CN111930584A - 一种sd卡控制器功能验证方法、装置及相关组件 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种SD卡控制器功能验证方法，包括：定义错误状态标签，错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对错误状态标签进行置位；通过SD卡模型根据错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。本申请能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。本申请还公开了一种SD卡控制器功能验证装置、电子设备及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
Description
技术领域
本申请涉及SD卡领域，特别涉及一种SD卡控制器功能验证方法、装置及相关组件。
背景技术
SD卡具有高存储容量、内置加密技术、高速数据传输、体积小巧、便携及可热插拔等优点，伴随国内ASIC设计技术的发展，许多芯片设计中集成了SD卡控制器，用于支持SD卡作为数据扩展存储工具。SD卡的仿真验证平台需要Testbench、SD卡控制器及SD卡模型，目前，SD卡模型在描述与SD卡控制器的功能交互时，一些正确功能描述被有效验证，但是，SD卡模型针对某些错误功能的描述，由于设计局限可能未能有效描述或者该错误描述需要每次修改模型代码才能达到描述该错误行为的目的，从而使得SD卡控制器不能高效验证SD卡控制器对于SD卡的错误反馈和相应处理是否正确。
因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种SD卡控制器功能验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。
为解决上述技术问题，本申请提供了一种SD卡控制器功能验证方法，包括：
定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；
通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
优选的，所述定义错误状态标签的过程包括：
根据SD卡物理层的错误类型定义错误状态标签。
优选的，该SD卡控制器功能验证方法还包括：
在所述SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口；
相应的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：
通过解析所述错误状态接口获取当前测试错误类型。
优选的，所述错误状态接口位宽为32。
优选的，所述根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位的过程具体包括：
根据所述错误状态接口每位的值，对对应的错误状态标签进行置位，所述置位包括置0或置1。
优选的，所述通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互的过程具体包括：
当所述错误状态标签的置位值为0时，选择该错误状态标签对应的正确行为描述与所述SD卡控制器交互；
当所述错误状态标签的置位值为1时，选择该错误状态标签对应的错误行为描述与所述SD卡控制器交互。
优选的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：
在每一时钟上升沿获取当前测试错误类型。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种SD卡错误验证装置，包括：
定义模块，用于定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取模块，用于获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；
验证模块，用于通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
本申请提供了一种SD卡控制器功能验证方法，首先根据SD卡标准协议中规定的所有错误类型定义错误状态标签，当获取到当前测试错误类型后，对错误状态标签进行置位，SD卡模型的行为描述包括错误行为描述和正确行为描述，SD卡模型通过区分错误状态标签即可选择合适的行为描述与SD卡控制器进行交互，将行为描述反馈至SD卡控制器，覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。本申请还提供了一种SD卡控制器功能验证装置、电子设备及计算机可读存储介质，具有和上述SD卡控制器功能验证方法相同的有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法的步骤流程图；
图2为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证装置的结构示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种SD卡控制器功能验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
为便于理解本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法，下面对本申请SD卡控制器功能验证方法所适用的功能验证系统进行说明，该功能验证系统包括Testbench、SD卡模型及SD卡控制器。其中，Testbench根据当前测试目的和命令决定当前测试是否需要执行错误功能描述，需要执行哪一类错误功能描述。
请参照图1，图1为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法的步骤流程图，该SD卡控制器功能验证方法包括：
S101：定义错误状态标签，错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
具体的，在SD卡模型中增加错误状态标签，用于标识错误状态，该错误状态标签描述了SD卡标准协议中规定的所有错误类型，可快速根据SD卡物理层协议版本进行重定义。可以理解的是，通过错误状态标签可以快速确定用于与SD卡控制器交互的行为描述，提高功能验证效率。
具体的，预先整理SD卡物理层可能出现的所有错误类型，并将其分别定义为对应的错误状态标签，每一错误状态标签位宽为1。其值含义如下：
0代表该错误状态标签无效，SD卡模型执行该错误状态标签对应的正确行为描述；
1代表该错误状态标签有效，SD卡模型执行该错误状态标签对应的错误行为描述。
具体的，对一些错误状态标签定义如下：
reg cmd_res_end_bit_err；//定义命令返回信息的截止位数据错误标签
reg rd_dat_end_bit_err；//定义读数据的截止位数据错误标签
reg rd_dat_crc_err；//定义读数据CRC错误标签
reg rd_dat_timeout_err；//定义读数据超时错误标签
reg wr_dat_crc_end_bit_err；//定义写数据CRC截止位数据错误标签
reg after_wr_crc_timeout_err；//定义写数据CRC后超时错误标签
reg before_wr_crc_timeout_err；//定义写数据与写数据CRC之前超时错误标签
……//定义其他类型错误标签。
S102：获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对错误状态标签进行置位；
具体的，获取当前测试错误类型，根据该当前测试错误类型对错误状态标签进行置位，置位包括置1或置0，相应的，置位值即为1或0，以便后续可直接通过错误状态标签快速确定当前用于与SD卡控制器交互的行为描述。
作为一种优选的实施例，可在SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口，后续通过解析错误状态接口获取当前测试错误类型。具体的，除普通SD卡模型与SD卡控制器连接的时钟、命令线、数据线之外，本实施例还增加一组与Testbench连接的错误状态接口，该错误状态接口为SD卡模型的一个对外接口，该错误状态接口由Testbench输出至SD卡模型，位宽可以设置为32，每一个bit代表一种错误状态类型，可根据物理层协议自由定义，兼容性好。Testbench并通过错误状态接口告知SD卡模型，此时命令需要验证的功能描述。
通过SD卡模型读取并解析错误状态接口，根据错误状态接口的每位的值，对相应错误状态标签进行置1或者置0。具体的，SD卡模型在每个时钟上升沿读取错误状态接口，并将每一位的错误状态赋予对应的错误状态标签，若错误状态接口全部为0，所有错误状态标签清零。
S103：通过SD卡模型根据错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
具体的，SD卡模型对各部分功能行为描述分为正确行为描述和错误行为描述，仅需要通过区分错误状态标签，即可选择合适的行为描述。若某错误状态标签为0，则执行该状态正确的行为描述，否则，执行该状态错误的行为描述，将行为描述反馈至SD卡控制器，从而实现SD卡控制器与SD卡的交互，覆盖正确和错误时的功能验证。
可以理解的是，在执行某个行为描述时，首先判断该行为可涉及的错误状态标签，若错误状态标签为0，则执行正常行为描述；若错误状态标签为1，则执行错误行为描述。具体的，完整的行为描述进程可以包括依次执行的多个子行为描述，在执行每一子行为时，应先判断该子行为对应的错误状态标签，若错误状态标签为0，则执行正常行为描述；若错误状态标签为1，则执行错误行为描述。
举例说明，例如，在下面读取数据的行为描述中：
SD卡模型接收到读取数据命令并发送返回信息至SD卡控制器后(命令和返回信息相关错误状态标签皆为0)，根据行为描述进程判断以下错误状态标签，rd_dat_timeout_err，rd_dat_crc_err，rd_dat_end_bit_err。
若rd_dat_timeout_err＝1，则SD卡模型切换为‘data’状态，DAT线保持为高电平。若rd_dat_timeout_err＝0，则SD卡模型切换为‘data’状态，DAT线发送起始数据起始位，将DAT线拉低，执行数据正常发送给SD卡控制器的行为描述。
对发送数据计数，当整块数据传输完成后，若rd_dat_crc_err＝1，则下一个时钟沿开始发送错误的CRC数据，否则发送整块数据的CRC计算结果。当CRC信息发送完成后，若rd_dat_end_bit_err＝1，则DAT线输出‘0’，否则，DAT线输出‘1’。可见，本实施例中，首先根据SD卡标准协议中规定的所有错误类型定义错误状态标签，当获取到当前测试错误类型后，对错误状态标签进行置位，SD卡模型的行为描述包括错误行为描述和正确行为描述，SD卡模型通过区分错误状态标签即可选择合适的行为描述与SD卡控制器进行交互，将行为描述反馈至SD卡控制器，覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。
请参照图2，图2为本申请所提供的一种SD卡错误验证装置的结构示意图，该SD卡错误验证装置包括：
定义模块，用于定义错误状态标签，错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取模块，用于获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对错误状态标签进行置位；
验证模块，用于通过SD卡模型根据错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
可见，本实施例中，首先根据SD卡标准协议中规定的所有错误类型定义错误状态标签，当获取到当前测试错误类型后，对错误状态标签进行置位，SD卡模型的行为描述包括错误行为描述和正确行为描述，SD卡模型通过区分错误状态标签即可选择合适的行为描述与SD卡控制器进行交互，将行为描述反馈至SD卡控制器，覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。
作为一种优选的实施例，定义模块具体用于：
根据SD卡物理层的错误类型定义错误状态标签。
作为一种优选的实施例，该SD卡控制器功能验证装置还包括：
设置模块，用于在SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口；
获取模块，具体用于通过解析错误状态接口获取当前测试错误类型。
作为一种优选的实施例，错误状态接口位宽为32。
作为一种优选的实施例，根据当前测试错误类型对错误状态标签进行置位的过程具体包括：
根据错误状态接口每位的值，对对应的错误状态标签进行置位，置位包括置0或置1。
作为一种优选的实施例，通过SD卡模型根据错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互的过程具体包括：
当错误状态标签的置位值为0时，选择该错误状态标签对应的正确行为描述与SD卡控制器交互；
当错误状态标签的置位值为1时，选择该错误状态标签对应的错误行为描述与SD卡控制器交互。
作为一种优选的实施例，获取当前测试错误类型的过程具体包括：
在每一时钟上升沿获取当前测试错误类型。
另一方面，本申请还提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行计算机程序时实现如上文任意一个实施例所描述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
对于本申请所提供的一种电子设备的介绍请参照上述实施例，本申请在此不再赘述。
本申请所提供的一种电子设备具有和上述SD卡控制器功能验证方法相同的有益效果。
另一方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上文任意一个实施例所描述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
对于本申请所提供的一种计算机可读存储介质的介绍请参照上述实施例，本申请在此不再赘述。
本申请所提供的一种计算机可读存储介质具有和上述SD卡控制器功能验证方法相同的有益效果。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的状况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，包括：
定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；
通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
2.根据权利要求1所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述定义错误状态标签的过程包括：
根据SD卡物理层的错误类型定义错误状态标签。
3.根据权利要求1所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，该SD卡控制器功能验证方法还包括：
在所述SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口；
相应的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：
通过解析所述错误状态接口获取当前测试错误类型。
4.根据权利要求3所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述错误状态接口位宽为32。
5.根据权利要求3所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位的过程具体包括：
根据所述错误状态接口每位的值，对对应的错误状态标签进行置位，所述置位包括置0或置1。
6.根据权利要求5所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互的过程具体包括：
当所述错误状态标签的置位值为0时，选择该错误状态标签对应的正确行为描述与所述SD卡控制器交互；
当所述错误状态标签的置位值为1时，选择该错误状态标签对应的错误行为描述与所述SD卡控制器交互。
7.根据权利要求1所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：
在每一时钟上升沿获取当前测试错误类型。
8.一种SD卡错误验证装置，其特征在于，包括：
定义模块，用于定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取模块，用于获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；
验证模块，用于通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。
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