CN111858213B - 一种服务器合格率测试方法及相关装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种服务器合格率测试方法，包括：根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；根据测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；若是，则输出产品不合格消息；若否，则根据测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。通过单机独立性规则对待测试服务器执行测试，然后得到相应的测试数据，根据是否为永久性失效判断是否为产品不合格，若不是永久性失效则进行对应的合格率测算，得到合格率等级，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。本申请还公开了一种服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
Description
技术领域
本申请涉及计算机测试技术领域，特别涉及一种服务器合格率测试方法、服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
随着信息技术的不断发展，服务器被越来越广泛的被应用各行各业中，相对应的也许需要应用更多的服务器设备。因此，就需要对服务器执行更加严格的测试操作。目前，在对服务器执行的测试环节，有一个重要的测试指标是静电单机故障，需要在测试过程中对服务器的静电单机故障进行分析，以便提高服务器测试的准确性。其中，静电单机故障是指市场端或者生产端出现故障的服务器在实验室中无法复现或者很难复现的故障，以及当更换同型号甚至同批次的服务器后无法复制到故障现象。
现有技术中，在服务器静电测试中，投入一至两台测试样机，各研发阶段只进行一次静电测试。当静电测试通过时，认为该项目的静电测试没有问题，通过相关的标准，可以上市。根据服务器的特点，开发的EMC静电测试方法与流程。该测试方法虽然弥补了国际静电标准在服务器产品应用上的一些细节问题，提高了测试的覆盖度。但是，仍然无法对服务器的静电单机故障进行确认，以及无法对量产后的服务器的静电单机故障进行有效地控制。
因此，如何针对静电单机故障提高服务器合格率测试的准确性是本领域技术人员关注的重点问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种服务器合格率测试方法，服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质，通过单机独立性规则对待测试服务器执行测试，然后得到相应的测试数据，根据是否为永久性失效判断是否为产品不合格，若不是永久性失效则进行对应的合格率测算，得到合格率等级，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
为解决上述技术问题，本申请提供一种服务器合格率测试方法，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；
若是，则输出产品不合格消息；
若否，则根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。
可选的，根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行第一取样范围的初次测试，得到初次测试结果；
判断所述初次测试结果是否符合初次测试标准；
若是，则将所述初次测试结果作为所述测试数据；
若否，则根据单机独立性规则对待测试服务器执行第二取样范围的二次测试，得到所述测试数据。
可选的，根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，并在每个独立子测试中执行静电释放操作，得到所述测试数据。
可选的，根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器，包括：
从所述测试数据中获取静电失效种类数据；
判断所述静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
可选的，根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级，包括：
根据所述测试数据计算出最佳单机故障率；
根据预设故障合格率对应表对所述最佳单机故障率进行匹配，得到所述合格率等级。
本申请还提供一种服务器合格率测试装置，包括：
故障测试模块，用于根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
故障判断模块，用于根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；
不合格判定模块，用于当存在永久性失效的待测试服务器时，输出产品不合格消息；
合格率计算模块，用于当不存在永久性失效的待测试服务器时，根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。
可选的，所述故障判断模块，包括：
失效数据获取单元，用于从所述测试数据中获取静电失效种类数据；
失效种类判断单元，用于判断所述静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
可选的，所述合格率计算模块，包括：
最佳单机故障计算单元，用于根据所述测试数据计算出最佳单机故障率；
合格率匹配单元，用于根据预设故障合格率对应表对所述最佳单机故障率进行匹配，得到所述合格率等级。
本申请还提供一种测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述的服务器合格率测试方法的步骤。
本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的服务器合格率测试方法的步骤。
本申请所提供的一种服务器合格率测试方法，包括：根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；若是，则输出产品不合格消息；若否，则根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。
首先根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，然后判断测试数据的静电失效种类中是否存在永久性失效的服务器，以便确定测试结果是否为不合格，当不存在永久性失效产品时即可通过测试数据进行合格率计算，得到合格率等级，由于采用单机独立性规则进行测试，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
本申请还提供一种服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果，在此不做赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种服务器合格率测试方法的流程图；
图2为本申请实施例所提供的一种服务器合格率测试装置的结构示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种服务器合格率测试方法，服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质，通过单机独立性规则对待测试服务器执行测试，然后得到相应的测试数据，根据是否为永久性失效判断是否为产品不合格，若不是永久性失效则进行对应的合格率测算，得到合格率等级，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
现有技术中，在服务器静电测试中，投入一至两台测试样机，各研发阶段只进行一次静电测试。当静电测试通过时，认为该项目的静电测试没有问题，通过相关的标准，可以上市。根据服务器的特点，开发的EMC静电测试方法与流程。该测试方法虽然弥补了国际静电标准在服务器产品应用上的一些细节问题，提高了测试的覆盖度。但是，仍然无法对服务器的静电单机故障进行确认，以及无法对量产后的服务器的静电单机故障进行有效地控制。
因此，本申请提供一种服务器合格率测试方法，首先根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，然后判断测试数据的静电失效种类中是否存在永久性失效的服务器，以便确定测试结果是否为不合格，当不存在永久性失效产品时即可通过测试数据进行合格率计算，得到合格率等级，由于采用单机独立性规则进行测试，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
以下通过一个实施例，对本申请提供的一种服务器合格率测试方法进行说明。
请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种服务器合格率测试方法的流程图。
本实施例中，该方法可以包括：
S101，根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
本步骤旨在根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据。也就是，通过单机独立性规则执行静电放电故障测试，以便得到对应的测试数据。其中，单机独立性规则指的是在进行测试过程加入独立性测试操作，提高每项测试数据之间的独立性，以便将测试和测试之间相互解耦，避免测试和测试之间相互影响。
具体的，独立性测试操作可以是在两个测试数据之间加入放电操作，以便消除上一次测试操作的电荷残留。主要是由于静电电荷的积累，且得不到及时的释放。芯片的对静电的抗干扰能力有一个逐渐累积直至冲破阀值的过程。因此，在服务器的测试中，引入一个结构件，即金属软毛刷。将金属软毛刷的接地线接地。每次测试操作完成，都使用金属软毛刷刷一下测试点区域。金属软毛刷的构造关键为高弹性的金属丝，使用0.1mm钢丝，外面有镀有锌镍合金层。
可选的，本步骤可以包括：
步骤1，根据单机独立性规则对待测试服务器执行第一取样范围的初次测试，得到初次测试结果；
步骤2，判断初次测试结果是否符合初次测试标准；若是，则执行步骤3，若否，则执行步骤4；
步骤3，将初次测试结果作为测试数据；
步骤4，根据单机独立性规则对待测试服务器执行第二取样范围的二次测试，得到测试数据。
可见，本可选方案主要是对如何执行静电放电故障测试进行说明。本可选方案中首先根据单机独立性规则对待测试服务器执行第一取样范围的初次测试，得到初次测试结果；判断初次测试结果是否符合初次测试标准；也就是，首先在第一取样范围内进行初次测试，如果该第一取样范围内的初次测试结果符合测试标准，那么就可以直接作为测试数据。如果不符合测试标准，根据单机独立性规则对待测试服务器执行第二取样范围的二次测试，得到测试数据。
主要是由于单次测试因为偶发性的单机故障导致故障概率升高，使得测试结果不准确。因此，当初次测试结果不符合初次测试标准时，即可扩大测试服务器的数量，以便避免测试中的单机故障影响产品的整体测试结果。
可选的，本步骤可以包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，并在每个独立子测试中执行静电释放操作，得到测试数据。
可见，本可选方案主要是如何进行单机独立性规则的测试进行说明。具体的，在每个独立子测试中执行静电释放操作，得到测试数据。也就是在每两项独立的测试操作之间执行静电释放操作，避免累计的静电影响测试结果，提高测试的准确性。
S102，根据测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；若是，则执行S103；若否，则执行S104；
在S101的基础上，本步骤旨在根据测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器。也就是从测试数据得到的静电失效种类中，判断是否存在永久性失效的测例。
当测试数据的静电失效种类中出现了永久性失效时，则表示出现了静电不合格产品，并且不能对失效进行恢复，也就是产品不合格。
可选的，本步骤可以包括：
步骤1，从测试数据中获取静电失效种类数据；
步骤2，判断静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
可见，本可选方案主要是对如何进行静电失效种类进行说明。首先，从测试数据中获取静电失效种类数据；然后，判断静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。其中，静电失效种类数据包括暂时性失效和永久性失效。暂时性失效指的是静电测试后，设备可以通过自动和人为干预恢复正常。永久性失效指的是设备静电测试后发生硬件损伤。
S103，输出产品不合格消息；
在S102的基础上，本步骤旨在表示出现了不合格产品，则输出产品不合格消息。也就是，在静电测试后出现了硬件损伤，表明产品的设计和生产存在一定的硬件缺陷，属于不合格产品。
S104，根据测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。
在S102的基础上，本步骤旨在产品合格的基础上，根据该测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。也就是，把不合格的情况排除之后根据测试数据计算产品整体的合格率。
可选的，本步骤可以包括：
步骤1，根据测试数据计算出最佳单机故障率；
步骤2，根据预设故障合格率对应表对最佳单机故障率进行匹配，得到合格率等级。
可见，本可选方案主要是对如何计算合格率等级进行说明。本可选方案中，首先，根据测试数据计算出最佳单机故障率。然后，根据预设故障合格率对应表对最佳单机故障率进行匹配，得到合格率等级。
其中，最佳单机故障率指的是：某型号产品进行N次相关独立性的静电试验，故障次数为K，该型号产品大量生产后，产品发生单机故障的概率在合格率范围之内的故障概率。
其中，预设故障合格率对应表是最佳单机故障率和合格率对应关系的数据表。该对应表可以通过技术人员的经验进行设定，也可以通过多次测试实验后的数据进行确定。在此不做具体限定。
综上，本实施例首先根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，然后判断测试数据的静电失效种类中是否存在永久性失效的服务器，以便确定测试结果是否为不合格，当不存在永久性失效产品时即可通过测试数据进行合格率计算，得到合格率等级，由于采用单机独立性规则进行测试，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
以下通过一个具体的实施例，对本申请提供的一种服务器合格率测试方法做进一步说明。
本实施例中，该方法可以包括：
步骤1，生产和市场端反馈出静电测试故障。
步骤2，进行静电测试的复测，上一实施例采用的方法，至少复测200次。
主要是由于大量的测试经验表明，200次以下统计数量太小，无法支撑数据分析。其中，N次静电复测与普通静电测试相比，特殊要求是保持测试的相关独立性，采取方法上一实施例的说明。
步骤3，统计故障次数，确定静电单机故障的最佳单机故障率。
步骤4，根据前面的分析方法，分析是否为单机故障。如果在相对独立测试中出现永久性失效，便不是单机故障，并且判定产品不合格；当进行500次相互独立静电测试，故障率大于1.6％时，排除单机故障。
步骤5，如果是单机故障，分析当前的样机型号量产后是否符合合格率。如果符合合格率，预判合格率等级。
当待测试的服务器有多个节点(节点为服务器中一个相对独立的单元，一般具备除管理单元、供电单元和散热单元外的全部功能)时，发生单机ESD(Electro-StaticDischarge，静电放电)故障的测试点在节点上时，进行静电的相关独立性实验时，要把测试节点的相邻节点关机。发生单机ESD故障的测试点在样机的外壳和管理、电源和散热单元时，只把距离测试点单元最远的一个节点开机。一般来说服务器的ESD单机故障都是暂时性失效，因为永久性失效不可能为单机故障。暂时性失效指的是静电测试后，设备可以通过自动和人为干预恢复正常；永久性失效指的是设备静电测试后发生硬件损伤。
其中，最佳ESD单机测试故障率指的是：某型号产品进行N次相关独立性的静电试验，故障次数为K，该型号产品大量生产后，产品发生单机故障的概率在合格率范围之内的故障率。
首先，获取最佳故障率，并不单是要求故障次数K率较小。举例说明，A样机，当总共进行N＝20次试验，有K＝1次故障时，即A样机的故障概率P能落入的期望范围。但是，如果B样机，在前20次试验中，就出现了两次故障，即K＝2，那么并不说明B样机的故障率没有落入的期望范围。所以K的取值与N相关。
K与N的取值关系为：K即使做到最小，比如：0次，那也要找到足够大的N值来满足最近故障率。K数值增大，需要N的值也要增大，但是受测试时间和成本影响，N值不可能无限增大，需要给出一个N值，在这个N值下，要保障满足最佳故障率。举例来说，可以通过经验确定故障率和合格率之间的关系，N最大取值是500，K的最大取值为5次。当K＝1，N＝200～500时，满足合格率为S级范围。当K＝2时，N＝200和N＝300时，满足的合格率为A级范围，当K＝2时，N＝400和N＝500时，满足的合格率为S级范围。当K＝3和K＝4时，最佳故障率没有A级，只有S级。当K＝5时，只有A级，没有S级，如果想获得S级，需要的测试次数呈指数上升，远超可以接受到的范围。可见，如果故障次数超过2次，建议直接跳到500次试验。
可见，本实施例首先根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，然后判断测试数据的静电失效种类中是否存在永久性失效的服务器，以便确定测试结果是否为不合格，当不存在永久性失效产品时即可通过测试数据进行合格率计算，得到合格率等级，由于采用单机独立性规则进行测试，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。
下面对本申请实施例提供的一种服务器合格率测试装置进行介绍，下文描述的一种服务器合格率测试装置与上文描述的一种服务器合格率测试方法可相互对应参照。
请参考图2，图2为本申请实施例所提供的一种服务器合格率测试装置的结构示意图。
本实施例中，该装置可以包括：
故障测试模块100，用于根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
故障判断模块200，用于根据测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；
不合格判定模块300，用于当存在永久性失效的待测试服务器时，输出产品不合格消息；
合格率计算模块400，用于当不存在永久性失效的待测试服务器时，根据测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。
可选的，该故障判断模块200，可以包括：
失效数据获取单元，用于从测试数据中获取静电失效种类数据；
失效种类判断单元，用于判断静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
可选的，该合格率计算模块400，可以包括：
最佳单机故障计算单元，用于根据测试数据计算出最佳单机故障率；
合格率匹配单元，用于根据预设故障合格率对应表对最佳单机故障率进行匹配，得到合格率等级。
本申请实施例还提供一种测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如以上实施例所述的服务器合格率测试方法的步骤。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如以上实施例所述的服务器合格率测试方法的步骤。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本申请所提供的一种服务器合格率测试方法、服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
Claims (8)
1.一种服务器合格率测试方法，其特征在于，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；
若是，则输出产品不合格消息；
若否，则根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级；
其中，根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级，包括：
根据所述测试数据计算出最佳单机故障率；
根据预设故障合格率对应表对所述最佳单机故障率进行匹配，得到所述合格率等级。
2.根据权利要求1所述的服务器合格率测试方法，其特征在于，根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行第一取样范围的初次测试，得到初次测试结果；
判断所述初次测试结果是否符合初次测试标准；
若是，则将所述初次测试结果作为所述测试数据；
若否，则根据单机独立性规则对待测试服务器执行第二取样范围的二次测试，得到所述测试数据。
3.根据权利要求1所述的服务器合格率测试方法，其特征在于，根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据，包括：
根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，并在每个独立子测试中执行静电释放操作，得到所述测试数据。
4.根据权利要求1所述的服务器合格率测试方法，其特征在于，根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器，包括：
从所述测试数据中获取静电失效种类数据；
判断所述静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
5.一种服务器合格率测试装置，其特征在于，包括：
故障测试模块，用于根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；
故障判断模块，用于根据所述测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；
不合格判定模块，用于当存在永久性失效的待测试服务器时，输出产品不合格消息；
合格率计算模块，用于当不存在永久性失效的待测试服务器时，根据所述测试数据进行合格率测算，得到合格率等级；
其中，所述合格率计算模块，包括：
最佳单机故障计算单元，用于根据所述测试数据计算出最佳单机故障率；
合格率匹配单元，用于根据预设故障合格率对应表对所述最佳单机故障率进行匹配，得到所述合格率等级。
6.根据权利要求5所述的服务器合格率测试装置，其特征在于，所述故障判断模块，包括：
失效数据获取单元，用于从所述测试数据中获取静电失效种类数据；
失效种类判断单元，用于判断所述静电失效种类数据中是否存在永久性失效的待测试服务器。
7.一种测试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的服务器合格率测试方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的服务器合格率测试方法的步骤。
Priority Applications (1)
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