CN111504937B - 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法 - Google Patents

一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111504937B
CN111504937B CN202010349054.4A CN202010349054A CN111504937B CN 111504937 B CN111504937 B CN 111504937B CN 202010349054 A CN202010349054 A CN 202010349054A CN 111504937 B CN111504937 B CN 111504937B
Authority
CN
China
Prior art keywords
spectrum
cut
height
low
range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010349054.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111504937A (zh
Inventor
王红梅
张玉贵
鲁之君
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nantong University
Beijing Institute of Space Research Mechanical and Electricity
Original Assignee
Nantong University
Beijing Institute of Space Research Mechanical and Electricity
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nantong University, Beijing Institute of Space Research Mechanical and Electricity filed Critical Nantong University
Priority to CN202010349054.4A priority Critical patent/CN111504937B/zh
Publication of CN111504937A publication Critical patent/CN111504937A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111504937B publication Critical patent/CN111504937B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明提供了一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,步骤一:通过GF‑AIUS探测的一级光谱数据,一级光谱数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据;步骤二:对探测光谱数据进行分析,确定要校正的低层切高范围;步骤三:通过HITRAN光谱吸收库,分析GF‑AIUS有效观测谱段(750‑4100cm‑1)内的完全无吸收的波段的位置;步骤四:对全有效波段的光谱进行高通滤波,提取非吸收波段在相应的切高范围内的光谱数据,计算比例因子;步骤五:根据比例因子,修正低层切高上的光谱;步骤六:对低层切高进行大气校正。本发明的有益效果为:本发明的快速切高校正方法更简便、快速、准确。

Description

一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法
技术领域
本发明涉及红外掩星传感器探测切高校正技术领域,尤其涉及一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法。
背景技术
在卫星掩星观测模式中切高的准确性起着至关重要的作用。切高(TangentHeight)指的是观测点与大气层的切点到地球表面的垂直距离。在反演大气中气体成分的过程中,切高的高度影响着大气成分反演的精确程度。高分五号大气环境红外甚高分辨率探测仪(GF5-AIUS)在探测到太阳时,就进行观测。在日出时刻,由于大气折射的原因,太阳还没或者未完全出地平线时,即开始探测,造成这个时候探测到的低层切高的光谱值偏小,从而造成转换成透过率后值偏低。因此首先需要对低层切高上的光谱信息进行修正,然后对低层切高进行校正。目前国外的红外掩星传感器如ACE-FTS等进行切高的方法需要如CO2先验知识等信息,而且反演速率较慢。一级产品切高的误差来源主要有仪器系统误差(如光子噪声、热噪声、暗电流噪声等)、大气折射影响和随机误差三部分。针对GF5-AIUS的仪器特征与观测光谱数据及N2在大气低层含量稳定且其吸收通道受其它大气成分的扰动较小的特点,针对低层切高校正建立了一种新的利用非吸收谱段修复低层光谱值及基于查找表的快速切高校正方法。
发明内容
本发明的目的在于:针对高分五号大气环境红外甚高分辨率探测仪探测低层光谱值偏小且一级切高不准确的问题,而提供了一种更简便、快速、准确的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法。
本发明是通过如下措施实现的:一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,包括以下步骤:
步骤一:通过GF-AIUS探测的一级光谱数据,所述一级光谱数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据;
步骤二:对所述探测光谱数据进行分析,去除低层与高层中的异常光谱信息,确定要校正的低层切高范围;
进一步地:所述步骤二中,对所述探测光谱进行分析,具体步骤是:
1)选取有效光谱区域,波数范围为750-4100cm-1,利用matlab软件画出所有波段,在不同切高上的光谱值;
2)若某切高上的光谱数据与正常的光谱数据值的范围变化趋势与变化范围具有较大的差异,则该切高层的光谱数据是异常光谱信息。
步骤三:通过HITRAN光谱吸收库,分析GF-AIUS有效观测谱段内的非吸收谱段的位置;
步骤四:求取低层切高光谱值与探测到的太阳光谱的比例因子。
进一步地:所述步骤四中,求取比例因子的具体步骤为:
1)在探测谱段内,提取存在完全无吸收的波段,提取该波段在相应的切高范围内的光谱数据,并做高通滤波,去除由于仪器及其它干扰带来的噪声;
2)对经过高通滤波后的低层切高的非吸收波段的光谱数据D(h,λ)和该吸收波段内的太阳光谱S(λ)分别进行求和,得到D和S;
3)比例因子
Figure BDA0002471202690000021
步骤五:根据比例因子r,修正低层切高上的光谱,并把光谱转换为透过率;低层切高上的光谱,并把光谱转换为透过率;
进一步地:所述步骤五中,低层切高上的光谱修正公式为:
D'(h,λ)=D(h,λ)/r
其中,D(h,λ)指的是在切高h,波长λ处的光谱信息;D'(h,λ)为修正后的全波段(750-4100cm-1)的光谱信息。
光谱转换为透过率公式是:
Figure BDA0002471202690000022
其中,τ(h,λ)指的是在切高h,波长λ处的透过率;B是传感器指向深空时观测光谱;S是传感器在外太空的观测光谱。
步骤六:利用辐射传输模型,根据日期、经纬度,模拟N2吸收谱段在不同切高上的透过率,得到模拟的透过率查找表,根据模拟透过率与实测透过率的最小均方根误差,对低层切高进行校正。
进一步地,所述步骤六中,对查找表校正具体包括以下步骤:
1)通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;
2)针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
进一步地,通过利用最小方差确定切高序列进行校正的最小半径范围。
为了更好地实现上述发明目的,本发明还提供一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,具体包括以下步骤:
S1、通过GF-AIUS获得一级数据,所述一级数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据,并剔除无效切高上的光谱;
S2、对步骤S1中所述多个切高上得探测光谱进行分析,筛选出非吸收光谱段,在低层切高上,探测光谱值偏低,且随着切高的增加,光谱值也相应的增加,达到一定高度时,光谱值不受切高的影响,保持基本不变,且与观测到太阳谱相同;
S3、将步骤S2中筛选出的非吸收光谱段,对在不同切高上的光谱与相应的太阳光谱进行高通滤波,去除噪声影响,然后用滤波的太阳光谱除滤波后的低层观测光谱,得到低层切高的比例因子;根据比例因子,修正低层切高上的整个光谱段的观测光谱,并把观测光谱转换为透过率;选择包含N2吸收光谱的光谱段,以100m为间隔,模拟10-40km切高上的模拟透过率,得到模拟透过率查找表;
S4、通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;
S5、针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
进一步地,所述步骤S5中,对所述低层切高光谱进行修正具体包括以下内容:分析多个切高上一级光谱数据,并进行分析;筛选出光谱随切高增加,光谱值增加,达到一定高度后不再改变且与太阳光谱相同的光谱范围;对该范围内的切高上的低于太阳光谱的观测光谱与太阳光谱,做高通滤波,去除噪声干扰,将滤波后的太阳光谱与滤波后观测光谱相除,得到比例因子。
进一步地,所述步骤S4中对查找表校正的具体内容为:通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
进一步地,通过利用最小方差的办法,确定切高序列进行校正的最小半径范围。
进一步地,所述低层切高的理论范围为观测切高序列中的第16-28个切高,此范围内切高利用N2所在的吸收通道范围进行切高校正。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
1、本发明简便,不需要利用CO2波段进行温压与切高的联合反演,操作简单;
2、本发明快速,大气透过率数据库,根据日期、经纬度提前计算得到,不需要实时计算,节省大量的CPU时间;
3、本发明准确,大气透过率数据库,时间上划为12个月,空间上考虑了经纬度划分,垂直高度上以100m为网格,划分比较精细;另外,大气透过率数据库的生成集成了多种产品,在生成的过程中,进行了质量控制。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。
图1为本发明的整体示意图。
图2为本发明实施例提供的一种低层切高上的光谱数据修复方法示意图。
图3为本发明实施例提供的一种基于查找表的GF5-AIUS低层切高校正方法示意图。
图4为本发明实施例提供的GF5-AIUS在非吸收通道不同探测切高序列上的光谱示意图。
图5为本发明实施例提供的GF5-AIUS切高校正结果精度示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。当然,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例1
参见图1至图5所示,本发明提供其技术方案为,一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,包括以下步骤:
步骤S101:通过获取初始一级数据,所述一级数据包括多个一级切高和多个切高上的光谱数据,对两个探测波段MCT和InSb上的光谱分别分析,画出从第15个观测切高(有效观测第一个切高)到25个切高,经分析可得,在830cm-1到850cm-1范围内,没有明显的吸收,而第15-18个切高上观测光谱明显偏低;
步骤S102:选取830cm-1-850cm-1范围,对第15个观测切高到第18个观测切高上一级光谱数据及太阳光谱进行高通滤波,去除仪器及其他干扰带来的噪声;
步骤S103:对所述处理后的830cm-1-850cm-1范围的太阳光谱数据求取均值,太阳光谱取第60-65帧数据,分别求取奇数行、偶数行的均值,在计算比例因子时,奇数帧与奇数太阳均值光谱相除,偶数帧与偶数太阳均值光谱相除,得到15-18帧上的比例因子;
参见图2所示,本发明实施例提供的利用N2吸收波段计算查找表,进行低层切高校正,具体包括以下步骤:
步骤S201,首先建立大气背景库,应用AURA MLS近3年的二级产品数据和ACE FTS的二级产品,根据经度、纬度、时间三维向量,建立全球大气背景库。
优选地,首先根据时间维度,将产品定位到每月的尺度上;然后根据空间维度,定位到经纬度格网上;由于两种载荷产品格式不一致,根据三次样条插值的方法,并允许外插,将两种格式的产品,统一到0-120KM的大气高度上,以1KM为间隔。
步骤S202,利用N2吸收波段,建立精密度的查找表,此查找表根据大气辐射传输模型得到,通过设置吸收成分、读取HITRAN吸收线位置与强度、设置天线响应函数、探测切高、探测频率、通道响应函数等,建立2490-2520CM-1范围内,以0.02cm-1光谱分辨率的、以100m为间隔高度的细密透过率查找表。
步骤S203,通过计算所述多个切高序列的模拟光谱与实际光谱的最小方差得到校正后的二级切高值。
具体地,以一级切高为中心,根据建立的透过率查找表,分别以1KM、2KM、3KM、4KM、5KM等,不同的切高校正范围进行多轨模拟光谱与实际光谱的方差的比对,误差最小的则为校正后的二级切高值。通过多次实验,确定出稳定的切高校正范围。
进一步地,在进行业务化切高校正前通过小步长多次迭代去除高层处系统的切高误差。
本领域普通技术人员应该还可以进一步意识到,结合本发明所公开的实施例描述的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各实施例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执轨道,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。本领域普通技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:通过GF-AIUS探测的一级光谱数据,所述一级光谱数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据;
步骤二:对所述探测光谱数据进行分析,去除低层与高层中的异常光谱信息,确定要校正的低层切高范围;
所述步骤二中,对所述探测光谱进行分析,具体步骤是:
1)选取有效光谱区域,波数范围为750-4100cm-1,利用matlab软件画出所有波段,在不同切高上的光谱值;
2)若某切高上的光谱数据与正常的光谱数据值的范围变化趋势与变化范围具有较大的差异,则切高层的光谱数据是异常光谱信息;
步骤三:通过HITRAN光谱吸收库,分析GF-AIUS有效观测谱段内的非吸收谱段的位置;
步骤四:求取低层切高光谱值与探测到的太阳光谱的比例因子;
所述步骤四中,求取比例因子的具体步骤为:
1)在探测谱段内,提取存在完全无吸收的波段,提取该波段在相应的切高范围内的光谱数据,并做高通滤波,去除由于仪器及其它干扰带来的噪声;
2)对经过高通滤波后的低层切高的非吸收波段的光谱数据
Figure DEST_PATH_IMAGE002
和该吸收波段内的太阳光谱
Figure DEST_PATH_IMAGE004
分别进行求和,得到D 和S ;
3)比例因子
Figure DEST_PATH_FDA0002471202680000011
步骤五:根据比例因子r,修正低层切高上的光谱,并把光谱转换为透过率;低层切高上的光谱,并把光谱转换为透过率;
进一步地:所述步骤五中,低层切高上的光谱修正公式为:
D'(h, λ)=D(h, λ)/r
其中,D(h, λ)指的是在切高h,波长λ 处的光谱信息;D'(h,λ)为修正后的全波段750-4100 cm-1的光谱信息;
光谱转换为透过率公式是:
Figure DEST_PATH_FDA0002471202680000012
其中,τ(h,λ)指的是在切高h,波长λ处的透过率;B是传感器指向深空时观测光谱;S是传感器在外太空的观测光谱;
步骤六:利用辐射传输模型,根据日期、经纬度,模拟N2吸收谱段在不同切高上的透过率,得到模拟的透过率查找表,根据模拟透过率与实测透过率的最小均方根误差,对低层切高进行校正。
2.根据权利要求1所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,所述步骤六中,对查找表校正具体包括以下步骤:
1)通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;
2)针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
3.根据权利要求2所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,通过利用最小方差确定切高序列进行校正的最小半径范围。
4.一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、通过GF-AIUS获得一级数据,所述一级数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据,并剔除无效切高上的光谱;
S2、对步骤S1中所述多个切高上得探测光谱进行分析,筛选出非吸收光谱段,在低层切高上,探测光谱值偏低,且随着切高的增加,光谱值也相应的增加,达到一定高度时,光谱值不受切高的影响,保持基本不变,且与观测到太阳谱相同;
S3、将步骤S2中筛选出的非吸收光谱段,对在不同切高上的光谱与相应的太阳光谱进行高通滤波,去除噪声影响,然后用滤波的太阳光谱除滤波后的低层观测光谱,得到低层切高的比例因子;根据比例因子,修正低层切高上的整个光谱段的观测光谱,并把观测光谱转换为透过率;选择包含N2吸收光谱的光谱段,以100 m为间隔,模拟10-40km切高上的模拟透过率,得到模拟透过率查找表;
S4、通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;
S5、针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
5.根据权利要求4所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,所述步骤S5中,对所述低层切高光谱进行修正具体包括以下内容:分析多个切高上一级光谱数据,并进行分析;筛选出光谱随切高增加,光谱值增加,达到一定高度后不再改变且与太阳光谱相同的光谱范围;对该范围内的切高上的低于太阳光谱的观测光谱与太阳光谱,做高通滤波,去除噪声干扰,将滤波后的太阳光谱与滤波后观测光谱相除,得到比例因子。
6.根据权利要求4所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,所述步骤S4中对查找表校正的具体内容为:通过计算不同切高上实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差,确定查找表校正的最小半径范围,即一级切高校正时的波动范围;针对低层切高,利用N2吸收线所在的光谱范围,在最小半径范围内,计算此光谱范围内的光谱透过率与模拟的光谱透过率的最小方差,获取校正后的低层的最佳切高值。
7.根据权利要求4所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,通过利用最小方差的办法,确定切高序列进行校正的最小半径范围。
8.根据权利要求4-7任一项所述的基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法,其特征在于,所述低层切高的理论范围为观测切高序列中的第16-28个切高,此范围内切高利用N2所在的吸收通道范围进行切高校正。
CN202010349054.4A 2020-04-28 2020-04-28 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法 Active CN111504937B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010349054.4A CN111504937B (zh) 2020-04-28 2020-04-28 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010349054.4A CN111504937B (zh) 2020-04-28 2020-04-28 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111504937A CN111504937A (zh) 2020-08-07
CN111504937B true CN111504937B (zh) 2022-06-03

Family

ID=71869572

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010349054.4A Active CN111504937B (zh) 2020-04-28 2020-04-28 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111504937B (zh)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107505632A (zh) * 2017-08-18 2017-12-22 中国科学院遥感与数字地球研究所 一种温压廓线与切高联合反演方法
CN107543562A (zh) * 2017-08-29 2018-01-05 中国科学院遥感与数字地球研究所 一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107505632A (zh) * 2017-08-18 2017-12-22 中国科学院遥感与数字地球研究所 一种温压廓线与切高联合反演方法
CN107543562A (zh) * 2017-08-29 2018-01-05 中国科学院遥感与数字地球研究所 一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
大气环境红外甚高光谱分辨率探测仪设计与实现;董欣等;《航天返回与遥感》;20180615(第03期);33-41页 *
红外甚高光谱分辨率探测仪反演系统的设计与实现;罗琪等;《航天返回与遥感》;20191215(第06期);71-80页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN111504937A (zh) 2020-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kulawik et al. Consistent evaluation of ACOS-GOSAT, BESD-SCIAMACHY, CarbonTracker, and MACC through comparisons to TCCON
Foucher et al. Carbon dioxide atmospheric vertical profiles retrieved from space observation using ACE-FTS solar occultation instrument
CN111859695B (zh) 基于高分五号卫星紫外可见高光谱的大气污染成分反演方法
CN107643252B (zh) Wms检测瓶内氧气浓度的实时扣背景非线性校正方法
Toihir et al. Variability and trend in ozone over the southern tropics and subtropics
Hassler et al. A new global database of trace gases and aerosols from multiple sources of high vertical resolution measurements
Emili et al. Combined assimilation of IASI and MLS observations to constrain tropospheric and stratospheric ozone in a global chemical transport model
CN107505632B (zh) 一种温压廓线与切高联合反演方法
Salerno et al. Novel retrieval of volcanic SO2 abundance from ultraviolet spectra
Polonik et al. Comparison of gas analyzers for eddy covariance: Effects of analyzer type and spectral corrections on fluxes
CN113533241A (zh) 基于卫星红外超光谱的大气二氧化碳浓度高精度反演系统
CN114910430A (zh) 基于超光谱遥感的痕量气体水平分布探测交通污染源方法
Tian et al. Characterisation of methane variability and trends from near-infrared solar spectra over Hefei, China
CN111426643A (zh) 一种大气二氧化氮柱浓度反演条带噪声自适应窗口校正方法
CN115656105A (zh) 富营养化藻型水体甲烷扩散排放的卫星遥感监测方法
Gerdel et al. Eddy covariance carbonyl sulfide flux measurements with a quantum cascade laser absorption spectrometer
CN111504937B (zh) 一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法
CN103808413A (zh) 基于噪声分离的温度与比辐射率分离的方法及装置
CN113946936A (zh) 基于emi超光谱卫星载荷的自适应迭代二氧化硫反演方法
Umezawa et al. Winter crop CO2 uptake inferred from CONTRAIL measurements over Delhi, India
de Lange et al. Methane profiles from GOSAT thermal infrared spectra
CN107798154B (zh) 一种火星大气沙尘气溶胶光学厚度反演方法
Gvakharia et al. Testing and evaluation of a new airborne system for continuous N 2 O, CO 2, CO, and H 2 O measurements: the Frequent Calibration High-performance Airborne Observation System (FCHAOS)
Walsh et al. An uncertainty budget for ground‐based Fourier transform infrared column measurements of HCl, HF, N2O, and HNO3 deduced from results of side‐by‐side instrument intercomparisons
CN111398179B (zh) 针对gf-aius掩星探测基于查找表的切高校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant