CN112285479A - 一种保密介质完整性检测系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种保密介质完整性检测系统,所述保密介质完整性检测系统包括:完整性检测电路单元,分布在待完整性检测的介质的表面,内部含有随机滤波电路,形成特有的电路特征;接触式识别芯片单元,用于保存介质信息及ID标识,并在通电后广播自身ID标识;外部读写单元,用于读取所述接触式识别芯片单元的ID标识及介质信息;接触式供电电路单元;接触式自我销毁电路单元;第一外部电源单元,用于分别为所述接触式识别芯片单元及所述完整性检测电路单元供电,并接收所述完整性检测电路单元回传的电流信号。本发明通过特有的电路滤波特征,实现了对保密介质的完整性进行检测,同时添加了唯一ID标识,达到保密追踪、管理的目的。
Description
技术领域
本发明涉及记录载体处理领域,特别是涉及一种保密介质完整性检测系统和方法。
背景技术
在保密领域中,随着科学技术的不断进步,大量的保密手段被应用到了信息的防护领域。但存储介质存在着完整性不易检测或检测时易生成新的泄密点的问题。对于数字存储设备,如光盘、软盘、优盘、硬盘等,因所有信息为一个整体,从理论上,可以通过判断是否能读取信息,来判断设备的完整性,但是在读取信息的过程中,本身就是一个泄密的隐患点。对于纸质介质及材料、样本等物质,一般没有办法判别其完整性,进而给保密工作带来巨大的隐患。而简单使用导线通、断的方式来进行完整性检测的手段,存在着使用跳线连接两处断点后无法区分的缺陷。
纸张、材料等物质,一般还存在没有唯一ID的特点,使用二维码、条形码等方式生成的ID,容易被复制,难以起到唯一标识的效果。
发明内容
本发明的目的是提供一种保密介质完整性检测系统和方法,可对保密介质的完整性进行自动检测,提高了保密工作的安全性。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
一种保密介质完整性检测系统,所述保密介质完整性检测系统包括:
完整性检测电路单元,分布在待完整性检测介质的表面;
接触式识别芯片单元,与所述完整性检测电路单元的两端连接,形成闭环电路,用于保存对应的介质信息及自身ID标识,并在通电后广播自身ID标识;
外部读写单元,与所述接触式识别芯片单元连接,用于初始化所述接触式识别芯片单元,一次性向所述接触式识别芯片单元写入介质信息,并读取所述接触式识别芯片单元的自身ID标识及所述介质信息;
接触式供电电路单元,与所述接触式识别芯片单元连接,用于为所述接触式识别芯片单元及所述完整性检测电路单元供电;
接触式自我销毁电路单元,分别与第二外部电源单元及所述接触式识别芯片单元连接,用于将所述接触式识别芯片单元销毁;
第一外部电源单元,与所述接触式供电电路单元连接,用于通过所述接触式供电电路单元分别为所述接触式识别芯片单元及所述完整性检测电路单元供电,并接收所述完整性检测电路单元回传的电流信号;
第二外部电源单元,与所述接触式自我销毁电路单元连接,用于为所述接触式自我销毁电路单元供电。
可选地,所述完整性检测电路单元包括:
导线,粘贴在待完整性检测的介质表面;
滤波电路,所述滤波电路的数量为复数个,各所述滤波电路之间通过所述导线连通,用于对通过的电流信号进行滤波;所述滤波电路为带通、带阻、低通或高通滤波电路,且带通、带阻、低通或高通滤波电路随机排列,通带、阻带频率随机设置。
可选地,所述第一外部电源单元具有两种工作模式:第一工作模式和第二工作模式;
在所述第一外部电源单元处于第一工作模式时,通过所述接触式供电电路单元为所述接触式识别芯片单元提供直流低压电信号;
在所述第一外部电源单元处于第二工作模式时,通过所述接触式供电电路单元为所述完整性检测电路单元提供检测电流信号。
可选地,所述检测电流信号为从低频0hz到高频10KHz的正弦波或三角波、方波的检测信号。
可选地,所述第一外部电源单元包括:
ADC采样模块,在所述第一外部电源单元处于第二工作模式时,所述ADC采样模块用于采集所述完整性检测电路单元回传的电流信号,形成回传信号。
可选地,所述完整性检测系统还包括:
服务器单元,分别与所述外部读写单元、所述第一外部电源单元及所述第二外部电源单元连接,用于存储介质信息及所述接触式识别芯片单元与所述介质的关联关系,并处理所述完整性检测电路单元回传的电流信号,控制所述第一外部电源单元的工作模式,以及控制所述第二外部电源单元供电。
可选地,所述服务器单元包括:
存储模块,与所述外部读写单元连接,用于存储所述介质信息与所述接触式识别芯片单元的关联关系,以及与所述接触式识别芯片单元绑定的特征库;所述特征库为预先采集的对应完整性检测电路单元的电流特征信息;
比较模块,分别与所述第一外部电源单元及所述存储模块连接,用于从所述存储模块中调取所述特征库,并与所述完整性检测电路单元回传的电流信号进行比对,在比对结果不一致时,认定电路短路或断路,产生异常信息。
可选地,所述服务器单元还包括:
控制模块,与所述第二外部电源单元连接,用于产生销毁指令控制所述第二外部电源单元为所述接触式自我销毁电路单元供电。
可选地,所述接触式识别芯片单元为RFID射频芯片;所述外部读写单元为射频识别读写设备RFID。
为实现上述目的,本发明还提供了如下方案:
一种保密介质完整性检测方法,基于上述保密介质完整性检测系统,所述保密介质完整性检测方法包括:
外部读写设备对接触式识别芯片初始化,将介质信息写入所述接触式识别芯片;
接触式供电电路通过第一外部电源为接触式识别芯片供电;
外部读写设备读取所述接触式识别芯片保存的介质信息及ID标识,与介质主体进行关联绑定;
接触式供电电路通过第一外部电源为完整性检测电路供电,第一外部电源检测完整性检测电路的电路滤波特征,并存储到服务器;
所述第一外部电源配合外部读写设备,读取接触式识别芯片ID信息,并进行完整性检测;
所述接触式自我销毁电路根据服务器的销毁指令将所述接触式识别芯片销毁。
根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:本发明利用完整性检测电路单元和相应的接触式识别芯片单元、接触式供电电路单元、接触式自我销毁电路单元、外部读写单元、第一外部电源单元的配合,实现了一种对保密介质进行完整性检测的系统和方法,可对保密介质的完整性进行检测,并添加唯一标识,提高了保密工作的安全等级。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明保密介质完整性检测系统的整体模块结构示意图;
图2为完整性检测电路单元及服务器单元的内部结构示意图;
图3为第一外部电源单元内部结构示意图;
图4为本发明保密介质完整性检测系统的整体结构图。
符号说明:
1-完整性检测电路单元,11-导线,12-随机滤波电路,2-接触式识别芯片单元,3-外部读写单元,4-接触式供电电路单元,5-接触式自我销毁电路单元,6-第一外部电源单元,61-第一工作模式电源,62-第二工作模式电源,63-ADC采样模块,7-第二外部电源单元,8-服务器单元,81-存储模块,82-比较模块,83-控制模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的目的是提供一种保密介质完整性检测系统和方法,第一外部电源单元使用第一工作模式,通过接触式供电电路单元为接触式识别芯片单元供电,接触式识别芯片单元通电后广播自身ID,外部读取单元识别读取接触式识别芯片单元的ID信息;第一外部电源单元还使用第二工作模式,通过接触式供电电路单元给完整性检测电路单元通电,通电后,第一外部电源单元中的ADC采样模块识别经过完整性检测电路后的电流信号,通过对电流信号的特征判断其完整性。本发明通过特有的电路滤波特征,实现了对保密介质的完整性进行检测,达到保密管理的目的。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1所示,本发明的保密介质完整性检测系统包括:完整性检测电路单元1,接触式识别芯片单元2,外部读写单元3,接触式供电电路单元4,接触式自我销毁电路单元5以及第一外部电源单元6。
其中,完整性检测电路单元1,接触式识别芯片单元2,接触式供电电路单元4以及接触式自我销毁电路单元5为统一的整体,粘黏在待完整性检测介质的表面,跟随介质移动、存储等,统称检测标签;外部读写单元3,第一外部电源单元6,第二外部电源单元7以及服务器单元8,是配合实现本检测系统的外部设备,不随介质移动,统称外部设备。
具体地,所述完整性检测电路单元1分布在待完整性检测的介质的表面;在本实施例中,所述完整性检测电路单元1分布在待完整性检测的介质主体的表面。具体地,如图2所示,所述完整性检测电路单元1包括导线11和滤波电路12;其中,所述导线11为导电碳膜,表面有绝缘层,通过粘黏的方式贴在待完整性检测的介质表面。本实施例中,所述的粘黏方式可以使用胶带;优选的,所述导电碳膜与胶带颜色一致。
进一步地,所述滤波电路12的数量为复数个,各所述滤波电路之间通过所述导线连通,用于对通过的电流信号进行滤波;具体地,所述滤波电路12分布在整个完整性检测电路单元1中;所述滤波电路12的频率参数随机设置,分布顺序随机设置;从而防止断路后、人为的使用电线连接断路部分,进一步提升了保密效果。
更进一步地,所述的滤波电路12可以是带通、带阻、低通、高通滤波电路;一个完整性检测电路单元1中,可以同时出现带通、带阻、低通、高通不同效果的滤波电路12,通带、阻带频率随机设置。
进一步地,所述的完整性检测的介质主体为现有的光盘、软盘、优盘、硬盘等数字存储介质和纸张、材料样本等实体介质;具体地,当所述完整性检测电路单元1适用于数字存储介质时,整个所述完整性检测电路单元1环绕介质一周,保证除数字接口外的任意部分均有电路分布;当所述完整性检测电路单元1适用于纸质介质时,所述完整性检测电路单元1环绕分布于纸张的一个表面;当所述完整性检测电路单元1适用于材料样本时,所述完整性检测电路单元1环绕其外部包装袋或外部包装瓶等。
所述接触式识别芯片单元2与所述完整性检测电路单元1的两端连接,所述接触式识别芯片单元2与所述完整性检测电路单元1形成闭环电路,所述接触式识别芯片单元2用于保存对应的介质信息及自身ID标识,并在通电后广播自身ID标识。具体地,所述接触式识别芯片单元为RFID射频芯片;
所述外部读写单元3与所述接触式识别芯片单元2连接,所述外部读写单元3用于初始化所述接触式识别芯片单元2,所述外部读写单元3一次性向所述接触式识别芯片单元2写入介质信息,并读取所述接触式识别芯片单元2的ID标识及所述介质信息;在本实施例中,所述外部读写模块3采用射频识别读写设备(Radio Frequency Identification,RFID)。
所述接触式供电电路单元4与所述接触式识别芯片单元2连接,所述接触式供电电路单元4用于为所述接触式识别芯片单元2及所述完整性检测电路单元1供电;
所述第一外部电源单元6与所述接触式供电电路单元4连接,所述第一外部电源单元6用于通过所述接触式供电电路单元4分别为所述接触式识别芯片单元2及所述完整性检测电路单元1供电,并接收所述完整性检测电路单元1回传的电流信号。具体地,所述接触式供电电路单元4与所述第一外部电源单元6接触的地方的电路裸露,可以通过物理连接的方式形成通路。
具体地,所述第一外部电源单元6具有两种工作模式:第一工作模式和第二工作模式;在所述第一外部电源单元6处于第一工作模式时,所述第一外部电源单元6通过所述接触式供电电路单元4为所述接触式识别芯片单元2提供直流低压电信号;在所述第一外部电源单元6处于第二工作模式时,所述第一外部电源单元6通过所述接触式供电电路单元4为所述完整性检测电路单元1提供检测电流信号。具体地,所述第一外部电源单元的正极产生特点电压、频率的信号,该信号通过完整性检测电路单元1回到第一外部电源单元6的负极。
进一步地,如图3所示,所述第一外部电源单元6包括:第一工作模式电源61、第二工作模式电源62和第二工作模式下的ADC采样模块63。
其中,所述第一外部电源单元6工作在第一工作模式时,所述第一工作模式电源61生成直流的低压电信号给接触式识别芯片单元2供电。
进一步地,所述第一外部电源单元6工作在第二工作模式时,所述第二工作模式电源62将生成从低频0hz到高频10KHz或更高的正弦波或三角波、方波信号,形成检测信号;所述检测信号通过完整性检测电路单元1后回到所述第一外部电源单元6,同时被ADC采样模块63采样。因完整性检测电路单元1中分布着特性随机的滤波电路12,所以不同的频率检测信号,会有不同效果的衰减,该衰减信息将与特征库中的该完整性检测电路的特征信息对比,根据结果判定电路的完整性。一般的,当无任何信号时,可以认为电路断路,继而判定介质遭到破坏,告知服务器或管理员;当出现不应该存在的某频率信号时,可以认为电路短路,设置认为有人特意使用导线短接了完整性检测电路单元1,告知服务器或管理员;当信号特征正常时,判定介质完整,继续进行其他流程。
具体的,所述的特征库在将完整性检测电路单元粘贴到待完整性检测的介质主体时进行采集并存储。因完整性检测电路单元1中的滤波电路12的随机特性,每个完整性检测电路单元1的电路的特征信息有较大的概率不相同,不存在通用的电路特征,可以有效防止泄密人员使用导线的方式,短接完整性检测电路单元1。
进一步地,所述完整性检测系统还包括第二外部电源单元7。
所述接触式自我销毁电路单元5分别与第二外部电源单元7及所述接触式识别芯片单元2连接,所述接触式自我销毁电路单元5用于将所述接触式识别芯片单元2销毁。具体地,所述接触式自我销毁电路单元5与所述第二外部电源单元7连接的地方的电路裸露,可以通过物理连接的方式形成通路。
所述第二外部电源单元7与所述接触式自我销毁电路单元5连接,所述第二外部电源单元7用于为所述接触式自我销毁电路单元5供电。具体地,所述第二外部电源单元7接收到特定命令后,提供反向供电或高电压供电,击穿所述接触式识别芯片模块2内部结构。
进一步地,所述完整性检测系统还包括服务器单元8。所述服务器单元8分别与所述外部读写单元3、所述第一外部电源单元6及所述第二外部电源单元7连接,所述服务器单元8用于存储介质信息及所述接触式识别芯片单元2与所述待完整性检测的介质的关联关系,并处理所述完整性检测电路单元1回传的电流信号,控制所述第一外部电源单元6的工作模式,以及控制所述第二外部电源单元7供电。
具体地,所述服务器单元8包括:存储模块81及比较模块82。
其中,所述存储模块81与所述外部读写单元3连接,所述存储模块81用于存储所述介质信息与所述接触式识别芯片单元2的关联关系,以及与所述接触式识别芯片单元2绑定的特征库;所述特征库为预先采集的对应完整性检测电路单元的电流特征信息;
所述比较模块82分别与所述第一外部电源单元6及所述存储模块81连接,所述比较模块82用于从所述存储模块81中调取所述特征库,并与所述完整性检测电路单元1回传的电流信号进行比对,在比对结果不一致时,认定电路短路或断路,产生异常信息。
进一步地,所述服务器单元8还包括控制模块83。所述控制模块83与所述第二外部电源单元7连接,所述控制模块83用于产生销毁指令控制所述第二外部电源单元7为所述接触式自我销毁电路单元5供电。
具体地,所述服务器单元8可以手动输入,所述服务器单元8对整个产品的使用流程进行追踪和记录,当遇到异常情况时通知保密专员或管理员进行处理;所述异常情况一般为存储介质的主体遭到破坏。
优选地,本发明还提供一种保密介质完整性检测方法,所述保密介质完整性检测方法包括:
外部读写设备对接触式识别芯片初始化,将介质信息写入所述接触式识别芯片;
接触式供电电路通过第一外部电源为接触式识别芯片供电;
外部读写设备读取所述接触式识别芯片保存的介质信息及ID标识,与介质主体进行关联绑定;
接触式供电电路通过第一外部电源为完整性检测电路供电,第一外部电源检测完整性检测电路的电路滤波特征,并存储到服务器;
所述第一外部电源配合外部读写设备,读取接触式识别芯片ID信息,并进行完整性检测;
所述接触式自我销毁电路根据服务器的销毁指令将所述接触式识别芯片销毁。
优选地,本发明保密介质完整性检测系统的使用流程包括:
a、根据待完整性检测的介质主体,选择合适形状的检测标签,使其完全覆盖于介质主体表面。额外的,重复覆盖不影响效果。
b、使用外部设备,完成初始化。读取接触式识别芯片ID信息,并与介质主体进行关联绑定;检测完整性检测电路的电路滤波特征,并存储到服务器。
c、正常保存或使用各类介质,过程中可以通过服务器记录当前介质和人员的匹配关系,即记录当前介质的持有人信息。
d、在流程c中,任意介质流转环节或定期检查期间,使用第一外部电源6配合外部读写设备3,读取接触式识别芯片ID信息,并进行完整性检测。根据检测内容判定介质受损或介质完好,继而追究责任或继续使用该介质。
e、当介质主体需要销毁时,先执行步骤d,判定介质完好后,使用外部电路反向供电或高电压供电,击穿芯片,芯片击穿后,将执行其他的粉碎、焚烧类的介质销毁流程,完整性检测电路将随之一同销毁。
对于实施例公开的方法而言,由于其与实施例公开的系统相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见系统部分说明即可。
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述保密介质完整性检测系统包括:
完整性检测电路单元,分布在待完整性检测介质的表面;
接触式识别芯片单元,与所述完整性检测电路单元的两端连接,形成闭环电路,用于保存对应的介质信息及自身ID标识,并在通电后广播自身ID标识及介质信息;
外部读写单元,与所述接触式识别芯片单元连接,用于初始化所述接触式识别芯片单元,一次性向所述接触式识别芯片单元写入介质信息,并读取所述接触式识别芯片单元的ID标识及所述介质信息;
接触式供电电路单元,与所述接触式识别芯片单元连接,用于为所述接触式识别芯片单元及所述完整性检测电路单元供电;
接触式自我销毁电路单元,分别与第二外部电源单元及所述接触式识别芯片单元连接,用于将所述接触式识别芯片单元销毁;
第一外部电源单元,与所述接触式供电电路单元连接,用于通过所述接触式供电电路单元分别为所述接触式识别芯片单元及所述完整性检测电路单元供电,并接收所述完整性检测电路单元回传的电流信号;
第二外部电源单元,与所述接触式自我销毁电路单元连接,用于为所述接触式自我销毁电路单元供电。
2.根据权利要求1所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述完整性检测电路单元包括:
导线,粘贴在待完整性检测的介质表面;
滤波电路,所述滤波电路的数量为复数个,各所述滤波电路之间通过所述导线连通,用于对通过的电流信号进行滤波;所述滤波电路为带通、带阻、低通或高通滤波电路,且带通、带阻、低通或高通滤波电路随机排列,通带、阻带频率随机设置。
3.根据权利要求1所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述第一外部电源单元具有两种工作模式:第一工作模式和第二工作模式;
在所述第一外部电源单元处于第一工作模式时,通过所述接触式供电电路单元为所述接触式识别芯片单元提供直流低压电信号;
在所述第一外部电源单元处于第二工作模式时,通过所述接触式供电电路单元为所述完整性检测电路单元提供检测电流信号。
4.根据权利要求3所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述检测电流信号为从低频0hz到高频10KHz的正弦波或三角波、方波的检测信号。
5.根据权利要求3所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述第一外部电源单元包括:
ADC采样模块,在所述第一外部电源单元处于第二工作模式时,所述ADC采样模块用于采集所述完整性检测电路单元回传的电流信号,形成回传信号。
6.根据权利要求1所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述完整性检测系统还包括:
服务器单元,分别与所述外部读写单元、所述第一外部电源单元及所述第二外部电源单元连接,用于存储介质信息及所述接触式识别芯片单元与所述待完整性检测的介质的关联关系,并处理所述完整性检测电路单元回传的电流信号,控制所述第一外部电源单元的工作模式,以及控制所述第二外部电源单元供电。
7.根据权利要求6所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述服务器单元包括:
存储模块,与所述外部读写单元连接,用于存储所述介质信息与所述接触式识别芯片单元的关联关系,以及与所述接触式识别芯片单元绑定的特征库;所述特征库为预先采集的对应完整性检测电路单元的电流特征信息;
比较模块,分别与所述第一外部电源单元及所述存储模块连接,用于从所述存储模块中调取所述特征库,并与对应的所述完整性检测电路单元回传的电流信号进行比对,在比对结果不一致时,认定电路短路或断路,产生异常信息。
8.根据权利要求6所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述服务器单元还包括:
控制模块,与所述第二外部电源单元连接,用于产生销毁指令控制所述第二外部电源单元为所述接触式自我销毁电路单元供电。
9.根据权利要求1所述的保密介质完整性检测系统,其特征在于,所述接触式识别芯片单元为RFID射频芯片;所述外部读写单元为射频识别读写设备RFID。
10.一种保密介质完整性检测方法,其特征在于,所述保密介质完整性检测方法基于权利要求1-9任意一项所述的保密介质完整性检测系统,所述保密介质完整性检测方法包括:
外部读写设备对接触式识别芯片初始化,将介质信息写入所述接触式识别芯片;
接触式供电电路通过第一外部电源为接触式识别芯片供电;
外部读写设备读取所述接触式识别芯片保存的介质信息及ID标识,与介质主体进行关联绑定;
接触式供电电路通过第一外部电源为完整性检测电路供电,第一外部电源检测完整性检测电路的电路滤波特征,并存储到服务器;
第一外部电源配合外部读写设备,读取接触式识别芯片ID信息,并进行完整性检测;
接触式自我销毁电路根据服务器的销毁指令将所述接触式识别芯片销毁。
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