CN112414278A - 一种圆柱体同轴度偏移量测量工具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及同轴度测量技术领域,具体公开了一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,用来测量两圆柱体之间的同轴度,圆柱体同轴度偏移量测量工具包括支撑组件和测量组件,支撑组件包括基准环和锁紧件,基准环包括可拆卸连接的第一半圆环和第二半圆环,基准环套设于第一圆柱体,锁紧件将基准环和第一圆柱体锁定,第一圆柱体和基准环同轴线;测量组件包括千分表和基准架,基准架与基准环滑动连接,基准架的滑动轨迹以基准环的轴线为圆心的圆,千分表包括测量杆,测量杆浮动设置于基准架,测量杆与基准环的轴线垂直与第二圆柱体的外周面抵接。该同轴度偏移量测量工具可在恶劣环境或第一圆柱体和第二圆柱体无法拆卸时,对同轴度进行测量。
Description
技术领域
本发明涉及同轴度测量技术领域,尤其涉及一种圆柱体同轴度偏移量测量工具。
背景技术
在电力设备的安装维护中,导体和触座安装后极易出现导体和触座的同轴度偏差较大,进而导致安装在触座内部的触指与导体的同轴度偏移量过大,导致电流局部集中,从而引起触指发热逐渐烧蚀,经过长期的运行,最终烧融变形。
当前大多测量同轴度的设备均需要取下待测体进行测量,但是,有些待测体一旦脱离原工作环境会导致相关设备停止工作,甚至导致巨大的经济损失。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,以解决相关技术中有些待测件在工作中需要进行同轴度测量的问题。
本发明提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,该圆柱体同轴度偏移量测量工具用来测量第一圆柱体和第二圆柱体之间的同轴度,所述第一圆柱体一端与所述第二圆柱体一端固接,所述圆柱体同轴度偏移量测量工具包括:
支撑组件,所述支撑组件包括基准环和锁紧件,所述基准环包括可拆卸连接的第一半圆环和第二半圆环,所述基准环套设于所述第一圆柱体,所述锁紧件将所述基准环和所述第一圆柱体的相对位置锁定,且所述第一圆柱体和所述基准环同轴线;
测量组件,所述测量组件包括千分表和基准架,所述基准架与所述基准环滑动连接,且所述基准架的滑动轨迹为以所述基准环的轴线为圆心的圆,所述千分表包括测量杆,所述测量杆浮动设置于所述基准架,所述测量杆与所述基准环的轴线垂直且与所述第二圆柱体的外周面抵接。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述测量组件还包括基准杆,所述基准杆设置于所述基准架,且所述基准杆与所述测量杆的轴线平行,所述基准杆与所述第一圆柱体的外周面抵接。作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述测量组件还包括第一紧固件,所述基准架设置有第一通孔,所述第一紧固件将穿设于所述第一通孔,所述第一通孔的内径大于所述基准杆的外径,所述第一紧固件将所述基准架和所述基准杆的相对位置锁定。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准架设置有第二通孔,所述千分表还包括穿设于所述第二通孔的套筒,所述测量杆浮动设置于所述套筒,所述套筒的外径小于所述第二通孔的内径;
所述测量组件还包括第二紧固件,所述第二紧固件将所述基准架和所述套筒的相对位置锁定。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述第一半圆环的一端与所述第二半圆环的一端铰接,所述第一半圆环的另一端与所述第二半圆环的另一端卡接。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准环设置有螺纹孔,所述螺纹孔的数量至少为三个,且至少三个所述螺纹孔均布于基准环的圆周方向,对应各个所述螺纹孔均设有所述锁紧件,所述锁紧件螺接于所述螺纹孔且与所述第一圆柱体的外周面抵接。作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准环还包括深度千分尺,所述深度千分尺用于测量所述锁紧件旋入所述螺纹孔内的长度。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述锁紧件与所述第一圆柱体抵接的面设置为磨砂面。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准环具有环形的滑动轨道,所述滑动轨道和所述基准环同轴;
测量组件还包括转动设置于所述基准架的一端滑动组件,所述滑动组件滑动位于所述滑动轨道。
作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,滑动部件包括固定于所述基准架一端的板件,以及间隔设置的两个辊轮,两个所述辊轮均与所述板件转动连接,且两个所述辊轮均滑动位于所述滑动轨道。
本发明的有益效果为:
本发明提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,该圆柱体同轴度偏移量测量工具用来测量第一圆柱体和第二圆柱体之间的同轴度,第一圆柱体一端与第二圆柱体一端固接,圆柱体同轴度偏移量测量工具包括支撑组件和测量组件,支撑组件包括基准环和锁紧件,基准环包括可拆卸连接的第一半圆环和第二半圆环,基准环套设于第一圆柱体,锁紧件将基准环和第一圆柱体的相对位置锁定,且第一圆柱体和基准环同轴线;测量组件包括千分表和基准架,基准架与基准环滑动连接,且基准架的滑动轨迹为以基准环的轴线为圆心的圆,千分表包括测量杆,测量杆浮动设置与基准架,测量杆与基准环的轴线垂直且与第二圆柱体的外周面抵接。该圆柱体同轴度偏移量测量工具在测量时,首先将基准环套设在第一圆柱体上,然后通过调节锁紧件使基准环与第一圆柱体同轴线,由于基准架的滑动轨迹为以基准环的轴线为圆心的圆,基准架同时绕第一圆柱体的轴线转动,再后将千分表的测量杆与第二圆柱体上的待测区域抵接,最后将基准架绕基准环滑动一周,千分表便可读出同轴度偏移量的数值,该设备可以用于一些需要测量同轴度,但是又不便于拆卸的场景,不仅操作简单而且适用于不同的工作场景。
附图说明
图1为本发明实施例一中圆柱体同轴度偏移量测量工具的结构示意图;
图2为本发明实施例一中圆柱体同轴度偏移量测量工具的支撑组件结构示意图;
图3为本发明实施例一中圆柱体同轴度偏移量测量工具的滑动部件结构示意图;
图4为本发明实施例二中圆柱体同轴度偏移量测量工具的结构示意图。
图中:
100、第一圆柱体;200、第二圆柱体;
1、支撑组件;
11、基准环;111、第一半圆环;112、第二半圆环;113、深度千分尺; 114、滑动轨道;
12、锁紧件;
2、测量组件;
21、基准架;
22、千分表;221、测量杆;222、套筒;
23、基准杆;24、第一紧固件;25、第二紧固件;
26、滑动部件;261、板件;262、辊轮;
3、旋转把手。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中,术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置,而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
实施例一
如图1~3所示,本发明提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,该圆柱体同轴度偏移量测量工具用来测量第一圆柱体100和第二圆柱体200之间的同轴度,第一圆柱体100一端与第二圆柱体200一端固接,圆柱体同轴度偏移量测量工具包括支撑组件1和测量组件2,支撑组件1包括基准环11和锁紧件12,基准环11包括可拆卸连接的第一半圆环111和第二半圆环112,基准环11套设于第一圆柱体100,锁紧件12将基准环11和第一圆柱体100的相对位置锁定,且第一圆柱体100和基准环11同轴线;测量组件2包括千分表22和基准架21,基准架21与基准环11滑动连接,且基准架21的滑动轨迹为以基准环11的轴线为圆心的圆,千分表22包括测量杆221,测量杆221浮动设置与基准架21,测量杆221与基准环11的轴线垂直且与第二圆柱体200的外周面抵接。该圆柱体同轴度偏移量测量工具在测量时,首先将基准环11套设在第一圆柱体100 上,然后通过调节锁紧件12使基准环11与第一圆柱体100同轴线,由于基准架21的滑动轨迹为以基准环11的轴线为圆心的圆,基准架21同时绕第一圆柱体100的轴线转动,再后将千分表22的测量杆221与第二圆柱体200上的待测区域抵接,最后将基准架21绕基准环11滑动一周,千分表22便可读出同轴度偏移量的数值,该圆柱体同轴度偏移量测量工具可以用于一些需要测量同轴度,但是第一圆柱体100和第二圆柱体200又不便于拆卸的场景,不仅操作简单而且适用于不同的工作场景。
可选地,测量组件2还包括基准杆23,基准杆23设置于基准架21,且基准杆23与测量杆221的轴线平行,基准杆23与第一圆柱体100的外周面抵接。本实施例中,基准杆23起到支撑基准架21的作用,使基准架21转动的轴线始终与第一圆柱体100的轴线重合。
优选地,测量组件2还包括第一紧固件24,基准架21设置有第一通孔,第一紧固件24将穿设于第一通孔,第一通孔的内径大于基准杆23的外径,第一紧固件24将基准架21和基准杆23的相对位置锁定。本实施例中,可以通过第一紧固件24将基准架21和基准杆23的相对位置锁定,因此当第一圆柱体100 的外径变化时,可以通过调节基准杆23的位置来将基准杆23与第一圆柱体100 抵接。
优选地,基准架21设置有第二通孔,千分表22还包括穿设于第二通孔的套筒222,测量杆221浮动设置于套筒222,套筒222的外径小于第二通孔的内径;测量组件2还包括第二紧固件25,第二紧固件25将基准架21和套筒222 的相对位置锁定。本实施例中,可以通过第二紧固件25来调节套筒222与基准架21的相对位置进而使测量杆221始终保持与第二圆柱体200保持抵接。
可选地,第一半圆环111的一端与第二半圆环112的一端铰接,第一半圆环 111的另一端与第二半圆环112的另一端卡接。本实施例中,将基准环11设计成第一半圆环111与第二半圆环112的目的是便于在第一圆柱体100和第二圆柱体200本身长度太长或者不便于拆卸或无法通过套设整个基准环11进行测量时,可开合的基准环11便可方便的套设于第一圆柱体100上,而且方便快捷。在其他实施例中第一半圆环111与第二半圆环112也可均通过卡接来组成基准环 11。
可选地,基准环11设置有螺纹孔,螺纹孔的数量至少为三个,且至少三个螺纹孔均布于基准环11的圆周方向,对应各个螺纹孔均设有锁紧件12,锁紧件 12螺接于螺纹孔且与第一圆柱体100的外周面抵接。本实施例中螺纹孔与锁紧件12一一对应,螺纹孔至少三个且均布于基准环11的圆周方向的目的是可以稳定的将基准环11与第一圆柱体100固定,且通过调节各个锁紧件12来实现基准环11与第一圆柱体200同轴线。
优选地,基准环11还包括深度千分尺113,深度千分尺113用于测量锁紧件12旋入螺纹孔内的长度。本实施例中深度千分尺113通过测量紧固件旋入螺纹孔内的长度来调节锁紧件12,进而使基准环11与第一圆柱体100的轴线重合。
优选地,锁紧件12与第一圆柱体100抵接的面设置为磨砂面。本实施例中,锁紧件12与第一圆柱体100抵接的面设置为磨砂面的目的是增大锁紧件12 与第一圆柱体100之间的摩擦力,使第一圆柱体100与基准环11固定更稳固。
优选地,基准环11具有环形的滑动轨道114,滑动轨道114和基准环11同轴;测量组件2还包括转动设置于基准架21一端的滑动部件26,滑动部件26 滑动位于滑动轨道114。本实施例中,滑动轨道114包括第一滑动轨道和与第一滑动轨道间隔设置的第二滑动轨道,滑动部件26位于第一滑动轨道和第二滑动轨道之间,且分别与第一滑动轨道和第二滑动轨道抵接,滑动部件26在滑动轨道114中滑动,以实现绕第一圆柱体100转动,同时,还需确保基准架21的轴线始终指向第一圆柱体100的轴线。
优选地,滑动组件包括固定于基准架21一端的板件261,以及间隔设置的两个辊轮262,两个辊轮262均与板件261转动连接,且两个辊轮262均滑动位于滑动轨道114。本实施例中,通过使用辊轮262可以减小转动过程中的摩擦力,便于滑动部件26的滑动,间隔设置两个辊轮262的目的是确保基准架21 的轴线始终垂直第一圆柱体100的轴线。在其他实施例中,辊轮262的个数也可以是3个或更多,但必须保证所有辊轮262位于一个与滑动轨道114同心的圆周上。
实施例二
如图4所示,本实施例与实施例1唯一的区别就是本实施例增加了旋转把手3,旋转把手3与千分表22可拆卸连接,且旋转把手3的轴线与基准环11的轴线平行。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为了清楚说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,用来测量第一圆柱体(100)和第二圆柱体(200)之间的同轴度,所述第一圆柱体(100)一端与所述第二圆柱体(200)一端固接,其特征在于,所述圆柱体同轴度偏移量测量工具包括:
支撑组件(1),所述支撑组件(1)包括基准环(11)和锁紧件(12),所述基准环(11)包括可拆卸连接的第一半圆环(111)和第二半圆环(112),所述基准环(11)套设于所述第一圆柱体(100),所述锁紧件(12)将所述基准环(11)和所述第一圆柱体(100)的相对位置锁定,且所述第一圆柱体(100)和所述基准环(11)同轴线;
测量组件(2),所述测量组件(2)包括千分表(22)和基准架(21),所述基准架(21)与所述基准环(11)滑动连接,且所述基准架(21)的滑动轨迹为以所述基准环(11)的轴线为圆心的圆,所述千分表(22)包括测量杆(221),所述测量杆(221)浮动设置于所述基准架(21),所述测量杆(221)与所述基准环(11)的轴线垂直且与所述第二圆柱体(200)的外周面抵接。
2.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述测量组件(2)还包括基准杆(23),所述基准杆(23)设置于所述基准架(21),且所述基准杆(23)与所述测量杆(221)的轴线平行,所述基准杆(23)与所述第一圆柱体(100)的外周面抵接。
3.根据权利要求2所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述测量组件(2)还包括第一紧固件(24),所述基准架(21)设置有第一通孔,所述第一紧固件(24)穿设于所述第一通孔,所述第一通孔的内径大于所述基准杆(23)的外径,所述第一紧固件(24)将所述基准架(21)和所述基准杆(23)的相对位置锁定。
4.根据权利要求2所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述基准架(21)设置有第二通孔,所述千分表(22)还包括穿设于所述第二通孔的套筒(222),所述测量杆(221)浮动设置于所述套筒(222),所述套筒(222)的外径小于所述第二通孔的内径;
所述测量组件(2)还包括第二紧固件(25),所述第二紧固件(25)将所述基准架(21)和所述套筒(222)的相对位置锁定。
5.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述第一半圆环(111)的一端与所述第二半圆环(112)的一端铰接,所述第一半圆环(111)的另一端与所述第二半圆环(112)的另一端卡接。
6.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述基准环(11)设置有螺纹孔,所述螺纹孔的数量至少为三个,且至少三个所述螺纹孔均布于基准环(11)的圆周方向,对应各个所述螺纹孔均设有所述锁紧件(12),所述锁紧件(12)螺接于所述螺纹孔且与所述第一圆柱体(100)的外周面抵接。
7.根据权利要求6所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述基准环(11)还包括深度千分尺(113),所述深度千分尺(113)用于测量所述锁紧件(12)旋入所述螺纹孔内的长度。
8.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述锁紧件(12)与所述第一圆柱体(100)抵接的面设置为磨砂面。
9.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,所述基准环(11)具有环形的滑动轨道(114),所述滑动轨道(114)和所述基准环(11)同轴;
测量组件(2)还包括转动设置于所述基准架(21)的一端的滑动部件(26),所述滑动部件(26)滑动位于所述滑动轨道(114)。
10.根据权利要求9所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具,其特征在于,滑动部件(26)包括固定于所述基准架(21)一端的板件(261),以及间隔设置的两个辊轮(262),两个所述辊轮(262)均与所述板件(261)转动连接,且两个所述辊轮(262)均滑动位于所述滑动轨道(114)。
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