CN111879412A - 制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质。其中，方法包括标定探测器对着均匀黑体所得的高温图像和低温图像得到像素点斜率值和像素点背景值，基于像素点斜率值和像素点背景值对工作于IWR模式下输出的原始红外图像的每个像素点进行修正，基于修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值，基于高低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值。最后利用像素点斜率值、像素点斜率修正值、像素点背景值和背景修正值对原始红外图像进行再次修正，得到最终输出的红外图像，从而有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

Description

制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及可读存储介质

技术领域

本申请涉及红外技术领域，特别是涉及一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

由于制冷型红外探测器工作时，制冷机先运行来降低自身温度，这样在检测其他物体时灵敏度更高、误差更小，检查温度范围更广，其被广泛应用在各行各业中。随着用户对制冷型红外成像质量及制冷型红外探测器工作环境的要求越来越高，提高制冷型红外探测器的成像质量迫在眉睫。

制冷型红外探测器由于制作工艺等因素的限制和影响，当其工作在IWR(Integrate While Read，积分同时读出)模式，也即在该工作模式中积分时间段内同时输出图像数据，探测器在积分时间与非积分时间段内同时有数据输出时，输出的数据会有一行异常，表现在图像上即为一条肉眼可见的横线，横线位于积分时间与非积分时间段的交界处，随着积分时间的改变而改变位置。该横线会严重影响制冷型红外探测器的成像质量。

相关技术通常采用后端图像处理来去除红外图像中的这条横线，例如可先求出横线上下两行均值的差，然后将横线以下的所有像素点的值均加上这个差值。但是，这种方法不仅对原始图像的像素点值改变较大，而且当场景中有高温物体进入或者改变探测器的积分时间时，横线会再一次出现，导致出现图像频繁闪动现象，使得成像质量在感官上表现较差。

鉴于此，如何去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量，是所属领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质，有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

本发明实施例一方面提供了一种制冷型红外探测器的图像生成方法，包括：

预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像；

利用基于所述高温图像和所述低温图像标定得到的像素点斜率值和像素点背景值，对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；

基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值；

利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

可选的，所述对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像包括：

调用一次修正关系式对所述原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到所述一次修正图像；所述一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为所述一次修正图像的第i个像素点，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量。

可选的，所述基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值包括：

调用像素点斜率修正关系式计算所述像素点斜率修正值，所述像素点斜率修正关系式为：

式中，Δg为像素点斜率修正值，x_{max_overm}为所述高温图像横线以上的第m个像素点值，x_{min_overm}为所述低温图像横线以上的第m个像素点值，m为横线以上像素点总数，x_{max_belown}为所述高温图像横线以下的第n个像素点值，x_{min_belown}为所述低温图像横线以下的第n个像素点值，n为横线以下像素点总数。

可选的，所述基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值包括：

调用像素点背景修正关系式计算所述背景修正值，所述像素点背景修正关系式为：

式中，Δh为所述背景修正值，x_{I-1_p}为所述一次修正图像中横线的上一行的第p个像素点值，p为所述一次修正图像中横线的上一行像素点总数，x_{I+1_q}为所述一次修正图像中横线的下一行的第q个像素点值，q为所述一次修正图像中横线的下一行像素点总数。

可选的，所述利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正包括：

调用二次修正关系式对所述原始红外图像的每个像素点进行二次修正，所述二次修正关系式为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为所述红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为所述背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

本发明实施例另一方面提供了一种制冷型红外探测器的图像生成装置，包括：

黑体预标定模块，用于预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像，并对所述高温图像和所述低温图像进行标定得到的像素点斜率值和像素点背景值；

一次修正模块，用于利用所述像素点斜率值和所述像素点背景值对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；

修正参数计算模块，用于基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值；

二次修正模块，用于利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

可选的，所述一次修正模块为调用一次修正关系式对所述原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到所述一次修正图像的模块；所述一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为所述一次修正图像的第i个像素点，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量。

可选的，所述二次修正模块为调用二次修正关系式对所述原始红外图像的每个像素点进行二次修正的模块，所述二次修正关系式为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为所述红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为所述背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

本发明实施例还提供了一种制冷型红外探测器的图像生成装置，包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如前任一项所述制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

本发明实施例最后还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有制冷型红外探测器的图像生成程序，所述制冷型红外探测器的图像生成程序被处理器执行时实现如前任一项所述制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

本申请提供的技术方案的优点在于，先通过高低温的黑体标定一组图像像素点斜率值和背景值进行一次图像修正提升红外图像质量，当探测器成像出现横线时，横线下的像素点斜率值与原图的像素点斜率值一样，横线上的像素点斜率值却与原来的像素点斜率值不同，图像横线以上的背景值是均匀的，图像横线以下的背景值为渐变的，利用通过高低温两幅图像横线上与横线下的像素点的值计算得到像素点斜率修正值和由横线上下的背景值计算得到像素点背景修正值进行二次修正，从而可以有效去除在IWR模式下制冷型红外探测器成像时出现的横线，且不会造成有高亮目标进入时图像出现闪动。而且任意切换场景或更改探测器的积分时间，横线均不会再次出现，有效提升制冷型红外探测器的成像质量。

此外，本发明实施例还针对制冷型红外探测器的图像生成方法提供了相应的实现装置及计算机可读存储介质，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置及计算机可读存储介质具有相应的优点。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或相关技术的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种制冷型红外探测器的图像生成方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的制冷型红外探测器的图像生成装置的一种具体实施方式结构图；

图3为本发明实施例提供的制冷型红外探测器的图像生成装置的另一种具体实施方式结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定的顺序。此外术语“包括”和“具有”以及他们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可包括没有列出的步骤或单元。

在介绍了本发明实施例的技术方案后，下面详细的说明本申请的各种非限制性实施方式。

首先参见图1，图1为本发明实施例提供的一种制冷型红外探测器的图像生成方法的流程示意图，本发明实施例可包括以下内容：

S101：预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像，并对高温图像和低温图像进行标定得到的像素点斜率值和像素点背景值。

在本步骤中，对于黑体标定的实现过程可参阅相关技术中记载的任何一种黑体标定技术，本申请对此不做任何限定。通过对高温图像和低温图像进行标定，可以得到每个像素点的像素点斜率值和像素点背景值，也就是说，本步骤中的像素点斜率值和像素点背景值是与像素点一一对应的。像素点背景值是指高温图像或低温图像与原始图像之间对应像素点的差值。

S102：利用像素点斜率值和像素点背景值对制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像。

本申请是为了去除制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的红外图像的横线，所以本步骤中的原始红外图像是有横线的，对于制冷型红外探测器工作于IWR模式下或其他工作模式下输出的原始红外图像没有横线，则直至作为最终红外图像进行输出，不需要经过本申请技术方案的数据处理。对于原始红外图像中的每个像素点，利用S101步骤中得到的相应像素点的像素点斜率值和像素点背景值进行修正，经过一次修正后原始红外图像整体的成像质量会得到提升，但横线并没有被完全消除，

S103：基于高温图像和低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点的背景修正值。

在本步骤中，像素点斜率修正值和像素点背景修正值的计算先后顺序不做任何限定，且均不影响本申请的实现。当制冷型红外探测器成像出现横线时，横线下的像素点斜率值与原图的像素点斜率值一样，横线上的像素点斜率值却与原来的像素点斜率值不同，可通过高低温两幅图像横线上与横线下的像素点的值计算得到像素点斜率修正值，利用像素点斜率修正值对原始红外图像的像素点进行再次修正，对原始红外图像的像素点值改变很小，不会影响红外图像的成像质量。当制冷型红外探测器成像出现横线时，图像横线以上的背景值是均匀的，而图像横线以下的背景值为渐变的，因此通过确定横线，然后利用横线上下的背景值计算得到像素点背景修正值进行二次修正，在有效去除在IWR模式下制冷型红外探测器成像时出现的横线的基础上不会太多改变原始图像像素点，且不会造成有高亮目标进入时图像出现闪动。而且任意切换场景或更改探测器的积分时间，横线均不会再次出现。

S104：利用像素点斜率值、像素点斜率修正值、像素点背景值和背景修正值对原始红外图像的每个像素点进行修正，得到制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

通过本步骤的像素点修正，可有效去除原始红外图像由于异常像素点导致图像中出现横线的现象，且对原始图像像素点的像素点改变不大，不影响制冷型红外探测器成像质量。

在本发明实施例提供的技术方案中，先通过高低温的黑体标定一组图像像素点斜率值和背景值进行一次图像修正提升红外图像质量，当探测器成像出现横线时，横线下的像素点斜率值与原图的像素点斜率值一样，横线上的像素点斜率值却与原来的像素点斜率值不同，图像横线以上的背景值是均匀的，图像横线以下的背景值为渐变的，利用通过高低温两幅图像横线上与横线下的像素点的值计算得到像素点斜率修正值和由横线上下的背景值计算得到像素点背景修正值进行二次修正，从而可以有效去除在IWR模式下制冷型红外探测器成像时出现的横线，且不会造成有高亮目标进入时图像出现闪动。而且任意切换场景或更改探测器的积分时间，横线均不会再次出现，有效提升制冷型红外探测器的成像质量。

需要说明的是，本申请中各步骤之间没有严格的先后执行顺序，只要符合逻辑上的顺序，则这些步骤可以同时执行，也可按照某种预设顺序执行，图1只是一种示意方式，并不代表只能是这样的执行顺序。

在上述实施例中，对于如何执行步骤S102并不做限定，本实施例中给出一种原始红外图像一次修正的实施方式，可以更好的对原始红外图像的像素点进行修正，提升图像成像质量，可包括如下步骤：

调用一次修正关系式对原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到一次修正图像；一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为一次修正图像的第i个像素点，O_i为原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量，所属领域技术人员可根据实际情况设置一个合适的常数即可。

当然，也可采用其他方式对原始红外图像进行一次修正，例如不考虑像素点整体偏移量，这均不影响本申请的实现。

在上述实施例中，对于如何执行步骤S103并不做限定，本申请还提供了像素点斜率修正值和像素点背景修正值的一种计算方式，使得计算得到的像素点斜率修正值和像素点背景修正值更加准确，有利于提升后续图像修正效果，可包括下述内容：

在计算像素点斜率修正值时，可采用S101步骤中的高温图像与低温图像在横线以上部分中各像素点之间的平均值和高温图像与低温图像在横线以下部分中各像素点之间的平均值的比值作为像素点斜率修正值，可选的，可调用像素点斜率修正关系式计算像素点斜率修正值，像素点斜率修正关系式可表示为：

式中，Δg为像素点斜率修正值，x_{max_overm}为高温图像横线以上的第m个像素点值，x_{min_overm}为低温图像横线以上的第m个像素点值，m为横线以上像素点总数，x_{max_belown}为高温图像横线以下的第n个像素点值，x_{min_belown}为低温图像横线以下的第n个像素点值，n为横线以下像素点总数。

在计算像素点的背景修正值时，可采用S102得到的一次修正图像中与横线相邻的上下行像素点的均值计算得到，也即可调用像素点背景修正关系式计算背景修正值，像素点背景修正关系式可表示为：

式中，Δh为背景修正值，x_{I-1_p}为一次修正图像中横线的上一行的第p个像素点值，p为一次修正图像中横线的上一行像素点总数，x_{I+1_q}为一次修正图像中横线的下一行的第q个像素点值，q为一次修正图像中横线的下一行像素点总数。

同样地，在上述实施例中，对于如何执行步骤S104也没有进行限定，本申请还提供了图像二次修正的一种实施方式，在去除原始红外图像的横线基础上还可提升图像质量，可包括下述内容：

调用二次修正关系式对原始红外图像的每个像素点进行二次修正，二次修正关系式可表示为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

本发明实施例还针对制冷型红外探测器的图像生成方法提供了相应的装置，进一步使得所述方法更具有实用性。其中，装置可从功能模块的角度和硬件的角度分别说明。下面对本发明实施例提供的制冷型红外探测器的图像生成装置进行介绍，下文描述的制冷型红外探测器的图像生成装置与上文描述的制冷型红外探测器的图像生成方法可相互对应参照。

基于功能模块的角度，参见图2，图2为本发明实施例提供的制冷型红外探测器的图像生成装置在一种具体实施方式下的结构图，该装置可包括：

黑体预标定模块201，用于预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像，并对高温图像和低温图像进行标定得到的像素点斜率值和像素点背景值。

一次修正模块202，用于利用像素点斜率值和像素点背景值对制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像。

修正参数计算模块203，用于基于高温图像和低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值。

二次修正模块204，用于利用像素点斜率值、像素点斜率修正值、像素点背景值和背景修正值对原始红外图像的每个像素点进行修正，得到制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

可选的，在本实施例的一些实施方式中，所述一次修正模块202可为调用一次修正关系式对原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到一次修正图像的模块；一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为一次修正图像的第i个像素点，O_i为原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量。

作为一种可选的实施方式，所述修正参数计算模块203可为调用像素点斜率修正关系式计算像素点斜率修正值的模块，像素点斜率修正关系式为：

式中，Δg为像素点斜率修正值，x_{max_overm}为高温图像横线以上的第m个像素点值，x_{min_overm}为低温图像横线以上的第m个像素点值，m为横线以上像素点总数，x_{max_belown}为高温图像横线以下的第n个像素点值，x_{min_belown}为低温图像横线以下的第n个像素点值，n为横线以下像素点总数。

作为另外一种可选的实施方式，所述修正参数计算模块203例如还可为调用像素点背景修正关系式计算背景修正值，像素点背景修正关系式为：

式中，Δh为背景修正值，x_{I-1_p}为一次修正图像中横线的上一行的第p个像素点值，p为一次修正图像中横线的上一行像素点总数，x_{I+1_q}为一次修正图像中横线的下一行的第q个像素点值，q为一次修正图像中横线的下一行像素点总数。

可选的，在本实施例的另一些实施方式中，所述二次修正模块204还可为调用二次修正关系式对原始红外图像的每个像素点进行二次修正的模块，二次修正关系式为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

本发明实施例所述制冷型红外探测器的图像生成装置的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

上文中提到的制冷型红外探测器的图像生成装置是从功能模块的角度描述，进一步的，本申请还提供一种制冷型红外探测器的图像生成装置，是从硬件角度描述。图3为本申请实施例提供的另一种制冷型红外探测器的图像生成装置的结构图。如图3所示，该装置包括存储器30，用于存储计算机程序；

处理器31，用于执行计算机程序时实现如上述任一实施例提到的制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

其中，处理器31可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器31可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器31也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器31可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器31还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

存储器30可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器30还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中，存储器30至少用于存储以下计算机程序301，其中，该计算机程序被处理器31加载并执行之后，能够实现前述任一实施例公开的制冷型红外探测器的图像生成方法的相关步骤。另外，存储器30所存储的资源还可以包括操作系统302和数据303等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中，操作系统302可以包括Windows、Unix、Linux等。数据303可以包括但不限于测试结果对应的数据等。

在一些实施例中，制冷型红外探测器的图像生成装置还可包括有显示屏32、输入输出接口33、通信接口34、电源35以及通信总线36。

本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构并不构成对制冷型红外探测器的图像生成装置的限定，可以包括比图示更多或更少的组件，例如还可包括传感器37。

本发明实施例所述制冷型红外探测器的图像生成装置的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

可以理解的是，如果上述实施例中的制冷型红外探测器的图像生成方法以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

基于此，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有制冷型红外探测器的图像生成程序，所述制冷型红外探测器的图像生成程序被处理器执行时如上任意一实施例所述制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

本发明实施例所述计算机可读存储介质的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

以上对本申请所提供的一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，包括：

预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像；

利用基于所述高温图像和所述低温图像标定得到的像素点斜率值和像素点背景值，对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；

基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值；

利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

2.根据权利要求1所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像包括：

调用一次修正关系式对所述原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到所述一次修正图像；所述一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为所述一次修正图像的第i个像素点，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量。

3.根据权利要求2所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值包括：

调用像素点斜率修正关系式计算所述像素点斜率修正值，所述像素点斜率修正关系式为：

式中，Δg为像素点斜率修正值，x_{max_overm}为所述高温图像横线以上的第m个像素点值，x_{min_overm}为所述低温图像横线以上的第m个像素点值，m为横线以上像素点总数，x_{max_belown}为所述高温图像横线以下的第n个像素点值，x_{min_belown}为所述低温图像横线以下的第n个像素点值，n为横线以下像素点总数。

4.根据权利要求2所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值包括：

调用像素点背景修正关系式计算所述背景修正值，所述像素点背景修正关系式为：

式中，Δh为所述背景修正值，x_{I-1_p}为所述一次修正图像中横线的上一行的第p个像素点值，p为所述一次修正图像中横线的上一行像素点总数，x_{I+1_q}为所述一次修正图像中横线的下一行的第q个像素点值，q为所述一次修正图像中横线的下一行像素点总数。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正包括：

调用二次修正关系式对所述原始红外图像的每个像素点进行二次修正，所述二次修正关系式为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为所述红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为所述背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

6.一种制冷型红外探测器的图像生成装置，其特征在于，包括：

黑体预标定模块，用于预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像，并对所述高温图像和所述低温图像进行标定得到的像素点斜率值和像素点背景值；

一次修正模块，用于利用所述像素点斜率值和所述像素点背景值对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；

修正参数计算模块，用于基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值；

二次修正模块，用于利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷型红外探测器最终输出的红外图像。

7.根据权利要求6所述的制冷型红外探测器的图像生成装置，其特征在于，所述一次修正模块为调用一次修正关系式对所述原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到所述一次修正图像的模块；所述一次修正关系式为：

C_i＝G_i×(O_i-H_i)+H_avr；

式中，C_i为所述一次修正图像的第i个像素点，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，H_i为第i个像素点的像素点背景值，H_avr为像素点整体偏移量。

8.根据权利要求6或7所述的制冷型红外探测器的图像生成装置，其特征在于，所述二次修正模块为调用二次修正关系式对所述原始红外图像的每个像素点进行二次修正的模块，所述二次修正关系式为：

C_2i＝Δg×G_i×(O_i-(H_i+Δh))+H_avr；

式中，C_2i为所述红外图像的第i个像素点，Δg为像素点斜率修正值，G_i为第i个像素点的像素点斜率值，O_i为所述原始红外图像的第i个像素点，H_i为第i个像素点的像素点背景值，Δh为所述背景修正值，H_avr为像素点整体偏移量。

9.一种制冷型红外探测器的图像生成装置，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有制冷型红外探测器的图像生成程序，所述制冷型红外探测器的图像生成程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述制冷型红外探测器的图像生成方法的步骤。

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