CN111585571A - 一种高速adc中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法 - Google Patents

一种高速adc中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法,所述检测模块包括:差分信号输入端口,用于接收的待检测差分信号,并同时传输给第一检测电路和第二检测电路;第一差分参考输入端口,用于接收第一差分参考信号传输给第一检测电路;第二差分参考输入端口,用于接收第二差分参考信号传输给第二检测电路;第一检测电路,用于接收待检测差分信号和第一差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;第二检测电路,用于接收待检测差分信号和第二差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果。本发明能够快速检测出ADC的输入信号是否出现超量程情况,为调整ADC前段链路的各级增益提供了依据。

Description

一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法
技术领域
本发明涉及微电子技术,特别是涉及一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法。
背景技术
随着计算机技术、通信技术和微电子技术的高速发展,大大促进了ADC技术的发展,ADC作为模拟量与数据量接口的关键部件,广泛应用于各领域,在信息技术中起着重要作用。ADC同计算机一样,经历了低速到高速的发展过程。ADC的低速(转换时间大于300uS )结构有积分型、斜坡型、跟踪型;ADC的中速(转换时间在1uS-300uS )结构有逐次逼近型;ADC的高速(转换时间小于1uS)结构有闪烁型、分区式等。这些不同的结构满足了实际应用的广泛性和多样性的需求,其中高速ADC已成为决定诸如雷达、通信、电子对抗、航天航空、导弹、测控、地展、医疗、仪器仪表、图象、高性能控制器及数字通信系统等现代化电子设备性能的重要环节。
在高速ADC系统应用中,快速检测出ADC的输入信号幅度,对系统及时调整ADC前段链路的各级增益,避免ADC输入端出现超量程情况具有重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块及检测方法,能够快速检测出ADC的输入信号是否出现超量程情况。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,差分信号输入端口、第一差分参考输入端口、第二差分参考输入端口、第一检测电路和第二检测电路;
所述差分信号输入端口,用于接收的待检测差分信号,并同时传输给第一检测电路和第二检测电路;
所述第一差分参考输入端口,用于接收第一差分参考信号传输给第一检测电路,所述第一差分参考信号对应于允许的差分信号量程上限;
所述第二差分参考输入端口,用于接收第二差分参考信号传输给第二检测电路,所述第二差分参考信号对应于允许的差分信号量程下限;
所述第一检测电路,用于接收待检测差分信号和第一差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
所述第二检测电路,用于接收待检测差分信号和第二差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
其中,所述第一检测电路包括第一幅度检测器F1、第一锁存器L1和第一比较器U1;
待检测差分信号到达第一检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1连接到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2连接到第一幅度检测器F1;
第一差分参考信号到达第一检测电路后,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3连接到第一MOS开关q1和第一幅度检测器F1之间;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4连接到第二MOS开关q2和第一幅度检测器F1之间;
所述第一幅度检测器F1的输出端通过第五MOS开关q5连接到第一比较器U1的同相输入端,第一幅度检测器F1的输出端还通过第六MOS开关q6连接到第一锁存器L1,所述第一锁存器L1的输出端通过第七MOS开关q7连接到第一比较器U1的反相输入端;所述第一比较器U1的输出端即整个第一检测电路的输出端。
其中,所述第二检测电路包括第二幅度检测器F2、第二锁存器L2和第二比较器U2;
待检测差分信号到达第二检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8连接到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9连接到第二幅度检测器F2;
第二差分参考信号到达第二检测电路后,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10连接到第八MOS开关q8和第二幅度检测器F2之间;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11连接到第九MOS开关q9和第二幅度检测器F2之间;
所述第二幅度检测器F2的输出端通过第十二MOS开关q12连接到第二比较器U2的反相输入端,第二幅度检测器F2的输出端还通过第十三MOS开关q13连接到第二锁存器L2,所述第二锁存器L2的输出端通过第十四MOS开关q14连接到第二比较器U2的同相输入端;所述第二比较器U2的输出端即整个第二检测电路的输出端。
其中,所述快速检测模块还包括控制单元,所述控制单元分别与第一MOS开关q1~第十四MOS开关q14的控制输入端连接,用于控制各个MOS开关的通断。
一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块的检测方法,包括参考信号采集子步骤S1和输入信号检测子步骤S2;
所述参考信号采集子步骤S1包括:
S101.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7断开,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6闭合;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14断开;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13闭合;
S102.第一信号检测电路中,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3传输给第一幅度检测器F1;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4传输给第一幅度检测器F1;第一幅度检测器F1对输入的第一差分参考信号进行幅度检测,并通过第六MOS开关q6将第一差分参考信号的幅度传输给第一锁存器L1进行锁存;
同理,第二信号检测电路中,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10传输给第二幅度检测器F2;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11传输给第二幅度检测器F2;第二幅度检测器F2对输入的第二差分参考信号进行幅度检测,并通过第十三MOS开关将第二差分参考信号的幅度传输给第二锁存器L2进行锁存;
所述输入信号检测子步骤包括:
S201.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7闭合,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6断开;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14闭合;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13断开;
S202.第一信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1传输到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2传输到第一幅度检测器F1;
同理,第二信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8传输到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9传输到第二幅度检测器F2;
S203.第一信号检测电路中,第一幅度检测器F1对待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第五MOS开关q5传输到第一比较器U1的同相输入端,同时第一锁存器L1中第一差分参考信号的幅度通过第七MOS开关q7传输到第一比较器U1的反相输入端,第一比较器输出高电平时,则说明待检测差分信号的幅度大于第一差分参考信号的幅度,即待检测差分信号超出了允许的量程上限;反之,若第一比较器输出低电平,则说明待检测差分信号的幅度小于第一差分参考信号的幅度,待检测差分信号未超出允许的量程上限;
同理,第二信号检测电路中,第二幅度检测器F2对接收到的待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第十二MOS开关传输到第二比较器U2的反相输入端,同时,第二锁存器L2中第二差分参考信号的幅度通过第十四MOS开关传输到第二比较器U2的同相输入端;第二比较器输出高电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度大于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号低于允许的量程下限;反之,第二比较器输出低电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度小于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号未低于允许的量程下限;
S204.确定检测结果:
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
本发明的有益效果是:本发明能够快速检测出ADC的输入信号是否出现超量程情况,为调整ADC前段链路的各级增益提供了依据。
附图说明
图1为本发明的原理框图;
图2为第一检测电路的原理示意图;
图3为第二检测电路的原理示意图;
图4为本发明的方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案,但本发明的保护范围不局限于以下所述。
如图1所示,一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,差分信号输入端口、第一差分参考输入端口、第二差分参考输入端口、第一检测电路和第二检测电路;
所述差分信号输入端口,用于接收的待检测差分信号,并同时传输给第一检测电路和第二检测电路;
所述第一差分参考输入端口,用于接收第一差分参考信号传输给第一检测电路,所述第一差分参考信号对应于允许的差分信号量程上限;
所述第二差分参考输入端口,用于接收第二差分参考信号传输给第二检测电路,所述第二差分参考信号对应于允许的差分信号量程下限;
所述第一检测电路,用于接收待检测差分信号和第一差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
所述第二检测电路,用于接收待检测差分信号和第二差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
如图2所示,所述第一检测电路包括第一幅度检测器F1、第一锁存器L1和第一比较器U1;
待检测差分信号到达第一检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1连接到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2连接到第一幅度检测器F1;
第一差分参考信号到达第一检测电路后,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3连接到第一MOS开关q1和第一幅度检测器F1之间;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4连接到第二MOS开关q2和第一幅度检测器F1之间;
所述第一幅度检测器F1的输出端通过第五MOS开关q5连接到第一比较器U1的同相输入端,第一幅度检测器F1的输出端还通过第六MOS开关q6连接到第一锁存器L1,所述第一锁存器L1的输出端通过第七MOS开关q7连接到第一比较器U1的反相输入端;所述第一比较器U1的输出端即整个第一检测电路的输出端。
如图3所示,所述第二检测电路包括第二幅度检测器F2、第二锁存器L2和第二比较器U2;
待检测差分信号到达第二检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8连接到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9连接到第二幅度检测器F2;
第二差分参考信号到达第二检测电路后,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10连接到第八MOS开关q8和第二幅度检测器F2之间;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11连接到第九MOS开关q9和第二幅度检测器F2之间;
所述第二幅度检测器F2的输出端通过第十二MOS开关q12连接到第二比较器U2的反相输入端,第二幅度检测器F2的输出端还通过第十三MOS开关q13连接到第二锁存器L2,所述第二锁存器L2的输出端通过第十四MOS开关q14连接到第二比较器U2的同相输入端;所述第二比较器U2的输出端即整个第二检测电路的输出端。
其中,所述快速检测模块还包括控制单元,所述控制单元分别与第一MOS开关q1~第十四MOS开关q14的控制输入端连接,用于控制各个MOS开关的通断。
如图4所示,一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块的检测方法,包括参考信号采集子步骤S1和输入信号检测子步骤S2;
所述参考信号采集子步骤S1包括:
S101.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7断开,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6闭合;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14断开;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13闭合;
S102.第一信号检测电路中,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3传输给第一幅度检测器F1;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4传输给第一幅度检测器F1;第一幅度检测器F1对输入的第一差分参考信号进行幅度检测,并通过第六MOS开关q6将第一差分参考信号的幅度传输给第一锁存器L1进行锁存;
同理,第二信号检测电路中,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10传输给第二幅度检测器F2;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11传输给第二幅度检测器F2;第二幅度检测器F2对输入的第二差分参考信号进行幅度检测,并通过第十三MOS开关将第二差分参考信号的幅度传输给第二锁存器L2进行锁存;
所述输入信号检测子步骤包括:
S201.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7闭合,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6断开;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14闭合;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13断开;
S202.第一信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1传输到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2传输到第一幅度检测器F1;
同理,第二信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8传输到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9传输到第二幅度检测器F2;
S203.第一信号检测电路中,第一幅度检测器F1对待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第五MOS开关q5传输到第一比较器U1的同相输入端,同时第一锁存器L1中第一差分参考信号的幅度通过第七MOS开关q7传输到第一比较器U1的反相输入端,第一比较器输出高电平时,则说明待检测差分信号的幅度大于第一差分参考信号的幅度,即待检测差分信号超出了允许的量程上限;反之,若第一比较器输出低电平,则说明待检测差分信号的幅度小于第一差分参考信号的幅度,待检测差分信号未超出允许的量程上限;
同理,第二信号检测电路中,第二幅度检测器F2对接收到的待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第十二MOS开关传输到第二比较器U2的反相输入端,同时,第二锁存器L2中第二差分参考信号的幅度通过第十四MOS开关传输到第二比较器U2的同相输入端;第二比较器输出高电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度大于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号低于允许的量程下限;反之,第二比较器输出低电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度小于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号未低于允许的量程下限;
S204.确定检测结果:
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式,不应该看作是对其他实施例的排除,而可用于其他组合、修改和环境,并能够在本文所述构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围,则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (5)

1.一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,其特征在于:包括差分信号输入端口、第一差分参考输入端口、第二差分参考输入端口、第一检测电路和第二检测电路;
所述差分信号输入端口,用于接收的待检测差分信号,并同时传输给第一检测电路和第二检测电路;
所述第一差分参考输入端口,用于接收第一差分参考信号传输给第一检测电路,所述第一差分参考信号对应于允许的差分信号量程上限;
所述第二差分参考输入端口,用于接收第二差分参考信号传输给第二检测电路,所述第二差分参考信号对应于允许的差分信号量程下限;
所述第一检测电路,用于接收待检测差分信号和第一差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
所述第二检测电路,用于接收待检测差分信号和第二差分参考信号,并进行幅度比较,输出高电平或低电平作为检测结果;
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
2.根据权利要求1所述的一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,其特征在于:所述第一检测电路包括第一幅度检测器F1、第一锁存器L1和第一比较器U1;
待检测差分信号到达第一检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1连接到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2连接到第一幅度检测器F1;
第一差分参考信号到达第一检测电路后,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3连接到第一MOS开关q1和第一幅度检测器F1之间;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4连接到第二MOS开关q2和第一幅度检测器F1之间;
所述第一幅度检测器F1的输出端通过第五MOS开关q5连接到第一比较器U1的同相输入端,第一幅度检测器F1的输出端还通过第六MOS开关q6连接到第一锁存器L1,所述第一锁存器L1的输出端通过第七MOS开关q7连接到第一比较器U1的反相输入端;所述第一比较器U1的输出端即整个第一检测电路的输出端。
3.根据权利要求2所述的一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,其特征在于:所述第二检测电路包括第二幅度检测器F2、第二锁存器L2和第二比较器U2;
待检测差分信号到达第二检测电路后,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8连接到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9连接到第二幅度检测器F2;
第二差分参考信号到达第二检测电路后,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10连接到第八MOS开关q8和第二幅度检测器F2之间;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11连接到第九MOS开关q9和第二幅度检测器F2之间;
所述第二幅度检测器F2的输出端通过第十二MOS开关q12连接到第二比较器U2的反相输入端,第二幅度检测器F2的输出端还通过第十三MOS开关q13连接到第二锁存器L2,所述第二锁存器L2的输出端通过第十四MOS开关q14连接到第二比较器U2的同相输入端;所述第二比较器U2的输出端即整个第二检测电路的输出端。
4.根据权利要求3所述的一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块,其特征在于:所述快速检测模块还包括控制单元,所述控制单元分别与第一MOS开关q1~第十四MOS开关q14的控制输入端连接,用于控制各个MOS开关的通断。
5.如权利要求1~4中任意一项所述的一种高速ADC中输入信号幅度的快速检测模块的检测方法,其特征在于:包括参考信号采集子步骤S1和输入信号检测子步骤S2;
所述参考信号采集子步骤S1包括:
S101.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7断开,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6闭合;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14断开;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13闭合;
S102.第一信号检测电路中,第一差分参考信号的第一路差分输入通过第三MOS开关q3传输给第一幅度检测器F1;第一差分参考信号的第二路差分输入通过第四MOS开关q4传输给第一幅度检测器F1;第一幅度检测器F1对输入的第一差分参考信号进行幅度检测,并通过第六MOS开关q6将第一差分参考信号的幅度传输给第一锁存器L1进行锁存;
同理,第二信号检测电路中,第二差分参考信号的第一路差分输入通过第十MOS开关q10传输给第二幅度检测器F2;第二差分参考信号的第二路差分输入通过第十一MOS开关q11传输给第二幅度检测器F2;第二幅度检测器F2对输入的第二差分参考信号进行幅度检测,并通过第十三MOS开关将第二差分参考信号的幅度传输给第二锁存器L2进行锁存;
所述输入信号检测子步骤包括:
S201.通过控制单元控制第一检测电路中的第一MOS开关q1、第二MOS开关q2、第五MOS开关q5、第七MOS开关q7闭合,控制第三MOS开关q3、第四MOS开关q4和第六MOS开关q6断开;
同时,通过控制单元控制第二检测电路中的第八MOS开关q8、第九MOS开关q9、第十二MOS开关q12和第十四MOS开关q14闭合;控制第十MOS开关q10、第十一MOS开关q11和第十三MOS开关q13断开;
S202.第一信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第一MOS开关q1传输到第一幅度检测器F1,待检测差分信号的第二路差分输入通过第二MOS开关q2传输到第一幅度检测器F1;
同理,第二信号检测电路中,待检测差分信号的第一路差分输入通过第八MOS开关q8传输到第二幅度检测器F2,待检测差分信号的第二路差分输入通过第九MOS开关q9传输到第二幅度检测器F2;
S203.第一信号检测电路中,第一幅度检测器F1对待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第五MOS开关q5传输到第一比较器U1的同相输入端,同时第一锁存器L1中第一差分参考信号的幅度通过第七MOS开关q7传输到第一比较器U1的反相输入端,第一比较器输出高电平时,则说明待检测差分信号的幅度大于第一差分参考信号的幅度,即待检测差分信号超出了允许的量程上限;反之,若第一比较器输出低电平,则说明待检测差分信号的幅度小于第一差分参考信号的幅度,待检测差分信号未超出允许的量程上限;
同理,第二信号检测电路中,第二幅度检测器F2对接收到的待检测差分信号进行幅度检测,并将待检测差分信号的幅度通过第十二MOS开关传输到第二比较器U2的反相输入端,同时,第二锁存器L2中第二差分参考信号的幅度通过第十四MOS开关传输到第二比较器U2的同相输入端;第二比较器输出高电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度大于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号低于允许的量程下限;反之,第二比较器输出低电平时,则说明了第二差分参考信号的幅度小于待检测差分信号的幅度,即待检测差分信号未低于允许的量程下限;
S204.确定检测结果:
当第一检测电路和第二检测电路均输出低电平时,则待检测的差分信号幅度未超过量程,当第一检测电路和第二检测电路中任一个输出高电平时,则待检测的差分信号幅度超过了量程。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116610388A (zh) * 2023-07-19 2023-08-18 成都泰格微电子研究所有限责任公司 一种快速启动ADC和linux系统的方法及装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6614272B1 (en) * 2002-08-20 2003-09-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Signal voltage detection circuit
US20050248369A1 (en) * 2004-05-07 2005-11-10 Fujitsu Limited Signal detection circuit and signal detection method
US20080024174A1 (en) * 2006-07-25 2008-01-31 Micrel, Incorporated Circuit and method for providing a fail-safe differential receiver
US20110148470A1 (en) * 2009-12-21 2011-06-23 Renesas Electronics Corporation Communication device
CN202230121U (zh) * 2011-07-20 2012-05-23 天津瑞发科半导体技术有限公司 差分信号幅度检测系统
CN104660246A (zh) * 2015-02-07 2015-05-27 中国科学技术大学先进技术研究院 用于高速串行接口的接收器、差分接收机及模拟前端电路
CN206147611U (zh) * 2016-08-02 2017-05-03 成都振芯科技股份有限公司 一种双向传输的低速信号幅度检测电路
CN207504877U (zh) * 2017-11-22 2018-06-15 珠海市杰理科技股份有限公司 中频信号幅度检测装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6614272B1 (en) * 2002-08-20 2003-09-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Signal voltage detection circuit
US20050248369A1 (en) * 2004-05-07 2005-11-10 Fujitsu Limited Signal detection circuit and signal detection method
US20080024174A1 (en) * 2006-07-25 2008-01-31 Micrel, Incorporated Circuit and method for providing a fail-safe differential receiver
US20110148470A1 (en) * 2009-12-21 2011-06-23 Renesas Electronics Corporation Communication device
CN202230121U (zh) * 2011-07-20 2012-05-23 天津瑞发科半导体技术有限公司 差分信号幅度检测系统
CN104660246A (zh) * 2015-02-07 2015-05-27 中国科学技术大学先进技术研究院 用于高速串行接口的接收器、差分接收机及模拟前端电路
CN206147611U (zh) * 2016-08-02 2017-05-03 成都振芯科技股份有限公司 一种双向传输的低速信号幅度检测电路
CN207504877U (zh) * 2017-11-22 2018-06-15 珠海市杰理科技股份有限公司 中频信号幅度检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张弛: "非连续模拟差分信号频率与相位采集方法研究", 《航空计算技术》, no. 5, pages 243 - 245 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116610388A (zh) * 2023-07-19 2023-08-18 成都泰格微电子研究所有限责任公司 一种快速启动ADC和linux系统的方法及装置
CN116610388B (zh) * 2023-07-19 2023-09-19 成都泰格微电子研究所有限责任公司 一种快速启动ADC和linux系统的方法及装置

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