CN112148285A - 一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型；当判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件；使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

Description

一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明实施例涉及人工智能技术领域，尤其涉及一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

界面设计(或称UI设计)是指对软件的人机交互、操作逻辑、界面美观的整体设计。UI设计分为实体UI和虚拟UI，互联网说的UI设计是虚拟UI设计，UI即User Interface(用户界面)的简称。

在现有的界面设计方法中，主要基于设计师的经验和认知来设计每个界面。UI设计师的职能大体包括三方面：一是图形设计，即软件产品的“外形”设计；二是交互设计，主要在于设计软件的操作流程、树状结构、操作规范等。三是用户测试研究，其目标在于测试交互设计的合理性及图形设计的美观性，主要通过以目标用户调研的方式衡量UI设计的合理性。如果没有这方面的测试研究，UI设计的好坏只能凭借设计师的经验或者领导的审美来评判，这样就会给企业带来极大的风险。但是对于一个复杂的界面，往往包括上百个的元素，每个元素又有多个取值范围，相关的组合数量接近无穷多个。因此，采用目标用户调研的方式寻找最优界面的设计方法成本过高，周期太长，几乎不可行。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质，不仅可以极大的减少用户调研的案例数量，减少开发成本和周期；而且还可以为每个元素的设计方案给出量化的取值，为设计师设计界面提供可以量化的指导方案。

第一方面，本发明实施例提供了一种界面设计方法，所述方法包括：

获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，所述测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；

根据各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在所述当前周期内的性能模型；

当判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将所述下一个周期作为所述当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在所述当前周期内的性能模型不满足所述预设条件；

使用各个元素在所述当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

在上述实施例中，所述判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件，包括：

若优化各个元素在所述当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件；或者，

使用各个元素在所述当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件。

在上述实施例中，所述根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，包括：

在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例；将所述预设案例组数的测试案例以及各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在所述下一个周期内的测试案例。

在上述实施例中，所述在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例，包括：

通过所述性能模型对应的采集模型，在所述当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例；

在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例；

当所述目标测试案例的组数小于所述预设案例组数时，重复执行上述操作，直到所述目标测试案例的组数等于所述预设案例组数。

在上述实施例中，所述在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例，包括：

在所述预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为所述目标测试案例。

第二方面，本发明实施提供了一种界面设计装置，所述装置包括：案例获取模块、模型优化模块、案例生成模块和界面设计模块；其中，

所述案例获取模块，用于获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，所述测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；

所述模型优化模块，用于根据各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在所述当前周期内的性能模型；

所述案例生成模块，用于当判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将所述下一个周期作为所述当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在所述当前周期内的性能模型不满足所述预设条件；

所述界面设计模块，用于使用各个元素在所述当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

在上述实施例中，所述模型优化模块，具体用于若优化各个元素在所述当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件；或者，使用各个元素在所述当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件。

在上述实施例中，所述案例生成模块，具体用于在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例，将所述预设案例组数的测试案例以及各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在所述下一个周期内的测试案例。

在上述实施例中，所述案例生成模块包括：采集子模块和确定子模块；其中，

所述采集子模块，用于通过所述性能模型对应的采集模型，在所述当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例；

所述确定子模块，用于在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例；当所述目标测试案例的组数小于所述预设案例组数时，重复执行上述操作，直到所述目标测试案例的组数等于所述预设案例组数。

在上述实施例中，所述确定子模块，具体用于在所述预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为所述目标测试案例。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例所述的界面设计方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所述的界面设计方法。

本发明实施例提出了一种界面设计方法、装置、电子设备及存储介质，先获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型；当判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件；最后使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。也就是说，在本发明的技术方案中，只需要获取各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据获取到的各个元素在当前周期内的测试案例生成各个元素在下一周期内的测试案例，从而可以迭代优化性能模型，直到该性能模型不再需要继续优化为止。而在现有的界面设计方法中，采用目标用户调研的方式寻找最优界面的设计方法成本过高，周期太长。因此，和现有技术相比，本发明实施例提出的界面设计方法、装置、电子设备及存储介质，不仅可以极大的减少用户调研的案例数量，减少开发成本和周期；而且还可以为每个元素的设计方案给出量化的取值，为设计师设计界面提供可以量化的指导方案；并且，本发明实施例的技术方案实现简单方便、便于普及，适用范围更广。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的界面设计方法的流程示意图；

图2为本发明实施例二提供的界面设计方法的流程示意图；

图3为本发明实施例三提供的界面设计方法的流程示意图；

图4为本发明实施例四提供的界面设计装置的第一结构示意图；

图5为本发明实施例四提供的界面设计装置的第二结构示意图；

图6为本发明实施例五提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的界面设计方法的流程示意图，该方法可以由界面设计装置或者电子设备来执行，该装置或者电子设备可以由软件和/或硬件的方式实现，该装置或者电子设备可以集成在任何具有网络通信功能的智能设备中。如图1所示，界面设计方法可以包括以下步骤：

S101、获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。具体地，各个元素在当前周期内的测试案例可以包括M组；分别为：第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例；其中，M为大于等于1的自然数。具体地，第一组测试案例为：{x₁,y₁}；x₁表示各个元素在第一组测试案例中的取值；y₁表示各个元素在取值为x₁时的评价分数。第二组测试案例为：{x₂,y₂}；x₂表示各个元素在第二组测试案例中的取值；y₂表示各个元素在取值为x₂时的评价分数；…；第M组测试案例为：{x_M,y_M}；x_M表示各个元素在第M组测试案例中的取值；y_M表示各个元素在取值为x_M时的评价分数。

S102、根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。具体地，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。本申请中的性能模型可以为各种具有不同表达能力的模型，包括：深度神经网络模型(Deep NeuralNetwork，DNN)、树模型(Tree Model)、高斯过程(GaussianProcess，GP)以及支持向量机(Support Vector Machine，SVM)等。

S103、判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件，若是，执行S104；否则，执行S105。

在本发明具体实施例中，电子设备可以判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件；当各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，执行S104；当各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件时，执行S105。具体地，若优化各个元素在当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若化各个元素在当前周期内的性能模型的次数等于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。或者，电子设备还可以使用各个元素在当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值小于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。

S104、根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，返回执行S102。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，返回执行S102。具体地，电子设备可以在当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例；将预设案例组数的测试案例以及各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例。例如，假设各个元素在当前周期内的测试案例为100组测试案例，在本步骤中，电子设备可以在100组测试案例中采集出50组测试案例；然后将各个元素在当前周期内的100组测试案例和采集出的50组测试案例，共计150组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例。

S105、使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。具体地，电子设备可以将各个元素在取值区间内的各个取值分别输入到该性能模型中，将评价分数最大的取值确定为各个元素对应的目标取值，然后使用各个元素对应的目标取值对各个元素进行设计。

本发明实施例提出的界面设计方法，先获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型；当判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件；最后使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。也就是说，在本发明的技术方案中，只需要获取各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据获取到的各个元素在当前周期内的测试案例生成各个元素在下一周期内的测试案例，从而可以迭代优化性能模型，直到该性能模型不再需要继续优化为止。而在现有的界面设计方法中，采用目标用户调研的方式寻找最优界面的设计方法成本过高，周期太长。因此，和现有技术相比，本发明实施例提出的界面设计方法，不仅可以极大的减少用户调研的案例数量，减少开发成本和周期；而且还可以为每个元素的设计方案给出量化的取值，为设计师设计界面提供可以量化的指导方案；并且，本发明实施例的技术方案实现简单方便、便于普及，适用范围更广。

实施例二

图2为本发明实施例二提供的界面设计方法的流程示意图。如图2所示，界面设计方法可以包括以下步骤：

S201、获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。具体地，各个元素在当前周期内的测试案例可以包括M组；分别为：第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例；其中，M为大于等于1的自然数。具体地，第一组测试案例为：{x₁,y₁}；x₁表示各个元素在第一组测试案例中的取值；y₁表示各个元素在取值为x₁时的评价分数。第二组测试案例为：{x₂,y₂}；x₂表示各个元素在第二组测试案例中的取值；y₂表示各个元素在取值为x₂时的评价分数；…；第M组测试案例为：{x_M,y_M}；x_M表示各个元素在第M组测试案例中的取值；y_M表示各个元素在取值为x_M时的评价分数。

S202、根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。具体地，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。

S203、判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件；若是，执行S204；否则，执行205。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件；当各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，执行S204；当各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件时，执行S205。具体地，若优化各个元素在当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若化各个元素在当前周期内的性能模型的次数等于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。或者，电子设备还可以使用各个元素在当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值小于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。

S204、在当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例；将预设案例组数的测试案例以及各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例；将下一个周期作为当前周期，返回执行S202。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以在当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例；将预设案例组数的测试案例以及各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例；将下一个周期作为当前周期，返回执行S202。例如，假设各个元素在当前周期内的测试案例为100组测试案例，在本步骤中，电子设备可以在100组测试案例中采集出50组测试案例；然后将各个元素在当前周期内的100组测试案例和采集出的50组测试案例，共计150组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例。

S205、使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。具体地，电子设备可以将各个元素在取值区间内的各个取值分别输入到该性能模型中，将评价分数最大的取值确定为各个元素对应的目标取值，然后使用各个元素对应的目标取值对各个元素进行设计。

本发明实施例提出的界面设计方法，先获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型；当判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件；最后使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。也就是说，在本发明的技术方案中，只需要获取各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据获取到的各个元素在当前周期内的测试案例生成各个元素在下一周期内的测试案例，从而可以迭代优化性能模型，直到该性能模型不再需要继续优化为止。而在现有的界面设计方法中，采用目标用户调研的方式寻找最优界面的设计方法成本过高，周期太长。因此，和现有技术相比，本发明实施例提出的界面设计方法，不仅可以极大的减少用户调研的案例数量，减少开发成本和周期；而且还可以为每个元素的设计方案给出量化的取值，为设计师设计界面提供可以量化的指导方案；并且，本发明实施例的技术方案实现简单方便、便于普及，适用范围更广。

实施例三

图3为本发明实施例三提供的界面设计方法的流程示意图。如图3所示，界面设计方法可以包括以下步骤：

S301、获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数。具体地，各个元素在当前周期内的测试案例可以包括M组；分别为：第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例；其中，M为大于等于1的自然数。具体地，第一组测试案例为：{x₁,y₁}；x₁表示各个元素在第一组测试案例中的取值；y₁表示各个元素在取值为x₁时的评价分数。第二组测试案例为：{x₂,y₂}；x₂表示各个元素在第二组测试案例中的取值；y₂表示各个元素在取值为x₂时的评价分数；…；第M组测试案例为：{x_M,y_M}；x_M表示各个元素在第M组测试案例中的取值；y_M表示各个元素在取值为x_M时的评价分数。

S302、根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。具体地，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的第一组测试案例、第二组测试案例、…、第M组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型。

S303、判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件；若是，执行S304；否则，执行S308。

在本发明的具体实施例中电子设备可以判断各个元素在当前周期内的性能模型是否满足预设条件；当各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，执行S304；当各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件时，执行S308。具体地，若优化各个元素在当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若化各个元素在当前周期内的性能模型的次数等于预设次数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。或者，电子设备还可以使用各个元素在当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值小于预设分数阈值，则电子设备可以判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件。

S304、通过性能模型对应的采集模型，在当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以通过性能模型对应的采集模型，在当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例。例如，假设各个元素在当前周期内的测试案例为100组，预设采集组数为50组，在本步骤中，电子设备可以在当前周期内的100组测试案例中采集出50组测试案例。采集模型的作用是为每个可能的测试案例产生一个采集权重；然后按照采集权重来选择测试案例。本申请实施例中的采集模型可以有多种形式，包括：上置信边界函数、最大化提升概率函数和期望提升函数等。

S305、在预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以在预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例。具体地，电子设备可以在预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为目标测试案例。

S306、判断目标测试案例的组数是否小于预设案例组数；若是，返回执行S304；否则，执行S307。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以判断目标测试案例的组数是否小于预设案例组数；当目标测试案例的组数小于预设案例组数时，返回执行S304；当目标测试案例的组数等于预设案例组数时，执行S307。具体地，电子设备在每确定出一组目标测试案例之后，需要对目标测试案例的组数进行累加，直到确定出目标测试案例的组数等于预设案例组数。

S307、将预设案例组数的测试案例以及各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例；将下一个周期作为当前周期；返回执行S302。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以将预设案例组数的测试案例以及各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例；将下一个周期作为当前周期；返回执行S302。具体地，例如，假设各个元素在当前周期内的测试案例为100组测试案例，在本步骤中，电子设备可以在100组测试案例中采集出50组测试案例；然后将各个元素在当前周期内的100组测试案例和采集出的50组测试案例，共计150组测试案例，作为各个元素在下一个周期内的测试案例。

S308、使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

在本发明的具体实施例中，电子设备可以使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。具体地，电子设备可以将各个元素在取值区间内的各个取值分别输入到该性能模型中，将评价分数最大的取值确定为各个元素对应的目标取值，然后使用各个元素对应的目标取值对各个元素进行设计。

本发明实施例提出的界面设计方法，先获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在当前周期内的性能模型；当判定各个元素在当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将下一个周期作为当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在当前周期内的性能模型不满足预设条件；最后使用各个元素在当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。也就是说，在本发明的技术方案中，只需要获取各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；然后根据获取到的各个元素在当前周期内的测试案例生成各个元素在下一周期内的测试案例，从而可以迭代优化性能模型，直到该性能模型不再需要继续优化为止。而在现有的界面设计方法中，采用目标用户调研的方式寻找最优界面的设计方法成本过高，周期太长。因此，和现有技术相比，本发明实施例提出的界面设计方法，不仅可以极大的减少用户调研的案例数量，减少开发成本和周期；而且还可以为每个元素的设计方案给出量化的取值，为设计师设计界面提供可以量化的指导方案；并且，本发明实施例的技术方案实现简单方便、便于普及，适用范围更广。

实施例四

图4为本发明实施例四提供的界面设计装置的第一结构示意图。如图4所示，本发明实施例所述的界面设计装置可以包括：案例获取模块401、模型优化模块402、案例生成模块403和界面设计模块404；其中，

所述案例获取模块401，用于获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，所述测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；

所述模型优化模块402，用于根据各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在所述当前周期内的性能模型；

所述案例生成模块403，用于当判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将所述下一个周期作为所述当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在所述当前周期内的性能模型不满足所述预设条件；

所述界面设计模块404，用于使用各个元素在所述当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

进一步的，所述模型优化模块402，具体用于若优化各个元素在所述当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件；或者，使用各个元素在所述当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件。

进一步的，所述案例生成模块403，具体用于在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例，将所述预设案例组数的测试案例以及各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在所述下一个周期内的测试案例。

图5为本发明实施例四提供的界面设计装置的第二结构示意图。如图5所示，所述案例生成模块403包括：采集子模块4031和确定子模块4032；其中，

所述采集子模块4031，用于通过所述性能模型对应的采集模型，在所述当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例；

所述确定子模块4032，用于在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例；当所述目标测试案例的组数小于所述预设案例组数时，重复执行上述操作，直到所述目标测试案例的组数等于所述预设案例组数。

进一步的，所述确定子模块4032，具体用于在所述预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为所述目标测试案例。

上述界面设计装置可执行本发明任意实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例提供的界面设计方法。

实施例五

图6为本发明实施例五提供的电子设备的结构示意图。图6示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备的框图。图6显示的电子设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图6所示，电子设备12以通用计算设备的形式表现。电子设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。

电子设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存存储器32。电子设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图6未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图6中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM，DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。

电子设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备12交互的设备通信，和/或与使得该电子设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，电子设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器20通过总线18与电子设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图6中未示出，可以结合电子设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发明实施例所提供的界面设计方法。

实施例六

本发明实施例六提供了一种计算机存储介质。

本发明实施例的计算机可读存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (12)

1.一种界面设计方法，其特征在于，所述方法包括：

获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，所述测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；

根据各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在所述当前周期内的性能模型；

当判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将所述下一个周期作为所述当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在所述当前周期内的性能模型不满足所述预设条件；

使用各个元素在所述当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件，包括：

若优化各个元素在所述当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件；或者，

使用各个元素在所述当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，包括：

在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例；将所述预设案例组数的测试案例以及各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在所述下一个周期内的测试案例。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例，包括：

通过所述性能模型对应的采集模型，在所述当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例；

在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例；

当所述目标测试案例的组数小于所述预设案例组数时，重复执行上述操作，直到所述目标测试案例的组数等于所述预设案例组数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例，包括：

在所述预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为所述目标测试案例。

6.一种界面设计装置，其特征在于，所述装置包括：案例获取模块、模型优化模块、案例生成模块和界面设计模块；其中，

所述案例获取模块，用于获取界面中的各个元素在当前周期内的至少一组测试案例；其中，所述测试案例包括：各个元素在取值区间内的各个取值以及各个取值对应的评价分数；

所述模型优化模块，用于根据各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，优化各个元素在所述当前周期内的性能模型；

所述案例生成模块，用于当判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足预设条件时，根据各个元素在当前周期内的至少一组测试案例，生成各个元素在下一个周期内的测试案例，将所述下一个周期作为所述当前周期，重复执行上述操作，直到判定各个元素在所述当前周期内的性能模型不满足所述预设条件；

所述界面设计模块，用于使用各个元素在所述当前周期内的性能模型对各个元素进行设计。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述模型优化模块，具体用于若优化各个元素在所述当前周期内的性能模型的次数小于预设次数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件；或者，使用各个元素在所述当前周期内的性能模型计算各个取值对应的评价分数；若任意相邻两个取值对应的评价分数的差值大于或者等于预设分数阈值，则判定各个元素在所述当前周期内的性能模型满足所述预设条件。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述案例生成模块，具体用于在所述当前周期内的至少一组测试案例中，采集出预设案例组数的测试案例，将所述预设案例组数的测试案例以及各个元素在所述当前周期内的至少一组测试案例，作为各个元素在所述下一个周期内的测试案例。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述案例生成模块包括：采集子模块和确定子模块；其中，

所述采集子模块，用于通过所述性能模型对应的采集模型，在所述当前周期内的至少一个测试案例中采集出预设采集组数的测试案例；

所述确定子模块，用于在所述预设采集组数的测试案例中确定出一组目标测试案例；当所述目标测试案例的组数小于所述预设案例组数时，重复执行上述操作，直到所述目标测试案例的组数等于所述预设案例组数。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于：

所述确定子模块，具体用于在所述预设采集组数的测试案例中，获取每一组测试案例中的各个取值以及各个取值对应的评价分数；将评价分数最大的测试案例确定为所述目标测试案例。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1至5中任一项所述的界面设计方法。

12.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的界面设计方法。

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