CN111579032B - 一种质量测定用电子分析天平 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子分析天平技术领域，且公开了一种质量测定用电子分析天平，包括机体，所述机体上表面的外侧固定连接有挡风玻璃箱，所述机体上表面位于挡风玻璃箱的内部设置有称量盘，所述机体的内部活动套接有防对流环板。该质量测定用电子分析天平，通过在联动装置、调控装置和平衡装置之间的配合，当测定质量时，实际温度与测定温度有温差时，磁感应强度及磁感线圈的有效长度均增大，左连触板受到热敏感应球囊体积增大，改变磁感线圈水平面与联动装置之间夹角，从而对应夹角的正弦值变小，有利于保持称量盘上被测物体重力与对应电磁力依旧成正比例，有效降低了测量物体质量不精确的影响，提高了质量测定用电子分析天平测量物品质量的精确性。

Description

一种质量测定用电子分析天平

技术领域

本发明涉及电子分析天平技术领域，具体为一种质量测定用电子分析天平。

背景技术

随着科技技术不断发展，越来越多的高新技术逐渐应用到社会的发展中，电子分析天平作为现代科技下的产物对于称量的准确性起着至关重要的作用，电子分析天平具有全自动故障检测、外置砝码、自动校准、全部线性四点校准、超载保护等多种应用程序，人性化设计，结构新颖，五面全透明超白玻璃风罩，电子分析天平的工作原理是利用电磁力的平衡原理将所测物体的质量进行一定的变换。

通过电流检测，电压变换以及数字化运算进行准确的测量，电子分析天平在进行称重时需要借助平衡传感器对托盘进行平衡的控制和转换，例如在测量某一物体时，首先要使天平在空载的条件下接通电源，接通电源后会有大量的电流通过天平下端的线圈，从而产生电磁力，在平衡原理的作用下，天平会处于平衡状态，然后将所测物体放人天平托盘中，天平的重量发生变化，横梁在重量的影响下会出现倾斜的状况，平衡传感器中的位置检测器就会发出不平衡信号，电路在接收到这一信号后通过补充电流产生较大的电磁力，改变横梁底部的倾斜状况，

在研究进行数据处理前，一般通过电子天平的测量从而降低数据预处理的难度，现有的电子分析天平在进行称重时，当实际温度与测量所需温度不一样时，电子天平的称重和正常称重显示的结果不一致，需要通过提前预热来调整实际温度至测量温度范围内，在预热过程中，时间一般为一个小时甚至两个小时，但是当时间过程，就会对电子天平内部电性器件造成损坏，不仅预热时间较长，降低了质量测量的时效，同时还需要防止预热过程可能会对电子天平内部电性元件的损坏，为此我们提出一种质量测定用电子分析天平。

发明内容

本发明提供了一种质量测定用电子分析天平，具备提高了质量测定用电子分析天平测量物品质量的精确性、提升了该质量测定用电子分析天平对内部电性元件进行保护的作用和降低了电子分析天平的预热时间的优点，解决了现有的电子分析天平在进行称重时，当实际温度与测量所需温度不一样时，电子天平的称重和正常称重显示的结果不一致，需要通过提前预热来调整实际温度至测量温度范围内，在预热过程中，时间一般为一个小时甚至两个小时，但是当预热时间过长，就会对电子天平内部电性器件造成损坏，不仅预热时间较长，降低了质量测量的时效，同时还需要防止预热过程可能会对电子天平内部电性元件损坏的问题。

为实现以上目的，本发明提供如下技术方案予以实现：一种质量测定用电子分析天平，包括机体，所述机体上表面的外侧固定连接有挡风玻璃箱，所述机体上表面位于挡风玻璃箱的内部设置有称量盘，所述机体的内部活动套接有防对流环板，所述防对流环板位于称量盘的下方，所述机体的内部活动卡接有联动装置，所述联动装置的顶端依次贯穿机体、防对流环板并延伸至称量盘的下方，所述联动装置的外表面与机体和防对流环板的内部均活动套接，所述联动装置的顶端与称量盘下表面的底部固定连接，所述防对流环板的内部固定安装有永磁体，所述联动装置的外表面活动套接有调控装置，所述调控装置包括有空心球体，所述空心球体的底部固定连接有限位球，所述限位球的外表面活动连接有支撑斜板，所述支撑斜板的底端与机体内腔的底部固定连接。

可选的，所述联动装置包括有竖直杆，所述竖直杆与机体及防对流环板的内部活动连接，所述竖直杆的顶部与称量盘下表面的中部固定连接，所述竖直杆的底部通过倾斜杆固定连接有挡光板，所述挡光板与竖直杆向下的延长线交点所形成的锐角为六十度。

可选的，所述防对流环板的内部固定连接有防护板，所述防护板的左右两端均贯穿防对流环板并延伸至防对流环板的上方，所述防护板的左右两端的顶部与称量盘的底部之间的间距均为两厘米。

可选的，所述机体的顶部设置有磁感线圈，所述永磁体的底部开设有与磁感线圈相适配的环形槽，所述磁感线圈位于空心球体的上方，所述磁感线圈的外表面位于永磁体底侧环形槽的内部，所述磁感线圈的内表面与环形槽内腔的内环面水平方向之间的间距为六厘米，且磁感线圈的外表面与环形槽内腔的外环面水平方向之间的间距也为六厘米。

可选的，所述永磁体的左侧设置有弹性伸缩部件，所述弹性伸缩部件的顶端与永磁体上表面的左侧固定连接，所述弹性伸缩部件的底端与联动装置的左侧相卡接。

可选的，所述机体上表面固定连接有平衡装置，所述平衡装置包括有环形限位球，所述环形限位球的底部与机体的上表面固定连接，所述环形限位球的内部活动套接有热敏感应球囊。

可选的，所述热敏感应球囊的左上方设置有补偿装置，所述补偿装置的顶部贯穿环形限位球并延伸至环形限位球的外侧，所述补偿装置的顶端与空心球体的右侧相接触，所述补偿装置的底端与热敏感应球囊的顶端相接触，所述补偿装置和限位球分别与联动装置横截面圆心连线所形成的夹角为六十度。

可选的，所述补偿装置包括圆弧板、右连触板和左连触板，所述圆弧板的下表面与热敏感应球囊的外表面的左上方相接触，所述圆弧板的顶端贯穿环形限位球并延伸至支撑斜板的上方，所述圆弧板的外表面与环形限位球的内部活套接，所述圆弧板顶端的左侧固定连接有右连触板，所述圆弧板顶端的左侧固定连接有左连触板，所述左连触板的顶部与空心球体的底部相接触。

本发明提供了一种质量测定用电子分析天平，具备以下有益效果：

1、该质量测定用电子分析天平，通过在联动装置、调控装置和平衡装置之间的配合，当测定质量时，实际温度与测定温度有温差时，此时对应感应磁场的磁感应强度及磁感线圈的有效长度均增大，左连触板受到热敏感应球囊体积增大，改变磁感线圈水平面与联动装置之间夹角，从而对应夹角的正弦值变小，有利于保持称量盘上被测物体重力与对应电磁力依旧成正比例，有效降低了因为温度不是对测量物体质量不精确的影响，提高了质量测定用电子分析天平测量物品质量的精确性。

2、该质量测定用电子分析天平，通过在永磁体的内部开设有与磁感线圈相适配的环形槽，改变磁感线圈横截面与联动装置之间的夹角，继而调控对应夹角的正弦值，继而避免因为预热时间较长对电性元件造成损坏，提升了该质量测定用电子分析天平对内部电性元件进行保护的作用，同时降低了电子分析天平的预热时间。

附图说明

图1为本发明的正面结构示意图；

图2为本发明中磁感线圈横截面处于水平状态的示意图；

图3为本发明中磁感线圈横截面处于倾斜状态的示意图；

图4为本发明中调控装置的俯视结构示意图;

图5为本发明中联动装置的细化结构示意图。

图中：1、机体；2、称量盘；3、防护板；4、联动装置；41、竖直杆；42、倾斜杆；43、挡光板；5、调控装置；51、支撑斜板；52、限位球；53、空心球体；6、防对流环板；7、平衡装置；71、环形限位球；72、热敏感应球囊；73、补偿装置；731、圆弧板；732、右连触板；733、左连触板；8、挡风玻璃箱；9、磁感线圈；10、永磁体；11、弹性伸缩部件。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-5，一种质量测定用电子分析天平，包括机体1，所述机体1上表面的外侧固定连接有挡风玻璃箱8，所述机体1上表面位于挡风玻璃箱8的内部设置有称量盘2，所述机体1的内部活动套接有防对流环板6，所述防对流环板6位于称量盘2的下方，所述机体1的内部活动卡接有联动装置4，所述联动装置4的顶端依次贯穿机体1、防对流环板6并延伸至称量盘2的下方，所述联动装置4的外表面与机体1和防对流环板6的内部均活动套接，所述联动装置4的顶端与称量盘2下表面的底部固定连接，所述防对流环板6的内部固定安装有永磁体10，所述联动装置4的外表面活动套接有调控装置5，所述调控装置5包括有空心球体53，所述空心球体53的底部固定连接有限位球52，所述限位球52的外表面活动连接有支撑斜板51，所述支撑斜板51的底端与机体1内腔的底部固定连接。

其中，所述联动装置4包括有竖直杆41，所述竖直杆41与机体1及防对流环板6的内部活动连接，所述竖直杆41的顶部与称量盘2下表面的中部固定连接，所述竖直杆41的底部通过倾斜杆42固定连接有挡光板43，所述挡光板43与竖直杆41向下的延长线交点所形成的锐角为六十度。

其中，所述防对流环板6的内部固定连接有防护板3，所述防护板3的左右两端均贯穿防对流环板6并延伸至防对流环板6的上方，所述防护板3的左右两端的顶部与称量盘2的底部之间的间距均为两厘米。

其中，所述机体1的顶部设置有磁感线圈9，所述永磁体10的底部开设有与磁感线圈9相适配的环形槽，所述磁感线圈9位于空心球体53的上方，所述磁感线圈9的外表面位于永磁体10底侧环形槽的内部，所述磁感线圈9的内表面与环形槽内腔的内环面水平方向之间的间距为六厘米，且磁感线圈9的外表面与环形槽内腔的外环面水平方向之间的间距也为六厘米。

其中，所述永磁体10的左侧设置有弹性伸缩部件11，所述弹性伸缩部件11的顶端与永磁体10上表面的左侧固定连接，所述弹性伸缩部件11的底端与联动装置4的左侧相卡接，通过在永磁体10的内部开设有与磁感线圈9相适配的环形槽，改变磁感线圈9横截面与联动装置4之间的夹角，继而调控对应夹角的正弦值，继而避免因为预热时间较长对电性元件造成损坏，提高了该质量测定用电子分析天平对内部电性元件进行保护的作用，同时降低了电子分析天平的预热时间。

其中，所述机体1上表面固定连接有平衡装置7，所述平衡装置7包括有环形限位球71，所述环形限位球71的底部与机体1的上表面固定连接，所述环形限位球71的内部活动套接有热敏感应球囊72。

其中，所述热敏感应球囊72的左上方设置有补偿装置73，所述补偿装置73的顶部贯穿环形限位球71并延伸至环形限位球71的外侧，所述补偿装置73的顶端与空心球体53的右侧相接触，所述补偿装置73的底端与热敏感应球囊72的顶端相接触，所述补偿装置73和限位球52分别与联动装置4横截面圆心连线所形成的夹角为六十度。

其中，所述补偿装置73包括圆弧板731、右连触板732和左连触板733，所述圆弧板731的下表面与热敏感应球囊72的外表面的左上方相接触，所述圆弧板731的顶端贯穿环形限位球71并延伸至支撑斜板51的上方，所述圆弧板731的外表面与环形限位球71的内部活套接，所述圆弧板731顶端的左侧固定连接有右连触板732，所述圆弧板731顶端的左侧固定连接有左连触板733，所述左连触板733的顶部与空心球体53的底部相接触，当测定质量时，实际温度与测定温度有温差时，此时对应感应磁场的磁感应强度及磁感线圈9的有效长度均增大，左连触板733受到热敏感应球囊72体积增大，改变磁感线圈9水平面与联动装置4之间夹角，从而对应夹角的正弦值变小，有利于保持称量盘2上被测物体重力与对应电磁力依旧成正比例，有效降低了因为温度不是对测量物体质量不精确的影响，提高了质量测定用电子分析天平测量物品质量的精确性。

工作步骤，首先工作人员在使用前，通过调节机体1底部固定连接的调节至支腿，保持称量盘2的横截面处于水平面内，然后对质量测定用电子分析天平进行预热，在进行测量前用标准砝码校正，根据对应正确度等级的天平选用不同等级的砝码，然后在加载后固定的时间读数，可以以单位显示出来时的示值读取，测量五次，然后舍弃最小值和最大值，并且算出剩余对应的平均值，之后在进行测量前，保持限位球52上方的空心球体53和联动装置4均与水平面垂直，之后当平衡装置7中热敏感应球囊72受热碰撞时，此时热敏感应球囊72推动圆弧板731带动左连触板733推动空心球体53外侧的磁感线圈9发生倾斜，继而改变磁感线圈9水平面与联动装置4之间夹角，从而对应夹角的正弦值也变小，有利于保持称量盘2上被测物体重力与对应电磁力依旧成正比例，有效降低了因为温度不是对测量物体质量不精确的影响，提高了电子天平的测量精度。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种质量测定用电子分析天平，包括机体（1），其特征在于：所述机体（1）上表面的外侧固定连接有挡风玻璃箱（8），所述机体（1）上表面位于挡风玻璃箱（8）的内部设置有称量盘（2），所述机体（1）的内部活动套接有防对流环板（6），所述防对流环板（6）位于称量盘（2）的下方，所述机体（1）的内部活动卡接有联动装置（4），所述联动装置（4）的顶端依次贯穿机体（1）、防对流环板（6）并延伸至称量盘（2）的下方，所述联动装置（4）的外表面与机体（1）和防对流环板（6）的内部均活动套接，所述联动装置（4）的顶端与称量盘（2）下表面的底部固定连接，所述防对流环板（6）的内部固定安装有永磁体（10），所述联动装置（4）的外表面活动套接有调控装置（5），所述调控装置（5）包括有空心球体（53），所述空心球体（53）的底部固定连接有限位球（52），所述限位球（52）的外表面活动连接有支撑斜板（51），所述支撑斜板（51）的底端与机体（1）内腔的底部固定连接，所述机体（1）上表面固定连接有平衡装置（7），所述平衡装置（7）包括有环形限位球（71），所述环形限位球（71）的底部与机体（1）的上表面固定连接，所述环形限位球（71）的内部活动套接有热敏感应球囊（72），所述热敏感应球囊（72）的左上方设置有补偿装置（73），所述补偿装置（73）的顶部贯穿环形限位球（71）并延伸至环形限位球（71）的外侧，所述补偿装置（73）的顶端与空心球体（53）的右侧相接触，所述补偿装置（73）的底端与热敏感应球囊（72）的顶端相接触，所述补偿装置（73）和限位球（52）分别与联动装置（4）横截面圆心连线所形成的夹角为六十度，所述补偿装置（73）包括圆弧板（731）、右连触板（732）和左连触板（733），所述圆弧板（731）的下表面与热敏感应球囊（72）的外表面的左上方相接触，所述圆弧板（731）的顶端贯穿环形限位球（71）并延伸至支撑斜板（51）的上方，所述圆弧板（731）的外表面与环形限位球（71）的内部活套接，所述圆弧板（731）顶端的左侧固定连接有右连触板（732），所述圆弧板（731）顶端的左侧固定连接有左连触板（733），所述左连触板（733）的顶部与空心球体（53）的底部相接触。

2.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述联动装置（4）包括有竖直杆（41），所述竖直杆（41）与机体（1）及防对流环板（6）的内部活动连接，所述竖直杆（41）的顶部与称量盘（2）下表面的中部固定连接，所述竖直杆（41）的底部通过倾斜杆（42）固定连接有挡光板（43），所述挡光板（43）与竖直杆（41）向下的延长线交点所形成的锐角为六十度。

3.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述防对流环板（6）的内部固定连接有防护板（3），所述防护板（3）的左右两端均贯穿防对流环板（6）并延伸至防对流环板（6）的上方，所述防护板（3）的左右两端的顶部与称量盘（2）的底部之间的间距均为两厘米。

4.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述机体（1）的顶部设置有磁感线圈（9），所述永磁体（10）的底部开设有与磁感线圈（9）相适配的环形槽，所述磁感线圈（9）位于空心球体（53）的上方，所述磁感线圈（9）位于永磁体（10）底侧环形槽内部，所述磁感线圈（9）的内表面与环形槽内腔的内环面水平方向之间的间距为六厘米，且磁感线圈（9）的外表面与环形槽内腔的外环面水平方向之间的间距也为六厘米。

5.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述永磁体（10）的左侧设置有弹性伸缩部件（11），所述弹性伸缩部件（11）的顶端与永磁体（10）上表面的左侧固定连接，所述弹性伸缩部件（11）的底端与联动装置（4）的左侧相卡接。

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