CN112415301B - 一种电子产品测试过程结构化描述方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子产品测试过程结构化描述方法,属于产品测试技术领域,其特征在于,包括以下步骤:a、对测试过程设计进行定义与表达;b、将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合;c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。本发明能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
Description
技术领域
本发明涉及到产品测试技术领域,尤其涉及一种电子产品测试过程结构化描述方法。
背景技术
随着电子技术发展,现阶段测试面临着对象多种多样、被测对象越来越复杂的问题。企业面临着电子产品使用的全生命周期过程中信息准确传递和共享难的问题,企业实现测试工艺设计时信息准确传递和共享是实现测试设计和测试执行协同的途径。测试设计过程中如何把产品测试的设计过程准确无歧义展示给测试执行者是关键。
测试设计和测试执行是逐步进行的,而且对于复杂电子产品的性能测试过程是繁琐的。目前,针对测试的难点,仅有复杂信号定义与描述的研究,并通过扩展机制实现复杂信号的描述。自动测试系统的设计也比较多,但这些仍侧重于自动测试系统的实现方法,不注重测试设计和测试执行的协同,在测试过程描述结构化方法上有所欠缺。
公开号为CN 107561391A,公开日为2018年01月09日的中国专利文献公开了一种电子产品的测试系统,其特征在于,包括:
智能上位机,用于发出测试指令给测试控制装置并接收测试控制装置传回的测试数据;
测试控制装置,用于接收智能上位机的测试指令,并根据测试指令设置产品测试参数并控制测试仪器进行产品测试,以及接收待测产品的测试数据并对数据进行处理后发送给智能上位机;
测试仪器,用于对待测产品进行产品测试;
所述智能上位机与所述测试控制装置通讯连接,所述测试控制装置还同时连接测试仪器和待测产品,所述测试仪器还连接待测产品。
该专利文献公开的测试系统,虽然可实现对多种不同的电子产品进行性能测试,而且产品测试基本为自动化控制,减少了人工操作,每个测试位可节省1个以上的人力,节省了生产成本,同时由于产品生产换线时不用再更换测试设备或经常移动测试设备,缩短了生产准备时间,也降低了设备的故障发生率,便于维护。但是,仍然无法实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
发明内容
本发明为了克服上述现有技术的缺陷,提供一种电子产品测试过程结构化描述方法,本发明能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
本发明通过下述技术方案实现:
一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。
所述步骤a中,测试组,用于完成机载系统某一功能的检查,测试组由多个测试单元的排序组成,是对多个测试单元的执行顺序。
所述步骤a中,测试输出结果,用于设计每个测试单元或测试组的所有可能输出的结果。
本发明的有益效果主要表现在以下方面:
1、本发明,“a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式”,较现有技术而言,能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
2、本发明,通过对测试工艺设计过程采用结构化描述,能够以结构化的方式将测试设计过程准确进行表达,方便测试设计和测试执行的协同。
3、本发明,测试工艺设计过程构成要素包括测试单元集、测试步骤集及测试对象故障模式,每个构成要素描述都具有可识别和可重复利用性。
附图说明
下面将结合说明书附图和具体实施方式对本发明作进一步的具体说明:
图1为本发明的流程框图。
具体实施方式
实施例1
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
“a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式”,较现有技术而言,能够解决典型机载系统测试过程描述结构化问题,实现测试过程信息准确传递和共享,达到测试设计和测试执行的协同。
实施例2
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
实施例3
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
实施例4
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
通过对测试工艺设计过程采用结构化描述,能够以结构化的方式将测试设计过程准确进行表达,方便测试设计和测试执行的协同。
实施例5
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。
实施例6
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。
所述步骤a中,测试组,用于完成机载系统某一功能的检查,测试组由多个测试单元的排序组成,是对多个测试单元的执行顺序。
实施例7
参见图1,一种电子产品测试过程结构化描述方法,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序、并序或无序的排序方式之一进行组合,顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合,并序和无序均由测试单元顺序和故障字典两部分表达;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断,测试单元并序和无序组合时,限定故障字典影响测试组的输出结果的判断,输出结果的判断用于关联故障模式。
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位。
所述故障模式包括故障、故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点。
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成。
所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。
所述步骤a中,测试组,用于完成机载系统某一功能的检查,测试组由多个测试单元的排序组成,是对多个测试单元的执行顺序。
所述步骤a中,测试输出结果,用于设计每个测试单元或测试组的所有可能输出的结果。
测试工艺设计过程构成要素包括测试单元集、测试步骤集及测试对象故障模式,每个构成要素描述都具有可识别和可重复利用性。
Claims (5)
1.一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、通过对被测对象的测试需求进行分析,对测试过程设计进行定义与表达,包括被测对象故障模式集、测试入口、测试单元、测试组和测试输出结果;
b、根据机载系统某一功能的检查的特点,将分离的测试单元按照顺序根据上一测试单元的输出结果进行顺序组合;
c、测试单元顺序组合时,根据上一测试单元的输出结果组合,限定输出结果影响下一执行测试单元的判断或测试组的输出结果的判断;
所述步骤a中,被测对象故障模式集,用于设计和描述被测对象的故障模式,故障模式信息用于在测试执行时进行故障定位;
所述步骤a中,测试入口,用于明确测试执行时的起始点;
所述步骤a中,测试单元包括测试过程中使用的参数、变量、操作类别和测试结果判据;测试单元由一个或多个测试操作组成;
所述步骤a中,测试组,用于完成机载系统某一功能的检查,测试组由多个测试单元的排序组成,是对多个测试单元的执行顺序;
所述步骤a中,测试输出结果,用于设计每个测试单元或测试组的所有可能输出的结果。
2.根据权利要求1所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述故障模式包括故障率、故障位置、故障等级、可探测度和维修指导的信息集合。
3.根据权利要求2所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述故障等级包括致命故障、一般故障和警告;可探测度包括毁坏性探测、可检测探测和不可探测;维修指导包括维修行为和维修建议,维修行为和维修建议通过结构化文本形式存在或采用外部链接方式存在。
4.根据权利要求3所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述测试操作包括基本操作、总线操作和人机交互操作;基本操作用于非总线信号测试执行结构化描述;总线操作用于总线信号测试执行结构化描述;人机交互操作用于人机交互测试执行的结构化描述。
5.根据权利要求4所述的一种电子产品测试过程结构化描述方法,其特征在于:所述基本操作包括初始化操作、连接操作、读取操作、断开连接操作、重置操作、使能操作和重复操作;总线操作包括编码操作、解码操作、交换信息操作、帧操作和读取总线数据操作;人机交互操作包括输入操作和输出操作,输入操作用于测试操作中的结果输入提醒和结果接收,输出操作用于提示测试操作中人执行的动作。
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CN112415301A (zh) | 2021-02-26 |
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