CN111947579A - 一种光纤长度测量方法 - Google Patents

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徐杰
方洋
绪海波
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O Net Technologies Shenzhen Group Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/337—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring polarization dependent loss [PDL]

Abstract

本发明涉及光纤长度测量技术领域，具体涉及一种光纤长度测量方法。所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；调节参考光路光束的光程；相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；获取合束后最大光功率对应的光程差；根据光程差获取待测光纤的长度。本发明的光纤长度测量方法成本低，测量精度高。

Description

一种光纤长度测量方法
技术领域
本发明涉及光纤长度测量技术领域，具体涉及一种光纤长度测量方法。
背景技术
光纤传输具有抗干扰能力强、损耗低、传输可靠性强等优点，因此光纤通信已成为现代通信网络的主要传输手段，被应用在日常生活的各个领域。一般情况下，光纤测试、光纤熔接、折射率测试等方面，都会涉及到光纤长度测量，可以说，光纤长度测量是实现光纤通信的一个重要的技术基础。
目前，大多采用光纤长度测量仪来测量光纤长度，如，通过光学时域反射计OTDR、光学频域反射计OFDR、光学相干反射计OCDR等测量光纤长度，这些测量方式存在测量成本高、测量精度差等诸多缺陷，致使这些测量方式在实际应用中存在一定的局限性，因此，目前亟需一种新的光纤长度测量方案。
干涉型光纤传感系统主要包括两部分：传感器和信号解调仪器。干涉型光纤传感器有：Fabry-Perot、Mach-Zehnder、Michelson、Sagnac等，待测量作用在干涉仪上时将对干涉仪产生相位调制，从干涉仪的输出干涉信号中解调出干涉仪的相位或相位变化，从而实现对被测物理量的测量。但光纤光路中使用单点光源极易导致噪声、且偏振态极易受到影响，从而降低测试信号解调器的精度。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种光纤长度测量方法，解决现有光纤长度测量方案测量成本高、测量精度低的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种光纤长度测量方法，用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：
将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；
调节参考光路光束的光程；
相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；
监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；
获取合束后最大光功率对应的光程差；
根据光程差获取待测光纤的长度。
本发明的更进一步优选方案是：所述光纤长度测量方法还包括步骤：
同步监测相干光路和参考光路光束的光功率；
调节相干光路与参考光路同保偏耦合器的双纤端的熔接角度，使相干光路和参考光路的光束能量相等合束后输出。
本发明的更进一步优选方案是：所述光纤长度测量方法还包括步骤：
在接入待测光纤和标准光纤前校准相干光路和参考光路的光程相等；
调节光程调节单元校准零光程点，获取光功率最大时对应的位置。
本发明的有益效果在于，与现有技术相比，通过将ASE光源发射的光束分成经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路，相干光路和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉，获取两光路经保偏耦合器合束后的最大光功率对应的光程差，以根据光程差获取待测光纤的长度，利用白光扫描干涉技术的补偿光程，采用ASE光束有效降低光纤传输的噪声幅度，ASE能够有效避免光纤传输过程带来的单点噪声，降低光在光纤光路中传输易受环境干扰的影响，通过ASE光源与线偏光干涉提高干涉对比度，提高测量精度，且所述光纤长度测量系统采用全光纤光路，光路系统稳定，能整体转移，整体系统结构简单，成本低，测量精度高，以及，将光纤光路中ASE光源无偏振特性的自然光极化为线偏振光，从而提高相干对比度，减小异向偏正带来的相干对比度弱化。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明的光纤长度测量方法的流程框图；
图2是本发明的光纤长度测量方法的具体流程框图。
具体实施方式
现结合附图，对本发明的较佳实施例作详细说明。
本发明还提供一种光纤长度测量方法的优选实施例。
参考图1，所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：
S30、将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；
S40、调节参考光路光束的光程；
S50、相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；
S60、监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；
S70、获取合束后最大光功率对应的光程差；
S80、根据光程差获取待测光纤的长度。
进一步地，所述光纤长度测量方法还包括步骤：
同步监测相干光路和参考光路光束的光功率；
调节相干光路与参考光路同保偏耦合器的双纤端的熔接角度，使相干光路和参考光路的光束能量相等合束后输出。
进一步地，参考图2，所述光纤长度测量方法还包括步骤：
S10、在接入待测光纤和标准光纤前校准相干光路和参考光路的光程相等；
S20、调节光程调节单元校准零光程点，获取光功率最大时对应的位置。
应当理解的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，对本领域技术人员来说，可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而所有这些修改和替换，都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (3)

1.一种光纤长度测量方法，其特征在于，所述光纤长度测量方法用于对待测光纤的长度进行测量，所述光纤长度测量方法包括步骤：
将ASE光源的光束分束为经待测光纤的相干光路和经标准光纤的参考光路；
调节参考光路光束的光程；
相干光路的光束和参考光路的光束光程匹配产生白光干涉；
监测相干光路和参考光路的光束合束后的光功率；
获取合束后最大光功率对应的光程差；
根据光程差获取待测光纤的长度。
2.根据权利要求1所述的光纤长度测量方法，其特征在于，所述光纤长度测量方法还包括步骤：
同步监测相干光路和参考光路光束的光功率；
调节相干光路与参考光路同保偏耦合器的双纤端的熔接角度，使相干光路和参考光路的光束能量相等合束后输出。
3.根据权利要求1所述的光纤长度测量方法，其特征在于，所述光纤长度测量方法还包括步骤：
在接入待测光纤和标准光纤前校准相干光路和参考光路的光程相等；
调节光程调节单元校准零光程点，获取光功率最大时对应的位置。
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