CN112345500A - 一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及检测技术领域，公开了一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置，方法包括S1、标定样品厚度标记；S2、表面抛光；S3、标定厚度测量点；S4、固定检测箱环境；S5、箱内读数检测：开启固定光源，使用照度计检测固定光源的光照度作为无遮挡读数；使固定光源从厚度测量点处穿透待测样品，使用照度计检测穿过待测样品后的光照度作为遮挡读数，待测样品的透光率等于遮挡读数与无遮挡读数之比。装置包括照度计、检测箱、固定台座、固定光源、样品台和检测固定台。本发明提出的透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置，设计了定量的检测方法与步骤，标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性与稳定性。

Description

一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置
技术领域
本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置。
背景技术
由于透光石材的通透性好，因此可以代替塑料或亚克力作为发光的配件，是一种优良的室内装饰材料。市场上一些透光玉石、宝石等的展示中，在石材背部着光，使石材表面呈现出光彩斑驳的立体效果，与石材纹理交相辉映。但是，透光石材同时具有防污性差、吸水率高、脆性大、辐射大等缺点，使用时维护打理成本高，使得透光石材的应用受限。
透光陶瓷是仿天然大理石透光性能的瓷砖，除了需要具备瓷砖本身的优越性能外，还需具备优越的透光性能。
现有技术中，瓷砖的各项性能都有成熟的检测方法，但透光性能的检测方法一般非常简单，步骤包括：使用简易光源(如手电筒)直接穿透瓷砖，通过肉眼观察瓷砖通过的光强度，光强越强，则透光性越好。并通过与石材通过的光强度比较，判断透光陶瓷是否达到质量标准。
从上述可知，现有技术透光陶瓷的透光性能的检测方法主观性强，准确率低。
发明内容
本发明的目的是：本发明提供了一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置，以解决现有技术透光陶瓷的透光性能的检测方法主观性强，准确率低的技术问题。
为了实现上述目的，本发明提供了一种透光陶瓷透光率检测方法，包括以下步骤：
S1、标定样品厚度标记：根据预定测量厚度，在待测样品的侧面处标定样品厚度标记；
S2、表面抛光：根据所述样品厚度标记对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，使抛光后的所述待测样品的厚度符合所述预定测量厚度，并使所述待测样品表面平整且干燥；
S3、标定厚度测量点：使用测量工具检测所述待测样品的中部处的中心厚度，当所述中心厚度符合所述预定测量厚度时，将所述测量工具的测量点标定为厚度测量点；当所述中心厚度不符合所述预定测量厚度时，重新执行所述S2操作；
S4、固定检测箱环境：设定一检测箱，所述检测箱内设有固定光源，使用照度计检测关闭所述固定光源时所述检测箱内的环境光照度；
S5、箱内读数检测：开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度作为无遮挡读数；使所述固定光源从所述厚度测量点处穿透所述待测样品，使用所述照度计检测穿过所述待测样品后的光照度作为遮挡读数，所述待测样品的透光率等于所述遮挡读数与所述无遮挡读数之比。
本申请一些实施例中，所述步骤S4与S5之间，还设有校正检验步骤S40；所述校正检验步骤S40包括：开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度；当所述光照度为1200Lux－1300Lux，则进行步骤S5；当所述光照度低于1200Lux，则更换所述固定光源或所述照度计并重复校正检验步骤S40；检验受光探头的接收器的垂直切线点是否位于固定光源的光照路径处。
本申请一些实施例中，所述步骤S1前，还包括制备样品步骤；
所述制备样品步骤包括：
S01、取料烘干：根据配方准备透光原料，并将所述透光原料中的水分充分烘干，成干原料；
S02、球磨原料：向所述干原料中加入水和三聚磷酸钠，然后球磨所述湿料10－15min；加入的水的重量为所述干原料重量的40－60％，加入的三聚磷酸钠的重量为所述干原料重量的0.1－0.8％；
S03、检测湿料细度：球磨所述湿料至其检测细度达到0.3－1.8，然后取浆烘干；
S04、过筛造粒：取浆烘干后得到粉料，向粉料中加入重量为粉料重量6.5－8.5％的水进行充分混合后，使所述粉料过20－30目筛，并依次进行磨粉、造粒及加水步骤使所述粉料成预备料；
S05、压粉：在模具中将所述预备料压成预设形状，然后烘干成预产品；
S06、烧成：对所述预产品涂底浆，并送入窑炉烧成。
本申请一些实施例中，所述步骤S4中，所述环境光照度≤5Lux。
本申请一些实施例中，所述步骤S2中，使用50目－150目的圆形塑料磨头，通水对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，抛光后的所述待测样品的表面的光度为5°－75°。
本申请一些实施例中，所述预定测量厚度为3－20mm。
本申请一些实施例中，所述步骤S3中，使用硬物标定所述厚度测量点。
本发明还提供一种检测箱装置，包括检测箱、固定光源和照度计，所述照度计包括电连接的主机和受光探头；还包括固定台座、样品台、升降调节件和检测固定台；所述固定台座设于所述检测箱内；所述样品台通过所述升降调节件设于所述固定台座上，其表面用于放置待测样品；所述样品台的中部处设有第一容纳腔，所述固定光源设于所述第一容纳腔内，且所述固定光源的光照方向为垂直于所述样品台的表面；所述检测固定台设于所述固定台座上，其用于固定所述受光探头，使所述受光探头的接收器的垂直切线点位于所述固定光源的光照路径处；所述主机设于所述检测箱外。
本申请一些实施例中，还包括对中光源；所述样品台上以所述第一容纳腔为对称中心对称地设有两个第二容纳腔，所述对中光源设于所述第二容纳腔内；所述对中光源的光照方向为垂直于所述样品台的表面，且两个所述对中光源的光照路径分别对准所述受光探头的接收器的两端边缘位置点。
本申请一些实施例中，所述检测固定台包括底座、调节柱、调节移动座、水平连杆、横向调节螺丝和竖向调节螺丝；所述底座设于所述固定台座上，所述调节柱的底部设于所述底座上；所述调节移动座套设于所述调节柱上，并通过所述竖向调节螺丝锁紧于所述调节柱上；所述水平连杆的一端用于固定所述受光探头，其另一端穿设于所述调节移动座，并由所述横向调节螺丝锁紧于所述调节移动座上。
本发明实施例一种透光陶瓷透光率检测方法及检测箱装置与现有技术相比，其有益效果在于：
本发明提出的透光陶瓷透光率检测方法，通过设置检测箱及稳定的光源，利用照度计，设计了定量的检测方法与步骤，标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。与现有技术人工操作手电筒的检测方法相比，本发明的检测方法准确率与稳定性明显更优。
同时，本发明提出的检测箱装置，在检测箱内设置稳定的光源及固定夹具，利用照度计，设计了配合定量检测方法与步骤的装置，便于检测方法标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。
并且，本发明的检测方法除了可以用于检测成品瓷砖的透光率，也可以用于检测不同透光配方体系瓷砖的透光率，为生产中的粉料性能提供透光率数据，可验证生产过程每个工段的透光率，通过分析透光率的变化，解决生产过程的污染源，从而保证生产的稳定性，对于透光瓷砖的生产和透光配方的体系，具有十分重要的意义。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明优选实施例的一种透光陶瓷透光率检测方法的步骤流程示意图；
图2是本发明另一优选实施例的一种透光陶瓷透光率检测方法的步骤流程示意图；
图3是制备样品步骤的流程示意图；
图4是本发明优选实施例的一种检测箱装置的结构示意图；
图5是水平仪的俯视结构示意图；
图6是检测固定台的结构示意图；
图7是样品夹具的结构示意图；
图8是图4中C处放大图；
图中，1、主机；2、受光探头；21、接收器；3、检测箱；4、固定台座；5、固定光源；6、样品台；7、检测固定台；71、底座；72、调节柱；73、调节移动座；74、水平连杆；75、横向调节螺丝；76、竖向调节螺丝；8、升降调节件；81、调节螺柱；82、第一螺母；83、第二螺母；84、第三螺母；9、对中光源；10、调平螺丝；11、水平仪；110、台水平仪；111、壳体；112、气泡；113、标准圆；12、电源转换器；13、样品夹具；130、夹具单元；131、定位柱；132、压板；133、垫板；134、调节螺丝。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
如图1所示，是本发明优选实施例的一种透光陶瓷透光率检测方法的步骤流程示意图，主要包括以下步骤：
S1、标定样品厚度标记：根据预定测量厚度，在待测样品的侧面处标定样品厚度标记。同时可根据样品配方种类以及样品名称，在被测物品的侧面处标定样品名称标记。
由于不同的样品厚度对透光性能的检测准确率有很大影响，因此要求不同的样品的测量厚度统一。设置样品厚度标记，有效防止进行后续步骤时使样品厚度离预定测量厚度太远，导致降低检测准确率。
S2、表面抛光：根据所述样品厚度标记对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，使抛光后的所述待测样品的厚度符合所述预定测量厚度，并使所述待测样品表面平整且干燥。
在窑炉烧成过程中，产品的顶面可能因窑炉落脏等问题被污染，产品的底面可能因棍棒落脏等问题被污染，因此待测样品需要对顶面及底面分别抛光。对于烧成后白度为70°以上的高白高透材料，更加敏感，更加容易受污染，被污染后对透光性能影响非常大。因此采取抛光工艺去除待测样品表面的污染，能够保证每次检测都在无污染的条件下进行，确保检测的准确性。
S3、标定厚度测量点：使用测量工具检测所述待测样品的中部处的中心厚度，当所述中心厚度符合所述预定测量厚度时，将所述测量工具的测量点标定为厚度测量点；当所述中心厚度不符合所述预定测量厚度时，重新执行所述S2操作。
尽管经过步骤S2后，待测样品的表面基本平整，但实际上难以保证待测样品上各处的厚度均一样。而在测量时，实际上光源只穿透待测样品的某一个点位。因此，在不同待测样品的中部处，找出一个厚度尽可能接近预定测量厚度的点作为厚度测量点，即可降低厚度不均对检测准确性的影响。
S4、固定检测箱环境：固定检测箱环境：设定一检测箱，所述检测箱内设有固定光源，使用所述照度计检测关闭所述固定光源时所述检测箱内的环境光照度。
在检测样品前需要确定每次检测不同样品时的环境光照度是否统一，防止受到箱外光照强度的影响，降低检测准确性。
S5、箱内读数检测：开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度作为无遮挡读数；使所述固定光源从所述厚度测量点处穿透所述待测样品，使用所述照度计检测穿过所述待测样品后的光照度作为遮挡读数，所述待测样品的透光率等于所述遮挡读数与所述无遮挡读数之比。
为了提高测量准确率，可重复S4－S5步骤两次以上，并分别记录相关数据，以便后续取平均值。
本发明提出了一种透光陶瓷透光率检测方法，通过设置检测箱及稳定的光源，利用照度计，设计了定量的检测方法与步骤，标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。与现有技术人工操作手电筒的检测方法相比，本发明的检测方法准确率与稳定性明显更优。
本申请的一些实施例中，参见图2，步骤S4与S5之间，还设有校正检验步骤S40，其包括：
开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度，当光照度为1200Lux－1300Lux，则进行步骤S5；当光照度低于1200Lux，则更换所述固定光源或所述照度计，并重复所述校正检验步骤S40。并且检验受光探头的接收器的垂直切线点是否位于固定光源的光照路径处。本实施例中，待测样品处于水平状态，固定光源的光照垂直于待测样品表面，即要使受光探头处于水平位置。
光源的光照度稳定性对透光性能的检测准确率有很大影响，在检测过程中，要求固定光源具有较强穿透性且光照度保持稳定。本发明方法在步骤S5前进行光源校正步骤，能够及时发现问题。当固定光源的光照度不满足预设要求时，首先更换固定光源，若多次更换固定光源均不能达到要求，则可能是照度计出现问题，需要及时更换，以免影响检测准确性。为了提高测量准确率，可重复S4－S40－S5步骤两次以上，并分别记录相关数据，以便后续取平均值。
本申请的一些实施例中，所述步骤S4中，设定所述环境光照度≤5Lux。因为根据照度计原理，接收器不会选择性接收光照强度，只会测量实时环境的光照度，因此照度计读数显示器显示的光强会大于无遮挡光强或遮挡光强，即导致照度计测得的无遮挡光强或遮挡光强实则是环境光照光强。因此，使环境光照度尽可能小，确保测量的准确性。
本申请的一些实施例中，所述步骤S2中，使用50目－150目的圆形塑料磨头，通水对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，抛光后的所述待测样品的表面的光度为5°－75°。抛光完后待测样品表面的光度会影响样品的透光率。如果抛光完后不同样品的表面具有不同的光度，那么样品的表面对光的反射程度则不同，当同一固定光源射在不同光度的样品上时，光源的透过性不同，造成透光率不同。因此，抛光完的待测样品表面的光照度要统一，且在一定范围内，才能保证测量的准确性。
本申请的一些实施例中，所述预定测量厚度为3－20mm。
本申请的一些实施例中，所述步骤S3中，使用硬物标定所述厚度测量点。硬物在待测样品表面标记时只留印记而不留颜色，避免对测量造成影响。如果使用带颜色的笔进行标记，会出现渗色的情况，严重地影响透光率的测量。硬物可以是尖锐的金属，刻在待测样品上看得出标记即可。
现有技术中，采用简易手电筒凭感觉测量透光率，对于不同的透光原料配方体系，根本无法检测其对应产品的透光率，因此不能为透光瓷砖配方的研究提供数据。并且，透光瓷砖的生产过程中的每个步骤都可能出现污染，使最终成形产品受到污染，而受到污染的瓷砖产品的透光率会降低。本发明的检测方法除了可以用于检测成品瓷砖的透光率，也可以用于检测不同透光配方体系瓷砖的透光率，为生产中的粉料性能提供透光率数据。
因此，本发明还提供一种制备样品步骤，参见图3，所述制备样品步骤包括：
S01、取料烘干：根据配方准备透光原料，并将所述透光原料中的水分充分烘干，成干原料。
S02、球磨原料：向所述干原料中加入水和三聚磷酸钠，化浆成湿料，然后球磨所述湿料10－15min；加入的水的重量为所述干原料重量的40－60％，加入的三聚磷酸钠的重量为所述干原料重量的0.1－0.8％。球磨机内使用高铝球石作为球磨石，配有大、中、小规格的球磨石。
S03、检测湿料细度：球磨所述湿料至其检测细度达到0.3－1.8，然后取浆烘干。细度的不同会影响透光率，细度越细，则烧出来的饼越透，细度不同则生产参数也不同。因此要按生产要求，统一细度来检测。若透光粉料化浆后细度不在0.3－1.8范围，则按原配方重新配料，重新球磨，直至检测细度为0.3－1.8。
S04、过筛造粒：取浆烘干后得到粉料，向粉料中加入重量为粉料重量6.5－8.5％的水进行充分混合后，使所述粉料过20－30目筛，并依次进行磨粉、造粒及加水步骤使所述粉料成预备料。
S05、压粉：使用电动、手动液压制样机、生产或试验小压机、生产或试验大压机，在模具中将预备料压制成预设形状，然后烘干成预产品。所述电动、手动液压制样机、生产或者试验小压机、生产或者试验大压机，模具尺寸不限，压机规格型号不限，压力不限，只要能稳定压砖，不分层即可。
S06、烧成：对所述预产品涂底浆，并送入窑炉烧成。烧成后的长条饼的检测厚度为13±0.2mm，完成待测样品的制备。烘干后的预产品要涂一层薄的底浆。底浆是一种高温材料，是为了保护预产品的底部，因为透料为特殊料种，防止烧出来的饼烂底，厚度不均，影响后续测量透光率。
根据上述制备待测样品的步骤可得到标准的待测样品，如有标准的生产粉料，即粉料水分、颗粒级配等各方面的参数都达标的粉料，则可在取料后，直接执行上述步骤S05－S06，制备样品。如有标准的生产浆料，即浆料水分、比重、细度、容重等数据达标的情况下，则可在取浆后，直接执行上述步骤S04－S06制备样品。如在生产过程中，则直接取成品透光砖，切割成小规格，用手抛机抛掉底纹以及底浆，即可制备样品。
综上，本发明的检测方法除了可以用于检测成品瓷砖的透光率，也可以用于检测不同透光配方体系瓷砖的透光率，为生产中的粉料性能提供透光率数据，对于透光瓷砖的生产和透光配方的体系，具有十分重要的意义。
本发明还提供一种检测箱装置，参见图4，包括检测箱3、固定光源5和照度计，照度计包括电连接的主机1和受光探头2，还包括固定台座4、样品台6、升降调节件8、和检测固定台7。固定台座4设于检测箱3内，样品台6通过升降调节件8设于固定台座4上，样品台6表面用于放置待测样品。样品台6的中部处设有第一容纳腔，固定光源5设于第一容纳腔内，且固定光源5的光照方向为垂直于样品台6的表面，穿过待测样品的厚度检测点B。检测固定台7设于固定台座4上，其用于固定受光探头2，使受光探头2的接收器21的垂直切线点A位于固定光源5的光照路径处。主机1设于检测箱3外，用于接收照度计的数据。
本申请的一些实施例中，参见图4，还包括对中光源9。样品台6上以第一容纳腔为对称中心对称地设有两个第二容纳腔，对中光源9设于第二容纳腔内。对中光源9的光照方向为垂直于样品台6的表面，且两个对中光源9的光照路径分别对准受光探头2的接收器21的两端边缘位置点。设置对中光源9的作用是使对中光源对应接收器21两端边缘位置点，从而保证检测开始前受光探头2处于水平位置，并可以在测量过程中辅助监控受光探头2的位置是否发生歪斜，从而有效保证测量的准确性。
上述实施例中，固定光源5采用LED白光灯珠，LED白光灯珠为≤30°发光，要求灯光相对集中，不分散，否则会导致光源的穿透性减弱，影响检测。对中光源9采用发微弱白色灯光、且光线直径保持为2mm的聚焦灯珠，且对中光源9的电流、电压、功率均与固定光源5匹配一致。并且，在检测箱3内设置电源转换器12，电源转换器12与固定光源5及对中光源9连接，两种灯珠共用一个电源转换器12。LED白光灯珠通过电源转换器12稳压转化接220V的电，功率一般为3W，以保证电源的稳定性。
本申请的一些实施例中，参见图4，还包括调平螺丝10和水平仪11。调平螺丝10设于检测箱3的底部四角处以用于调节检测箱3的水平高度，以辅助微调检测箱3至水平状态。水平仪11设于固定台座4上。参见图5，水平仪11为气泡形水平仪，壳体111内充水并留有一个气泡112，壳体111的观察窗口处画有标准圆113，当气泡112处于标准圆113的中部处即可认为检测箱3基本处于水平状态。
本申请的一些实施例中，参见图6，检测固定台7包括底座71、调节柱72、调节移动座73、水平连杆74、横向调节螺丝75和竖向调节螺丝76。底座71设于固定台座44上，调节柱72的底部设于底座71上调节移动座73套设于调节柱72上，并通过竖向调节螺丝76锁紧于调节柱72上。水平连杆74的一端用于固定受光探头2，其另一端穿设于调节移动座73，并由横向调节螺丝75锁紧于调节移动座73上。通过检测固定台7可调节受光探头2上、下、左、右移动，以使其在检测开始前处于合适位置，有助于提高检测准确性。调节受光探头2的位置时，首先通过竖向调节螺丝76确定调节移动座73的竖直高度，然后打开对中光源9，通过横向调节螺丝75使水平连杆74左右移动至使对中光源9对应受光探头2的接收器21两端边缘位置点时固定水平连杆74的位置，完成调节。
本申请的一些实施例中，参见图7，样品台6上还设有样品夹具13。样品夹具13包括对称地设于待测样品两侧的夹具单元130，夹具单元130包括定位柱131、压板132、垫板133和调节螺丝134。定位柱131的底部设于样品台6上，压板132可移动地穿设于定位柱131上，调节螺丝134穿过压板132的侧面并将压板132锁紧于定位柱131上，垫板133设于压板132与待测样品对应的底部处，用于垫在压板132与待测样品之间，防止压板132损害待测样品，以及当待测样品的直径与两个夹具单元130之间的距离不匹配时，用于辅助压紧待测样品，增加夹具结构的适应性。设置样品夹具13能够辅助固定待测样品，确保测量过程中待测样品的位置不移动，固定光源5一直对准厚度标记点，有效保证了测量的准确性。
本申请的一些实施例中，参见图8，升降调节件8包括调节螺柱81、第一螺母82、第二螺母83和第三螺母84。调节螺柱81的一端通过第一螺母82安装于固定台座4的表面，调节螺柱81的另一端穿过样品台6。第二螺母83及第三螺母84均套设于调节螺柱81上并分别抵接于样品台6的上表面及下表面，以将样品台6固定在合适高度。进一步的，样品台6上设有台水平仪110，其结构与水平仪11相同，用于检测样品台6在调节高度后是否处于水平状态。
综上，本发明提出了一种检测箱装置，在检测箱内设置稳定的光源及固定夹具，利用照度计，设计了配合定量检测方法与步骤的装置，便于检测方法标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。
以下提供一个制备待测样品的完整实施例：
S01a、取料烘干：根据配方准备透光原料，并将所述透光原料中的水分充分烘干，成干原料300g。
S02a、球磨原料：按300g干原料，加水156g，加三聚磷酸钠0.8％(即2.4g)，混合成湿料，然后球磨10min－15min。
S03a、检测湿料细度：球磨湿料至其检测细度达到1.0－1.5，然后取浆烘干。
S04a、过筛造粒：取浆烘干后得到粉料，向粉料中加入重量为粉料重量7％的水进行充分混合后，使所述粉料过30目筛，并依次进行磨粉、造粒及加水步骤使所述粉料成预备料。
S05a、压粉：取预备料88g，调整液压制样机压力为12Mpa，打长条饼(模具内径40mm＊80mm)，然后烘干长条饼30min。
S06a、烧成：对长条饼涂底浆，并送入窑炉烧成，烧成出来的长条饼的检测厚度大概13±0.2mm。
S1a、标定样品厚度标记：根据预定测量厚度(12.5mm)，在长条饼的侧面处标定样品厚度标记。并根据样品配方种类以及样品名称，在被测物品的侧面处标定样品名称标记。
S2a、表面抛光：使用手抛机，换上50目－150目的圆形塑料磨头，通水，对长条饼的顶面及底面进行轻微抛光抛平，正反面大概抛掉0.25mm，抛光完后检测长条饼大部分厚度为12.5±0.2mm，然后使长条饼表面保持平整且干燥。抛光完之后长条饼的表面光度范围在5°－75°之间。
S3a、标定厚度测量点：使用游标卡尺检测长条饼的中间位置厚度为12.5±0.2mm，卡尺保持不动，用硬物画点标记卡尺卡点处为厚度测量点。当中间位置厚度不符合12.5±0.2mm时，重新执行所述S2a操作直至符合。
根据上述方法可得到标准的待测样品，如有标准的生产粉料，即粉料水分、颗粒级配等各方面的参数都达标的粉料，则直接可以执行步骤S05a－S3a，得到标准的待测样品；如有标准的生产浆料，即浆料水分、比重、细度、容重等数据达标的情况下，则可在取浆后，直接执行上述步骤S04a－S3a制备样品。
以下实施例对该待测样品进行检测。
实施例1
本实施例采用手机小电筒检测待测样品的透光率，该检测方法步骤如下：
(1)固定一个黑暗环境，固定一个检测箱，手机放进去检测箱内，手机小电筒方向朝上，照度计在检测箱里面读数必须≤5Lux。检测箱里面是空的，只有照度计和手机。
(2)测量无遮挡读数：人工移动照度计的光度头，让接收器的垂直切线点贴着手机小电筒缓慢移动几圈，取照度计读数的最大值，记下读数为无遮挡读数。
(3)测量遮挡读数：把待测样品放到手机小电筒上，移动饼的位置，确保手机小电筒中心位置对准待测样品的厚度测量点，保持待测样品位置不动。然后人工移动照度计光度头，让接收器的垂直切线点贴着待测样品上的厚度测量点，待照度计读数稳定后记下读数，此时可能人手存在晃动，照度计读数存在波动。
(4)以上从(2)到(3)的步骤重复测量两次，分别记录下来。透光率＝遮挡读数÷无遮挡读数，最后取平均透光率。
表(1)是在同一检测箱，同一环境光照度下，使用5种不同手机型号测量同一个待测样品中同一个厚度测量点处得到的相关数据。
Figure BDA0002791947730000121
表(1)
本实施例的方法是现有技术常采用的测量方法，从表(1)中可看出，对于同一个待测样品，在其他因素(光照环境、样品厚度、材料污染程度、手晃动情况)一样的情况下，由于手机型号不同，手机小电筒的光照度也互不相同，所测得的透光率也不同，由此可见固定光源对透光率的测量准确性具有很大影响。同时，由于是人工操作光度头，检测过程中手存在晃动，进一步影响了测量的准确性。
实施例2
本实施例与实施例1的不同之处在于：采用稳定光源手电筒替换手机小电筒检测待测样品透光率，其测量方法与实施例1相同。表(2)是在同一检测箱，同一环境光照度下，使用同一满电状态手电筒在不同时间段测量同一个待测样品中同一个厚度测量点处得到的相关数据。
Figure BDA0002791947730000131
表(2)
本实施例的方法是现有技术常采用的测量方法，从表(2)中可看出，对于同一个待测样品，在其他因素(光照环境、样品厚度、材料污染程度、手晃动情况)一样的情况下，使用理论上光照度稳定不变的手电筒检测，所测得的透光率依然互不相同。这是因为，在实际使用中，手电筒会因为电池的波动，电流与电压的不稳定，导致手电筒即使同样在满电状态下，其光照度也不一致。由此可见，抛开其他外部因素，现有技术使用理论上光照度稳定的手电筒进行测量，其测量准确性依旧不高。同时，由于是人工操作光度头，检测过程中手存在晃动，进一步影响了测量的准确性。因此现有技术的方法不能作为检验透光陶瓷透光率的标准操作。
实施例3
本实施例中，使用具有不同环境光照度的检测箱进行测量，除检测箱环境光照度这一条件不同外，其他检测条件相同，并且待测样品放置于一个样品台上，并使用一个检测固定台固定照度计，代替人手操作照度计，表(3)是测量得到的相关数据。
Figure BDA0002791947730000141
表(3)
从表(3)可以看出，检测箱内的环境光照强度直接影响遮挡光源的照度计读数。这是因为，根据照度计的工作原理，接收器不会选择性地接收光照强度，只会测量实时环境的光照度，因此检测箱内的环境光照强度直接影响遮挡光源的照度计读数，导致后续透光率数据不准。因此，需要对检测箱的光照强度进行统一设置。
并且，若检测箱的环境光照强度强烈，比步骤S5中测量的遮挡透光光照强度大，就会导致遮挡读数不准，从而导致最终的透光率检测也不准确。因此，优选设置为环境光照度≤5Lux，以便更好地保证检测的准确性。
同时表(3)的数据也表明，将待测样品放置于一个稳定的样品台上，并使用一个稳定的检测固定台固定照度计，代替人手操作，能够进一步保证测量的准确性。
实施例4
本实施例中，使用同一透光料配方制作不同检测厚度的待测样品，除待测样品的检测厚度这一条件不同外，其他检测条件相同，并且待测样品放置于一个样品台上，并使用一个检测固定台固定照度计，代替人手操作照度计，表(4)是测量得到的相关数据。
Figure BDA0002791947730000151
表(4)
从表(4)可以看出，对于使用同一透光料配方制作的待测样品饼，不同检测厚度也会影响检测得到的透光率数据。对于同一透光料配方，待测样品饼的厚度越厚，通透性越差；待测样品饼的厚度越薄，通透性越好。当其他条件不变的时候，通透性的变化当于待测样品饼遮挡光源的照度计读数(遮挡读数)的变化。因此透光率会随着待测样品饼的厚度的变化而变化。因此，在检测时需要标定厚度测量点，以方便统一检测厚度，减少对测量准确性的影响。并且，为了得到更准确的检测数据以便于为透光瓷砖生产过程中提供每个工艺流程的透光率数据，优选将预定测量厚度设为12.5mm。
实施例5
透光瓷砖的生产步骤依次包括球磨、喷雾塔喷料造粒、粉料运输及粉料进仓，本实施例对上述每一生产步骤均采用最高标准执行卫生清洁工作并从每一步骤中分别取样，并依据本发明方法步骤S01－S06制备实验样品，共得到四个实验样品，并采用同一配方使用无污染的标准原料依据本发明方法步骤S01－S06制备标准样品作为对照组，按照标准检测方法测量每一个样品的透光率，得到如表(5)数据。
Figure BDA0002791947730000161
表(5)
根据表(5)数据可分析得，无污染的标准原料制备得到的标准产品白度很高，达到72度以上，表面洁白无瑕。但瓷砖产品在整个制备过程中十分容易受到污染，当检测样品的表面被污染后，会严重影响光的穿透性，从而影响遮挡读数，根据透光率的计算公式，可知遮挡读数不准确会导致透光率不准确。因此，在检测前，需要对待测样品的顶面及底面分别进行抛光，使抛光后的待测样品表面平整且干燥，以保证在无污染条件下测量待测样品，确保测量数据的准确性。
透光瓷砖的生产步骤依次包括原料运输、原料存储、原料进球、球磨、泵浆、大池均化、喷雾塔喷料造粒、粉料运输、粉料进仓、粉料运输、压机压砖成型、坯体干燥、淋釉、喷墨、印花、烧成、抛光磨边超洁亮及打包，上述每一过程都可能对粉料或产品造成污染。上述运输过程中，可能受到的污染包括车轮的来回转动污染、挖掘机的均化来回转动污染、链条的污染、不同料之间相互渗透污染、下雨时候路面的泥浆污染、铲车来回铲料时泥浆混合污染、空气的污染，棚顶铁锈的掉落污染等等。上述污染都是不可挽救的，会导致产品的白度至少降低2－4度，透光率降低10％左右。球磨过程中，一般使用中铝球，球磨机的球衬一般是中铝球衬，喂料机一般是铁制的，上述设备带来的污染也是不可挽救的，会导致产品的白度至少降低2－5度，透光率降低10％－15％。此外，一般的喷雾塔也是铁制的，燃料为水煤浆，开塔过程中，水煤浆在燃烧时，清水经过喷雾塔后出来的水是污水，也容易导致产品污染。当喷雾塔喷料完成后，原料运输一般是使用黑色输送皮带，皮带上残留的杂质也会对粉料造成污染的，使产品白度降低2－7度，透光率降低10－15％。粉料进仓过程中，一般的料仓也是铁制的，因此料仓也会对粉料造成一定程度的污染。在烧成过程中，窑炉的污染，铁制高温垫板的污染，底浆的污染，以及测量时使用带颜色的水笔做标记，都会导致产品污染。上述任一过程的污染都会影响测量的准确性。
根据表(5)的数据分析可得，依次从球磨、喷雾塔喷料造粒、粉料运输及粉料进仓过程中取料制备的实验样品，按标准检测方法测量透光率，从标准样品到实验样品，白度从73.3度降低到60度，透光率从0.25％降低到0.14％。由此可知，上述每个环节中粉料都受到了污染，导致透光率逐渐降低。根据上述检测数据，有助于生产人员从每个环节分析污染源，比如球磨过程中，可以从球磨石以及球磨称去对比分析；喷雾塔喷料造粒过程中，可以从喷雾塔的材料以及喷雾塔的燃料去对比分析；运料运输过程中，可以从皮带材料以及皮带是否密封去分析；粉料进仓过程中，可以从料仓的材质去分析。其他生产过程都可使用上述方法依次类推分析污染过程及污染源，及时处理过程问题，保障生产的稳定性。
综上，本发明提出了一种透光陶瓷透光率检测方法，通过设置检测箱及稳定的光源，利用照度计，设计了定量的检测方法与步骤，标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。与现有技术人工操作手电筒的检测方法相比，本发明的检测方法准确率与稳定性明显更优。
同时，本发明提出了一种检测箱装置，在检测箱内设置稳定的光源及固定夹具，利用照度计，设计了配合定量检测方法与步骤的装置，便于检测方法标准化操作，大大增加了检测透光率的准确性。
并且，本发明的检测方法除了可以用于检测成品瓷砖的透光率，也可以用于检测不同透光配方体系瓷砖的透光率，为生产中的粉料性能提供透光率数据，对于透光瓷砖的生产和透光配方的体系，具有十分重要的意义。本发明的检测方法不仅能用于透光陶瓷的透光率检测，还可用于透明陶瓷、透光石材等半透或者透明材料的透光率检测，该方法对于透光玉石的挑选，透明以及半透材料的挑选，也具有十分重要的意义。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、标定样品厚度标记：根据预定测量厚度，在待测样品的侧面处标定样品厚度标记；
S2、表面抛光：根据所述样品厚度标记对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，使抛光后的所述待测样品的厚度符合所述预定测量厚度，并使所述待测样品表面平整且干燥；
S3、标定厚度测量点：使用测量工具检测所述待测样品的中部处的中心厚度，当所述中心厚度符合所述预定测量厚度时，将所述测量工具的测量点标定为厚度测量点；当所述中心厚度不符合所述预定测量厚度时，重新执行所述S2操作；
S4、固定检测箱环境：设定一检测箱，所述检测箱内设有固定光源，使用照度计检测关闭所述固定光源时所述检测箱内的环境光照度；
S5、箱内读数检测：开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度作为无遮挡读数；使所述固定光源从所述厚度测量点处穿透所述待测样品，使用所述照度计检测穿过所述待测样品后的光照度作为遮挡读数，所述待测样品的透光率等于所述遮挡读数与所述无遮挡读数之比。
2.根据权利要求1所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述步骤S4与S5之间，还设有校正检验步骤S40；
所述校正检验步骤S40包括：
开启所述固定光源，使用所述照度计检测所述固定光源的光照度；当所述光照度为1200Lux－1300Lux，则进行步骤S5；当所述光照度低于1200Lux，则更换所述固定光源或所述照度计并重复校正检验步骤S40；
检验受光探头的接收器的垂直切线点是否位于固定光源的光照路径处。
3.根据权利要求1或2所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述步骤S1前，还包括制备样品步骤；
所述制备样品步骤包括：
S01、取料烘干：根据配方准备透光原料，并将所述透光原料中的水分充分烘干，成干原料；
S02、球磨原料：向所述干原料中加入水和三聚磷酸钠，然后球磨所述湿料10－15min；加入的水的重量为所述干原料重量的40－60％，加入的三聚磷酸钠的重量为所述干原料重量的0.1－0.8％；
S03、检测湿料细度：球磨所述湿料至其检测细度达到0.3－1.8，然后取浆烘干；
S04、过筛造粒：取浆烘干后得到粉料，向粉料中加入重量为粉料重量6.5－8.5％的水进行充分混合后，使所述粉料过20－30目筛，并依次进行磨粉、造粒及加水步骤使所述粉料成预备料；
S05、压粉：在模具中将所述预备料压成预设形状，然后烘干成预产品；
S06、烧成：对所述预产品涂底浆，并送入窑炉烧成。
4.根据权利要求1所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述步骤S4中，所述环境光照度≤5Lux。
5.根据权利要求1所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，使用50目－150目的圆形塑料磨头，通水对所述待测样品的顶面及底面分别进行抛光，抛光后的所述待测样品的表面的光照度为5°－75°。
6.根据权利要求1所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述预定测量厚度为3－20mm。
7.根据权利要求1所述的透光陶瓷透光率检测方法，其特征在于，所述步骤S3中，使用硬物标定所述厚度测量点。
8.一种检测箱装置，包括检测箱、固定光源和照度计，所述照度计包括电连接的主机和受光探头；
其特征在于，
还包括固定台座、样品台、升降调节件和检测固定台；
所述固定台座设于所述检测箱内；
所述样品台通过所述升降调节件设于所述固定台座上，其表面用于放置待测样品；所述样品台的中部处设有第一容纳腔，所述固定光源设于所述第一容纳腔内，且所述固定光源的光照方向为垂直于所述样品台的表面；
所述检测固定台设于所述固定台座上，其用于固定所述受光探头，使所述受光探头的接收器的垂直切线点位于所述固定光源的光照路径处；
所述主机设于所述检测箱外。
9.根据权利要求8所述的检测箱装置，其特征在于，还包括对中光源；
所述样品台上以所述第一容纳腔为对称中心对称地设有两个第二容纳腔，所述对中光源设于所述第二容纳腔内；所述对中光源的光照方向为垂直于所述样品台的表面，且两个所述对中光源的光照路径分别对准所述受光探头的接收器的两端边缘位置点。
10.根据权利要求8所述的检测箱装置，其特征在于，所述检测固定台包括底座、调节柱、调节移动座、水平连杆、横向调节螺丝和竖向调节螺丝；
所述底座设于所述固定台座上，所述调节柱的底部设于所述底座上；所述调节移动座套设于所述调节柱上，并通过所述竖向调节螺丝锁紧于所述调节柱上；所述水平连杆的一端用于固定所述受光探头，其另一端穿设于所述调节移动座，并由所述横向调节螺丝锁紧于所述调节移动座上。
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