CN112489597A - 一种amoled显示面板老化补偿方法及其系统装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种AMOLED显示面板老化补偿方法，包括以下步骤：步骤1：获取前段像素灰阶值G，计算补偿后的灰阶G'；步骤2：输出所述灰阶G'到面板显示；步骤3：计算所述灰阶G'的亮度LG′的n次方S；步骤4：读取存储器RAM内存储的亮度n次方累加值Bn‑1,与S进行累加计算得到亮度n次方的累加值Bn,将Bn存储到存储器RAM中；步骤5：从存储器RAM中读取步骤4过程中计算的所述累加值Bn，计算并更新补偿系数K；步骤6：重复步骤1，本发明通过对灰阶的老化补偿，有效减缓了显示屏亮度的衰减。

Description

一种AMOLED显示面板老化补偿方法及其系统装置
技术领域
本发明涉及一种AMOLED显示面板老化补偿方法及其系统装置。
背景技术
AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode)显示技术具有高色域范围，高对比度，宽视角和快速的响应速度等优点。AMOLED显示技术已经广泛的应用到可穿戴设备，移动手机，TV等产品，未来在柔性及透明产品上也会有很大的应用空间。AMOLD显示技术与LCD不同，每一个子像素在电流驱动下可以自主发光，不需要背光，所以在对比度及色彩表现上会明显优于LCD，但是由于子像素使用的是有机发光材料，即使驱动电压不变，长时间使用后亮度也会减小，造成烙印(burn in)产生。尽管很多研究提出了效率更高，寿命更长的电致发光器件(EL Device)，但亮度衰减依然无法避免。因此有效的老化补偿算法对于AMOLED显示技术是非常重要的。
发明内容
为解决上述问题，提供一种有效的对显示屏进行老化补偿的AMOLED显示面板老化补偿方法及其系统装置，本发明的技术方案是：
一种AMOLED显示面板老化补偿方法，包括以下步骤：
步骤1：获取前段像素灰阶值G，根据下面公式计算补偿后的灰阶G'
G’＝K*G；
K为补偿系数；
步骤2：输出所述灰阶G'到面板显示；
步骤3：计算所述灰阶G'的亮度LG′的n次方S，n是与温度相关的参数；
步骤4：读取存储器RAM内存储的亮度n次方累加值Bn-1,与步骤3所得的所述亮度LG′的n次方S进行累加计算得到亮度n次方的累加值Bn,将所述累加值Bn存储到存储器RAM中，所述Bn-1为上次循环中步骤4所得到的亮度n次方的累加值。
步骤5：从存储器RAM中读取步骤4过程中计算的所述累加值Bn，计算并更新补偿系数K；
步骤6：重复步骤1。
作为优选的技术方案，所述步骤3中：所述亮度LG′的n次方S的计算公式为：
Figure BDA0002787251290000021
其中：γ为Gamma校正后对应的Gamma值；
根据灰阶与亮度的n次方关系建立LUT1
LUT1:[Sa,Sb,Sc……Sn]＝[f1(Ga),f1(Gb),f1(Gc)……f1(Gn)]
其中X＝[Ga,Gb,Gc……Gn]表示选择的绑点值，Y＝[Sa,Sb,Sc……Sn]是对应的输出值。
作为优选的技术方案，将所述LUT1采用拟合方法得到连续函数。
作为优选的技术方案，所述拟合方法为线性内插法。
作为优选的技术方案，步骤5中所述补偿系数K的计算公式为：
Figure BDA0002787251290000022
其中：P(t)是与一帧画面显示时间t相关的常数，m是与制程工艺及OLED材料等相关的常数；
根据亮度n次方的累加值Bn与补偿系数K的关系建立LUT2
LUT2:[K0,K1,K2……Kn]＝[f2(B0),f2(B1),f2(B2)……f2(Bn)]
其中X＝[B0,B1,B2……Bn]表示选择的绑点值，Y＝[K0,K1,K2……Kn]是对应的输出值。
作为优选的技术方案，将所述LUT2采用拟合方法得到连续函数。
作为优选的技术方案，所述拟合方法为线性内插法。
一种AMOLED显示面板老化补偿系统装置，包括输入单元、补偿单元、统计单元、存储单元和显示单元；
所述输入单元：用于输入R_in，G_in，B_in的值；
所述补偿单元：根据存储单元的数据计算出所述输入单元输入的R_in，G_in，B_in补偿后的值做为输出R_out,G_out,B_out的值；
所述统计单元：累加统计每帧画面实际显示的每个子像素对应的亮度的n次方；
所述存储单元：存储统计单元统计的数据，实时更新给补偿单元和统计单元；
所述输出单元：用于输出所述补偿单元补偿后的R_out,G_out,B_out的值。
由于采用了上述技术方案，一种AMOLED显示面板老化补偿方法，包括以下步骤：
步骤1：获取前段像素灰阶值G，根据下面公式计算补偿后的灰阶G'
G’＝K*G；
K为补偿系数；
步骤2：输出所述灰阶G'到面板显示；
步骤3：计算所述灰阶G'的亮度LG′的n次方S，n是与温度相关的参数；
步骤4：读取存储器RAM内存储的亮度n次方累加值Bn-1,与步骤3所得的所述亮度LG′的n次方S进行累加计算得到亮度n次方的累加值Bn,将所述累加值Bn存储到存储器RAM中，所述Bn-1为上次循环中步骤4所得到的亮度n次方的累加值。
步骤5：从存储器RAM中读取步骤4过程中计算的所述累加值Bn，计算并更新补偿系数K；
步骤6：重复步骤1；
通过本发明对AMOLED显示面板进行有效的老化补偿，减缓亮度衰减。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的一种AMOLED显示面板老化补偿方法流程示意图；
图2是采用本发明实施例的有补偿和无补偿亮度衰减对比；
图3是本发明实施例的一种AMOLED显示面板化补偿系统装置的结构示意图。
具体实施方式
实施例：如图1至3所示，
一种AMOLED显示面板老化补偿方法，包括以下步骤：
步骤1：获取前段像素灰阶值G，根据下面公式计算补偿后的灰阶G'
G’＝K*G；
K为补偿系数；
步骤2：输出灰阶G'到面板显示；
步骤3：计算灰阶G'的亮度LG′的n次方S，n是与温度相关的参数；
步骤4：读取存储器RAM内存储的亮度n次方累加值Bn-1,与步骤3所得的亮度LG′的n次方S进行累加计算得到亮度n次方的累加值Bn,将累加值Bn存储到存储器RAM中，Bn-1为上次循环中步骤4所得到的亮度n次方的累加值。
步骤5：从存储器RAM中读取步骤4过程中计算的累加值Bn，计算并更新补偿系数K；
步骤6：重复步骤1。
步骤3中：亮度LG′的n次方S的计算公式为：
Figure BDA0002787251290000051
其中：γ为Gamma校正后对应的Gamma值；
根据灰阶与亮度的n次方关系建立LUT1
LUT1:[Sa,Sb,Sc……Sn]＝[f1(Ga),f1(Gb),f1(Gc)……f1(Gn)]
其中X＝[Ga,Gb,Gc……Gn]表示选择的绑点值，Y＝[Sa,Sb,Sc……Sn]是对应的输出值。
将LUT1采用拟合方法得到连续函数。
拟合方法为线性内插法，任意输入的灰阶都可以通过LUT1计算得到对应的亮度n次方值。
步骤5中补偿系数K的计算公式为：
Figure BDA0002787251290000061
其中：P(t)是与一帧画面显示时间t相关的常数，m是与制程工艺及OLED材料等相关的常数；
根据亮度n次方的累加值Bn与补偿系数K的关系建立LUT2
LUT2:[K0,K1,K2……Kn]＝[f2(B0),f2(B1),f2(B2)……f2(Bn)]
其中X＝[B0,B1,B2……Bn]表示选择的绑点值，Y＝[K0,K1,K2……Kn]是对应的输出值。
将LUT2采用拟合方法得到连续函数。
拟合方法为线性内插法，任意输入Bn都可以通过LUT2计算得到对应的K值。
一种AMOLED显示面板老化补偿系统装置包括输入单元、补偿单元、统计单元、存储单元和显示单元；
输入单元：用于输入R_in，G_in，B_in的值；
补偿单元：根据存储单元的数据计算出输入单元输入的R_in，G_in，B_in补偿后的值做为输出R_out,G_out,B_out的值；
统计单元：累加统计每帧画面实际显示的每个子像素对应的亮度的n次方；
存储单元：存储统计单元统计的数据，实时更新给补偿单元和统计单元；
输出单元：用于输出补偿单元补偿后的R_out,G_out,B_out的值。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (8)

1.一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：获取前段像素灰阶值G，根据下面公式计算补偿后的灰阶G'
G′＝K*G；
K为补偿系数；
步骤2：输出所述灰阶G'到面板显示；
步骤3：计算所述灰阶G'的亮度LG′的n次方S，n是与温度相关的参数；
步骤4：读取存储器RAM内存储的亮度n次方累加值Bn-1,与步骤3所得的所述亮度LG′的n次方S进行累加计算得到亮度n次方的累加值Bn,将所述累加值Bn存储到存储器RAM中，所述Bn-1为上次循环中步骤4所得到的亮度n次方的累加值。
步骤5：从存储器RAM中读取步骤4过程中计算的所述累加值Bn，计算并更新补偿系数K；
步骤6：重复步骤1。
2.如权利要求1所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于，所述步骤3中：所述亮度LG′的n次方S的计算公式为：
Figure FDA0002787251280000011
其中：γ为Gamma校正后对应的Gamma值；
根据灰阶与亮度的n次方关系建立LUT1
LUT1:[Sa,Sb,Sc……Sn]＝[f1(Ga),f1(Gb),f1(Gc)……f1(Gn)]
其中X＝[Ga,Gb,Gc……Gn]表示选择的绑点值，Y＝[Sa,Sb,Sc……Sn]是对应的输出值。
3.如权利要求2所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于：将所述LUT1采用拟合方法得到连续函数。
4.如权利要求3所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于：所述拟合方法为线性内插法。
5.如权利要求1所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于，步骤5中所述补偿系数K的计算公式为：
Figure FDA0002787251280000021
其中：P(t)是与一帧画面显示时间t相关的常数，m是与制程工艺及OLED材料等相关的常数；
根据亮度n次方的累加值Bn与补偿系数K的关系建立LUT2
LUT2:[K0,K1,K2……Kn]＝[f2(B0),f2(B1),f2(B2)……f2(Bn)]
其中X＝[B0,B1,B2……Bn]表示选择的绑点值，Y＝[K0,K1,K2……Kn]是对应的输出值。
6.如权利要求5所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于：将所述LUT2采用拟合方法得到连续函数。
7.如权利要求6所述的一种AMOLED显示面板老化补偿方法，其特征在于：所述拟合方法为线性内插法。
8.一种AMOLED显示面板老化补偿系统装置，其特征在于：包括输入单元、补偿单元、统计单元、存储单元和显示单元；
所述输入单元：用于输入R_in，G_in，B_in的值；
所述补偿单元：根据存储单元的数据计算出所述输入单元输入的R_in，G_in，B_in补偿后的值做为输出R_out,G_out,B_out的值；
所述统计单元：累加统计每帧画面实际显示的每个子像素对应的亮度的n次方；
所述存储单元：存储统计单元统计的数据，实时更新给补偿单元和统计单元；
所述输出单元：用于输出所述补偿单元补偿后的R_out,G_out,B_out的值。
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