CN111796257B - 一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，包括激光雷达、免调整支座、接口转换组件、测距驱动模块、数据采集模块、系统控制与数据中心、电控平移台、激光功率测试端、激光指向测试端、测距激光接收端、模数采集I/O组件、程控链路跳线开关、光纤延时链路、窄脉冲激光信号源、背景光干扰源、双路程控光衰减器、双路光纤合束器、光纤准直器、电控旋转与倾斜台和三轴运动控制器。本发明通过电控平移实现激光功率、激光指向以及测距性能的空间分布式自动测量，并将激光指向测试与电控旋转与倾斜相结合实现了激光模拟回波的自对准；创新设计了光纤延时链路模块，实现了不同距离、不同目标和不同环境中激光雷达性能的一键式全自动检测。

Description

一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统

技术领域

本发明涉及一种激光雷达检测系统，特别是一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统。

背景技术

激光雷达是雷达原理与激光技术相结合的产物，以激光为探测波束，具有测程远、灵敏度高、空间分辨率高、抗干扰能力强等一系列优点，在距离测量、目标跟踪、立体成像和环境感知等领域有着广阔的应用前景。

激光雷达的应用需求和产量均出现了井喷式的发展，使得激光雷达行业迫切需要改善激光雷达制造的智能化水平，大幅度提升生产效率、提高产能。性能检验是激光雷达生产过程的必经关键环节，其智能化水平的高低直接决定了激光雷达的生产效率和产能。目前，行业内激光雷达测距性能指标主要依靠外场定点测距方法解决，这种方法能实现在最贴近实际使用环境的条件下检验雷达性能，是最可靠的方法，但是这种方法要求有几百米甚至几公里以上不受遮挡的测试靶道，这在高楼林立的城镇空间已经很难找到合适的测试环境。此外，这种方法还受能见度、阳光背景以及雨雪等天候条件的制约，很难在相同条件下实现激光雷达性能的检验，导致性能检验的一致较差；如果追求检验环境条件相同，则检验效率低下，产能极其受限。为此，有学者提出了在室内模拟环境中检验激光雷达性能的设想。例如，柳鸣等在论文《大量程脉冲激光测距仪性能检测方法》(《红外与激光工程》2015)中提出了一种用于检测测距仪的最大测程和测距精度的检测方法，该方法使用FPGA和模拟延时器件来实现延时功能，模拟距离范围达到50～22000m，很好地解决了距离模拟的大量程问题，但是受数字电路时钟频率和模拟电路稳定性的制约，使得回波延时精度仅能控制在2ns附近，难以满足cm级精度激光雷达检验的要求。此外，该方法也未考虑激光发射功率、回波幅度、背景光干扰以及发射接收光轴平行性等对激光雷达性能的影响，因此不能直接应用激光雷达性能的室内定量检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，解决目标距离、目标反射率、激光回波、背景光干扰等的室内模拟问题，实现激光雷达测距能力、光轴指向和发射视场的一键式快速定量检验，兼具激光雷达故障诊断功能。

实现本发明目的的技术解决方案为：一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，包括激光雷达、免调整支座、接口转换组件、测距驱动模块、数据采集模块、系统控制与数据中心、电控平移台、激光功率测试端、激光指向测试端、测距激光接收端、模数采集I/O组件、程控链路跳线开关、光纤延时链路、窄脉冲激光信号源、背景光干扰源、双路程控光衰减器、双路光纤合束器、光纤准直器、电控旋转与倾斜台和三轴运动控制器；

所述激光雷达固定在免调整支座上，激光雷达的电气接口与接口转换组件相连，接口转换组件与测距驱动模块和数据采集模块相连，测距驱动模块和数据采集模块与系统控制与数据中心相连，电控平移台安装在激光雷达的前面，且运动方向与激光雷达的光轴方向垂直，激光功率测试端、激光指向测试端和测距激光接收端依次安装在电控平移台上，三者光轴与激光雷达的光轴反向平行，且在同一高度平面上；激光功率测试端通过模数采集I/O组件与系统控制与数据中心相连，激光指向测试端与系统控制与数据中心相连，测距激光接收端与光纤延时链路的延时信号输入接口相连，光纤延时链路的控制接口与程控链路跳线开关相连，程控链路跳线开关与系统控制与数据中心相连，光纤延时链路的延时信号输出接口与窄脉冲激光信号源相连，窄脉冲激光信号源和背景光干扰源的输出与双路程控光衰减器的输入相连，双路程控光衰减器与系统控制与数据中心相连，双路程控光衰减器的输出与双路光纤合束器的两个输入端相连，双路光纤合束器的输出与光纤准直器相连，光纤准直器安装在电控旋转与倾斜台上，保证光纤准直器和激光雷达的接收天线在同一高度，且可通过电控旋转与倾斜台的调整使光纤准直器的光轴和激光雷达的发射光轴平行，电控平移台和电控旋转与倾斜台的控制端口与三轴运动控制器相连，三轴运动控制器与系统控制与数据中心相连。

进一步的，所述激光功率测试端由第一中性密度玻璃衰减片、接收物镜、大光敏面PIN器件和信号调理电路组成；第一中性密度玻璃衰减片设置在接收物镜之前对入射激光起衰减作用，大光敏面PIN器件离焦放装；激光雷达发出的光经第一中性密度玻璃衰减片进行衰减然后通过接收物镜，大光敏面PIN器件接收通过接收物镜的光，进行光—电转化，再通过信号调理电路进行电信号的整形。

进一步的，所述激光指向测试端包括第二中性密度玻璃衰减片、长焦成像镜组和高分辨CCD相机；第二中性密度玻璃衰减片设置在长焦成像镜组之前对入射激光起衰减作用，高分辨CCD相机的感光靶面设置在长焦成像镜组的焦面上；激光雷达发出的光经第二中性密度玻璃衰减片进行衰减然后通过长焦成像镜组进入到高分辨CCD相机中，且高分辨CCD相机能自动将捕获的光斑图像通过USB接口传输给系统控制与数据中心，由系统控制与数据中心根据光斑大小和光斑在CCD靶面上的位置计算激光指向和发射视场。

进一步的，所述测距激光接收端包括第三中性密度玻璃衰减片、快响应PIN探测器、跨阻放大电路和第一脉冲整形电路，其中，第三中性密度玻璃衰减片设置在快响应PIN探测器之前对入射激光起衰减作用，快响应PIN探测器的输出与跨阻放大电路相连，跨阻放大电路的输出与第一脉冲整形电路相连；衰减过后的光经快响应PIN探测器进行光—电转化，产生电流信号，然后经跨阻放大电路把电流转换为电压信号；第一脉冲整形电路对输出的电压信号进行整形，触发延时系统工作。

进一步的，所述光纤延时链路包括脉冲驱动电路、带尾纤激光二极管、N级延时光纤组件、带尾纤PIN光电探测器、前置放大电路和第二脉冲整形电路。其中，脉冲驱动电路与带尾纤激光二极管的对应管脚相连，带尾纤激光二极管的输出尾纤与N级延时光纤组件的输入端相连，N级延时光纤组件的控制端与程控链路跳线开关相连，N级延时光纤组件的输出端与带尾纤PIN光电探测器相连，带尾纤PIN光电探测器的输出与前置放大电路相连，前置放大电路的输出与第二脉冲整形电路相连；其中脉冲驱动电路驱动带尾纤激光二极管发光，发出的光经过N级延时光纤组件传输，带尾纤PIN光电探测器接收传输出来的光，将光信号转化成电信号，前置放大电路放大转化出来的电信号，再经第二脉冲整形电路对信号进行整形。

进一步的，所述N级延时光纤组件包括N根延时光纤、N-1个1×2MEMS光开关和1个N路光纤合路器，其中，N-1个1×2MEMS光开关将N根延时光纤串接成一条链路，N路光纤合路器将N-1个1×2MEMS光开关的另外N-1输出及最后一根延时光纤的输出合束，N路光纤合路器的输出与带尾纤PIN光电探测器相连。

进一步的，所述窄脉冲激光信号源中的带尾纤激光二极管由一个Mosfet驱动器产生窄脉冲激光信号。

本发明与现有技术相比，其显著优点为：1)本发明引入程控光纤延时链路技术、光衰减器独立控制窄脉冲激光幅度和连续波激光幅度结合光纤合束技术模拟激光雷达回波信号技术，巧妙解决了目标距离、目标反射率、激光回波、背景光干扰等的室内模拟问题，实现激光雷达测距能力、光轴指向和发射视场的一键式快速定量检验，兼具激光雷达故障诊断功能；2)本发明通过电控平移实现激光功率、激光指向以及测距性能的空间分布式自动测量，并将激光指向测试与电控旋转与倾斜相结合实现了激光模拟回波的自对准，使得系统能检测出激光雷达发射光轴和接收光轴平行性对整机测距性能的影响；3)本发明创新设计了光纤延时链路模块，引入MEMS光开关利用一对光端机实现N路不同距离目标的模拟，使得N路不同目标距离延时稳定度达到ps量级，且很高的一致性；4)本发明还在激光功率测试中引入了离焦测试光路，使激光在大面积PIN探测器的光敏面上有较为均匀的光强分布，有利于防止感光面的局域饱和现象，拉伸了激光功率测试的线性范围，提高了测量的准确度。

附图说明

图1为本发明的适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统的结构框图。

图2为本发明所述激光功率测试端的结构框图。

图3为本发明所述激光指向测试端的结构框图。

图4为本发明所述测距激光接收端的结构框图。

图5为本发明所述光纤延时链路的结构框图。

图6为本发明所述N级延时光纤组件的结构框图。

具体实施方式

如图1所示，一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，包括激光雷达1、免调整支座2、接口转换组件3、测距驱动模块4、数据采集模块5、系统控制与数据中心6、电控平移台7、激光功率测试端8、激光指向测试端9、测距激光接收端10、模数采集I/O组件11、程控链路跳线开关12、光纤延时链路13、窄脉冲激光信号源14、背景光干扰源15、双路程控光衰减器16、双路光纤合束器17、光纤准直器18、电控旋转与倾斜台19和三轴运动控制器20，其中，激光雷达1固定在免调整支座2上，激光雷达1的电气接口与接口转换组件3相连，接口转换组件3与测距驱动模块4和数据采集模块5相连，测距驱动模块4和数据采集模块5与系统控制与数据中心6相连，电控平移台7安装在激光雷达1的前面，且运动方向与激光雷达1的光轴方向垂直，激光功率测试端8、激光指向测试端9和测距激光接收端10依次安装在电控平移台7上，三者光轴与激光雷达1的光轴反向平行，且在同一高度平面上，激光功率测试端8通过模数采集I/O组件11与系统控制与数据中心6相连，激光指向测试端9与系统控制与数据中心6相连，测距激光接收端10与光纤延时链路13的延时信号输入接口相连，光纤延时链路13的控制接口与程控链路跳线开关12相连，程控链路跳线开关12与系统控制与数据中心6相连，光纤延时链路13的延时信号输出接口与窄脉冲激光信号源14相连，窄脉冲激光信号源14和背景光干扰源15的输出与双路程控光衰减器16的输入相连，双路程控光衰减器16与系统控制与数据中心6相连，双路程控光衰减器16的输出与双路光纤合束器17的两个输入端相连，双路光纤合束器17的输出与光纤准直器18相连，光纤准直器18安装在电控旋转与倾斜台19上，保证光纤准直器18和激光雷达1的接收天线在同一高度，且可通过电控旋转与倾斜台19的调整使光纤准直器18的光轴和激光雷达1的发射光轴平行，电控平移台7和电控旋转与倾斜台19的控制端口与三轴运动控制器20相连，三轴运动控制器20与系统控制与数据中心6相连。

作为一种具体的实施方式，如图2，所述激光功率测试端8，包括第一中性密度玻璃衰减片21、接收物镜22、大光敏面PIN器件23和信号调理电路24，第一中性密度玻璃衰减片21设置在接收物镜22之前对入射激光起衰减作用，大光敏面PIN器件23离焦放装，保证光斑略小于感光面的大小，有利于防止敏感光面的局域饱和现象。激光雷达1发出的光经第一中性密度玻璃衰减片21进行衰减然后通过接收物镜22，大光敏面PIN器件23接收通过接收物镜22的光，进行光—电转化，再通过信号调理电路24进行电信号的整形；

作为一种具体的实施方式，如图3，所述激光指向测试端9，包括第二中性密度玻璃衰减片25、长焦成像镜组26和高分辨CCD相机27，第二中性密度玻璃衰减片25设置在长焦成像镜组26之前对入射激光起衰减作用，高分辨CCD相机27的感光靶面设置在长焦成像镜组26的焦面上。激光雷达1发出的光经第二中性密度玻璃衰减片25进行衰减然后通过长焦成像镜组26进入到高分辨CCD相机27中，且高分辨CCD相机27能自动将捕获的光斑图像通过USB接口传输给系统控制与数据中心6，由系统控制与数据中心6根据光斑大小和光斑在CCD靶面上的位置计算激光指向和发射视场；

作为一种具体的实施方式，如图4，所述测距激光接收端10，包括第三中性密度玻璃衰减片28、快响应PIN探测器29、跨阻放大电路30和第一脉冲整形电路31，其中，第三中性密度玻璃衰减片28设置在快响应PIN探测器29之前对入射激光起衰减作用，快响应PIN探测器29的输出与跨阻放大电路30相连，跨阻放大电路30的输出与第一脉冲整形电路31相连；衰减过后的光经快响应PIN探测器29进行光—电转化，产生电流信号，然后经跨阻放大电路30把电流转换为电压信号。第一脉冲整形电路31对输出的电压信号进行整形，触发延时系统工作；

作为一种具体的实施方式，如图5，所述光纤延时链路13，包括脉冲驱动电路32、带尾纤激光二极管33、N级延时光纤组件34、带尾纤PIN光电探测器35、前置放大电路36和第二脉冲整形电路37，其中，脉冲驱动电路32与带尾纤激光二极管33的对应管脚相连，带尾纤激光二极管33的输出尾纤与N级延时光纤组件34的输入端相连，N级延时光纤组件34的控制端与程控链路跳线开关12相连，N级延时光纤组件34的输出端与带尾纤PIN光电探测器35相连，带尾纤PIN光电探测器35的输出与前置放大电路36相连，前置放大电路36的输出与第二脉冲整形电路37相连；其中脉冲驱动电路32驱动带尾纤激光二极管33发光，发出的光经过N级延时光纤组件34传输，带尾纤PIN光电探测器35接收传输出来的光，将光信号转化成电信号，前置放大电路36放大转化出来的电信号，再经第二脉冲整形电路37对信号进行整形。

作为一种具体的实施方式，如图6，所述N级延时光纤组件34，包括N根延时光纤38、N-1个1×2MEMS光开关39和1个N路光纤合路器40，其中，N-1个1×2MEMS光开关39将N根延时光纤38串接成一条链路，N路光纤合路器40将N-1个1×2MEMS光开关39的另外N-1输出及最后一根延时光纤的输出合束，N路光纤合路器40的输出与带尾纤PIN光电探测器35相连；

作为一种具体的实施方式，所述窄脉冲激光信号源14中的带尾纤激光二极管由一个Mosfet驱动器产生窄脉冲激光信号。

作为一种具体的实施方式，激光雷达1为典型的双目激光雷达；免调整支座2采用双轴固定结构；接口转换组件3的驱动接口为正负电源和驱动脉冲输入，数据接口为SPI接口；测距驱动模块4为±8V电源和3.3V VTTL脉冲；数据采集模块5为FT232芯片；系统控制与数据中心6为工业平板TPC6000-8172T-F；电控平移台7为42BYG250CK-B的步进电机；模数采集I/O组件11为DCT-100B组件；程控链路跳线开关12的主控器为STM32 ARM芯片；背景光干扰源15为LSFLD905光二极管；程控光衰减器16为JM8506衰减器；双路光纤合束器17为TFB-P光纤耦合器；光纤准直器18为YXOC光纤准直器；电控旋转与倾斜台19为42BYG250CK-B的步进电机；三轴运动控制20为SC103步进电机控制器；中性密度玻璃衰减片21、25和28为2AB00；接收物镜22的直径为20mm；大光敏面PIN器件23和快响应PIN探测器29均为GT101探测器；信号调理电路24为阻容低筒滤波网络；长焦成像镜组26的焦距为100mm；高分辨CCD相机27为MV-UG1000U3M；跨阻放大电路30和前置放大电路36均为OPA657；脉冲整形电路31和37均为MAX962；脉冲驱动电路32为TTL电平产生电路；带尾纤激光二极管33为LSDLD155激光二极管；带尾纤PIN光电探测器35为LSIPD-UL0.3探测器；N根延时光纤38均为芯径为9微米的单模光纤；N-1个1×2MEMS光开关39为SW系列1×2光开关；N路光纤合路器40为平面波导光合路器；Mosfet驱动器为IXD609；窄脉冲激光信号源14中的带尾纤激光二极管为905nm带尾纤半导体激光器。

本发明系统的具体工作过程如下：

由系统控制与数据中心6发出开始工作指令，指令传输给测距驱动模块4，测距驱动模块4驱动激光雷达1工作，通过接口转换组件3监测雷达工作状态，并由数据采集模块5传输给系统控制与数据中心6，判定雷达是否正常工作。

雷达1发射出的激光，在电控平移台7的控制下，先由激光功率测试端8测试功率传输给系统控制与数据中心6；然后由激光指向测试端9测试激光指向，传输给系统控制与数据中心6，并系统控制与数据中心6控制三轴运动控制器20和电控旋转与倾斜台19使整激光回波指向与发射轴方向一致，同时控制程控链路跳线开关12选择合适的目标模拟距离，控制双路程控光衰减器16设置合适的回波强度和噪声光强度；最终由测距激光接收端10接收测距信号，开始测距性能检测。测距激光接收端10收到激光脉冲后，启动光纤延时链路13，由光纤延时链路13控制窄脉冲激光信号源14和背景光干扰源15产生激光回波和回波噪声，并由双路程控光衰减器16独立控制回波信号幅度和光噪声强弱，并由双路光纤合束器17合束和光纤准直器18准直输出模拟回波。激光雷达1的接收机收到激光回波信号后给出检测的目标距离，并通过接口转换组件3和数据采集模块5传输给系统控制与数据中心6。

基于上述系统组成和工作原理的激光雷达全自动检测系统可以实现不同距离、不同目标以及不同环境中激光雷达性能的一键式全自动检测，兼具故障诊断功能，还可以智能云端互联，实现智能产线的集成，可大幅度提高生产效率，节约人工成本，具有广阔的应用前景。

Claims (5)

1.一种适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，其特征在于，包括激光雷达(1)、免调整支座(2)、接口转换组件(3)、测距驱动模块(4)、数据采集模块(5)、系统控制与数据中心(6)、电控平移台(7)、激光功率测试端(8)、激光指向测试端(9)、测距激光接收端(10)、模数采集I/O组件(11)、程控链路跳线开关(12)、光纤延时链路(13)、窄脉冲激光信号源(14)、背景光干扰源(15)、双路程控光衰减器(16)、双路光纤合束器(17)、光纤准直器(18)、电控旋转与倾斜台(19)和三轴运动控制器(20)；

所述激光雷达(1)固定在免调整支座(2)上，激光雷达(1)的电气接口与接口转换组件(3)相连，接口转换组件(3)与测距驱动模块(4)和数据采集模块(5)相连，测距驱动模块(4)和数据采集模块(5)与系统控制与数据中心(6)相连，电控平移台(7)安装在激光雷达(1)的前面，且运动方向与激光雷达(1)的光轴方向垂直，激光功率测试端(8)、激光指向测试端(9)和测距激光接收端(10)依次安装在电控平移台(7)上，三者光轴与激光雷达(1)的光轴反向平行，且在同一高度平面上；激光功率测试端(8)通过模数采集I/O组件(11)与系统控制与数据中心(6)相连，激光指向测试端(9)与系统控制与数据中心(6)相连，测距激光接收端(10)与光纤延时链路(13)的延时信号输入接口相连，光纤延时链路(13)的控制接口与程控链路跳线开关(12)相连，程控链路跳线开关(12)与系统控制与数据中心(6)相连，光纤延时链路(13)的延时信号输出接口与窄脉冲激光信号源(14)相连，窄脉冲激光信号源(14)和背景光干扰源(15)的输出与双路程控光衰减器(16)的输入相连，双路程控光衰减器(16)与系统控制与数据中心(6)相连，双路程控光衰减器(16)的输出与双路光纤合束器(17)的两个输入端相连，双路光纤合束器(17)的输出与光纤准直器(18)相连，光纤准直器(18)安装在电控旋转与倾斜台(19)上，保证光纤准直器(18)和激光雷达(1)的接收天线在同一高度，且可通过电控旋转与倾斜台(19)的调整使光纤准直器(18)的光轴和激光雷达(1)的发射光轴平行，电控平移台(7)和电控旋转与倾斜台(19)的控制端口与三轴运动控制器(20)相连，三轴运动控制器(20)与系统控制与数据中心(6)相连；

所述光纤延时链路(13)包括脉冲驱动电路(32)、带尾纤激光二极管(33)、N级延时光纤组件(34)、带尾纤PIN光电探测器(35)、前置放大电路(36)和第二脉冲整形电路(37)；其中，脉冲驱动电路(32)与带尾纤激光二极管(33)的对应管脚相连，带尾纤激光二极管(33)的输出尾纤与N级延时光纤组件(34)的输入端相连，N级延时光纤组件(34)的控制端与程控链路跳线开关(12)相连，N级延时光纤组件(34)的输出端与带尾纤PIN光电探测器(35)相连，带尾纤PIN光电探测器(35)的输出与前置放大电路(36)相连，前置放大电路(36)的输出与第二脉冲整形电路(37)相连；其中脉冲驱动电路(32)驱动带尾纤激光二极管(33)发光，发出的光经过N级延时光纤组件(34)传输，带尾纤PIN光电探测器(35)接收传输出来的光，将光信号转化成电信号，前置放大电路(36)放大转化出来的电信号，再经第二脉冲整形电路(37)对信号进行整形；

所述N级延时光纤组件(34)包括N根延时光纤(38)、N-1个1×2MEMS光开关(39)和1个N路光纤合路器(40)，其中，N-1个1×2MEMS光开关(39)将N根延时光纤(38)串接成一条链路，N路光纤合路器(40)将N-1个1×2MEMS光开关(39)的另外N-1输出及最后一根延时光纤的输出合束，N路光纤合路器(40)的输出与带尾纤PIN光电探测器(35)相连。

2.根据权利要求1所述的适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，其特征在于，所述激光功率测试端(8)由第一中性密度玻璃衰减片(21)、接收物镜(22)、大光敏面PIN器件(23)和信号调理电路(24)组成；第一中性密度玻璃衰减片(21)设置在接收物镜(22)前面对入射激光起衰减作用，大光敏面PIN器件(23)离焦放装；激光雷达(1)发出的光经第一中性密度玻璃衰减片(21)进行衰减然后通过接收物镜(22)，大光敏面PIN器件(23)接收通过接收物镜(22)的光，进行光—电转化，再通过信号调理电路(24)进行电信号的整形。

3.根据权利要求1所述的适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，其特征在于，所述激光指向测试端(9)包括第二中性密度玻璃衰减片(25)、长焦成像镜组(26)和高分辨CCD相机(27)；第二中性密度玻璃衰减片(25)设置在长焦成像镜组(26)之前对入射激光起衰减作用，高分辨CCD相机(27)的感光靶面设置在长焦成像镜组(26)的焦面上；激光雷达(1)发出的光经第二中性密度玻璃衰减片(25)进行衰减然后通过长焦成像镜组(26)进入到高分辨CCD相机(27)中，且高分辨CCD相机(27)能自动将捕获的光斑图像通过USB接口传输给系统控制与数据中心(6)，由系统控制与数据中心(6)根据光斑大小和光斑在CCD靶面上的位置计算激光指向和发射视场。

4.根据权利要求1所述的适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，其特征在于，所述测距激光接收端(10)包括第三中性密度玻璃衰减片(28)、快响应PIN探测器(29)、跨阻放大电路(30)和第一脉冲整形电路(31)，其中，第三中性密度玻璃衰减片(28)设置在快响应PIN探测器(29)之前对入射激光起衰减作用，快响应PIN探测器(29)的输出与跨阻放大电路(30)相连，跨阻放大电路(30)的输出与第一脉冲整形电路(31)相连；衰减过后的光经快响应PIN探测器(29)进行光—电转化，产生电流信号，然后经跨阻放大电路(30)把电流转换为电压信号，第一脉冲整形电路(31)对输出的电压信号进行整形，触发延时系统工作。

5.根据权利要求1所述的适用于智能产线的激光雷达全自动检测系统，其特征在于，所述窄脉冲激光信号源(14)中的带尾纤激光二极管由一个Mosfet驱动器产生窄脉冲激光信号。

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