CN111633337A - 用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置 - Google Patents

用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供的用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置，涉及焊接技术，通过根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。即，本方案通过多组纵坐标(物体表面跟激光器中心点间的垂直偏移值)的中位数计算，利用中位数替代测量数据，对采集到的数据进行更新处理，减缓了反光对焊缝数据的影响，提高了焊缝测量数据的准确性。

Description

用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置
技术领域
本发明涉及焊接技术，尤其涉及一种用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置。
背景技术
随着技术的发展，自动化操作普遍增多。其中，自动焊接的时候可以采用激光进行焊接。而激光焊接需要对焊缝的数据进行测量，从而准确的完成焊接操作。
现有技术中，在使用激光焊接时，焊接金属表面经常会出现反光，反光产生包含两种原因，一种是金属表面本身的反光，另一种是焊接位置进行不规则的打磨后产生的反光。由于受反光影响，得到的焊缝测量数据经常有部分不准确的地方，导致焊接质量较低。
发明内容
本发明实施例提供一种用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置，提高了焊缝测量数据的准确性。
本发明实施例的第一方面，提供一种用于激光焊缝测量的消除反光方法，包括：
根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；
获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；
根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；
根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；
根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理，包括：
接收多组扫描坐标数据，其中，每组所述扫描坐标数据均包含有N个子坐标数据；
根据预设的存储模型的多个预设存储空间对所述多组扫描坐标数据进行分组存储处理，所述预设存储空间与单组所述扫描坐标数据一一对应。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在所述根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据之后，还包括：
获取更新信号；
根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理；
返回执行所述获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据的步骤。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述获取更新信号，包括：
判断是否有未处理的扫描坐标数据；
若有未处理的扫描坐标数据，获取所述更新信号。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理，包括：
根据所述更新信号对所述预设的存储模型内的第一组所述扫描坐标数据进行剔除处理，并将其余组的所述扫描坐标数据按顺序向第一个所述存储空间方向移动一个存储空间；
获取所述多组扫描坐标数据内未处理的剩余扫描坐标数据，并将所述剩余扫描坐标数据存储至所述预设的存储模型内的最后一个存储空间。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据，包括：
根据多组所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取多个纵坐标替换值，包括：
对每组所述待处理坐标数据的纵坐标进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述对每组所述待处理坐标数据的纵坐标进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值，包括：
对每组所述待处理坐标数据进行排序处理，获取排序数据；
对所述排序数据进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。
本发明实施例的第二方面，提供一种用于激光焊缝测量的消除反光装置，包括：
存储模块，用于根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；
分类模块，用于获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；
替换模块，用于根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；
执行模块，用于根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；
测量模块，用于根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
本发明实施例的第三方面，提供一种用于激光焊缝测量的消除反光设备，包括：存储器、处理器以及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器中，所述处理器运行所述计算机程序执行本发明第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
本发明实施例的第四方面，提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现本发明第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
本发明提供的用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置，通过根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。即，本方案通过多组纵坐标(物体表面跟激光器中心点间的垂直偏移值)的中位数计算，利用中位数替代测量数据，对采集到的数据进行更新处理，减缓了反光对焊缝数据的影响，提高了焊缝测量数据的准确性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的反光测量焊缝的示意图；
图2是本发明实施例提供的消除反光后测量焊缝的示意图；
图3是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光方法的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的多个预设存储空间的示意图；
图5是本发明实施例提供的更新后预设存储空间的示意图；
图6是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光装置的示意图；
图7是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
应当理解，在本发明的各种实施例中，各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
应当理解，在本发明中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
参见图1，是本发明实施例提供的反光测量焊缝的示意图。在使用激光焊接时，焊接金属表面经常会出现反光，反光产生包含两种原因，一种是金属表面本身的反光，另一种是焊接位置进行不规则的打磨后产生的反光。由于受反光影响，得到的焊缝数据经常有部分不准确的地方，导致焊接质量较低。
与本案相关的消除反光的方法的现有技术的方案及缺点阐述如下：
1、基于改变光源位置消除反光方法，需要在同一场景下使用摄像头采集目标位置在不同光源下的图片，但该方法通过改变光源位置法消除反光，需要再同同一时刻拍摄多张图片，对于处于变化或移动中的物体，该方法不适用。
2、基于立体光源的去除图像反光方法，采用四个角度光源同时照明拍摄图片，再采用高斯滤波算法对图像消除反光，但基于多点立体光源的方法，需要安装多个角度光源，需要的设备装置较为复杂。
3、基于SVM等机器学习的图像处理算法，基于机器学习的图像处理算法，但需要大量标注数据，在场景更换或光源更换时不适用。
为了解决问题，本方案的构思是对采集到的初始数据进行处理，消除或者减弱反光的影响，从而提高最终测量数据的准确性。其中，对初始数据处理是对坐标数据中的纵坐标进行处理，可以理解，反光对纵坐标的测量影响较大，因此，对纵坐标进行处理，使其趋向于准确的纵坐标，即可实现消除或者减弱反光的影响。参见图2，是本发明实施例提供的消除反光后测量焊缝的示意图。具体的实施方法在下文展开。
参见图3，是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光方法的流程示意图，图3所示方法的执行主体可以是软件和/或硬件装置。本申请的执行主体可以包括但不限于以下中的至少一个：用户设备、网络设备等。其中，用户设备可以包括但不限于计算机、智能手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，简称：PDA)及上述提及的电子设备等。网络设备可以包括但不限于单个网络服务器、多个网络服务器组成的服务器组或基于云计算的由大量计算机或网络服务器构成的云，其中，云计算是分布式计算的一种，由一群松散耦合的计算机组成的一个超级虚拟计算机。本实施例对此不做限制。包括步骤S301至步骤S305，具体如下：
S301，根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理。
具体地，扫描坐标数据可以是通过激光扫描焊缝所得到的数据。在获取到扫描坐标数据后，可以分组存储到预设的存储模型内，用于后续处理。
在实际应用中，扫描坐标数据可以由机器人激光焊缝的激光传感装置采集到的，激光传感装置可以是在机器人前端为线激光传感器，线激光传感器可以选择现有技术中的红光线扫激光发射器，激光器可以通过夹具夹紧在机器人第六轴前端，使得激光器激光垂直于工件表面。
可以理解，使用激光传感装置获取到激光数据可以是扫描坐标数据(X,Z)，其中，X可以是线扫激光数据为物体表面跟激光器中心点间的水平偏移值X，即以下实施例中所说的横坐标；Z可以是线扫激光数据为物体表面跟激光器中心点间的垂直偏移值，即以下实施例中所说的纵坐标；一般线扫激光的分辨率通常为500-1000个点，本方案的线扫激光的分辨率可以是500个点。
在一些实施例中，所述根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理，可以具体如下：
接收多组扫描坐标数据，其中，每组所述扫描坐标数据均包含有N个子坐标数据；根据预设的存储模型的多个预设存储空间对所述多组扫描坐标数据进行分组存储处理，所述预设存储空间与单组所述扫描坐标数据一一对应。
其中，每组所述扫描坐标数据均包含有N个子坐标数据，例如可以是一组扫描坐标数据内包含有500个子坐标数据，N个子坐标数据的数量与激光扫描器的设置有关，本方案可以500个子坐标数据为例进行说明，但不限于500个子坐标数据。
参见图4，是本发明实施例提供的多个预设存储空间的示意图，预设的存储模型包括有多个预设存储空间，且预设存储空间与单组所述扫描坐标数据一一对应，例如，可以是包括有10个预设存储空间，用于存放10组扫描坐标数据。
在一些实施例中，如果有15组扫描坐标数据，那么本实施例中可以是存储先获取到的10组扫描坐标数据，剩余的5组扫描坐标数据等待后续处理。
S302，获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据。
具体地，在预设的存储模型存储好数据后，开始对预设的存储模型内的数据进行处理。
其中，待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据，即按照横坐标相同为基准对数据进行分组，然后用于后续的处理。
可以理解，待处理坐标数据有N组，例如，可以是对应500个子坐标数据的500组。
示例性的，参见图4，a1-a10中，(x1,z1)1到(x1,z1)10的10个数据中，横坐标都是x1，而纵坐标z1可能会受到反光的影响而不相同。最终本方案可以获取到500组待处理坐标数据。
S303，根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值。
具体的，对纵坐标进行处理，使其趋向于准确的纵坐标，即得到纵坐标替换值的，然后对纵坐标进行替换，以实现消除或者减弱反光的影响。
其中，对每组所述待处理坐标数据的纵坐标进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。具体可以对每组所述待处理坐标数据进行排序处理，获取排序数据；对所述排序数据进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。
示例性的，参见图4，a1-a10中，(x1,z1)1到(x1,z1)10的10个纵坐标可以先进行排序，然后算出中位数，作为纵坐标替换值即可，例如可以是zm1。
S304，根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据。
示例性的，参见图4，以a1-a10为例，a1-a10中，横坐标都是x1，坐标替换值为zm1，则最终的替换坐标数据为(x1,zm1)。
可以理解，本实施例中可以求得500个替换坐标数据，以形成一组替换坐标数据。由于其中的纵坐标数据是综合10组的纵坐标数据处理得到的，则最终得到的500个替换坐标数据准确性较高。
S305，根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
具体地，在得到N个替换坐标数据后，可以将其作为实际应用中的测量数据，即所需的焊缝测量数据，实现消除反光的影响。
上述实施例提供的用于激光焊缝测量的消除反光方法及装置，通过根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。即，本方案通过多组纵坐标(物体表面跟激光器中心点间的垂直偏移值)的中位数计算，利用中位数替代测量数据，对采集到的数据进行更新处理，减缓了反光对焊缝数据的影响，提高了焊缝测量数据的准确性。
在上述实施例的基础上，由于本方案可以对预设的存储模型的预设存储空间的数量进行限制，例如，预设存储空间可以设置有10个，则预设的存储模型内只能对应的存储10组扫描坐标数据。而如果所有的数据有15组扫描坐标数据，即多余10组扫描坐标数据，需要对剩余的5组扫描坐标数据也进行处理，可以进一步的提高最终测量数据的准确性。
在所述根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据之后，还包括：
获取更新信号；根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理；返回执行所述获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据的步骤。
其中，所述获取更新信号可以是：判断是否有未处理的扫描坐标数据；若有未处理的扫描坐标数据，获取所述更新信号
所述根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理，包括：
根据所述更新信号对所述预设的存储模型内的第一组所述扫描坐标数据进行剔除处理，并将其余组的所述扫描坐标数据按顺序向第一个所述存储空间方向移动一个存储空间；
获取所述多组扫描坐标数据内未处理的剩余扫描坐标数据，并将所述剩余扫描坐标数据存储至所述预设的存储模型内的最后一个存储空间。
具体地，参见图5，是本发明实施例提供的更新后预设存储空间的示意图，本实施例在进行一次计算后，形成的替换坐标数据可以相当于替换了a1中的坐标数据，因此，本实施例将a1的数据移除，然后将剩余的数据整体后移，将新一组的数据插入到空出的预设存储空间内，即图5中的a11内。
可以理解，图5中的a2相当于图4中的a1，a11相当于图4中的a10。
可以理解，在本实施例中，可以获取到多组所述N个替换坐标数据，而最终只需要一组N个替换坐标数据即可实现测量的目的，为了进一步的提高最终数据的准确性，可以对多组所述N个替换坐标数据进行综合处理，具体如下：
根据多组所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
示例性的，如果最终得到了5组N个替换坐标数据，即得到了5组更新后的测量数据，那么可以再根据这5组更新后的测量数据得到最终的一个焊缝测量数据。
其中，可以对5组N个替换坐标数据进行如图3所述实施例的中位数处理，也可以取5组N个替换坐标数据的平均值，使得最终得到的一个焊缝测量数据更加的准确。
参见图6，是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光装置的示意图，该用于激光焊缝测量的消除反光装置60包括：
存储模块61，用于根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；
分类模块62，用于获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；
替换模块63，用于根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；
执行模块64，用于根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；
测量模块65，用于根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
图6所示实施例的装置对应地可用于执行图3所示方法实施例中的步骤，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
参见图7，是本发明实施例提供的一种用于激光焊缝测量的消除反光设备的硬件结构示意图，该用于激光焊缝测量的消除反光设备70包括：处理器71、存储器72和计算机程序；其中
存储器72，用于存储所述计算机程序，该存储器还可以是闪存(flash)。所述计算机程序例如是实现上述方法的应用程序、功能模块等。
处理器71，用于执行所述存储器存储的计算机程序，以实现上述方法中设备执行的各个步骤。具体可以参见前面方法实施例中的相关描述。
可选地，存储器72既可以是独立的，也可以跟处理器71集成在一起。
当所述存储器72是独立于处理器71之外的器件时，所述设备还可以包括：
总线73，用于连接所述存储器72和处理器71。
本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现上述的各种实施方式提供的方法。
其中，可读存储介质可以是计算机存储介质，也可以是通信介质。通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。计算机存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。例如，可读存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该可读存储介质读取信息，且可向该可读存储介质写入信息。当然，可读存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和可读存储介质可以位于专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuits，简称：ASIC)中。另外，该ASIC可以位于用户设备中。当然，处理器和可读存储介质也可以作为分立组件存在于通信设备中。可读存储介质可以是只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
本发明还提供一种程序产品，该程序产品包括执行指令，该执行指令存储在可读存储介质中。设备的至少一个处理器可以从可读存储介质读取该执行指令，至少一个处理器执行该执行指令使得设备实施上述的各种实施方式提供的方法。
在上述设备的实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元(英文：CentralProcessing Unit，简称：CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文：DigitalSignal Processor，简称：DSP)、专用集成电路(英文：Application Specific IntegratedCircuit，简称：ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种用于激光焊缝测量的消除反光方法，其特征在于，包括：
根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；
获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；
根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；
根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；
根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理，包括：
接收多组扫描坐标数据，其中，每组所述扫描坐标数据均包含有N个子坐标数据；
根据预设的存储模型的多个预设存储空间对所述多组扫描坐标数据进行分组存储处理，所述预设存储空间与单组所述扫描坐标数据一一对应。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据之后，还包括：
获取更新信号；
根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理；
返回执行所述获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据的步骤。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取更新信号，包括：
判断是否有未处理的扫描坐标数据；
若有未处理的扫描坐标数据，获取所述更新信号。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述根据所述更新信号，对所述预设的存储模型内的扫描坐标数据进行更新处理，包括：
根据所述更新信号对所述预设的存储模型内的第一组所述扫描坐标数据进行剔除处理，并将其余组的所述扫描坐标数据按顺序向第一个所述存储空间方向移动一个存储空间；
获取所述多组扫描坐标数据内未处理的剩余扫描坐标数据，并将所述剩余扫描坐标数据存储至所述预设的存储模型内的最后一个存储空间。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据，包括：
根据多组所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取多个纵坐标替换值，包括：
对每组所述待处理坐标数据的纵坐标进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对每组所述待处理坐标数据的纵坐标进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值，包括：
对每组所述待处理坐标数据进行排序处理，获取排序数据；
对所述排序数据进行计算中位数处理，获取所述纵坐标替换值。
9.一种用于激光焊缝测量的消除反光装置，其特征在于，包括：
存储模块，用于根据预设的存储模型对多组扫描坐标数据进行分组存储处理；
分类模块，用于获取所述预设的存储模型内的N组待处理坐标数据，其中，每组所述待处理坐标数据中包括有多个横坐标相同的子坐标数据；
替换模块，用于根据每组所述待处理坐标数据的纵坐标，获取N个纵坐标替换值；
执行模块，用于根据N个所述纵坐标替换值和对应组的所述横坐标，获取N个替换坐标数据；
测量模块，用于根据所述N个替换坐标数据，获取焊缝测量数据。
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现权利要求1至8任一所述的方法。
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