CN111562490A - 测试方法及系统 - Google Patents

测试方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN111562490A
CN111562490A CN201910114750.4A CN201910114750A CN111562490A CN 111562490 A CN111562490 A CN 111562490A CN 201910114750 A CN201910114750 A CN 201910114750A CN 111562490 A CN111562490 A CN 111562490A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
data
feedback
configuration item
test data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910114750.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111562490B (zh
Inventor
冯春忆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou Nine Road Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Goodix Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Priority to CN201910114750.4A priority Critical patent/CN111562490B/zh
Publication of CN111562490A publication Critical patent/CN111562490A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111562490B publication Critical patent/CN111562490B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318572Input/Output interfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318566Comparators; Diagnosing the device under test
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318594Timing aspects

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

本申请提供一种测试方法及系统,测试方法包括:对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置(S201);根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果(S202)。本申请在整个测试过程中无须人工干预,而且在该测试方案中,由于根据串行接口的不同配置不同的测试控制参数,可以完全覆盖所有类型的接口。另外,由于测试数据的收发可以按实际传输进行配置,从而可以验证被测对象串行接口对于异常波形的容错处理机制。

Description

测试方法及系统
技术领域
本申请实施例涉及电路技术处理领域,尤其涉及一种测试方法及系统。
背景技术
在对芯片进行功能验证时,需要对芯片上的各种类型的串行接口进行测试,串行接口常见的有USART,UART,SPI,I2C,I2S,IrDA等。在进行测试时,通常对接相同类型的串行接口以执行收发测试,其过程可以简要如下:1.测试装置的串行接口接收来自于被测对象的串行接口发出的数据,并由测试装置进行正确性验证;2.测试装置的串行接口将数据发送给被测对象的串行接口,并由测试装置进行正确性验证。
上述现有技术中,由于是基于现有的串行接口来进行测试,所以在测试过程中,难以知悉在收发数据过程中,产生波形的正确性,由此导致了测试功能覆盖不全的问题。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种测试方法及系统,用以克服现有技术中上述缺陷。
本申请实施例提供一种测试方法,其包括:
对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置;
根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
可选地,在本申请的任一实施例中,所述测试控制参数包括:收发动作启动配置项、收发过程配置项中的至少一种,所述收发动作启动配置项用于启动测试数据的收发;所述收发过程配置项用于控制测试数据的收发过程。
可选地,在本申请的任一实施例中,所述收发过程配置项包括:收发时钟配置项、收发数据配置项、收发数据长度配置项、收发间隔时间配置项、帧间等待时间中的至少一种,所述收发时钟配置项用于控制测试数据的同步或者异步收发,所述收发数据配置项用于指定一帧收发的测试数据,所述收发数据长度配置项用于设置一帧所述测试数据的bit位长度,所述收发间隔时间配置项用于设置一帧所述测试数据中相邻两个bit数据的收发间隔时间,所述帧间等待时间用于设置相邻两帧所述测试数据的收发间隔时间。
可选地,在本申请的任一实施例中,还包括:对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行反馈数据的收发;根据收发的反馈数据期望的反馈数据,生成对所述被测对象的第二测试结果。
可选地,在本申请的任一实施例中,所述测试控制参数包括:反馈动作启动配置项、反馈过程配置项中的至少一种,所述反馈动作启动配置项用于启动反馈数据的收发,所述反馈过程配置项用于控制所述反馈数据的收发过程。
可选地,在本申请的任一实施例中,所述反馈过程配置项包括:反馈时钟配置项、反馈数据配置项、反馈数据长度配置项、反馈间隔时间配置项中的至少一种,所述反馈时钟配置项用于控制所述反馈数据的同步或者异步收发,所述反馈数据配置项用于指定一帧反馈的数据,所述反馈数据长度配置项用于设置一帧所述反馈数据的bit位长度,所述反馈间隔时间配置项用于设置一帧所述反馈数据中相邻两个bit数据的反馈间隔时间。
可选地,在本申请的任一实施例中,根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,包括:根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间以帧为单位进行测试数据的收发。
可选地,在本申请的任一实施例中,若根据配置的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据,则判断接收测试数据是否依赖时钟信号,若是,则根据至少包括设置了依赖时钟信号的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据;若否,则根据设置了依赖所述被测对象的启动信号的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据。
可选地,在本申请的任一实施例中,根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,包括:根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间以设定的接收速率接收测试数据;或者,以设定的发送速率发送测试数据。
本申请实施例还提供一种测试系统,包括:测试装置以及被测对象,所述测试装置上设置有根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置的测试控制参数,所述测试装置用于对所述测试控制参数进行编码,以控制所述测试装置与所述被测对象之间进行测试数据的收发;所述测试装置根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
本申请实施例中,由于对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置;根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果,从而提供了一种测试成本较低的自动测试方案,在整个测试过程中无须人工干预,而且在该测试方案中,由于根据串行接口的不同配置不同的测试控制参数,可以完全覆盖所有类型的接口。另外,由于测试数据的收发可以按实际传输进行配置,从而可以验证被测对象串行接口对于异常波形的容错处理机制。
附图说明
后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请实施例的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解,这些附图未必是按比例绘制的。附图中:
图1为本申请实施例一中测试系统的结构示意图;
图2为本申请实施例二中测试方法的流程示意图;
图3为本申请实施例三中测试方法的流程示意图;
图4为图3中步骤S305A的示例性流程示意图;
图5为图3中步骤S305B的示例性流程示意图。
具体实施方式
实施本申请实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。
本申请实施例中,由于对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置;根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果,从而提供了一种测试成本较低的自动测试方案,在整个测试过程中无须人工干预,而另外由于测试数据的收发可以按实际传输进行配置,从而可以验证被测对象串行接口对于异常波形的容错处理机制。
图1为本申请实施例一中测试系统的结构示意图;如图1所示,其包括:测试装置以及被测对象,所述测试装置上设置有根据待测对象的串行接口数据传输协议预先编码的测试控制参数,所述测试装置使用该编码,以与被测对象之间进行测试数据收发;所述测试装置根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
本实施例中,在硬件连接方面,将该测试装置的数据接收IO(又称之为RX)连接到被测对象的数据发送IO(又称之为TX),以由测试装置接收来自被测对象的测试数据或者反馈数据;将该测试装置的数据发送IO(TX)连接到被测对象的数据接收IO(RX),以由测试装置向被测对象发送测试数据或者反馈数据。另外,若需要控制收发测试数据/反馈数据的同步,则将该测试装置的时钟同步IO(CK)连接到被测对象的时钟同步IO(CK),从而利用测试装置的时钟信号控制测试数据/反馈数据的同步收发或者异步收发,或者,利用被测对象的时钟信号控制测试数据/反馈数据的同步收发或者异步收发。
如前所述,串行接口可以为USART,UART,SPI,I2C,I2S,IrDA等,而对于不同串行接口其实质区别为具体的数据传输协议不同,尤其是数据传输的时序方面,因此,为了适用于这些串行接口,可以根据对应的串行接口数据传输协议设置不同的测试过程控制参数从而实现数据传输时序的定制化,从而实现整个测试过程的自动化,可以实现整个测试过程的可监控与可复现,最终降低测试成本。
图2为本申请实施例二中测试方法的流程示意图;如图2所示,其包括如下步骤:
S201、对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置。
本实施例中,测试数据的收发具体可以包括测试装置向被测对象发送测试数据,即被测对象接收测试装置发送来的测试数据;或者测试装置接收被测对象发送来的测试数据,即被测对象向测试装置发送测试数据并由测试装置接收。
本实施例中,所述测试控制参数包括:收发动作启动配置项、收发过程配置项中的至少一种,所述收发动作启动配置项用于启动测试数据的收发;所述收发过程配置项用于控制测试数据的收发过程。
具体地,当测试装置向被测对象发送测试数据时,该收发动作启动配置项控制测试数据从测试装置流向到被测对象的启动,对应地,所述收发过程配置项用于控制测试数据从测试装置流向到被测对象的过程;当测试装置从被测对象接收测试数据时,该收发动作启动配置项控制测试数据从被测对象流向到测试装置的启动,对应地,所述收发过程配置项用于控制测试数据从被测对象流向到测试装置的过程。
进一步地,本实施例中,所述收发过程配置项包括:收发时钟配置项、收发数据配置项、收发数据长度配置项、收发间隔时间配置项、帧间等待时间中的至少一种,所述收发时钟配置项用于控制测试数据的同步或者异步收发,所述收发数据配置项用于指定一帧收发的测试数据,所述收发数据长度配置项用于设置一帧所述测试数据的bit位长度,所述收发间隔时间配置项用于设置一帧所述测试数据中相邻两个bit数据的收发间隔时间,所述帧间等待时间用于设置相邻两帧所述测试数据的收发间隔时间,从而可以验证被测对象串行接口对于异常波形的容错处理机制。
当测试装置向被测对象发送测试数据时,收发时钟配置项用于控制所述测试装置向被测对象同步或者异步发送测试数据;当测试装置从被测对象接收测试数据时,收发时钟配置项控制所述测试装置从被测对象同步或者异步接收测试数据。对应地,所述收发时钟配置项控制所述测试装置向被测对象同步或者异步发送测试数据或者从被测对象同步或者异步接收测试数据;所述收发数据长度配置项设置发送或者接收的一帧所述测试数据的bit位长度,所述收发间隔时间配置项设置发送或者接收的一帧所述测试数据中相邻两位数据的发送间隔时间或者接收间隔时间,所述帧间等待时间设置相邻两帧所述测试数据的发送间隔时间或者接收间隔时间。
进一步地,本实施例中,所述收发时钟配置项包括时钟依赖配置项以及时钟输出周期配置项,所述时钟依赖配置项用于控制测试数据的同步或者异步收发,所述时钟输出周期配置项用于设置以所述测试装置的时钟信号或者所述被测对象的时钟信号为依据控制测试数据的同步收发。
具体地,当测试装置向被测对象发送测试数据时,所述时钟依赖配置项控制所述测试装置向被测对象同步或者异步发送测试数据或者从被测对象同步或者异步接收测试数据;对应地,所述时钟输出周期配置项设置以所述测试装置的时钟信号或者所述被测对象的时钟信号为依据控制所述测试装置向被测对象同步发送测试数据或者从被测对象接收测试数据。
S202、根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
本实施例中,可以直接将收发的测试数据与期望的测试数据进行比对,从而生成第一测试结果。具体地,比如将直接比对两者的波形,从而生成第一测试结果。
S203、对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行反馈数据的收发。
本实施例中,如前所述,反馈数据的收发包括测试装置向被测对象发送反馈数据,即被测对象接收测试装置发送来的反馈数据;或者测试装置接收被测对象发送来的反馈数据,即被测对象向测试装置发送反馈数据并由测试装置接收。反馈数据具体比如为测试装置发送测试数据发送失败时重新发送的次数,反馈数据再具体比如为反映被测对象实际收到测试装置发送的测试数据;为此,为了控制上述反馈数据的收发,所述测试控制参数还可以包括:反馈动作启动配置项、反馈过程配置项中的至少一种,所述反馈动作启动配置项用于启动反馈数据的收发;所述反馈过程配置项用于控制反馈数据的收发过程。
进一步地,本实施例中,类似上述收发过程配置项,所述反馈过程配置项包括:反馈时钟配置项、反馈数据配置项、反馈数据长度配置项、反馈间隔时间配置项中的至少一种,所述反馈时钟配置项用于控制所述反馈数据的同步或者异步收发,所述反馈数据配置项用于指定一帧反馈的数据,所述反馈数据长度配置项用于设置一帧所述反馈数据的bit位长度,所述反馈间隔时间配置项用于设置一帧所述反馈数据中相邻两个bit数据的反馈间隔时间。
进一步地,本实施例中,所述反馈时钟配置项包括时钟依赖配置项以及时钟输出周期配置项,所述时钟依赖配置项控制反馈数据同步或者异步收发,所述时钟输出周期配置项用于设置以所述测试装置的时钟信号或者所述被测对象的时钟信号为依据控制所述反馈数据的同步收发。
S204、根据收发的反馈数据以及期望的反馈数据,生成对所述被测对象的第二测试结果。
本实施例中,可以直接将收发的反馈数据与期望的反馈数据进行比对,从而生成第二测试结果。具体地,比如直接比对两者的波形,从而生成第二测试结果。
本实施例中,由于同时考虑了基于测试数据以及反馈数据的第一测试结果、第二测试结果,因此,可以综合所述第一测试结果、第二测试结果验证被测对象的串行接口,以验证串行接口的功能及性能(比如正常的数据收发与反馈,收发数据出错重传机制等)是否符合设计预期。
图3为本申请实施例三中测试方法的流程示意图;如图3所示,其包括如下步骤:
S301、启动测试。
S302、配置测试控制参数。
本实施例中,在测试系统上开放了根据串行接口的不同进行串行接口数据通讯协议自定义的权限,从而配置了数据收发的时序控制项。具体地,可以在测试系统上以图表的方式进行测试控制参数的配置,所述测试控制参数的详细内容可参见上述实施例的记载。
S303、判断是否存在未收发的测试数据;若是,则执行步骤S304A;若否,则执行步骤S304B。
本实施例中,由于对于被测对象的测试过程往往是基于有限数据量的测试数据,因此,当还存在未收发的测试数据则表明测试过程并未结束,或者换言之,只有所有的测试数据都参与测试过程,才表示完成了对被测对象的测试。
在一具体应用场景中,可以设置收发的测试数据的总数为若干帧,收发的一帧测试数据包括若干位(bits)数据。因此,步骤S303中,判断是否存在为收发的测试数据时,可以是一帧测试数据中还有未收发的一位或者多位数据,或者,还可以是若干帧测试数据中还有未收发的一帧或者多帧测试数据。
S304A、判断是否为未接收的测试数据;若是,则执行S305A;否则执行S305B。
本实施例中,因此为了确定是未发送的测试数据还是未收收的测试数据,因此,设置了步骤S304,以分别控制测试数据的发送和接收。
S304B、结束当次数据传输,输出包括第一测试结果和第二测试结果的测试结果。
本实施例中,如前所述,只有所有的测试数据都参与测试过程,才表示完成了对被测对象的测试,即,通过上述步骤判定不能存在未收发的测试数据,包括每一帧的测试数据中每一位数据且所有帧的测试数据均参与了测试过程,则输出包括基于测试数据的第一测试结果、以及基于反馈数据的第二测试结果。
因此,进一步地,本实施例中的当次数据传输具体可以是指完成最后一帧测试数据中的最后一位数据。
S305A、接收测试数据,并发送反馈数据,比对收发的测试数据以及期望的测试数据,以及比对收发的测试数据以及期望的测试数据,以分别第一测试结果以及第二测试结果。
本实施例中,接收测试数据具体可以包括测试装置接收由被测对象发送的测试数据,而发送反馈数据具体可以是指测试装置重新向被测对象发送测试数据的次数或者又称之为重传次数。若前所述,测试数据与期望的测试数据比对生成第一测试结果,反馈数据与期望的反馈数据比会生成第二测试结果。
本实施例中,上述步骤S305A可以循环执行多次,循环执行的次数与设置的收发的测试数据的总帧数、收发的反馈数据的总帧数中的最大值相同,详细请参见图4实施例。
S305B、发送测试数据,并接收反馈数据,比对收发的测试数据以及期望的测试数据,以及比对收发的测试数据以及期望的测试数据,以分别第一测试结果以及第二测试结果。
本实施例中,发送测试数据具体可以是指测试装置向被测对象发送的测试数据,而接收的反馈数据具体可以是指被测对象重新向测试装置发送反馈数据的次数或者又称之为重传次数。若前所述,测试数据与期望的测试数据比对生成第一测试结果,反馈数据与期望的反馈数据比会生成第二测试结果。
本实施例中,上述步骤S305B可以循环执行多次,循环执行的次数与设置的收发的测试数据的总帧数、收发的反馈数据的总帧数中的最大值相同,详细请参见图5实施例。
图4为图3中步骤S305A的示例性流程示意图;本实施例中,以完成一帧测试数据的接收、一帧反馈数据的发送为例进行说明,当要完成配置的多帧测试数据的接收、多帧反馈数据的发送的话,则执行图4的流程多次即可。具体地,如图4所示,其包括:
S401、判断测试装置接收测试数据是否依赖时钟信号;若是,则执行步骤S402,否则执行步骤S403。
本实施例中,如前所述,判断是否依赖时钟信号的目的在于是否控制测试数据与时钟信号中的同步信号进行同步。该时钟信号可以是测试装置提供的时钟信号,也可以是被测对象提供的时钟信号。为了区别时钟信号是测试装置提供的还是被测对象提供多个,具体可以时钟输出周期配置项的不同设置数值来表示,比如,如果该数值设置为1,则表示时钟信号由测试装置提供,如果该数值设置为0,则表示时钟信号由被测对象提供。需要说明的是,时钟输出周期配置项优选在依赖时钟周期时有效。
S402、判断测试装置接收的测试数据的位数是否达到一帧测试数据中的总位数,若否,则执行步骤S404A;若是,则执行步骤S404B。
本实施例中,一帧测试数据中的总位数具体通过收发数据长度配置项体现,或者又称之为通过收发数据长度配置项定义一帧测试数据的位数,或者又称之一帧测试数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S402判断得知未达到一帧测试数据的总位数,则表明一帧测试数据还没有被测试装置接收完,则仍然需要继续接收,进而跳转到步骤S404A继续接收测试数据。否则,表明一帧测试数据已被测试装置接收完,进而跳转到步骤S404B进行反馈数据的发送。
S404A、测试装置根据收发时钟信号接收被测对象发来的测试数据。
本实施例中,具体根据时钟信号中的同步信号继续接收测试数据。具体地,在步骤S404A中,是按照位(bit)进行测试数据的接收,即逐位接收一帧测试数据中的每一位数据,每接收完一位数据,跳转到步骤S402进行判断,直至通过步骤S402、S404A的执行接收完一帧测试数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S402、S404A的执行接收完一帧测试数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的接收速率从被测对象接收测试数据。所述接收速率具体根据所述一帧所述测试数据中相邻两位数据的接收间隔时间来确定。
S404B、判断测试装置发送的反馈数据的位数是否达到一帧反馈数据中的总位数;若否,则执行步骤S406;否则执行步骤S408。
本实施例中,在接收完一帧测试数据之后,则继续通过步骤S404B、S406控制测试装置向被测对象发送反馈数据。
本实施例中,一帧反馈数据中的总位数具体通过反馈数据长度配置项体现,或者又称之为通过反馈数据长度配置项定义一帧反馈数据的位数,或者又称之一帧反馈数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S404B判断得知未达到一帧反馈数据的总位数,则表明一帧反馈数据还没有被测试装置发送完,则仍然需要继续发送,进而跳转到步骤S406继续发送反馈数据。否则,表明一帧反馈数据已被测试装置发送完,进而跳转到步骤S408。
S406、测试装置根据反馈时钟信号向被测对象发送反馈数据。
本实施例中,具体根据反馈时钟信号中的同步信号继续发送反馈数据。具体地,在步骤S406中,是按照位(bit)进行反馈数据的发送,即逐位发送一帧反馈数据中的每一位数据,每发送完一位数据,跳转到步骤S404B进行判断,直至通过步骤S404B、S406的执行发送完一帧反馈数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S404B、S406的执行发送完一帧反馈数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的反馈速率向被测对象发送反馈数据。所述反馈速率具体根据所述一帧所述反馈数据中相邻两位数据的反馈间隔时间来确定。
S403、判断测试装置接收的测试数据的位数是否达到一帧测试数据中的总位数,若否,则执行步骤S405A;若是,则执行步骤S405B。
参见通过上述步骤S401判定测试装置接收测试数据不依赖接收时钟信号时,则执行步骤S403以异步的方式接收测试数据。
S405A、测试装置根据被测对象提供的启动信号接收测试数据。
通过步骤S403、S405A的循环执行,直至接收完一帧测试数据之后,跳转到S405B进行反馈数据的发送。
本实施例中,启动信号具体可以为被测对象中数据发送IO口(TX)端的边沿信号。
S405B、判断测试装置发送的反馈数据的位数是否达到一帧反馈数据中的总位数;若否,则执行步骤S407;否则执行步骤S408。
本实施例中,在接收完一帧测试数据之后,则继续通过步骤S405B、S407控制测试装置向被测对象发送反馈数据。
本实施例中,一帧反馈数据中的总位数具体通过反馈数据长度配置项体现,或者又称之为通过反馈数据长度配置项定义一帧反馈数据的位数,或者又称之一帧反馈数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S405B判断得知未达到一帧反馈数据的总位数,则表明一帧反馈数据还没有被测试装置发送完,则仍然需要继续发送,进而跳转到步骤S407继续发送反馈数据。否则,表明一帧反馈数据已被测试装置发送完,进而跳转到步骤S408。
S407、测试装置向被测对象发送反馈数据。
本实施例中,具体根据所述被测对象提供的启动信号(比如RX上的电平跳变)反发送反馈数据。具体地,在步骤S407中,是按照位(bit)进行反馈数据的发送,即逐位发送一帧反馈数据中的每一位数据,每发送完一位数据,跳转到步骤S404B进行判断,直至通过步骤S405B、S407的执行发送完一帧反馈数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S405B、S407的执行发送完一帧反馈数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的反馈速率向被测对象发送反馈数据。所述反馈速率具体根据所述一帧所述反馈数据中相邻两位数据的反馈间隔时间来确定。
在上述步骤S406或者S407之后执行如下步骤S408-S410;
S408、执行配置的帧间等待时间。
本实施例中,如前所述,由于一帧测试数据的接收、一帧反馈数据的发送为单位进行被测对象的测试,在执行完一帧测试数据的接收、一帧反馈数据的发送之后,经过设置的帧间等待时间后,再进行另一帧测试数据的接收、另一帧反馈数据的发送,从而与当前被测对象的串行接口的数据时序对应。
S409、根据当次测试数据的接收以及反馈数据的发送分别生成第一测试结果、第二测试结果。
本实施例中,一帧测试数据的接收、一帧反馈数据的发送可称之为一次测试数据接收以及反馈数据的发送,每完成一次测试数据接收以及反馈数据的发送,则实时生成对应的第一测试结果以及第二测试结果。
S410、结束根据当次测试数据的接收以及反馈数据的发送进行的测试。
本实施例中,通过步骤S410结束利用当次测试数据的接收以及反馈数据的发送对被测对象的测试,且在达到帧间等待时间之后,利用下一次测试数据的接收以及反馈数据的发送继续对被测对象进行测试,每完成一次测试数据的接收以及反馈数据的发送,即生成帧对当次的第一测试结果以及第二测试结果,直至完成所有帧测试数据的接收以及反馈数据的发送,得到所有第一测试结果以及第二测试结果进行汇总。
图5为图3中步骤S305B的示例性流程示意图;如图5所示,其包括:
本实施例中,以完成一帧测试数据的发送、一帧反馈数据的接收为例进行说明,当要完成配置的多帧测试数据的发送、多帧反馈数据的接收的话,则执行图5的流程多次即可。具体地,如图5所示,其包括:
S501、判断测试装置发送测试数据是否依赖时钟信号;若是,则执行步骤S502,否则执行步骤S503。
本实施例中,如前所述,判断是否依赖时钟信号的目的在于是否控制测试数据同步与时钟信号中的同步信号进行发送。该时钟信号可以是测试装置提供的时钟信号,也可以是被测对象提供的时钟信号。为了区别时钟信号是测试装置提供的还是被测对象提供多个,具体可以时钟输出周期配置项的不同设置数值来表示,比如,如果该数值设置为1,则表示时钟信号由测试装置提供,如果该数值设置为0,则表示时钟信号由被测对象提供。需要说明的是,时钟输出周期配置项优选在依赖时钟周期时有效。
S502、判断测试装置发送的测试数据的位数是否达到一帧测试数据中的总位数,若否,则执行步骤S504A;若是,则执行步骤S504B。
本实施例中,一帧测试数据中的总位数具体通过收发数据长度配置项体现,或者又称之为通过收发数据长度配置项定义一帧测试数据的位数,或者又称之一帧测试数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S502判断得知未达到一帧测试数据的总位数,则表明一帧测试数据还没有被测试装置发送完,则仍然需要继续发送,进而跳转到步骤S504A继续发送测试数据。否则,表明一帧测试数据已被测试装置发送完,进而跳转到步骤S504B进行反馈数据的接收。
S504A、测试装置根据收发时钟信号向被测对象发送测试数据。
本实施例中,具体根据时钟信号中的同步信号继续发送测试数据。具体地,在步骤S504A中,是按照位(bit)进行测试数据的发送,即逐位接收一帧测试数据中的每一位数据,每发送完一位数据,跳转到步骤S502进行判断,直至通过步骤S502、S504A的执行发送完一帧测试数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S502、S504A的执行发送完一帧测试数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的发送速率从被测对象接收测试数据。所述发送速率具体根据所述一帧所述测试数据中相邻两位数据的发送间隔时间来确定。
S504B、判断测试装置接收的反馈数据的位数是否达到一帧反馈数据中的总位数;若否,则执行步骤S506;否则执行步骤S508。
本实施例中,在发送完一帧测试数据之后,则继续通过步骤S504B、S506控制测试装置从被测对象接收反馈数据。
本实施例中,一帧反馈数据中的总位数具体通过反馈数据长度配置项体现,或者又称之为通过反馈数据长度配置项定义一帧反馈数据的位数,或者又称之一帧反馈数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S504B判断得知未达到一帧反馈数据的总位数,则表明一帧反馈数据还没有被测试装置接收完,则仍然需要继续接收,进而跳转到步骤S506继续接收反馈数据。否则,表明一帧反馈数据已被测试装置接收完,进而跳转到步骤S508。
S506、测试装置根据反馈时钟信号从被测对象接收反馈数据。
本实施例中,具体根据反馈时钟信号中的同步信号继续接收反馈数据。具体地,在步骤S506中,是按照位(bit)进行反馈数据的接收,即逐位接收一帧反馈数据中的每一位数据,每接收完一位数据,跳转到步骤S504B进行判断,直至通过步骤S504B、S506的执行接收完一帧反馈数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S504B、S506的执行接收完一帧反馈数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的反馈速率从被测对象接收反馈数据。所述反馈速率具体根据所述一帧所述反馈数据中相邻两位数据的反馈间隔时间来确定。
S503、判断测试装置发送的测试数据的位数是否达到一帧测试数据中的总位数,若否,则执行步骤S505A;若否,则执行步骤S505B。
参见通过上述步骤S501判定测试装置发送测试数据不依赖发送时钟信号时,则执行步骤S503以异步的方式发送测试数据。
S505A、测试装置根据被测对象提供的启动信号发送测试数据。
通过步骤S503、S505A的循环执行,直至发送完一帧测试数据之后,跳转到S505B进行反馈数据的接收。
S505B、判断测试装置接收的反馈数据的位数是否达到一帧反馈数据中的总位数;若否,则执行步骤S507;否则执行步骤S508。
本实施例中,在发送完一帧测试数据之后,则继续通过步骤S505B、S507控制测试装置从被测对象接收反馈数据。
本实施例中,一帧反馈数据中的总位数具体通过反馈数据长度配置项体现,或者又称之为通过反馈数据长度配置项定义一帧反馈数据的位数,或者又称之一帧反馈数据的bit位长度。
本实施例中,若通过步骤S505B判断得知未达到一帧反馈数据的总位数,则表明一帧反馈数据还没有被测试装置接收完,则仍然需要继续接收,进而跳转到步骤S507继续接收反馈数据。否则,表明一帧反馈数据已被测试装置接收完,进而跳转到步骤S508。
S507、测试装置从被测对象接收反馈数据。
本实施例中,具体根据所述被测对象提供的启动信号(比如RX上的电平跳变)接收反馈数据。具体地,在步骤S507中,是按照位(bit)进行反馈数据的接收,即逐位接收一帧反馈数据中的每一位数据,每接收完一位数据,跳转到步骤S504B进行判断,直至通过步骤S505B、S507的执行接收完一帧反馈数据中的所有位数据。
具体地,本实施例中,通过步骤S505B、S507的执行接收完一帧反馈数据中的所有位数据时,具体可以根据配置的测试控制参数控制测试装置以设定的反馈速率从被测对象接收反馈数据。所述反馈速率具体根据所述一帧所述反馈数据中相邻两位数据的反馈间隔时间来确定。
在上述步骤S506或者S507之后执行如下步骤S508-S510;
S508、执行配置的帧间等待时间。
本实施例中,如前所述,由于一帧测试数据的发送、一帧反馈数据的接收为单位进行被测对象的测试,在执行完一帧测试数据的发送、一帧反馈数据的接收之后,经过设置的帧间等待时间后,再进行另一帧测试数据的发送、另一帧反馈数据的接收,从而与当前被测对象的串行接口的数据时序对应。
S509、根据当次测试数据的发送以及反馈数据的接收分别生成第一测试结果、第二测试结果。
本实施例中,一帧测试数据的发送、一帧反馈数据的发送可称之为一次测试数据的发送以及反馈数据的接收,每完成一次测试数据的发送以及反馈数据的接收,则实时生成对应的第一测试结果以及第二测试结果。
S510、结束基于当次测试数据的发送以及反馈数据的接收进行的测试。
本实施例中,通过步骤S510结束利用当次测试数据的发送以及反馈数据的接收对被测对象的测试,且在达到帧间等待时间之后,利用下一次测试数据的发送以及反馈数据的接收继续对被测对象进行测试,每完成一次测试数据的发送以及反馈数据的接收,即生成帧对当次的第一测试结果以及第二测试结果,直至完成所有帧测试数据的发送以及反馈数据的接收,得到所有第一测试结果以及第二测试结果进行汇总。
此处,需要说明的是,参与上述测试的测试数据的帧数、反馈数据的帧数在数量上并不一定对等,只要基于上述测试过程完成所有的测试数据、反馈数据的传输即可,因此,当测试的测试数据的帧数、反馈数据的帧数在数量上对等时,一次测试传输的测试数据的帧数、反馈数据的帧数,而当测试的测试数据的帧数、反馈数据的帧数在数量上不对等时,一次测试传输的测试数据的帧数可能大于或者小于反馈数据的帧数。
特别地,根据本公开的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本公开的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含配置为执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信部分从网络上被下载和安装,和/或从可拆卸介质被安装。在该计算机程序被中央处理单元(CPU)执行时,执行本申请的方法中限定的上述功能。需要说明的是,本申请所述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读介质例如可以但不限于是电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储介质(RAM)、只读存储介质(ROM)、可擦式可编程只读存储介质(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储介质(CD-ROM)、光存储介质件、磁存储介质件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中,计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输配置为由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:无线、电线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写配置为执行本申请的操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言-诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言-诸如”C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络:包括局域网(LAN)或广域网(WAN)-连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
附图中的流程图和框图,图示了按照本申请各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个配置为实现规定的逻辑功能的可执行指令。上述具体实施例中有特定先后关系,但这些先后关系只是示例性的,在具体实现的时候,这些步骤可能会更少、更多或执行顺序有调整。即在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
至此,已经对本主题的特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下,在权利要求书中记载的动作可以按照不同的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外,在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序,以实现期望的结果。在某些实施方式中,多任务处理和并行处理可以是有利的。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种测试方法,特征在于,包括:
对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,所述测试控制参数根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置;
根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试控制参数包括:收发动作启动配置项、收发过程配置项中的至少一种,所述收发动作启动配置项用于启动测试数据的收发;所述收发过程配置项用于控制测试数据的收发过程。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述收发过程配置项包括:收发时钟配置项、收发数据配置项、收发数据长度配置项、收发间隔时间配置项、帧间等待时间中的至少一种,所述收发时钟配置项用于控制测试数据的同步或者异步收发,所述收发数据配置项用于指定一帧收发的测试数据,所述收发数据长度配置项用于设置一帧所述测试数据的bit位长度,所述收发间隔时间配置项用于设置一帧所述测试数据中相邻两个bit数据的收发间隔时间,所述帧间等待时间用于设置相邻两帧所述测试数据的收发间隔时间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:对测试控制参数进行编码,以控制测试装置与被测对象之间进行反馈数据的收发;根据收发的反馈数据期望的反馈数据,生成对所述被测对象的第二测试结果。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述测试控制参数包括:反馈动作启动配置项、反馈过程配置项中的至少一种,所述反馈动作启动配置项用于启动反馈数据的收发;所述反馈过程配置项用于控制所述反馈数据的收发过程。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述反馈过程配置项包括:反馈时钟配置项、反馈数据配置项、反馈数据长度配置项、反馈间隔时间配置项中的至少一种,所述反馈时钟配置项用于控制所述反馈数据的同步或者异步收发,所述反馈数据配置项用于指定一帧反馈的数据,所述反馈数据长度配置项用于设置一帧所述反馈数据的bit位长度,所述反馈间隔时间配置项用于设置一帧所述反馈数据中相邻两个bit数据的反馈间隔时间。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,包括:根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间以帧为单位进行测试数据的收发。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若根据配置的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据,则判断接收测试数据是否依赖时钟信号,若是,则根据至少包括设置了依赖时钟信号的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据;若否,则根据设置了依赖所述被测对象的启动信号的测试控制参数控制测试装置从被测对象接收测试数据。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间进行测试数据的收发,包括:根据配置的测试控制参数控制测试装置与被测对象之间以设定的接收速率接收测试数据;或者,以设定的发送速率发送测试数据。
10.一种测试系统,其特征在于,包括:测试装置以及被测对象,所述测试装置上设置有根据待测对象的串行接口数据传输协议预先配置的测试控制参数,所述测试装置用于对所述测试控制参数进行编码,以控制所述测试装置与所述被测对象之间进行测试数据的收发;所述测试装置根据收发的测试数据以及期望的测试数据,生成对所述被测对象的第一测试结果。
CN201910114750.4A 2019-02-14 2019-02-14 测试方法及系统 Active CN111562490B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910114750.4A CN111562490B (zh) 2019-02-14 2019-02-14 测试方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910114750.4A CN111562490B (zh) 2019-02-14 2019-02-14 测试方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111562490A true CN111562490A (zh) 2020-08-21
CN111562490B CN111562490B (zh) 2023-01-20

Family

ID=72069531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910114750.4A Active CN111562490B (zh) 2019-02-14 2019-02-14 测试方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111562490B (zh)

Citations (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1082794A (zh) * 1992-07-21 1994-02-23 先进显微设备股份有限公司 串行接口模块及其方法
EP0735478A1 (en) * 1995-03-31 1996-10-02 BULL HN INFORMATION SYSTEMS ITALIA S.p.A. Variable configuration data processing system with automatic serial test interface connection configuration and bypass device
JP2001350675A (ja) * 2000-06-08 2001-12-21 Toshiba Corp シリアルインターフェイス回路及びその試験方法
CN1567226A (zh) * 2003-06-20 2005-01-19 顺德市顺达电脑厂有限公司 通用串行接口之测试系统及方法
CN2729800Y (zh) * 2004-10-18 2005-09-28 郝迎吉 串口通信测试仪
CN1975690A (zh) * 2006-12-19 2007-06-06 北京中星微电子有限公司 一种串行接口电路的测试方法和系统
US20090119053A1 (en) * 2004-11-09 2009-05-07 Wayne Tseng Serial Interface Device Built-In Self Test
CN101499892A (zh) * 2008-02-01 2009-08-05 青岛海信电器股份有限公司 通信接口检测方法和电子设备
CN101834679A (zh) * 2010-04-26 2010-09-15 福建星网锐捷网络有限公司 端口测试的方法、装置和系统
US20110302452A1 (en) * 2010-06-02 2011-12-08 Synopsys, Inc. Circuitry to facilitate testing of serial interfaces
CN103888308A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 研祥智能科技股份有限公司 串口测试方法、系统和装置
CN104750588A (zh) * 2015-03-04 2015-07-01 广东好帮手电子科技股份有限公司 一种基于串口通信的压力测试方法
CN105071990A (zh) * 2015-08-11 2015-11-18 中国电子科技集团公司电子科学研究院 一种通用的信息系统接口测试方法及装置
CN105162646A (zh) * 2015-07-29 2015-12-16 北京京东尚科信息技术有限公司 一种多协议接口测试系统及方法
CN105824752A (zh) * 2016-03-16 2016-08-03 北京齐尔布莱特科技有限公司 一种接口自动化测试方法、装置和计算设备
CN106909481A (zh) * 2017-02-28 2017-06-30 北京小米移动软件有限公司 接口测试方法、接口测试装置和电子设备
CN107423211A (zh) * 2017-03-15 2017-12-01 中国互联网络信息中心 一种sdns接口自动化测试系统和方法
CN107797911A (zh) * 2016-09-02 2018-03-13 北京京东尚科信息技术有限公司 用于测试http接口的方法和装置
CN107957952A (zh) * 2017-12-18 2018-04-24 马上消费金融股份有限公司 一种接口测试方法、装置及介质
CN108012585A (zh) * 2016-07-20 2018-05-08 深圳市汇顶科技股份有限公司 耳机以及交互系统
CN108268348A (zh) * 2017-12-08 2018-07-10 广州视源电子科技股份有限公司 接口测试方法、装置、移动终端及存储介质
CN109031091A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 深圳市广和通无线股份有限公司 接口测试方法、测试系统和测试夹具
CN109165165A (zh) * 2018-09-04 2019-01-08 中国平安人寿保险股份有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109240923A (zh) * 2018-08-31 2019-01-18 福建天泉教育科技有限公司 接口测试脚本的生成方法及计算机可读存储介质
CN109460380A (zh) * 2018-10-11 2019-03-12 苏州耀腾光电有限公司 一种串口与mes系统数据传输协议
CN210270872U (zh) * 2019-08-24 2020-04-07 江西武大扬帆科技有限公司 一种便携式串口检测仪

Patent Citations (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1082794A (zh) * 1992-07-21 1994-02-23 先进显微设备股份有限公司 串行接口模块及其方法
EP0735478A1 (en) * 1995-03-31 1996-10-02 BULL HN INFORMATION SYSTEMS ITALIA S.p.A. Variable configuration data processing system with automatic serial test interface connection configuration and bypass device
JP2001350675A (ja) * 2000-06-08 2001-12-21 Toshiba Corp シリアルインターフェイス回路及びその試験方法
CN1567226A (zh) * 2003-06-20 2005-01-19 顺德市顺达电脑厂有限公司 通用串行接口之测试系统及方法
CN2729800Y (zh) * 2004-10-18 2005-09-28 郝迎吉 串口通信测试仪
US20090119053A1 (en) * 2004-11-09 2009-05-07 Wayne Tseng Serial Interface Device Built-In Self Test
CN1975690A (zh) * 2006-12-19 2007-06-06 北京中星微电子有限公司 一种串行接口电路的测试方法和系统
CN101499892A (zh) * 2008-02-01 2009-08-05 青岛海信电器股份有限公司 通信接口检测方法和电子设备
CN101834679A (zh) * 2010-04-26 2010-09-15 福建星网锐捷网络有限公司 端口测试的方法、装置和系统
US20110302452A1 (en) * 2010-06-02 2011-12-08 Synopsys, Inc. Circuitry to facilitate testing of serial interfaces
CN103888308A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 研祥智能科技股份有限公司 串口测试方法、系统和装置
CN104750588A (zh) * 2015-03-04 2015-07-01 广东好帮手电子科技股份有限公司 一种基于串口通信的压力测试方法
CN105162646A (zh) * 2015-07-29 2015-12-16 北京京东尚科信息技术有限公司 一种多协议接口测试系统及方法
CN105071990A (zh) * 2015-08-11 2015-11-18 中国电子科技集团公司电子科学研究院 一种通用的信息系统接口测试方法及装置
CN105824752A (zh) * 2016-03-16 2016-08-03 北京齐尔布莱特科技有限公司 一种接口自动化测试方法、装置和计算设备
CN108012585A (zh) * 2016-07-20 2018-05-08 深圳市汇顶科技股份有限公司 耳机以及交互系统
CN107797911A (zh) * 2016-09-02 2018-03-13 北京京东尚科信息技术有限公司 用于测试http接口的方法和装置
CN106909481A (zh) * 2017-02-28 2017-06-30 北京小米移动软件有限公司 接口测试方法、接口测试装置和电子设备
CN107423211A (zh) * 2017-03-15 2017-12-01 中国互联网络信息中心 一种sdns接口自动化测试系统和方法
CN108268348A (zh) * 2017-12-08 2018-07-10 广州视源电子科技股份有限公司 接口测试方法、装置、移动终端及存储介质
CN107957952A (zh) * 2017-12-18 2018-04-24 马上消费金融股份有限公司 一种接口测试方法、装置及介质
CN109031091A (zh) * 2018-07-16 2018-12-18 深圳市广和通无线股份有限公司 接口测试方法、测试系统和测试夹具
CN109240923A (zh) * 2018-08-31 2019-01-18 福建天泉教育科技有限公司 接口测试脚本的生成方法及计算机可读存储介质
CN109165165A (zh) * 2018-09-04 2019-01-08 中国平安人寿保险股份有限公司 接口测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109460380A (zh) * 2018-10-11 2019-03-12 苏州耀腾光电有限公司 一种串口与mes系统数据传输协议
CN210270872U (zh) * 2019-08-24 2020-04-07 江西武大扬帆科技有限公司 一种便携式串口检测仪

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
赵影: "I2C 串行接口数字芯片SCG103 测试方法", 《电子测试》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN111562490B (zh) 2023-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI489803B (zh) 利用由越空信號特性起始之預設測試節段來測試無線裝置之方法
CN104618054B (zh) 参数调整方法及装置
JP3967716B2 (ja) 通信する方法、装置、および信号
CN110244693A (zh) 车辆设备的测试系统、方法、车辆及机器可读介质
KR20210010814A (ko) 전송 취소 표시 모니터링을 수행하기 위한 시스템 및 방법
CN113572560B (zh) 用于确定时钟同步精度的方法、电子设备和存储介质
CN108513361A (zh) 信道接入方法、装置及存储介质
US8817908B2 (en) Generating and/or receiving, at least in part, signal that includes at least one waveform
US10605570B2 (en) Method and apparatus for launch control packet processing
CN111562490B (zh) 测试方法及系统
CN109640013A (zh) 一种时序校准方法及芯片测试机
KR101669397B1 (ko) 거리 계측 장치 및 거리 계측 방법
US20230161719A1 (en) Processing of process data
US10361838B2 (en) Two-wire communication interface system
KR101690948B1 (ko) 타임라인 기반 항공기 장치의 입출력 이벤트 시나리오를 사용한 소프트웨어 검증 방법 및 이의 시스템
US10700704B2 (en) Serial general purpose input/output system
CN110221996B (zh) 主控芯片中的控制器配置方法及装置
US11342960B2 (en) Relay device, relay method, and computer program
US9405554B2 (en) Method for initializing expended modules in programmable logic controller system
CN115061968B (zh) 一种接口处理器及接口处理系统
JP6637381B2 (ja) 無線装置
JP2004336758A (ja) 時分割多元アクセス伝送チャンネルの選択方法およびそのような方法を使用する通信システム
CN111294968A (zh) 一种数据传输方法及装置
KR101785821B1 (ko) 시리얼 통신의 프레임 수신 모니터링 방법
US10680849B2 (en) Built-in apparatus, communication method, and computer readable medium

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20240710

Address after: 510000 No. 888 Tianhe North Road, Guangzhou, Guangdong, Tianhe District

Patentee after: Liu Yonggang

Country or region after: China

Address before: 13 / F, block B, Tengfei Industrial Building, free trade zone, Futian District, Shenzhen, Guangdong 518045

Patentee before: SHENZHEN GOODIX TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Country or region before: China

TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20240812

Address after: 510000 Room 3007, No. 6 Panlong New Street, Pazhou, Haizhu District, Guangzhou City, Guangdong Province (for office use only)

Patentee after: Guangzhou Nine Road Technology Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: 510000 No. 888 Tianhe North Road, Guangzhou, Guangdong, Tianhe District

Patentee before: Liu Yonggang

Country or region before: China

TR01 Transfer of patent right