CN112198382A - 一种电子通信设备的测试方法和装置 - Google Patents

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纪锐
袁修华
孙景禄
张培艳
安旭东
刘宝殿
孙向前
王磊
周宇
刘政
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Abstract

本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置,涉及通信设备测试技术领域,既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试,也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试,功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便;该装置为渐变同轴结构;所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,所述内导体设于所述外导体内部,且两者之间具有封闭的绝缘空间;所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质;渐变性质具体为:横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小,变大或缩小的过程是线性的或者非线性的;该装置包括单锥结构和双锥结构两种形式。本发明提供的技术方案适用于电子通信设备OTA测试和电磁兼容测试的过程中。

Description

一种电子通信设备的测试方法和装置
【技术领域】
本发明涉及通信设备测试技术领域,尤其涉及一种电子通信设备的测试方法和装置。
【背景技术】
随着电子通信设备的发展,从300kHz的中波通信频段,到6GHz以下的移动通信频段,再到毫米波5G/B5G通信系统、卫星通信系统、无线物联网与工业互联网等无线通信系统的发展,无线通信终端设备使用的频段越来越宽。传统上对于无线通信设备收发信机的测量主要有两种方式:(1)传导方式,即使用线缆或者波导连接测试仪器和通信设备射频接口,但是随着有源集成一体化天线的发展,通信设备本身很难有单独的射频接口可以引出,这种测试方法变得难于适用,而且集成天线本身也需要测试;(2)OTA方式,即空口辐射方式,这种方式目前主要依赖电波暗室和天线系统,缺点是电波暗室占地面积大、投资成本高;而测试用天线一般都是分频段器件,单一天线很难覆盖300kHz到毫米波的超宽频率范围,需要多个天线分频段组合使用,所以在测试多频或者是宽带移动通信设备时,需要更换天线,操作繁琐成本高。此外,传统上射频测试和电磁兼容测试是分开进行的,占用设备多,操作复杂繁琐。
因此,有必要研究一种电子通信设备的测试方法和装置来应对现有技术的不足,以解决或减轻上述一个或多个问题。
【发明内容】
有鉴于此,本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置,既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试,也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试,功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便。
一方面,本发明提供一种电子通信设备的测试装置,其特征在于,所述测试装置为渐变同轴结构;所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,所述内导体设于所述外导体内部,且两者之间具有封闭的绝缘空间;所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质;所述渐变同轴结构的一端作为馈电端,另一端设有电磁波吸收结构。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述电磁吸收结构为负载。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,渐变性质具体为:横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小,变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述渐变同轴结构为单锥结构;所述单锥结构具体为:所述外导体和所述内导体均为圆锥体形,且两者锥度不同;所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载,所述负载位于所述绝缘空间内部;所述圆锥体的顶点作为馈电端。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述渐变同轴结构为双锥结构;所述双锥结构具体为:所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体;所述双锥结构的一端作为馈电端,另一端设有用于吸收电磁波的负载。所述双锥结构的两个圆锥体的锥度可以是相同的也可以是不同的。同一侧的内导体和外导体的锥度是不同的。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。直线衔接具体为两个底面之间的连接段为横截面固定的圆柱体形。曲线衔接具体为两个底面之间的连接段为中间突起的鼓状。不管是直接衔接、直线衔接还是曲线衔接,内导体和外导体的衔接段同样为同轴设置。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述测试装置能够实现2kHz~90GHz的电磁场生成。
另一方面,本发明提供一种电子通信设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法采用如上任一所述的测试装置对电子通信设备进行测试;测试时将待测电子通信设备置于内导体和外导体之间的绝缘空间内,测试装置的馈电端与外部测试设备连接。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述测试方法的步骤包括:
S1、确定从所述测试装置的馈电端到被测端的路径损耗;
S2、根据对待测电子通信设备的测试要求以及路径损耗,确定外部测试设备的输入参数;
S3、根据确定的输入参数进行测试。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述被测端具体为待测电子通信设备所在位置,该位置靠近所述内导体的椎体底面。
第三方面,本发明提供一种电子通信设备的OTA测试系统,其特征在于,所述测试系统包括如上任一所述的测试装置、与所述测试装置馈电端连接的无线通信综合测试仪以及用于放置被测电子通信设备的转台;所述转台设于所述测试装置的内部,用于携带被测电子通信设备实现其天线指向角度的变化。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述转台为双轴转台,包括第一旋转轴、第二旋转轴和用于固定被测电子通信设备的夹持部,所述第一旋转轴与所述第二旋转轴相互垂直设置并与所述夹持部连接,所述第一旋转轴和所述第二旋转轴的旋转动作叠加实现天线指向角全角度遍历。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述夹持部的任意位置设有若干过孔,用于降低材料的等效介电常数。
第四方面,本发明提供一种电子通信设备的辐射骚扰测试系统,其特征在于,所述测试系统包括如上任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的电磁骚扰接收机或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机。与所述测试装置馈电端连接的电磁骚扰接收机或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机又称为辐射骚扰测试系统。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,无线通信综合测试仪和/或电磁骚扰接收机的端口处设有滤波器。
第五方面,本发明提供一种电子通信设备的辐射抗扰测试系统,其特征在于,所述测试系统包括如上任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的信号发生器或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和信号发生器。与所述测试装置馈电端连接的信号发生器或者与所述馈电端同时连接的无线通信综合测试仪和信号发生器又称为辐射抗扰测试系统。
如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,信号发生器处设有用于放大信号发生器发出的信号的功率放大器。
与现有技术相比,本发明可以获得包括以下技术效果:本申请的电子通信设备的测试方法和装置,既能够开展无线通信设备的OTA方式测试,也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试,功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便;测试装置能够实现2kHz~90GHz的电磁场生成;具有降低介电常数的转台结构,且两轴结构可以实现球面遍历扫描(即全角度遍历扫描)。
当然,实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明一个实施例提供的单锥测试装置结构图;
图2是本发明一个实施例提供的双锥测试装置结构图;其中,2(a)为侧视切面图,2(b)为横截面图;
图3是本发明一个实施例提供的双锥测试装置衔接图;其中,3(a)为直接衔接的结构图,3(b)为曲线衔接的结构图;
图4是本发明一个实施例提供的渐变同轴结构配合无线通信综合测试仪实现无线测试示意图(单锥结构);
图5是本发明一个实施例提供的渐变同轴结构配合无线通信综合测试仪实现无线测试示意图(双锥结构);
图6是本发明一个实施例提供的同轴渐变结构中双轴转台的结构图;
图7是本发明一个实施例提供的低介电常数转台的具体设计三维图;
图8是本发明一个实施例提供的被测设备天线指向角在球面上的遍历示意;
图9是本发明一个实施例提供的辐射骚扰测试配置图;
图10是本发明一个实施例提供的单锥测试装置与无线通信综合测试仪建立链路情况下的辐射骚扰测试配置图;
图11是本发明一个实施例提供的单锥测试装置与无线通信综合测试仪建立链路情况下的辐射抗扰度测试配置图;
图12是本发明一个实施例提供的烟感和温感探测器的辐射抗扰度测试配置图;
图13是本发明一个实施例提供的渐变同轴结构测试手机的OTA性能的配置图;
图14是本发明一个实施例提供的同轴渐变结构测量OBU接收灵敏度第一步;
图15是本发明一个实施例提供的同轴渐变结构测量OBU接收灵敏度第二步;
图16是本发明一个实施例提供的同轴渐变结构测量OBU接收灵敏度实验验证现场照片。
【具体实施方式】
为了更好的理解本发明的技术方案,下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
针对现有技术的不足,本专利提供一种新的电子通信设备的测试方法和装置,既可以开展无线通信设备的OTA方式测试,也可以进行电子通信设备的电磁兼容测试,具有功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便的优点。
本申请的电子通信设备的测试装置使用渐变同轴结构构建封闭的测量装置。渐变同轴结构是:装置包含一个内导体以及一个和内导体绝缘的外导体,外导体一端的截面积很小,可以和目前的通用射频连接器相连,同轴截面向一个方向延伸的同时,同轴截面也在逐渐变大,这种变化可以是线性的,也可以是非线性的,这样内导体和外导体之间的绝缘空间就会产生并且传播横电磁波。如果这个空间足够大,就可以在这个空间中以OTA方式测试无线通信设备,在截面足够大后,可以使用分布式负载吸收的方式来吸收电磁波,即单锥结构,如图1所示。在截面足够大后,也可以再通过渐变的方式在延伸方向上将截面缩小,形成另外一个锥尖(即顶点),锥尖处可以接同轴负载以吸收电磁波的能量不使之反射,形成双锥结构,如图2所示(图2(a)为双锥直接衔接的方式)。其中,图2(b)中的箭头显示了渐变同轴结构的主极化方向。为了增大放置被测物的空间,双锥之间也可以设计如图3所示的衔接部分,衔接部分可以是笔直同轴结构,如图3(a)所示;也可以是曲线衔接结构,如图3(b)所示。仿真和测量实验都表明,这种构造可以通过一个单一腔体实现从2kHz~90GHz的电磁场生成,实现了电波暗室和天线结合的功能,不用更换天线,测试便捷。内导体可以是实心结构也可以是中空结构,材料采用高导电率的金属材料或者石墨烯材料。
在设定的频率上,渐变同轴测试装置的锥尖馈电端连接信号源和功率测量装置,馈电功率记做Pst(dBm量纲),将已知增益Gs(dB量纲)的线极化天线放入测试装置的被测物放置区域,天线极化方向与图2(b)中箭头所示截面上横电磁波的极化方向相同,标准天线连接测量接收机,标准天线端口的接收功率记做记做Psr(dBm量纲),则校准扣除天线增益后的从渐变同轴结构馈电端到被测端的路径损耗为(1)式所示。也可以使用电磁场探头代替天线,通过电磁场强度的测量值来计算等效的Psr
Ls=Pst-Psr+Gs (1)
在渐变同轴测试装置的锥尖馈电端连接无线通信综合测试仪,将集成天线的被测无线通信设备放入装置的被测物放置区域,将依据前面所述的路径损耗(式(1))输入无线通信综合测试仪的电磁波,被测移动通信设备的天线极化方向与渐变同轴结构的主极化方向一致,建立无线通信综合测试仪和被测设备之间的无线连接。从而可以对被测设备的发射功率、接收功率、接收灵敏度等射频参数开展测量,也可以通过无线通信综合测试仪运行自动测试脚本,完成无线协议一致性的测试。图4和图5展示了渐变同轴结构配合无线通信综合测试仪实现OTA无线测试基本形式。
在更全面的OTA测试中,需要为被测设备配置转台,通过旋转以实现天线指向角在球面上的遍历,一般的形式是双轴转台,基本构造如图6所示,双轴指垂直轴和水平轴,即可沿垂直方向做旋转,同时可沿水平方向做旋转,从而实现天线指向角在球面进行全部位置的遍历。垂直方向旋转角度可设为180度,水平方向旋转角度可设为360度。可以使用低介电常数的夹持材料配合微型电机来实现转台的构造,为了进一步降低材料的等效介电常数,在强度计算允许的前提下,可以在夹持材料上打孔来实现等效介电常数的降低,除去必须使用金属的电动机等组件,转台材料优选绝缘的不含金属的塑料材质或者干木料。图7是转台设计的具体实施案例。
转台通过旋转在一定的角度分辨率下可以实现图8所示的被测设备天线指向角在球面上的遍历,如球面上节点所示,在每个节点对应的方向开展OTA测试,具体来说是测量辐射功率和接收灵敏度。通过对各个球面上各个角度辐射功率和接收灵敏度测量数据进行运算统计,可以得到如下指标:
TRP(Total Radiated Power,总辐射功率):通过对整个辐射球面的发射功率进行面积分并取平均值;它反映终端整机的发射功率情况,与被测设备在传导情况下的发射功率和天线辐射性能有关;
NHPRP(Near Horizon Partial Radiated Power,水平面部分辐射功率):反映在被测设备的水平面附近天线的发射功率情况的参数;
TIS(Total Isotropic Sensitivity,总全向灵敏度):反映在整个辐射球面被测设备接收灵敏度指标的情况;它反映了终端整机的接收灵敏度情况,与终端的传导灵敏度和天线的接收性能有关;
NHPIS(Near Horizon Partial Isotropic Sensitivity,水平面全向灵敏度):反映被测设备在水平面附近天线的接收灵敏度情况的参数;对于手持终端,OTA测试中还需考察终端在有模拟人头和模拟人手情况下的上述参数;对于腕带式终端,需要考察手腕模型情况下的上述参数。
渐变同轴结构用于电子通信设备的电磁兼容测试中的辐射骚扰科目测试。首先将被测设备放入渐变同轴结构中,建立正常发射的工作状态,然后使用电磁骚扰接收机测量电子通信设备的辐射骚扰,在最终测试结果的计算中需要代入前面所述的路径损耗公式。配置如图9所示。如果是无线通信设备,配置如图10所示,需要使用分路器将无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机连接,然后连接在渐变同轴结构的馈电端,无线通信综合测试仪的功能是通过建立通信链路使得被测设备正常工作,电磁骚扰接收机的功能是测量辐射骚扰,为了降低无线通信综合测试仪发射对辐射骚扰测量的干扰,在无线通信综合测试仪或者电磁骚扰接收机的端口处可以安装相应频段的滤波器,而且选择分路器时可以选择无线通信综合测试仪和电磁骚扰接收机端口之间隔离度较大的器件。
渐变同轴结构用于电子通信设备的电磁兼容测试中的辐射抗扰科目测试。首先将被测设备放入渐变同轴结构中,建立正常发射的工作状态,然后使用信号发生器链接渐变同轴结构的馈电端,在被测设备处产生电磁场,可以使用电场探头以测量方式标定此处的电场强度,在高等级的辐射抗扰度测试中,为了提高电场强度,信号发生器可以和功率放大器配合使用。如果是无线通信设备,测试配置如图11所示,需要使用分路器/合路器将无线通信综合测试仪和信号发生器连接,然后连接在渐变同轴结构的馈电端,无线通信综合测试仪的功能是通过建立通信链路使得被测设备正常工作,信号发生器的作用是为了在渐变同轴结构中产生干扰电磁场,为了降低信号发生器对无线通信综合测试仪的干扰,在无线通信综合测试仪的端口处可以安装相应频段的滤波器,而且选择分路器时可以选择无线通信综合测试仪和电信号发生器端口之间隔离度较大的器件。
上述测试中提到的电子通信设备可以是任何有电子电气功能的设备、功能器件、仪器仪表、有线通信设备、无线通信基站设备、无线通信终端设备等。
实施例1:
按照上述方法对感烟探头和感温探头开展电磁兼容测试,按照图12的配置图,按照表1的电场强度施加干扰,仅20分钟就完成了从10MHz~40GHz共计6个频点逐一扫描测试。感烟探头和感温探头工作未见异常,即通过了本次抗扰度测试。
表1辐射抗扰度测试中电场强度设置表
Figure BDA0002690371480000111
实施例2:
使用同轴渐变结构测试5G手机的OTA性能,如图13所示,低介电常数转台为两轴结构,可以实现球面遍历扫描,在同轴渐变结构馈电端连接5G移动通信综合测试仪,测量了3.5GHz和4.9GHz的TIS和TRP指标,且测量了频谱模板、解调星座图等射频一致性指标,测试结果表明5G手机合格。
实施例3:
测试OBU(On board Unit)单元,OBU直译即车载单元,OBU与路边架设路侧单元(RSU-Road Side Unit)通过无线电信号进行通讯。车辆高速通过RSU的时候,识别真假,获得车型,计算费率,扣除通行费。其中OBU的测试项目包括唤醒灵敏度、接收灵敏度、发射功率等。显然,考虑到OBU在当前ETC系统和未来车联网系统中的关键作用,其测试是非常关键的问题。按照图14配置测量装置,OBU设置为连续波发射模式,设其总发射功率是Pt、Pt可以通过平面甚近场扫描的方式测得,也可使用传导测量的参考值,本实施例中使用的是平面甚近场扫描的值。测量A点的接收功率值Pr,则包含被测OBU天线增益的同轴渐变结构路径损耗为:
L[dB]=Pt[dBm]-Pr[dBm] (2)
按照图15配置测量装置,OBU设置为接收模式,设同轴渐变结构A点的馈电功率是Pf、Pf可以使用A点功率校准值,有时为了提高测试准确度,也可使用定向耦合器辅助测量。以较小的步进降低信号源的输出电平,直至被测OBU出现了灵敏度阈值现象,如蜂鸣器发声或者指示灯闪烁灯。记录此时的值Pf,则测量得到的灵敏度即为:
Ps[dBm]=Pf[dBm]-L[dB] (3)
这个测量过程步骤简单,物理概念明确,(3)式所示灵敏度已经不包含OBU天线增益。实际实验验证场景如图16所示。
按照上述所示步骤开展测量,测量频率是5.8GHz,OBU的发射功率甚近场扫描积分得到的发射功率为-3.41dBm,测量结果如表2所示。
表2同轴渐变结构测量OBU接收灵敏度实验结果数据
OBU发射功率(dBm) -3.41
同轴渐变结构接收功率(dBm) -32.60
路径损耗(dB) 29.19
同轴渐变结构馈电功率灵敏度阈值(dBm) -23.00
OBU接收灵敏度(dBm) -52.19
通过该方法测得的接收灵敏度与设计值接近,验证了本专利所述方法与装置的合理性和可操作性。
以上对本申请实施例所提供的一种电子通信设备的测试方法和装置,进行了详细介绍。以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
如在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解,硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求书当中所提及的“包含”、“包括”为一开放式用语,故应解释成“包含/包括但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内,本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题,基本达到所述技术效果。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式,然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的,并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求书所界定者为准。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的商品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种商品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的商品或者系统中还存在另外的相同要素。
应当理解,本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施例,但如前所述,应当理解本申请并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述申请构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本申请的精神和范围,则都应在本申请所附权利要求书的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子通信设备的测试装置,其特征在于,所述测试装置为渐变同轴结构;所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,所述内导体设于所述外导体内部,且两者之间具有封闭的绝缘空间;所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质。
2.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置,其特征在于,渐变性质具体为:横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小,变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。
3.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置,其特征在于,所述渐变同轴结构为单锥结构;所述单锥结构具体为:所述外导体和所述内导体均为圆锥体形,且两者锥度不同;所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载,所述负载位于所述绝缘空间内部。
4.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置,其特征在于,所述渐变同轴结构为双锥结构;所述双锥结构具体为:所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体;所述双锥结构的一端作为馈电端,另一端设有用于吸收电磁波的负载。
5.根据权利要求4所述的电子通信设备的测试装置,其特征在于,两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。
6.一种电子通信设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法采用如权利要求1-5任一所述的测试装置对电子通信设备进行测试;测试时将待测电子通信设备置于内导体和外导体之间的绝缘空间内,测试装置的馈电端与外部测试设备连接。
7.根据权利要求6所述的电子通信设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法的步骤包括:
S1、确定从所述测试装置的馈电端到被测端的路径损耗;
S2、根据对待测电子通信设备的测试要求以及路径损耗,确定外部测试设备的输入参数;
S3、根据确定的输入参数进行测试。
8.一种电子通信设备的OTA测试系统,其特征在于,所述测试系统包括如权利要求1-5任一所述的测试装置、与所述测试装置馈电端连接的无线通信综合测试仪以及用于放置被测电子通信设备的转台;所述转台设于所述测试装置的内部,用于携带被测电子通信设备实现其天线指向角度的变化。
9.根据权利要求8所述的电子通信设备的OTA测试系统,其特征在于,所述转台为双轴转台,包括第一旋转轴、第二旋转轴和用于固定被测电子通信设备的夹持部,所述第一旋转轴与所述第二旋转轴相互垂直设置并与所述夹持部连接,所述第一旋转轴和所述第二旋转轴的旋转动作叠加实现天线指向角全角度遍历。
10.一种电子通信设备的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括如权利要求1-5任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的辐射骚扰测试系统或辐射抗扰测试系统。
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