DES方法的计算机(3)构成；
DES方法是指采用Matlab R2014a开发工具和Micosoft Visual Studio 2012开发工具开发的三维空间多项容错早期缺陷检测表征的软件程序；
荧光采集子系统(11)和X光射线采集子系统(12)采集的图像信息经图像采集卡(1)输出给存储有DES方法的计算机(3)中；
声发射采集子系统(2)包括有声发射仪(21)、前置放大器(22)和声发射换能器(23)；声发射仪(21)用于采集轮椅上各个采样点的突发型信息；前置放大器(22)用于将每一个所述声发射仪输出的突发型信息进行40dB放大处理形成声发射放大信息；声发射换能器(23)用于将所述声发射放大信息进行A/D转换处理后，提取出针对所述每一路的声发射放大信息的数字突发型信息AEIALL输出给存储有DES方法的计算机(3)；数字突发型信息中包含有距离能量、距离有效值电压和波形频率耦合的双谱的三个参数；
荧光采集子系统(11)与X光射线采集子系统(12)通过电缆连接到图像采集卡(1)上；声发射前置放大器(22)通过电缆分别与声发射仪(21)的输出端和声发射换能器(23)的输入端连接；图像采集卡(1)的信号输出端和声发射换能器(23)的信号输出端通过R323串口连接在计算机的串口上；
DES方法包括有下列步骤：
步骤一，在轮椅上标记采样点，并记录下采样点的位置；
在实物空间的轮椅上标记多个采样点，并记录下每个采样点的位置；
将实物空间的轮椅软件化至轮椅模型中；在轮椅模型坐标系O-XYZ下，标记出每个采样点位置对应在轮椅模型上的位置；
采样点按照轮椅模型的分层分别进行记录；
位于中间层的多个采样点构成的中间层－采样点集合记为
Figure FDA0003249421690000011
位于底层的多个采样点构成的底层－采样点集合记为
Figure FDA0003249421690000012
位于后背层的采样点构成的后背层－采样点集合记为
Figure FDA0003249421690000013
位于支撑层的采样点构成的支撑层－采样点集合记为
Figure FDA0003249421690000014
则轮椅上表面布置的所有采样点构成了表面采样点集合
Figure FDA0003249421690000015
MPAA表示中间层－采样点集合；上角标AA表示中间层的标识；
P1 AA表示位于中间层的第一个采样点；所述P1 AA的位置记为
Figure FDA0003249421690000016
Figure FDA0003249421690000017
表示位于中间层的第二个采样点；所述
Figure FDA0003249421690000018
的位置记为
Figure FDA0003249421690000019
Figure FDA00032494216900000110
表示位于中间层的任意一个采样点；下角标a表示位于中间层的采样点的标识号；所述
Figure FDA00032494216900000111
的位置记为
Figure FDA00032494216900000112
Figure FDA00032494216900000113
表示位于中间层的最后一个采样点；下角标A表示位于中间层的采样点的总个数；a∈A；所述
Figure FDA00032494216900000114
的位置记为
Figure FDA00032494216900000115
MPBB表示底层－采样点集合；上角标BB表示底层的标识；
P1 BB表示位于底层的第一个采样点；所述P1 BB的位置记为
Figure FDA0003249421690000021
Figure FDA0003249421690000022
表示位于底层的第二个采样点；所述
Figure FDA0003249421690000023
的位置记为
Figure FDA0003249421690000024
Figure FDA0003249421690000025
表示位于底层的任意一个采样点；下角标b表示位于底层的采样点的标识号；所述
Figure FDA0003249421690000026
的位置记为
Figure FDA0003249421690000027
Figure FDA0003249421690000028
表示位于底层的最后一个采样点；下角标B表示位于底层的采样点的总个数；b∈B；所述
Figure FDA0003249421690000029
的位置记为
Figure FDA00032494216900000210
MPCC表示后背层－采样点集合；上角标CC表示后背层的标识；
P1 CC表示位于后背层的第一个采样点；所述P1 CC的位置记为
Figure FDA00032494216900000211
Figure FDA00032494216900000212
表示位于后背层的第二个采样点；所述
Figure FDA00032494216900000213
的位置记为
Figure FDA00032494216900000214
Pc CC表示位于后背层的任意一个采样点；下角标c表示位于后背层的采样点的标识号；所述Pc CC的位置记为
Figure FDA00032494216900000215
Figure FDA00032494216900000216
表示位于后背层的最后一个采样点；下角标C表示位于后背层的采样点的总个数；c∈C；所述
Figure FDA00032494216900000217
的位置记为
Figure FDA00032494216900000218
MPDD表示支撑层－采样点集合；上角标DD表示支撑层的标识；
P1 DD表示位于支撑层的第一个采样点；所述P1 DD的位置记为
Figure FDA00032494216900000219
Figure FDA00032494216900000220
表示位于支撑层的第二个采样点；所述
Figure FDA00032494216900000221
的位置记为
Figure FDA00032494216900000222
Figure FDA00032494216900000223
表示位于支撑层的任意一个采样点；下角标d表示位于支撑层的采样点的标识号；所述
Figure FDA00032494216900000224
的位置记为
Figure FDA00032494216900000225
Figure FDA00032494216900000226
表示位于支撑层的最后一个采样点；下角标D表示位于支撑层的采样点的总个数；d∈D；所述
Figure FDA00032494216900000227
的位置记为
Figure FDA00032494216900000228
步骤二，利用荧光设备对轮椅进行表面缺陷获取；
步骤21，分别对轮椅的六个面进行荧光图像信息采集；
采用荧光设备对被测对象轮椅的六个面分别进行荧光拍照，分别得到：
对轮椅的前视面进行拍照，得到前视－荧光照片YG前视；
对轮椅的后视面进行拍照，得到后视－荧光照片YG后视；
对轮椅的左视面进行拍照，得到左视－荧光照片YG左视；
对轮椅的右视面进行拍照，得到右视－荧光照片YG右视；
对轮椅的俯视面进行拍照，得到俯视－荧光照片YG俯视；
对轮椅的仰视面进行拍照，得到仰视－荧光照片YG仰视；
步骤22，比较六个面的荧光图像，得到轮椅的表面缺陷信息；
通过对照片YG前视、YG后视、YG左视、YG右视、YG俯视和YG仰视的分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的荧光区域采样点集合，简称为荧光－缺陷集合，记为YG缺陷，且
Figure FDA0003249421690000031
Figure FDA0003249421690000032
表示中间层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000033
表示底层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000034
表示后背层中有荧光－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000035
表示支撑层中有荧光－缺陷的采样点集合；
步骤三，利用X射线设备对轮椅进行表面－内部缺陷获取；
步骤301，从前视图向后视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤301A，将被测对象轮椅的前视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到前视面的X射线图PXS前-后；
步骤301B，通过对X射线图PXS前-后进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集合，简称为前视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000036
且
Figure FDA0003249421690000037
步骤301C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为前视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000038
且
Figure FDA0003249421690000039
Figure FDA00032494216900000310
表示轮椅的前视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000311
表示轮椅的前视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000312
表示轮椅的前视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000313
表示轮椅的前视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000314
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000315
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000316
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000317
表示轮椅的前视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤302，从后视图向前视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤302A，将被测对象轮椅的后视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到后视面的X射线图PXS后-前；
步骤302B，通过对X射线图PXS后-前进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为后视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000041
且
Figure FDA0003249421690000042
步骤302C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为后视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000043
且
Figure FDA0003249421690000044
步骤302D，将步骤301C获得的
Figure FDA0003249421690000045
与步骤302C获得的
Figure FDA0003249421690000046
求并集，得到前视图与后视图配对的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000047
且
Figure FDA0003249421690000048
步骤302E，对比X射线图PXS前-后与X射线图PXS后-前；
(A)，发现在后视面的X射线图PXS后-前中采样点与
Figure FDA0003249421690000049
中采样点的能量载体的厚度是相同的，但是，在前视面的X射线图PXS前-后中采样点与
Figure FDA00032494216900000410
中采样点的能量载体的厚度是不相同的，从而判断出
Figure FDA00032494216900000411
中采样点是被PXS前-后中采样点覆盖的小尺寸缺陷采样点，简称为左右配对扫描重合采样点集合，记为
Figure FDA00032494216900000412
且
Figure FDA00032494216900000413
(B)，发现后视面的X射线图PXS后-前中采样点与
Figure FDA00032494216900000414
中采样点的能量载体的厚度是相同的，同时，在前视面的X射线图PXS前-后中采样点与
Figure FDA00032494216900000415
中采样点的能量载体的厚度是相同的，从而判断出
Figure FDA00032494216900000416
中采样点是伪缺陷采样点，简称为前后配对扫描伪缺陷采样点集合，记为
Figure FDA00032494216900000417
且
Figure FDA00032494216900000418
Figure FDA00032494216900000419
表示轮椅的后视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000420
表示轮椅的后视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000051
表示轮椅的后视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000052
表示轮椅的后视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000053
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000054
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000055
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000056
表示轮椅的后视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000057
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000058
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000059
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000510
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000511
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000512
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000513
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000514
表示轮椅经X射线扫描后，前视面与后视面中同时出现的属于支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000515
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于中间层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000516
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于底层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000517
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于后背层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000518
表示轮椅经X射线进行前视面、后视面配对扫描后，获得的属于支撑层的伪缺陷采样点集合；
步骤303，从左视图向右视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤303A，将被测对象轮椅的左视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到左视面的X射线图PXS左-右；
步骤303B，通过对X射线图PXS左-右进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为左视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000061
且
Figure FDA0003249421690000062
步骤303C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为左视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000063
且
Figure FDA0003249421690000064
Figure FDA0003249421690000065
表示轮椅的左视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000066
表示轮椅的左视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000067
表示轮椅的左视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000068
表示轮椅的左视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000069
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000610
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000611
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000612
表示轮椅的左视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤304，从右视图向左视图的方向扫描获取缺陷信息；
步骤304A，将被测对象轮椅的右视面位于X射线光源的前方，对轮椅进行X射线检测，得到右视面的X射线图PXS右-左；
步骤304B，通过对X射线图PXS右-左进行分析，能够明确的观察到被测对象出现缺陷的区域在哪个面的视图上，进而得到缺陷存在的X射线区域采样点集，简称为右视面的X射线－缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA00032494216900000613
且
Figure FDA00032494216900000614
步骤304C，在坐标系O-XYZ中，当一个采样点与另一个采样点存在有某两个轴为相同数值时，则为右视面的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA00032494216900000615
且
Figure FDA00032494216900000616
步骤304D，将步骤303C获得的
Figure FDA0003249421690000071
与步骤304C获得的
Figure FDA0003249421690000072
求并集，得到左视图与右视图配对的内部缺陷对应采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000073
且
Figure FDA0003249421690000074
步骤304E，对比X射线图PXS左-右与X射线图PXS右-左；
(A)，发现在右视面的X射线图PXS右-左中采样点与
Figure FDA0003249421690000075
中采样点的能量载体的厚度是相同的，但是，在左视面的X射线图PXS左-右中采样点与
Figure FDA0003249421690000076
中采样点的能量载体的厚度是不相同的，从而判断出
Figure FDA0003249421690000077
中采样点是被PXS左-右中采样点覆盖的小尺寸缺陷采样点，简称为左右配对扫描重合采样点集合，记为
Figure FDA0003249421690000078
且
Figure FDA0003249421690000079
(B)，发现右视面的X射线图PXS右-左中采样点与
Figure FDA00032494216900000710
中采样点的能量载体的厚度是相同的，同时，在左视面的X射线图PXS左-右中采样点与
Figure FDA00032494216900000711
中采样点的能量载体的厚度是相同的，从而判断出
Figure FDA00032494216900000712
中采样点是伪缺陷采样点，简称为左右配对扫描伪缺陷采样点集合，记为
Figure FDA00032494216900000713
且
Figure FDA00032494216900000714
Figure FDA00032494216900000715
表示轮椅的右视面经X射线扫描后中间层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000716
表示轮椅的右视面经X射线扫描后底层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000717
表示轮椅的右视面经X射线扫描后后背层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000718
表示轮椅的右视面经X射线扫描后支撑层中有X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000719
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000720
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000721
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000722
表示轮椅的右视面经X射线扫描后，支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000723
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于中间层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000081
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于底层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000082
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于后背层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000083
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于支撑层中存在有某两个轴为相同数值的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000084
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000085
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000086
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000087
表示轮椅经X射线扫描后，左视面与右视面中同时出现的属于支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000088
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于中间层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA0003249421690000089
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于底层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000810
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于后背层的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000811
表示轮椅经X射线进行左视面、右视面配对扫描后，获得的属于支撑层的伪缺陷采样点集合；
步骤305，统计内部总缺陷信息；
对步骤31至步骤34中的内部缺陷对应采样点求并集，得到总内部缺陷信息对应采样点，记为
Figure FDA00032494216900000812
即
Figure FDA00032494216900000813
与
Figure FDA00032494216900000814
求并集，得到总内部缺陷信息对应采样点
Figure FDA00032494216900000815
Figure FDA00032494216900000816
表示经X射线扫描后轮椅的中间层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000817
表示经X射线扫描后轮椅的底层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000091
表示经X射线扫描后轮椅的后背层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000092
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层内部存在的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤306，统计表面与内部缺陷信息；
对步骤31至步骤34中的表面与内部缺陷对应采样点求并集，得到表面与内部所有缺陷信息对应采样点，记为ALL_XS缺陷；
即
Figure FDA0003249421690000093
与
Figure FDA0003249421690000094
与
Figure FDA0003249421690000095
与
Figure FDA0003249421690000096
求并集，得到表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure FDA0003249421690000097
Figure FDA0003249421690000098
表示经X射线扫描后轮椅的中间层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA0003249421690000099
表示经X射线扫描后轮椅的底层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000910
表示经X射线扫描后轮椅的后背层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900000911
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤307，统计伪缺陷信息；
对步骤32和步骤34中的伪缺陷对应采样点求并集，得到总伪缺陷信息对应采样点，记为
Figure FDA00032494216900000912
即
Figure FDA00032494216900000913
与
Figure FDA00032494216900000914
求并集，得到总伪缺陷信息对应采样点
Figure FDA00032494216900000915
Figure FDA00032494216900000916
表示经X射线扫描后轮椅的中间层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000917
表示经X射线扫描后轮椅的底层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000918
表示经X射线扫描后轮椅的后背层存在的伪缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900000919
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的伪缺陷采样点集合；
步骤308，统计重合的缺陷信息；
对步骤32和步骤34中的重合缺陷信息对应采样点求并集，得到小尺寸缺陷被大尺寸缺陷覆盖的信息对应采样点，记为
Figure FDA00032494216900000920
即
Figure FDA00032494216900000921
与
Figure FDA0003249421690000101
求并集，得到小尺寸缺陷被大尺寸缺陷覆盖的信息对应采样点，记为
Figure FDA0003249421690000102
Figure FDA0003249421690000103
表示经X射线扫描后轮椅的中间层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure FDA0003249421690000104
表示经X射线扫描后轮椅的底层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure FDA0003249421690000105
表示经X射线扫描后轮椅的后背层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
Figure FDA0003249421690000106
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层中存在有大尺寸覆盖小尺寸的重合采样点集合；
步骤309，去除伪缺陷信息；
统计分析步骤31至步骤34中的X射线图，然后依据
Figure FDA0003249421690000107
从
Figure FDA0003249421690000108
中去除伪缺陷信息对应采样点后，得到X射线－缺陷对应采样点集合XS缺陷，且
Figure FDA0003249421690000109
Figure FDA00032494216900001010
表示经X射线扫描后轮椅的中间层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900001011
表示经X射线扫描后轮椅的底层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900001012
表示经X射线扫描后轮椅的后背层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
Figure FDA00032494216900001013
表示经X射线扫描后轮椅的支撑层中去除伪缺陷采样点的X射线－缺陷的采样点集合；
步骤310，获取荧光缺陷与X射线缺陷的并集信息；
Figure FDA00032494216900001014
所述荧光－缺陷采样点集合
Figure FDA00032494216900001015
所述X射线－缺陷对应采样点集合
Figure FDA00032494216900001016
DC缺陷表示轮椅表面与内部所有缺陷的采样点；
Figure FDA00032494216900001017
表示轮椅的中间层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure FDA00032494216900001018
表示轮椅的底层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure FDA0003249421690000111
表示轮椅的后背层中表面与内部的缺陷采样点集合；
Figure FDA0003249421690000112
表示轮椅的支撑层中表面与内部的缺陷采样点集合；
步骤四，采用声发射换能器获取各个采样点的距离能量、距离有效值电压、波形频率耦合的双谱；
步骤41，获取表面与内部缺陷的声发射信息；
记录下所有采样点的声发射换能器信息，记为三元组信息集合AEIALL；
Figure FDA0003249421690000113
三元组信息是指声发射换能器采集的距离能量值、距离有效值电压值和波形频率耦合的双谱值；
所有采样点是指步骤一获得的表面采样点集合MMP＝{MPAA,MPBB,MPCC,MPDD}与步骤306获得的表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure FDA0003249421690000114
的并集；
第一方面，通过声发射换能器记录下中间层－采样点集合
Figure FDA0003249421690000115
中各个采样点的三元组信息；
第二方面，通过声发射换能器记录下底层－采样点集合
Figure FDA0003249421690000116
中各个采样点的三元组信息；
第三方面，通过声发射换能器记录下后背层－采样点集合
Figure FDA0003249421690000117
中各个采样点的三元组信息；
第四方面，通过声发射换能器记录下支撑层－采样点集合
Figure FDA0003249421690000118
中各个采样点的三元组信息；
第五方面，通过声发射换能器记录下表面与内部所有缺陷信息对应采样点
Figure FDA0003249421690000119
中各个采样点的三元组信息；
经X射线扫描后轮椅的中间层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure FDA00032494216900001110
中所有采样点对应的三元组信息构成了中间层采样点的声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001111
经X射线扫描后轮椅的底层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure FDA00032494216900001112
中所有采样点对应的三元组信息构成了底层采样点的声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001113
经X射线扫描后轮椅的后背层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure FDA00032494216900001114
中所有采样点对应的三元组信息构成了后背层采样点的声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001115
经X射线扫描后轮椅的支撑层存在的X射线－缺陷的采样点集合
Figure FDA00032494216900001116
中所有采样点对应的三元组信息构成了支撑层采样点的声发射信息集合，记为
Figure FDA0003249421690000121
采样点P1 AA的三元组信息，记为
Figure FDA0003249421690000122
且
Figure FDA0003249421690000123
其中，
Figure FDA0003249421690000124
表示采样点P1 AA的距离能量，
Figure FDA0003249421690000125
表示采样点P1 AA的距离有效值电压，
Figure FDA0003249421690000126
表示采样点P1 AA的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA0003249421690000127
的三元组信息，记为
Figure FDA0003249421690000128
且
Figure FDA0003249421690000129
其中，
Figure FDA00032494216900001210
表示采样点
Figure FDA00032494216900001211
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001212
表示采样点
Figure FDA00032494216900001213
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001214
表示采样点
Figure FDA00032494216900001215
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001216
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001217
且
Figure FDA00032494216900001218
其中，
Figure FDA00032494216900001219
表示采样点
Figure FDA00032494216900001220
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001221
表示采样点
Figure FDA00032494216900001222
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001223
表示采样点
Figure FDA00032494216900001224
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001225
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001226
且
Figure FDA00032494216900001227
其中，
Figure FDA00032494216900001228
表示采样点
Figure FDA00032494216900001229
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001230
表示采样点
Figure FDA00032494216900001231
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001232
表示采样点
Figure FDA00032494216900001233
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure FDA00032494216900001234
中各个采样点的三元组信息构成的中间层声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001235
且
Figure FDA00032494216900001236
采样点P1 BB的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001237
且
Figure FDA00032494216900001238
其中，
Figure FDA00032494216900001239
表示采样点P1 BB的距离能量，
Figure FDA00032494216900001240
表示采样点P1 BB的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001241
表示采样点P1 BB的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001242
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001243
且
Figure FDA00032494216900001244
其中，
Figure FDA00032494216900001245
表示采样点
Figure FDA00032494216900001246
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001247
表示采样点
Figure FDA00032494216900001248
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001249
表示采样点
Figure FDA00032494216900001250
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001251
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001252
且
Figure FDA00032494216900001253
其中，
Figure FDA00032494216900001254
表示采样点
Figure FDA00032494216900001255
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001256
表示采样点
Figure FDA00032494216900001257
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001258
表示采样点
Figure FDA00032494216900001259
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001260
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001261
且
Figure FDA00032494216900001262
其中，
Figure FDA00032494216900001263
表示采样点
Figure FDA00032494216900001264
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001265
表示采样点
Figure FDA00032494216900001266
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001267
表示采样点
Figure FDA00032494216900001268
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure FDA00032494216900001269
中各个采样点的三元组信息构成的底层声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001270
且
Figure FDA00032494216900001271
采样点P1 CC的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001272
且
Figure FDA00032494216900001273
其中，
Figure FDA00032494216900001274
表示采样点
Figure FDA00032494216900001275
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001276
表示采样点P1 CC的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001277
表示采样点P1 CC的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA0003249421690000131
的三元组信息，记为
Figure FDA0003249421690000132
且
Figure FDA0003249421690000133
其中，
Figure FDA0003249421690000134
表示采样点
Figure FDA0003249421690000135
的距离能量，
Figure FDA0003249421690000136
表示采样点
Figure FDA0003249421690000137
的距离有效值电压，
Figure FDA0003249421690000138
表示采样点
Figure FDA0003249421690000139
的波形频率耦合的双谱；
采样点Pc CC的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001310
且
Figure FDA00032494216900001311
其中，
Figure FDA00032494216900001312
表示采样点Pc CC的距离能量，
Figure FDA00032494216900001313
表示采样点Pc CC的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001314
表示采样点Pc CC的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001315
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001316
且
Figure FDA00032494216900001317
其中，
Figure FDA00032494216900001318
表示采样点
Figure FDA00032494216900001319
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001320
表示采样点
Figure FDA00032494216900001321
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001322
表示采样点
Figure FDA00032494216900001323
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure FDA00032494216900001324
中各个采样点的三元组信息构成的后背层声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001325
且
Figure FDA00032494216900001326
采样点P1 DD的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001327
且
Figure FDA00032494216900001328
其中，
Figure FDA00032494216900001329
表示采样点P1 DD的距离能量，
Figure FDA00032494216900001330
表示采样点P1 DD的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001331
表示采样点P1 DD的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001332
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001333
且
Figure FDA00032494216900001334
其中，
Figure FDA00032494216900001335
表示采样点
Figure FDA00032494216900001336
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001337
表示采样点
Figure FDA00032494216900001338
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001339
表示采样点
Figure FDA00032494216900001340
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001341
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001342
且
Figure FDA00032494216900001343
其中，
Figure FDA00032494216900001344
表示采样点
Figure FDA00032494216900001345
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001346
表示采样点
Figure FDA00032494216900001347
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001348
表示采样点
Figure FDA00032494216900001349
的波形频率耦合的双谱；
采样点
Figure FDA00032494216900001350
的三元组信息，记为
Figure FDA00032494216900001351
且
Figure FDA00032494216900001352
其中，
Figure FDA00032494216900001353
表示采样点
Figure FDA00032494216900001354
的距离能量，
Figure FDA00032494216900001355
表示采样点
Figure FDA00032494216900001356
的距离有效值电压，
Figure FDA00032494216900001357
表示采样点
Figure FDA00032494216900001358
的波形频率耦合的双谱；
则所述
Figure FDA00032494216900001359
中各个采样点的三元组信息构成的支撑层声发射信息集合，记为
Figure FDA00032494216900001360
且
Figure FDA00032494216900001361
步骤42，去除伪缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤307获得的
Figure FDA00032494216900001362
从三元组信息集合
Figure FDA0003249421690000141
中去除伪缺陷采样点的三元组信息，得到去伪声发射信息集合AEIfalse；
步骤43，获取缺陷采样点的声发射信息；
依据步骤310获得的
Figure FDA0003249421690000142
从去伪声发射信息集合AEIfalse中去除正常采样点，得到突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000143
步骤五，基于波形频率耦合的早期缺陷的声发射双谱信息获取；
以归一化双频率为纵坐标，以频率为横坐标，构建直角坐标系；
应用三种手段对突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000144
进行波形频率耦合的双谱分析，得到早期缺陷声发射信息的采样点集；
第一种，通过计算峰的数量，当突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000145
中有双峰存在，则为存在有峰数量早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure FDA0003249421690000146
第二种，通过计算峰的占比，以50％为一划界，对突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000151
中大于50％的双峰占比的早期缺陷声发射信息，作为双峰占比的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure FDA0003249421690000152
第三种，通过计算损伤度频率平均值，以120kHz为一划界，对突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000153
中损伤度频率平均值小于120kHz的早期缺陷声发射信息，作为损伤度的早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure FDA0003249421690000154
步骤六，基于距离能量的早期缺陷的声发射信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离能量，构件直角坐标系；
在脉冲声发射信号距离能量1000V·μs的值为一划界，位于1000V·μs之上的为正常采样点信息，而位于1000V·μs之下的或等于1000V·μs的为具有缺陷的采样点信息；
步骤61，以脉冲声发射距离能量阈值EA阈值为基准，获取突发采样点；
将突发性声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000155
进行距离能量与采集时间的坐标构建，然后采用距离能量早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，通过距离能量阈值分类条件定性判断出存在有早期缺陷声发射信息的采样点集，记为
Figure FDA0003249421690000156
步骤62，判断对称视图面上采样点隐藏的小尺寸突发信息；
依据步骤308获得的
Figure FDA0003249421690000157
从
Figure FDA0003249421690000158
中找出重合缺陷信息对应采样点，则
Figure FDA0003249421690000159
步骤七，基于距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标为声发射突发信息中的距离有效值电压，构建直角坐标系；
轮椅构件在脉冲声发射距离有效值电压随持续时间的变化；以0.02V为一划界；位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息；
步骤71，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取突发采样点；
将突发声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000161
进行距离有效值电压与采集时间的坐标系构建，然后采用距离有效值电压早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息对应采样点
Figure FDA0003249421690000162
步骤72，以脉冲声发射距离有效值电压阈值EB阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure FDA0003249421690000163
从
Figure FDA0003249421690000164
中找出重合缺陷信息对应采样点，记为
Figure FDA0003249421690000165
步骤八，基于距离能量和距离有效值电压的早期缺陷信息获取；
按照横坐标为采集时间，纵坐标分别为声发射突发信息中的距离能量与距离有效值电压，构建直角坐标系；
轮椅构件在脉冲声发射距离能量与距离有效值电压对持续时间的变化；距离能量与距离有效值电压分别以1000V·μs和0.02V为一划界；位于1000V·μs以上且同时位于0.02V以上的为正常采样点信息，位于1000V·μs以下或等于1000V·μs且同时位于0.02V以下或等于0.02V的为具有缺陷的采样点信息；
步骤81，以脉冲声发射距离能量阈值和距离有效值电压阈值为基准，获取突发采样点；
将突发声发射信息集合
Figure FDA0003249421690000166
进行距离能量、距离有效值电压与采集时间坐标系构建，然后采用距离能量和距离有效值电压早期缺陷分类条件对所述声发射突发信息进行处理，获得早期缺陷声发射信息对应采样点
Figure FDA0003249421690000167
步骤82，以脉冲声发射距离能量阈值和距离有效值电压阈值为基准，获取隐藏的小尺寸突发采样点；
依据步骤308获得的
Figure FDA0003249421690000168
从
Figure FDA0003249421690000169
中找出重合缺陷信息对应采样点，记为
Figure FDA00032494216900001610
2.根据权利要求1所述的三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法，其特征在于：检测后得到的早期缺陷表征误差记为
Figure FDA0003249421690000171
DCEQ一表示第一类早期缺陷尺寸Q一的早期缺陷表征误差的平均值；
DCEQ二表示第二类早期缺陷尺寸Q二的早期缺陷表征误差的平均值；
DCEQ三表示第三类早期缺陷尺寸Q三的早期缺陷表征误差的平均值。
3.根据权利要求1所述的三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法，其特征在于：是对未在役轮椅进行的无损检测。
4.根据权利要求1所述的三维空间多项容错早期缺陷检测表征方法，其特征在于：完成对未在役轮椅进行的无损检测。
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