CN111526069B - 基于sd-wan的并发隧道性能测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种基于SD‑WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD‑WAN连接；步骤S40，第一待测设备进行授权设置；步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。本发明，测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。

Description

基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法
技术领域
本发明属于SD-WAN组网测试技术领域，尤其涉及一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法。
背景技术
目前，SD-WAN是一种新兴的新技术，适用于路由器上，对于SD-WAN的多节点并发性能测试尤为关键，现有测试方法大多需要利用多达十余台设备进行并发测试，测试成本高且所搭建的测试环境复杂。
因此，现有技术有待于改善。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。
本发明的一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：
步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；
步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；
步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD-WAN连接；
步骤S40，第一待测设备进行授权设置；
步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。
优选地，还包括步骤：
步骤S60，通过第一PC设备查看测试结果。
优选地，步骤S10具体包括：
步骤S1，第一待测设备的LAN口与第一PC设备连接；
步骤S2，第二待测设备安装IPERF工具；
步骤S3，第一待测设备登录第一PC设备所处的服务器，并在服务器内创建第一账号信息。
优选地，步骤S20具体包括：
步骤S21，第二待测设备接收第一待测设备发送过来的第一账号信息；
步骤S22，第二待测设备根据第一账号信息登录第一PC设备所处的服务器以获取第一IP地址。
优选地，步骤S50具体包括：
步骤S51，第二待测设备运行IPERF工具；
步骤S52，基于Linux的定时任务方式对每个分支节点和第一待测设备的主节点进行配置；
步骤S53，以使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。
本发明的基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，一台待测设备作为主节点，一台设备作为数据中心，通过作为数据中心的一个设备中模拟多个分支节点与主节点之间建立SD-WAN隧道，然后在各分支节点上建立分支节点到主节点之间的数据流来实现多分支节点的并发隧道性能测试。测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法第一实施例的流程示意图；
图2为本发明基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法第一实施例中步骤S10的细化流程示意图；
图3为本发明基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法第一实施例中步骤S20的细化流程示意图；
图4为本发明基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法第一实施例中步骤S50的细化流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要注意的是，相关术语如“第一”、“第二”等可以用于描述各种组件，但是这些术语并不限制该组件。这些术语仅用于区分一个组件和另一组件。例如，不脱离本发明的范围，第一组件可以被称为第二组件，并且第二组件类似地也可以被称为第一组件。术语“和/或”是指相关项和描述项的任何一个或多个的组合。
如图1所示，图1为本发明基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法第一实施例的流程示意图；本发明的一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：
步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；
在步骤S10中，第一待测设备包括第一路由器，第一路由器型号为AC3000-500；第二待测设备包括第二路由器，第二路由器型号为AC3000-500；AC3000-500代表IP-COM公司AC3000系列微企多业务路由器，支持SD-WAN功能；第一路由器作为主节点；第二路由器作为数据中心；第一PC设备表示PC端，作为服务器；
建立测试环境，具体地，如图2所示，步骤S10具体包括：步骤S1，第一待测设备的LAN口与第一PC设备连接；步骤S2，第二待测设备安装IPERF工具；步骤S3，第一待测设备登录第一PC设备所处的服务器，并在服务器内创建第一账号信息。
步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；
如图3所示，步骤S20具体包括：步骤S21，第二待测设备接收第一待测设备发送过来的第一账号信息；步骤S22，第二待测设备根据第一账号信息登录第一PC设备所处的服务器以获取第一IP地址。
步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD-WAN连接；
步骤S40，第一待测设备进行授权设置；
在步骤S40中，第一待测设备进行授权设置，以使得各分支节点可以正常的访问主节点，即允许模拟的各个分支节点访问主节点的LAN侧的第一PC设备。
步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流；
在步骤S50中，具体包括：步骤S51，第二待测设备运行IPERF工具；步骤S52，基于Linux的定时任务方式对每个分支节点和第一待测设备的主节点进行配置；步骤S53，以使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。本发明的基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，一台待测设备作为主节点，一台设备作为数据中心，通过作为数据中心的一个设备中模拟多个分支节点与主节点之间建立SD-WAN隧道，然后在各分支节点上建立分支节点到主节点之间的数据流来实现多分支节点的并发隧道性能测试。测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。
如图1所示，还包括步骤：步骤S60，通过第一PC设备查看测试结果。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备，其中，第一待测设备为主节点，第二待测设备为数据中心；
步骤S10具体包括：
步骤S1，第一待测设备的LAN口与第一PC设备连接；
步骤S2，第二待测设备安装IPERF工具；
步骤S3，第一待测设备登录第一PC设备所处的服务器，并在服务器内创建第一账号信息，
步骤S20，第二待测设备通过第一账号信息在第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；
步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD-WAN连接，模拟多个分支节点与主节点之间建立SD-WAN隧道；
步骤S40，第一待测设备进行授权设置；
步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。
2.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，其特征在于，还包括步骤：
步骤S60，通过第一PC设备查看测试结果。
3.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，其特征在于，步骤S20具体包括：
步骤S21，第二待测设备接收第一待测设备发送过来的第一账号信息；
步骤S22，第二待测设备根据第一账号信息登录第一PC设备所处的服务器以获取第一IP地址。
4.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，其特征在于，步骤S50具体包括：
步骤S51，第二待测设备运行IPERF工具；
步骤S52，基于Linux的定时任务方式对每个分支节点和第一待测设备的主节点进行配置；
步骤S53，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。
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