CN112461372B - 高低温中波热像仪netd测试评估装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法。高低温中波热像仪NETD测试评估装置，包括：NETD室温测试模块，用于获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；高低温SiTF预测评估模块，与NETD室温测试模块通信连接，高低温SiTF预测评估模块用于通过修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于室温SiTF，预测高低温SiTF；高低温噪声测试模块，用于为被测热像仪提供不同的环境温度，并与NETD室温测试模块配合作用获取被测热像仪的高低温噪声。采用本发明，通过高低温SiTF预测评估模块可对室温SiTF进行高低温修正，通过高低温噪声测试模块可对被测热像仪实现高低温条件下的噪声测试，该方法成本低，适用于工程化研制中对热像仪NETD高低温环境下的测试与评估。

Description

高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法

技术领域

本发明涉及热像仪领域，尤其涉及一种高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法。

背景技术

热像仪靠目标自身辐射的红外光谱辐射能量进行成像，与可见光CCD相比，具有可穿透烟尘、雾霾的优势，可昼夜使用；与接触式测温方式相比，具有非接触式测量高温的优势。因此，在民用领域广泛使用。NETD是反映红外热像仪灵敏度的重要指标，可用于评价红外热像仪作用距离、测温仪测温精度等性能，是重要的热像仪测试参数。传统的NETD测试设备，主要在室温环境下使用，测试具有一定的局限性。

发明内容

本发明实施例提供一种高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法，用以解决现有技术中NETD测试设备测试的局限性问题。

根据本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置，包括：

NETD室温测试模块，用于获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；

高低温SiTF预测评估模块，与所述NETD室温测试模块通信连接，所述高低温SiTF预测评估模块用于通过修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

高低温噪声测试模块，用于为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并与所述NETD室温测试模块配合作用获取所述被测热像仪的高低温噪声。

根据本发明的一些实施例，所述NETD室温测试模块包括单黑体红外目标源、靶标、离轴平行光管、和显控及采集运算装置，其中，所述单黑体红外目标源、所述靶标、以及所述离轴平行光管用于实现无穷远红外目标源的模拟，所述显控及采集运算装置用于实现对所述单黑体红外目标源和所述靶标的控制以及数据读取、并用于获取所述被测热像仪的图像，以获取所述被测热像仪的室温SiTF和室温噪声。

根据本发明的一些实施例，所述高低温SiTF预测评估模块包括：

背景辐射修正模块，用于修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响；

积分时间修正模块，用于修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化；

大小增益修正模块，用于修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化。

根据本发明的一些实施例，所述高低温噪声测试模块包括：

小型高低温试验箱，用于放置所述被测热像仪并为所述被测热像仪提供不同的环境温度；

噪声测试装置，位于所述小型高低温试验箱中且置于所述被测热像仪的镜头前。

根据本发明的一些实施例，所述噪声测试装置包括均匀挡板。

根据本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估方法，包括：

利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；

利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声；

基于所述高低温SiTF和所述高低温噪声，获取高低温NETD。

根据本发明的一些实施例，所述NETD室温测试模块包括单黑体红外目标源、靶标、离轴平行光管、和显控及采集运算装置；

所述利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声，包括：

将所述被测热像仪放置在所述离轴平行光管前；

通过所述单黑体红外目标源、所述靶标、以及所述离轴平行光管模拟无穷远红外目标源；

通过所述显控及采集运算装置控制所述单黑体红外目标源和所述靶标，并读取所述单黑体红外目标源和所述靶标的数据、获取所述被测热像仪的图像，以获取所述被测热像仪的室温SiTF和室温噪声。

根据本发明的一些实施例，所述高低温SiTF预测评估模块包括：背景辐射修正模块、积分时间修正模块、大小增益修正模块；

所述利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF，包括：

基于所述室温SiTF，利用所述背景辐射修正模块修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响、利用所述积分时间修正模块修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化、利用所述大小增益修正模块修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化，以预测所述高低温SiTF。

根据本发明的一些实施例，所述高低温噪声测试模块包括：小型高低温试验箱和噪声测试装置；

所述通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声，包括：

将所述被测热像仪和所述噪声测试装置放置在所述小型高低温试验箱中，并将所述噪声测试装置放置在所述被测热像仪的镜头前；

通过所述小型高低温试验箱为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声。

采用本发明实施例，通过增加高低温SiTF预测评估模块，该模块可对室温SiTF进行高低温修正，再通过高低温噪声测试模块完成被测热像仪在高低温条件下的噪声测试，从而实现高低温中波热像仪NETD的工程化测试与评估。该方法成本低，适用于工程化研制中对热像仪NETD高低温环境下的测试与评估。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明实施例中高低温中波热像仪NETD测试评估装置工作原理示意图；

图2是本发明实施例中NETD室温测试模块工作原理示意图；

图3是本发明实施例中高低温SiTF预测评估模块工作原理示意图；

图4是本发明实施例中高低温噪声测试模块工作原理示意图。

附图标记：

高低温中波热像仪NETD测试评估装置1，

NETD室温测试模块10，单黑体红外目标源110，靶标120，离轴平行光管130，显控及采集运算装置140，

高低温SiTF预测评估模块20，背景辐射修正模块210，积分时间修正模块220，大小增益修正模块230，

高低温噪声测试模块30，小型高低温试验箱310，噪声测试装置320，

被测热像仪2。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明，并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。

如图1所示，根据本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1，包括：

NETD室温测试模块10，用于获取被测热像仪2的室温SiTF和室温噪声；

高低温SiTF预测评估模块20，与所述NETD室温测试模块10通信连接，所述高低温SiTF预测评估模块20用于通过修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

高低温SiTF预测评估模块20工作原理是，基于经典辐射理论推导和试验验证，通过分析温度应力对探测器组件、光学系统、信号处理系统的影响机理，以及温度变化时背景辐射变化及由此引起的中波热像仪积分时间和探测器增益变化对其性能的影响，修正温度应力对制冷型中波热像仪性能的影响，基于室温性能指标得到高低温范围内SiTF参数的预测值。经过试验数据验证，高低温SiTF预测评估模块20在中波热像仪的线性响应区中的预测评估误差小于20％。

高低温噪声测试模块30，用于为所述被测热像仪2提供不同的环境温度，并与NETD室温测试模块10配合作用获取所述被测热像仪2的高低温噪声。

采用本发明实施例，通过增加高低温SiTF预测评估模块20，该模块可对室温SiTF进行高低温修正，再通过高低温噪声测试模块30完成被测热像仪2在高低温条件下的噪声测试，从而实现高低温中波热像仪NETD的工程化测试与评估。该方法成本低，适用于工程化研制中对热像仪NETD高低温环境下的测试与评估。

在上述实施例的基础上，进一步提出各变型实施例，在此需要说明的是，为了使描述简要，在各变型实施例中仅描述与上述实施例的不同之处。

如图2所示，根据本发明的一些实施例，NETD室温测试模块10包括单黑体红外目标源110、靶标120、离轴平行光管130、和显控及采集运算装置140。其中，单黑体红外目标源110、靶标120、以及离轴平行光管130用于实现无穷远红外目标源的模拟。显控及采集运算装置140用于实现对单黑体红外目标源110和靶标120的控制以及数据读取、并用于获取所述被测热像仪2的图像，以获取所述被测热像仪2的室温SiTF和室温噪声。

可以理解的是，显控及采集运算装置140与单黑体红外目标源110通信连接，显控及采集运算装置140可以控制单黑体红外目标源110，显控及采集运算装置140也可以从单黑体红外目标源110处读取数据。同理，显控及采集运算装置140与靶标120通信连接，显控及采集运算装置140可以控制靶标120，显控及采集运算装置140也可以从靶标120处读取数据。显控及采集运算装置140还与被测热像仪2通信连接，显控及采集运算装置140可以获取被测热像仪2采集的图像数据。显控及采集运算装置140基于其获取的数据，就可以计算出室温SiTF和室温噪声。

传统的红外热像仪NETD测试装置主要利用差分黑体获取温差值，采用差分黑体作为目标源，差分黑体使用两个温度传感器，一个传感器与黑体本体相连，用于获得黑体本体的温度；一个传感器与靶标轮相连，用于获得靶标轮的温度，两个传感器的温度差值为测试所需温差，该方案设计、装调复杂，且调试过程中需要对黑体、靶标轮进行整体调试，效率低下、模块化差。

本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1，在室温环境中利用绝对黑体获取温度值，通过差值算法完成NETD中SiTF的测试，最终实现NETD测试。利用绝对黑体(即单黑体红外目标源110)作为目标源，黑体中仅使用一个温度传感器与黑体本体相连，用于获得黑体本体的温度，该方案调试过程中黑体(即单黑体红外目标源110)、靶标120可进行独立调整，调试效率高、模块化好。

如图3所示，根据本发明的一些实施例，高低温SiTF预测评估模块20包括：

背景辐射修正模块210，用于修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响；

积分时间修正模块220，用于修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化；

大小增益修正模块230，用于修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化。

可以理解的是，获取的室温SiTF，通过背景辐射修正模块210、积分时间修正模块220、以及大小增益修正模块230的修正后，即可以得到高低温SiTF预测值。背景辐射修正模块210、积分时间修正模块220、以及大小增益修正模块230对室温SiTF的修正过程不分先后，可以按照任意顺序进行或是同时进行。

如图4所示，根据本发明的一些实施例，高低温噪声测试模块30包括：

小型高低温试验箱310，用于放置被测热像仪2并为被测热像仪2提供不同的环境温度；

噪声测试装置320，位于小型高低温试验箱310中且置于被测热像仪2的镜头前。

在高低温噪声测试过程中，将被测热像仪2和噪声测试装置320均放置在小型高低温试验箱310中，并将噪声测试装置320放置在被测热像仪2的镜头前，利用位于小型高低温试验箱310外的NETD室温测试模块就可以测得高低温噪声。

根据本发明的一些实施例，噪声测试装置320包括均匀挡板。均匀挡板可以贴设在被测热像仪2的镜头前。均匀挡板用于给噪声测试提供当前环境温度下的均匀背景。

根据本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估方法，包括：

利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；

利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声；

基于所述高低温SiTF和所述高低温噪声，获取高低温NETD。

采用本发明实施例，通过增加高低温SiTF预测评估模块，该模块可对室温SiTF进行高低温修正，再通过高低温噪声测试模块完成被测热像仪在高低温条件下的噪声测试，从而实现高低温中波热像仪NETD的工程化测试与评估。该方法成本低，适用于工程化研制中对热像仪NETD高低温环境下的测试与评估。

在上述实施例的基础上，进一步提出各变型实施例，在此需要说明的是，为了使描述简要，在各变型实施例中仅描述与上述实施例的不同之处。

根据本发明的一些实施例，所述NETD室温测试模块包括单黑体红外目标源、靶标、离轴平行光管、和显控及采集运算装置；

所述利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声，包括：

将所述被测热像仪放置在所述离轴平行光管前；

通过所述单黑体红外目标源、所述靶标、以及所述离轴平行光管模拟无穷远红外目标源；

通过所述显控及采集运算装置控制所述单黑体红外目标源和所述靶标，并读取所述单黑体红外目标源和所述靶标的数据、获取所述被测热像仪的图像，以获取所述被测热像仪的室温SiTF和室温噪声。

传统的红外热像仪NETD测试装置主要利用差分黑体获取温差值，采用差分黑体作为目标源，差分黑体使用两个温度传感器，一个传感器与黑体本体相连，用于获得黑体本体的温度；一个传感器与靶标轮相连，用于获得靶标轮的温度，两个传感器的温度差值为测试所需温差，该方案设计、装调复杂，且调试过程中需要对黑体、靶标轮进行整体调试，效率低下、模块化差。

本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置在室温环境中利用绝对黑体获取温度值，通过差值算法完成NETD中SiTF的测试，最终实现NETD测试。利用绝对黑体作为目标源，黑体中仅使用一个温度传感器与黑体本体相连，用于获得黑体本体的温度，该方案调试过程中黑体、靶标可进行独立调整，调试效率高、模块化好。

根据本发明的一些实施例，所述高低温SiTF预测评估模块包括：背景辐射修正模块、积分时间修正模块、大小增益修正模块；

所述利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF，包括：

基于所述室温SiTF，利用所述背景辐射修正模块修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响，利用所述积分时间修正模块修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化，利用所述大小增益修正模块修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化，以预测所述高低温SiTF。

根据本发明的一些实施例，所述高低温噪声测试模块包括：小型高低温试验箱和噪声测试装置；

所述通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声，包括：

将所述被测热像仪和所述噪声测试装置放置在所述小型高低温试验箱中，并将所述噪声测试装置放置在所述被测热像仪的镜头前；

通过所述小型高低温试验箱为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声。

下面参照图1-图4以一个具体的实施例详细描述根据本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1。值得理解的是，下述描述仅是示例性说明，而不是对本发明的具体限制。凡是采用本发明的相似结构及其相似变化，均应列入本发明的保护范围。

通常的NETD测试设备，主要在室温环境下使用，不具备SiTF高低温预测评估功能。虽然存在一些高低温测试设备，但由于需要测试设备工作在高低温条件下，对测试设备光机组件无热化要求很高，制造成本较高，无法使产品获得广泛的市场应用。同时，传统的高低温测试系统，测试设备也需要放入步入式高低温试验箱中，进一步增加了测试设备成本和占地面积，从而使得传统高低温NETD测试设备很难大范围推广。

本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1具有调试效率高、温度适应性广、低成本的特性，将该技术应用到高低温中波热像仪NETD测试评估装置设备中，通过合理的方案设计便能使系统满足高低温NETD的测试要求，为高低温NETD测试与评估工程化提供较好的解决方案。

具体的，如图1所示，本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1包括：NETD室温测试模块10、高低温SiTF预测评估模块20和高低温噪声测试模块30。

其中，NETD室温测试模块10用于获得室温环境下的室温SiTF和室温噪声两个参数值。

如图2所示，NETD室温测试模块10主要由单黑体红外目标源110、靶标120、离轴平行光管130、显控及采集运算装置140组成。其中单黑体红外目标源110、靶标120、离轴平行光管130共同完成无穷远红外目标源的模拟。单黑体红外目标源110和靶标120相互独立，调试便捷，更换方便，具有较好的维修性和操作性。显控及采集运算装置140完成单黑体红外目标源110和靶标120的控制、数据读取、图像采集及NETD测试。被测热像仪2放置在离轴平行光管130前，按测试流程生成的被测热像仪2的视频图像传输给显控及采集运算装置140后执行NETD测试程序，获得室温环境下的室温SiTF和室温噪声两个参数值。

高低温SiTF预测评估模块20用于通过室温SiTF预测高低温条件下的高低温SiTF。高低温SiTF预测评估模块20基于经典辐射理论推导和试验验证，通过分析温度应力对探测器组件、光学系统、信号处理系统的影响机理，以及温度变化时背景辐射变化及由此引起的中波热像仪积分时间和探测器增益变化对其性能的影响，修正温度应力对制冷型中波热像仪性能的影响，基于室温性能指标得到高低温范围内SiTF参数的预测值。该装置及技术经过试验数据验证，在中波热像仪的线性响应区中的预测评估误差小于20％。

如图3所示，高低温SiTF预测评估模块20主要由背景辐射修正模块210、积分时间修正模块220、大小增益修正模块230三部分组成。背景辐射修正模块210用于修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响，积分时间修正模块220用于修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化，大小增益修正模块230用于修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化。根据以上三个模块修正后，可通过室温SiTF得到高低温范围内不同温度点的SiTF。

高低温噪声测试模块30通过将被测热像仪2放置在小型高低温箱中，提供高低温噪声测试环境，由此，NETD室温测试模块10可以测得高低温条件下的高低温噪声。计算高低温噪声和高低温SiTF的比值，就可以完成高低温NETD测试。

如图4所示，高低温噪声测试模块30主要由噪声测试装置320和小型高低温试验箱310组成。被测热像仪2放置在小型高低温试验箱310中，小型高低温试验箱310为被测热像仪2提供不同的环境温度。噪声测试装置320为均匀挡板。噪声测试装置320放置在被测红外热像仪镜头前。利用小型高低温试验箱310产生高低温条件所需的温度值，温度稳定后利用NETD室温测试模块10的显控及采集运算装置140获得相应环境温度条件下的噪声值。结合SiTF高低温预测评估模块所得到的SiTF预测值，从而完成高低温NETD的测试。

本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1在对被测热像仪2测试过程中，首先，将被测热像仪2放置在离轴平行光管130前，首先通过NETD室温测试模块10完成室温条件下的NETD测试，室温NETD测试中包含了室温SiTF和室温噪声两个参量值。然后，将室温SiTF传给高低温SiTF预测评估模块20，以获取高低温条件下的高低温SiTF预测值，同时将被测热像仪2放置在小型高低温箱中，在被测热像仪2前放置模块噪声测试装置320，在给定温度条件下利用NETD室温测试模块10获得相应环境温度条件下的噪声值，从而完成高低温NETD的测试。

在现有的室温测试系统装置中，采用本发明实施例的高低温中波热像仪NETD测试评估装置1，通过增加高低温SiTF预测评估模块20、高低温噪声测试模块30，可有效降低高低温测试装置的生产成本，拓展测试设备在不同环境温度条件下的适用性，同时在对NETD进行高低温评估过程中，仅将被测热像仪2和噪声测试装置320放入小型高低温试验箱310中，NETD室温测试模块在小型高低温试验箱310外，从而可以减小高低温试验箱的大小、大大降低了成本，减少开展环境试验所需的时间，提升了试验效率。该装置有效拓展了室温NETD测试系统在不同温度环境下的适用性，更有利于评价中波热像仪设备在不同温度环境中NETD相关的战技指标，为产品提供更全面的数据支撑。

需要说明的是，以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

另外，应当理解，为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该发明的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面发明的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

Claims (5)

1.一种高低温中波热像仪NETD测试评估装置，其特征在于，包括：

NETD室温测试模块，用于获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；

高低温SiTF预测评估模块，与所述NETD室温测试模块通信连接，所述高低温SiTF预测评估模块用于通过修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

高低温噪声测试模块，用于为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并与所述NETD室温测试模块配合作用获取所述被测热像仪的高低温噪声；

所述高低温SiTF预测评估模块包括：

背景辐射修正模块，用于修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响；

积分时间修正模块，用于修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化；

大小增益修正模块，用于修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化；

所述高低温噪声测试模块包括：

小型高低温试验箱，用于放置所述被测热像仪并为所述被测热像仪提供不同的环境温度；

噪声测试装置，位于所述小型高低温试验箱中且置于所述被测热像仪的镜头前。

2.如权利要求1所述的高低温中波热像仪NETD测试评估装置，其特征在于，所述NETD室温测试模块包括单黑体红外目标源、靶标、离轴平行光管、和显控及采集运算装置，其中，所述单黑体红外目标源、所述靶标、以及所述离轴平行光管用于实现无穷远红外目标源的模拟，所述显控及采集运算装置用于实现对所述单黑体红外目标源和所述靶标的控制以及数据读取、并用于获取所述被测热像仪的图像，以获取所述被测热像仪的室温SiTF和室温噪声。

3.如权利要求1所述的高低温中波热像仪NETD测试评估装置，其特征在于，所述噪声测试装置包括均匀挡板。

4.一种高低温中波热像仪NETD测试评估方法，其特征在于，包括：

利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声；

利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF；

通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声；

基于所述高低温SiTF和所述高低温噪声，获取高低温NETD；

所述高低温SiTF预测评估模块包括：背景辐射修正模块、积分时间修正模块、大小增益修正模块；

所述利用高低温SiTF预测评估模块修正温度应力对中波热像仪性能的影响，基于所述室温SiTF，预测高低温SiTF，包括：

基于所述室温SiTF，利用所述背景辐射修正模块修正由于背景温度变化而引起的辐射能量差变化对SiTF的影响、利用所述积分时间修正模块修正由于积分时间的变化而引起的SiTF变化、利用所述大小增益修正模块修正由于选用大小不同的增益而引起的SiTF变化，以预测所述高低温SiTF；

所述高低温噪声测试模块包括：小型高低温试验箱和噪声测试装置；

所述通过高低温噪声测试模块为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声，包括：

将所述被测热像仪和所述噪声测试装置放置在所述小型高低温试验箱中，并将所述噪声测试装置放置在所述被测热像仪的镜头前；

通过所述小型高低温试验箱为所述被测热像仪提供不同的环境温度，并利用所述NETD室温测试模块获取所述被测热像仪的高低温噪声。

5.如权利要求4所述的高低温中波热像仪NETD测试评估方法，其特征在于，所述NETD室温测试模块包括单黑体红外目标源、靶标、离轴平行光管、和显控及采集运算装置；

所述利用NETD室温测试模块获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声，包括：

将所述被测热像仪放置在所述离轴平行光管前；

通过所述单黑体红外目标源、所述靶标、以及所述离轴平行光管模拟无穷远红外目标源；

通过所述显控及采集运算装置控制所述单黑体红外目标源和所述靶标，并读取所述单黑体红外目标源和所述靶标的数据、获取所述被测热像仪的图像，以获取所述被测热像仪的室温SiTF和室温噪声。