CN112436495A - 基于人体模型的esd保护电路 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及模拟集成电路领域,为提出一种应用于人体模型的ESD保护电路,对芯片内部关键电路进行防护。本发明采取的技术方案是,基于人体模型的ESD保护电路,由电阻、电容、瞬态检测电路和钳位MOS管构成,电阻、电容构成触发电路,电阻、电容串接在正极VDD和负极VSS之间,钳位MOS管源极、漏极分别连接正极VDD和负极VSS;串接的电阻、电容检测到静电释放ESD事件后,将此信号送给瞬态检测电路,由瞬态检测电路拉高钳位MOS管的栅极,使钳位MOS管导通,泄放VDD上的ESD电流。本发明主要应用于集成电路保护电路的设计制造场合。
Description
技术领域
本发明涉及模拟集成电路领域,特别涉及静电释放(ESD)保护电路设计。
背景技术
如今,电子产业蓬勃发展,与此同时,超大规模集成电路工艺也日趋完善。各种器件的特征尺寸也逐渐变小,目前已达到深亚微米等级。器件尺寸的减小在降低了芯片制造成本的同时,也使集成电路的性能及运行速度显著提高。但也出现了弊端:器件尺寸的降低使集成电路的抗静电放电能力减弱。尤其对于一些静电敏感器件,尺寸的降低使我们对于器件可靠性的要求越来越高。因此,静电释放目前被认为是芯片潜在质量问题杀手,静电放电的能量可导致芯片内部电路损坏,造成难被发现的软击穿现象,进而出现设备性能下降、数据丢失等问题。
为了预测芯片的ESD抗扰度水平,国际上产生了三种主要的芯片级ESD测试方法,称为人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电器件模型(CDM)。其中,人体模型为最常见的静电释放模型。如图1所示,人体模型中存储静电电荷的等效电容标准化为100pF,通过人体手指放电产生静电电荷的电阻标准化为1.5kΩ。2kV的人体模型静电放电过程中的典型电流峰值为1.3A,上升时间为5~10ns。如果芯片中没有合适的ESD保护设计,在芯片经历这种快速的ESD电流放电过程后,沿着NMOS的漏极和源极区域之间的多晶硅栅极发生明显的损坏,导致I/O引脚短路接地,造成芯片的损毁。
参考文献
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发明内容
针对静电放电对于芯片内部电路结构的损坏,本发明旨在提出一种应用于人体模型的ESD保护电路,对芯片内部关键电路进行防护。
本发明采取的技术方案是,基于人体模型的ESD保护电路,由电阻、电容、瞬态检测电路和钳位MOS管构成,电阻、电容构成触发电路,电阻、电容串接在正极VDD和负极VSS之间,钳位MOS管源极、漏极分别连接正极VDD和负极VSS;串接的电阻、电容检测到静电释放ESD事件后,将此信号送给瞬态检测电路,由瞬态检测电路拉高钳位MOS管的栅极,使钳位MOS管导通,泄放VDD上的ESD电流。
瞬态检测电路利用电阻、电容串接形成的延时电路对输入电压的上升时间进行捕捉,采用NMOS管和PMOS管形成的反向器进行电压的反向,从而判别正常工作电压和ESD电压,再通过钳位器件M0实现电路的钳位,将静电电流快速泄放出去;当刚开始检测到ESD脉冲事件时,ESD触发电路通过瞬态检测电路,打开M0;当ESD事件结束后,触发电路才关掉M0。
本发明的特点及有益效果
本发明采用触发电路、瞬时检测电路、钳位MOS管构成,因而能够实现对电路的静电保护。
本发明采用片上ESD保护电路,具有以下4个特点:(1)透明:不干扰正常电路的工作;(2)敏捷:在静电放电发生时做出快速响应;(3)鲁棒:自身能够承受大电流大电压而不被烧坏;(4)有效:在静电放电发生时提供低阻抗泄放路径。
附图说明
图1人体模型ESD等效电路。
图2四种人体模型ESD测试引脚组合。
图3电源钳位电路原理图。
图4ESD保护电路图电流泄放路径(输出引脚接地,输入引脚加正向ESD脉冲)。
图5钳位ESD保护电路图。
图6ESD瞬态检测保护电路图。
具体实施方式
在发生ESD事件的条件下,芯片中的ESD电流放电路径如图4所示,正向ESD脉冲释放到输入引脚,其他的一些输出引脚相对接地,但VDD和VSS电源引脚都是悬空的。输入到引脚的正向ESD电压可以通过输入保护二极管Dn1,放电到悬空的VSS电源线,然后通过输出NMOS管释放电荷到接地的输出引脚。但是,在二极管Dnl由于ESD电流放电发生故障之前,ESD电流通过输入ESD保护电路中的正向偏置二极管Dpl传输到悬空的VDD电源线。因此,ESD电流通过VDD电源线进入内部电路,并通过内部电路放电到VSS。在VDD-VSS ESD测试条件下,ESD脉冲直接释放到VDD引脚,VSS引脚接地,但所有输入和输出引脚都是悬空的。在电源引脚的静电放电应力条件下,ESD电流直接传导到内部电路,从而在内部电路中造成一些ESD损坏。但相对于无保护电路,已提升芯片的ESD抗干扰性。
另一种电路结构如图5所示,为了保护内部电路,钳位住电源线上的ESD过高电压,栅极接地的NMOS管被用作VDD和VSS电源线之间的ESD钳位器件。在引脚-引脚或VDD-VSS的ESD事件中,芯片的电源引脚两端的ESD电压在突然静电击穿的条件下,被栅极接地的NMOS管钳位。因为ESD电流需要通过栅极接地的NMOS管放电,所以此NMOS管采用更大的沟道长度和沟道宽度被来保护自身。这种方法的好处是结构简单易于集成,但是在引脚-引脚或VDD-VSS ESD事件发生时,在较大尺寸的栅极接地NMOS管泄放ESD电流之前,由于电路内部器件尺寸和间距较小,较容易受到高压损坏。
由于存储在人体上的静电电荷可为正也可为负,设地面电平为0。当芯片电源(正极VDD或负极VSS)中的某个引脚接地时,人体模型中的ESD可能在芯片的输入或输出引脚上产生正向或负向的电压。在最坏的情况下,当只有一个VDD或VSS引脚接地时,ESD只击穿芯片的一个I/O引脚。因此,人体模型的静电放电击穿输入(或输出)引脚,共有四种引脚组合模式,如图2所示。它们是分别是:(1)PS模式:I/O引脚加正脉冲-VSS引脚接地(2)NS模式:I/O引脚加负脉冲-VSS引脚接地(3)PD模式:I/O引脚加正脉冲-VDD引脚接地(4)ND模式:I/O引脚加负脉冲-VDD引脚接地。因此,需采用ESD保护电路将静电产生的电流从受击穿的引脚引到VDD或VSS引脚。
本发明采用瞬态ESD保护电路网络,利用电源钳位电路对芯片进行保护。如图3所示,为典型的非二次击穿的电源钳位电路的实现框图。串联的RC用于控制进行ESD电流泄放的钳位MOS管M0的打开时间,当RC检测到ESD事件时,将此信号送给瞬态检测电路。瞬态检测电路利用RC延时电路对输入电压的上升时间进行捕捉,采用NMOS管和PMOS管形成的反向器进行电压的反向,从而判别正常工作电压和ESD电压,再通过钳位器件M0实现电路的钳位,将静电电流快速泄放出去。当刚开始检测到ESD脉冲事件时,ESD触发电路通过瞬态检测电路,打开M0;当ESD事件结束后,触发电路才关掉M0。为了避免在正常的加电过程中误启动钳位电路,触发电路可以利用正常加电和ESD的上升时间的差值。图3中的预驱动电路即为瞬态检测电路。
ESD防护主要分为片外ESD防护和片上ESD防护。但片外ESD防护会增大板级空间,增加设备成本。因而,本发明采用片上ESD保护电路,在不太占用芯片版图的情况下,片上ESD保护电路能够在芯片内部的电路正常工作时保持沉默,不影响内部电路正常工作,同时还能够对来自外部的ESD信号作出快速反应,能够尽快的泄放。具有以下4个特点:(1)透明:不干扰正常电路的工作;(2)敏捷:在静电放电发生时做出快速响应;(3)鲁棒:自身能够承受大电流大电压而不被烧坏;(4)有效:在静电放电发生时提供低阻抗泄放路径。
图6中的ESD瞬态检测电路用于开启VDD-VSS ESD钳位NMOS管。ESD瞬态检测电路用于检测ESD事件,并控制ESD钳位NMOS管的栅极电压。由于ESD的钳位NMOS管通过正向栅极电压而不是通过漏极快速击穿导通,所以在内部电路被ESD脉冲损坏之前,可以及时接通NMOS管来分流ESD电流。在测试引脚-引脚ESD事件时,ESD电流从输入引脚直接转移到悬空的VDD电源线,如图6虚线所示。ESD瞬态检测电路会受到ESD能量的影响,可以开启ESD钳位NMOS管,在VDD和VSS引脚之间提供短路路径,来分流ESD脉冲电流。因此,可以通过正向偏置二极管Dpl、ESD钳位NMOS管和二极管Dn2来有效地释放ESD电流。在正向偏置条件下工作的器件可以承受比反向偏置条件下更高的ESD电流。但是,当芯片处于正常工作状态时,ESD钳位NMOS管必须保持关断,以免产生从VDD到VSS的电源损耗。
Claims (2)
1.一种基于人体模型的ESD保护电路,其特征是,由电阻、电容、瞬态检测电路和钳位MOS管构成,电阻、电容构成触发电路,电阻、电容串接在正极VDD和负极VSS之间,钳位MOS管源极、漏极分别连接正极VDD和负极VSS;串接的电阻、电容检测到静电释放ESD事件后,将此信号送给瞬态检测电路,由瞬态检测电路拉高钳位MOS管的栅极,使钳位MOS管导通,泄放VDD上的ESD电流。
2.如权利要求1所述的基于人体模型的ESD保护电路,其特征是,瞬态检测电路利用电阻、电容串接形成的延时电路对输入电压的上升时间进行捕捉,采用NMOS管和PMOS管形成的反向器进行电压的反向,从而判别正常工作电压和ESD电压,再通过钳位器件M0实现电路的钳位,将静电电流快速泄放出去;当刚开始检测到ESD脉冲事件时,ESD触发电路通过瞬态检测电路,打开M0;当ESD事件结束后,触发电路才关掉M0。
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