CN112525492B - 一种用于偏振成像的分辨率板 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及偏振成像领域,特别涉及一种用于偏振成像的分辨率板。以克服传统分辨率板无法选择接收偏振成像系统各种偏振态的光的缺点。本发明采用的技术方案包括透明基板,所述透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,透明基板上分割为四个区域,包括用于测量偏振状态的斯托克斯参数S0的完整镀制低反射率铬膜的区域,还包括镀制用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1、S2和S3的图案区域。
Description
技术领域
本发明涉及偏振成像领域,特别涉及一种用于偏振成像的分辨率板。
背景技术
分辨率测试板,作为测试成像目标以及测量成像系统的分辨率的重要光学器件,在光学领域得到了广泛的应用,已成为业界关注的焦点。分辨率测试板包含确定线宽和间距的参考线图样,可放在与成像物体相同的平面。通过识别最大不可分辨线集确定给定系统的分辨能力。
随着偏振成像技术的发展,偏振成像系统在天文观测、医疗、遥感、军事等领域得到了广泛应用。要想测量偏振成像系统的分辨率,传统的分辨率测试板有其局限性。传统分辨率板包括透明基板,所述透明基板上镀制有分辨率图案,由于传统分辨板上不包含有任何偏振器件,因此无法选择接收偏振成像系统各种偏振态的光。也就无法直接用于测量偏振成像的分辨率。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种用于偏振成像的分辨率板,以克服传统分辨率板无法选择接收偏振成像系统各种偏振态的光的缺点。
为了达到本发明的目的,本发明要提供的技术方案如下:一种用于偏振成像的分辨率板,包括透明基板,所述透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,透明基板上分割为四个区域,包括用于测量偏振状态的斯托克斯参数S0的完整镀制低反射率铬膜的区域,还包括镀制用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1、S2和S3的图案区域。
优选的,上述分辨率基板上叠置水平线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1的偏振成像系统的分辨率。
优选的,上述分辨率基板上叠置45°线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S2的偏振成像系统的分辨率。
优选的,上述分辨率基板上顺序叠置四分之一波片和45°线偏振片并将三者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S3的偏振成像系统的分辨率。
与现有技术相比,本发明的优点是:
1、由于透明基板上增加了水平线偏振片、45°线偏振片或四分之一波片,所以分辨板可以选择接收偏振成像系统的S1、S2和S3的偏振态的光,因此分辨率板可以直接用于测量偏振成像系统的分辨率;
2、两种或者多种组合的分辨率板可以简单同时获取到同一成像物体的不同偏振状态,这大大降低了检测偏振成像系统分辨率的难度,同时提高了测量速度;
3、本发明提供的分辨率板可以用于天文观测、医疗、遥感、军事等多领域的偏振成像系统。
附图说明
图1用于测量S0偏振态系统分辨率的分辨率板示意图;
图2a用于测量S1偏振态系统分辨率的分辨率板示意图主视图;
图2b是图2a的剖视图;
图3a用于测量S2偏振态系统分辨率的分辨率板示意图主视图;
图3b是图3a的剖视图;
图4a用于测量S3偏振态系统分辨率的分辨率板示意图主视图;
图4b是图4a的剖视图;
图5是用于同时测量四种偏振态系统分辨率的分辨率板示意图。
具体实施方式:
下面将结合附图和实施例对本发明进行详细地描述。
一种用于偏振成像的分辨率板,包括透明基板,所述透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,透明基板上分割为四个区域,包括用于测量偏振状态的斯托克斯参数S0的完整镀制低反射率铬膜的区域,还包括镀制用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1、S2和S3的图案区域。所述分辨率基板上叠置水平线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1的偏振成像系统的分辨率。所述分辨率基板上叠置45°线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S2的偏振成像系统的分辨率。所述述分辨率基板上顺序叠置四分之一波片和45°线偏振片并将三者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S3的偏振成像系统的分辨率。
参考图1,本发明的目的在于提供一种用于偏振成像系统分辨率板,在透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,图中的黑色区域为镀低反射率铬膜区域,图中留出透明的图案为新型分辨率测试板的分辨率图案,用于测量S0偏振态的偏振成像系统的分辨率。参考图2,将图1所述的分辨率板的分辨率图案处与水平线偏振片粘接在一起,用于测量S1偏振态的偏振成像系统的分辨率。参考图3,将图1所述的分辨率板的分辨率图案处与45°线偏振片粘接在一起,用于测量S2偏振态的偏振成像系统的分辨率。参考图4,将图1所述的分辨率板的分辨率图案处与45°线偏振片以及四分之一波片粘接在一起,用于测量S3偏振态的偏振成像系统的分辨率。
参考图5,将一块基板分为四部分,每部分都在透明基板上镀低反射率铬膜,留出透明的图案为分辨率测试板的分辨率图案,第一部分镀上分辨率图案;第二部分在镀上分辨率图案之后在分辨率图案一侧粘接水平线偏振片;第三部分在镀上分辨率图案之后在分辨率图案一侧粘接45°线偏振片;第四部分在镀上分辨率图案之后在分辨率图案一侧粘接45°线偏振片以及四分之一波片。用于同时测量偏振成像系统四种偏振态的分辨率。
Claims (1)
1.一种用于偏振成像的分辨率板,包括透明基板,所述透明基板上镀制有带有分辨率图案的低反射率铬膜,透明基板上分割为四个区域,包括用于测量偏振状态的斯托克斯参数S0的完整镀制低反射率铬膜的区域,还包括镀制用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1、S2和S3的图案区域;
分辨率基板上叠置水平线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S1的偏振成像系统的分辨率;
所述分辨率基板上叠置45°线偏振片并将两者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S2的偏振成像系统的分辨率;
所述分辨率基板上顺序叠置四分之一波片和45°线偏振片并将三者粘接在一起,用于测量偏振状态的斯托克斯参数S3的偏振成像系统的分辨率。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202011222263.9A CN112525492B (zh) | 2020-11-05 | 2020-11-05 | 一种用于偏振成像的分辨率板 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011222263.9A CN112525492B (zh) | 2020-11-05 | 2020-11-05 | 一种用于偏振成像的分辨率板 |
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ID=74980641
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---|---|---|---|
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Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112525492B (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7128228B2 (ja) | 2014-06-27 | 2022-08-30 | 日東電工株式会社 | 長尺状の偏光フィルム積層体 |
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---|---|
CN112525492A (zh) | 2021-03-19 |
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PB01 | Publication | ||
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