CN111487785A - 光学调试系统及激光收发装置的调试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种光学调试系统及激光收发装置的调试方法。调试方法包括：获取发射模块发出的激光束通过至少两次折转后，聚焦在第一成像设备的成像面上形成的第一光斑；根据第一光斑的大小和/或位置，调整发射模块的发射光路；经过至少两次折转后的部分激光束在第一成像设备处反射后，被接收模块反射并聚焦在第二成像设备上形成第二光斑；根据第二光斑的大小和/或位置，调整接收模块的接收光路。本发明的技术方案中的调试方式更准确，且调试后的激光收发装置的精度更高。

Description

光学调试系统及激光收发装置的调试方法

技术领域

本发明涉及激光收发装置的装调领域，具体而言，涉及一种光学调试系统及激光收发装置的调试方法。

背景技术

在相关技术中，对于激光收发装置的装调多采用单独对发射模块的准直度等进行调试或者单独对接收模块的激光接收灵敏度进行装调。

以上也就是说，需要提供更准确的调试方法，该调试方法既能对激光收发装置的发射模块进行调试，又能对激光收发装置的接收模块进行调试。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种光学调试系统及激光收发装置的调试方法，该调试方法对待调试的激光收发装置的调试更准确。

为了实现上述目的，本发明的一方面提供了一种激光收发装置的调试方法，激光收发装置包括发射模块和接收模块，调试方法包括：获取发射模块发出的激光束通过至少两次折转后，聚焦在第一成像设备的成像面上形成的第一光斑；根据第一光斑的大小和/或位置，调整发射模块的发射光路；经过至少两次折转后的部分激光束在第一成像设备处反射后，被接收模块反射并聚焦在第二成像设备上形成第二光斑；根据第二光斑的大小和/或位置，调整接收模块的接收光路。

进一步地，实时监测第一光斑的尺寸大小的步骤。

进一步地，调整发射模块的发射光路的步骤包括调试发射模块的发射镜头与激光二极管之间距离的调试步骤，调试方法还包括判断第一光斑的尺寸是否小于等于预设值的第一判断步骤，如果是，则执行结束步骤，如果否，则重复执行调试步骤。

进一步地，调试方法还包括判断第一光斑的质心与第一成像设备的十字中心是否重合的第二判断步骤，如果是，则执行结束步骤，如果否，则重复执行调试发射模块的发射镜头与激光二极管之间距离的调试步骤。

进一步地，调试方法还包括通过第二图像采集设备获取第二光斑，调整接收模块的接收光路的步骤包括使得第二光斑能够平行移入接收模块的探测器的光敏面中，且第二光斑的质心与探测器的光敏面的中心重合。

进一步地，调试方法还包括：激光束经半透半反镜透射后依次经第一反射镜和第二反射镜反射，经第二反射镜反射后的光线聚焦在第一成像设备的成像面上形成第一光斑。

本发明的另一方面提供了一种光学调试系统，用于对激光收发装置进行调试，光学调试系统包括：光路折转系统，用于对待调试的激光收发装置的发射模块发射的激光束进行至少两次折转；第一成像设备；第二成像设备；以及分光膜，设置在第一成像设备上，分光膜用于将经光路折转系统反射后的光束分成透射光线和反射光线；其中，透射光线在第一成像设备上聚焦形成第一光斑，基于反射原理，反射光线经光路折转系统反射后进入接收模块，进入接收模块的部分光线被接收模块反射并在第二成像设备上形成第二光斑，根据第一光斑的尺寸和/或位置以及第二光斑的尺寸能够依次对发射模块的发射光路和接收模块的接收光路进行装调。

进一步地，光路折转系统包括沿着光路依次设置的半透半反镜，第一反射镜和第二反射镜，第二反射镜位于半透半反镜和第一反射镜之间，激光束经半透半反镜透射后依次经第一反射镜和第二反射镜反射，并在第一成像设备上形成第一光斑，第一反射镜用于将反射光线准直为平行光束，第二成像设备位于半透半反镜的一侧，以使进入接收模块的光线经半透半反镜反射后成像在第二成像设备上。

进一步地，光学调试系统还包括用于获取第一光斑的第一图像采集设备以及与第一图像采集设备连接的图像监测部，图像监测部根据第一图像采集设备采集到的图像调整发射模块中发射镜头与激光二极管之间的距离；或者，

光学调试系统还包括第二图像采集设备，第二图像采集设备用于获取第二光斑。

进一步地，第一反射镜为离轴反射镜，第一图像采集设备和/或第二图像采集设备为相机；或者，第一成像设备和/或第二成像设备为十字标尺。

应用本发明的技术方案，利用发射模块发出的部分激光束在第一成像设备上形成第一光斑，根据第一光斑的尺寸大小或位置，可以对发射模块的准直程度、俯仰角进行调节，即可以实现调整发射模块的发射光路的目的；进一步地，当完成调整发射模块的步骤之后，根据第二光斑的尺寸大小和位置，可以装调接收模块，从而实现调整接收模块的接收光路的功能。也就是说，先对发射模块中的部件进行装调，再对接收模块中的光学部件形成的接收光路进行装调，该调试方式更准确，使得调试后的激光收发装置的精度更高。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本发明的光学调试系统的结构示意图；

图2示出了根据本发明的激光收发装置的调试方法的流程图；

图3示出了根据本发明的激光收发装置的调试方法的具体的流程示意图；

图4示出了图1的待调试的激光收发装置的发射模块的结构示意图；以及

图5示出了图1的待调试的激光收发装置的接收模块的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、光路折转系统；11、半透半反镜；12、第一反射镜；13、第二反射镜；20、第一成像设备；30、第一图像采集设备；40、第二图像采集设备；50、电脑终端；60、激光收发装置；61、发射模块；611、激光二极管；612、发射镜头；62、接收模块；621、探测器；622、接收镜头。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本发明。

本发明及本发明的实施例中，激光收发装置60为待调试的部件。发射模块61包括激光二极管611和发射镜头612，调整激光二极管611和发射镜头612之间的距离指的是在图4的上下方向、左右方向和前后方向对发射镜头612相对于激光二极管611的位置进行调试。调试接收模块62的探测器621与接收镜头622之间的距离指的是在图5的上下方向、左右方向和前后方向调整接收镜头622相对于探测器621的位置。

如图2和图3所示，本发明及本发明的实施例提供了一种激光收发装置的调试方法。激光收发装置60包括发射模块61和接收模块62，该调试方法包括：获取发射模块61发出的激光束通过至少两次折转后，聚焦在第一成像设备20的成像面上形成的第一光斑；根据第一光斑的大小和/或位置，调整发射模块61的发射光路；经过至少两次折转后的部分激光束在第一成像设备20处反射后，被接收模块62反射并聚焦在第二成像设备上形成第二光斑；根据第二光斑的大小和/或位置，调整接收模块62的接收光路。

上述设置中，利用发射模块61发出的部分激光束在第一成像设备20上形成第一光斑，根据第一光斑的尺寸大小或位置，可以对发射模块61的准直程度、俯仰角进行调节，即可以实现调整发射模块61的发射光路的目的；进一步地，当完成调整发射模块61的步骤之后，根据第二光斑的尺寸大小和位置，可以装调接收模块，从而实现调整接收模块62的接收光路的功能。也就是说，先对发射模块61中的部件进行装调，再对接收模块62中的光学部件形成的接收光路进行装调，该调试方式更准确，使得调试后的激光收发装置的精度更高。

具体地，发射模块61发出的激光束经半透半反镜11透射后依次经第一反射镜12和第二反射镜13反射，经第二反射镜13反射后的光线聚焦在第一成像设备20的成像面上形成第一光斑。

这样，激光束经半透半反镜11、第一反射镜12和第二反射镜13形成发射光路，通过第一光斑的大小和位置，即可对发射模块61的发射镜头612的位置等进行调试。

为了确保调试的准确性，本发明的实施例中，调试方法还包括实时监测第一光斑的尺寸大小的步骤。

在实际调试过程中，可以利用第一图像采集设备30获取第一光斑，而且，利用第一图像采集设备30也可以实时监测第一光斑的尺寸大小和其在第一成像设备20上的位置，这样，可以方便对发射模块61的俯仰角、准直程度等进行调整；而且，该调试方式更准确。当然，，在替代实施例中，还可以仅根据第一光斑的尺寸大小调试发射模块61，从而可以对发射模块61的俯仰角、准直程度等进行调整。

优选地，第一图像采集设备30为相机。相机为宽波段高感光相机，这样，能够与需要测试的发射模块61相匹配，获得更清晰的画面质量。

当然，为便于实时监测第一光斑，还可以设置与第一图像采集设备连接的图像监测部，这样，图像监测部根据第一图像采集设备采集到的图像调整发射模块61中发射镜头612与激光二极管之间的距离。优选地，图像检测部包括控制器和与控制器连接的存储单元。存储单元用于存储第一图像采集设备发送的数据，控制器根据上述数据演算出发射模块61中的发射镜头612和激光二极管611之间需要调整的距离，方便操作人员进行调整。

具体地，本发明的实施例中，如图3所示，调整发射模块61的发射光路的步骤包括调节发射模块61的发射镜头612与激光二极管611之间距离的调试步骤，调试方法还包括判断第一光斑的尺寸是否小于等于预设值的第一判断步骤，如果是，则执行结束步骤，如果否，则重复执行调试步骤。

本发明的实施例中，如图3所示，调试方法还包括判断第一光斑的质心与第一成像设备20的十字中心是否重合的第二判断步骤，如果是，则执行结束步骤，如果否，则重复执行调试步骤。

通过上述步骤对发射模块61中的发射镜头612的位置进行调节，当第一光斑的尺寸小于等于预设值，且位于第一成像设备20的中心，横平竖直，与十字重合，此时说明，已经调试好了发射镜头612的准直度和角度，即调试好了发射模块61，然后将发射模块61锁定在该位置。

本发明的实施例中，如图3所示，调试方法还包括通过第二图像采集设备获取第二光斑，调整接收模块62的接收光路的步骤包括使得第二光斑能够平行移入探测器621的光敏面中，且第二光斑的质心与探测器621的光敏面的中心重合。

通过上述设置步骤，如果第二光斑不能满足上述要求，则需要重复调试接收模块的接收镜头622和探测器621之间的相互位置关系，只有当第二光斑能够平行移入探测器621的光敏面中，且第二光斑的质心与探测器621的光敏面的中心重合时，才代表接收模块的接收镜头622与探测器621之间的位置关系符合要求，这时，即可将接收镜头622的位置锁定。

在具体的调试过程中，首先需要判断第二光斑是否能够平行移入探测器621的光敏面中，如果是，则执行使第二光斑的质心与探测器621的光敏面的中心重合的步骤，如果否，则重复执行调试接收模块62的接收镜头622和探测器621之间的距离的调试步骤。

需要说明的是，第二光斑能够平行移入探测器621的光敏面中指的是第二光斑在探测器621的光敏面上的投影处于光敏面之内(也就是说，第二光斑在探测器621的光敏面上的投影面积小于等于光敏面的面积)。

当然，在替代实施例中，也可以这样设置，仅判断第二光斑是否能够平行移入探测器621的光敏面中，如果是，则执行停止调试接收模块的结束步骤；如果否，则重复执行调试接收模块62的接收镜头622和探测器621之间的距离的调试步骤。

为了更准确地对激光收发装置进行调试，如图1所示，本发明的实施例提供了一种光学调试系统。光学调试系统包括光路折转系统10、第一成像设备20、第二成像设备和分光膜。

光路折转系统10用于对待调试的激光收发装置的发射模块61发射的激光束进行至少两个折转；分光膜设置在第一成像设备20上，分光膜用于将经光路折转系统10反射后的光束分成透射光线和反射光线。其中，透射光线在第一成像设备20上聚焦形成第一光斑，基于反射原理，反射光线经光路折转系统10反射后进入接收模块62，进入接收模块62的部分光线被接收模块62反射并在第二成像设备上形成第二光斑，根据第一光斑的尺寸和/或位置以及第二光斑的尺寸能够依次对发射模块61的发射光路和接收模块62的接收光路进行装调。

上述设置中，利用分光膜，可以将待调试的发射模块61发出的激光束分成一定比例的透射光线和发射光线，其中，透射光线在第一成像设备20上形成第一光斑，而反射光线经光路折转系统10准直后射入待调试的接收模块62，进入接收模块62的光线部分被反射在第二成像设备上形成第二光斑，这样，利用该光学调试系统可以先对发射模块61进行装调，然后再对接收模块62进行装调，调试之后的激光收发装置的精准度更高；另外，本申请中，是利用发射模块61发出的同一激光束对发射模块61和接收模块62进行装调的，因此，调试结果更准确，调试之后的激光收发装置的准确度较高。

如图1所示，本发明的实施例中，光路折转系统10包括沿着光路依次设置的半透半反镜11，第一反射镜12和第二反射镜13。第二反射镜13位于半透半反镜11和第一反射镜12之间，激光束经半透半反镜11透射后依次经第一反射镜12和第二反射镜13反射，并在第一成像设备20上形成第一光斑，第一反射镜12用于将反射光线准直为平行光束，第二成像设备位于半透半反镜11的一侧，以使进入接收模块62的光线经半透半反镜11反射后成像在第二成像设备上。

上述技术方案中，利用同一个光路折转系统10，既可以对待调试的激光收发装置60的发射模块61进行调试，也可以对上述激光收发装置60的接收模块62进行调试，光学调试系统的体积较小，另外，通过观测第一光斑和第二光斑的尺寸大小和/或位置，能够分别对发射模块61和接收模块62进行调试，且调试过程中，是在调试好发射模块61的基础上再接着对接收模块62进行调试的，因此，该调试方法调试好的激光收发装置60的准确性较高。

优选地，第一反射镜12为离轴反射镜。这样，在反射光线进入接收模块62的光路过程中，不存在由材料带来的色差，可以实现宽波段连续调测，克服了常规调测系统只能在单波长和分立波长下使用的缺陷，直接兼容多个产品多种方式的调测校准，而不需要不同波长下的对焦，减少了调试步骤和调试难度。

本发明的实施例中，光学调试系统还包括用于获取第一光斑的第一图像采集设备30以及与第一图像采集设备30连接的图像监测部，图像监测部根据第一图像采集设备30采集到的图像调整发射模块61中发射镜头612与激光二极管611之间的距离。

上述技术方案中，设置图像监测部能够实时监测第一图像采集设备30获取的第一光斑的尺寸大小和位置，从而能够对发射模块61进行调试。

本发明的实施例中，光学调试系统还包括第二图像采集设备40，第二图像采集设备40用于获取第二光斑。

优选地，第二图像采集设备40为相机。利用相机，可以更清晰地观察第二光斑的尺寸或位置，从而方便调整接收模块62的接收镜头622的位置。

优选地，第一成像设备20和第二成像设备均为十字标尺。十字标尺使用玻璃材料加工，布满刻度，刻度面镀有分光膜，使光能利用率最大化。比如，可以设置一个分光比(R:T＝9:1)，既可以清晰的监控发射模块61的准直特性，又可以观察和调整接收模块62的聚焦特性，不存在漫射式材料器件不聚光的缺陷，从而使调试方式更准确。

通过十字标尺和相机等部件的配合，能够对透射光路和反射光路的多个部件监控，即实现了发射光路和接收光路的双重高清监控，同时，可得到第一光斑和第二光斑的长宽和质心坐标，获得第一光斑与发射模块61的对准情况、系统的准直程度、俯仰角、倾斜程度，获得第二光斑与接收模块62的对准情况，可对激光收发装置的光斑进行量化评判，实现实时测量调整收发模组、科学评价、改善一致性等功能。

下面，结合图1和图3对本发明的调试系统和调试方法进行详细说明：

1、形成入射光路。由激光收发装置60的发射模块61产生激光光束，激光光束依次经过半透半反镜11、作为第一反射镜12的离轴反射镜和第二反射镜13后，光束被聚焦成像在作为第一成像设备20的十字标尺上。在该入射光路中，离轴反射镜的作用为聚焦。

2、反射光路的形成。十字标尺表面镀了分光膜，具有分光功能，所以上述入射光路的光束被分成两部分：透射光线(对应于十字尺的透射光路)和反射光线(对应于十字尺的反射光路)。相对于散射方式或漫反射方式，此分光方式有利于能量的聚集，不需要光斑增强技术就可以使监控画面明亮、清晰。

3、十字标尺的透射光路。

聚焦成像在第一成像设备20(十字标尺)上的第一光斑由相机监控。

通过调试发射模块61的光学系统，当相机上的第一光斑的尺寸最小(可以根据经验或者其他方式设定一个预设值，当光斑尺寸小于等于预设值时)最清晰，且位于十字标尺的中心，横平竖直，与十字重合，此时就调好了准直和角度，即调试好了发射模块61，然后锁紧发射模块61。

这样，通过相机实时观测十字标尺上的第一光斑的尺寸，可达到监控激光收发装置的发射模块61的准直程度、俯仰角、倾斜程度等指标的目的。

4、十字标尺的反射光路。调好发射模块61以后，就可以利用十字标尺的反射光路，来调试激光收发装置60的接收模块62。十字标尺的反射光线，依次经过第二反射镜13、离轴反射镜和半透半反镜11后，被准直为平行光束，然后进入激光收发装置60的接收模块62，被接收模块的光学系统进行聚焦。十字标尺的反射光路和入射光路，构成了激光收发装置的光线收发过程。

在该反射光路中，离轴发射镜的作用为准直。

5、激光收发装置中，接收模块62的探测器(APD)的反射光路。经探测器反射的反射光线穿过接收模块62的光学系统，进入半透半反镜11，发生部分反射，其反射光线被作为第二成像设备的相机接收成像，形成第二光斑。

在操作人员调试接收模块62的光学系统的过程中，需要实时观测第二光斑的大小，如果第二光斑能够全部平行移入APD的光敏面中(即此时的第二光斑的尺寸最小)，且第二光斑的质心与探测器(APD)的感光面的中心重合，那么说明，接收模块62中的接收镜头622相对于探测器的位置已经调试好，即可锁紧接收模块62。至此，激光收发装置的调试完毕。

上述过程中，激光收发装置、第一成像设备20和第二成像设备均与电脑终端50连接，从而能够实时对第一光斑和第二光斑的各项指标进行评判，通过换算，达到对调测过程的量化监测。

利用本实施例的光学调试系统可以实现宽波段的各类激光收发装置的连续调测，调测范围是0.4um至12um。

从以上的描述中，可以看出，通过调试发射模块的光学系统，当相机上的第一光斑的尺寸最小(可以根据经验或者其他方式设定一个预设值，当光斑尺寸小于等于预设值时)最清晰，且位于十字标尺的中心，横平竖直，与十字重合，此时就调好了准直和角度，即调试好了发射模块，然后锁紧发射模块。这样，通过相机实时观测十字标尺上的第一光斑的尺寸，可达到监控激光收发装置的发射光路的准直程度、俯仰角、倾斜程度等指标的目的。在操作人员调试接收模块的光学系统的过程中，需要实时观测第二光斑的大小，如果第二光斑能够全部平行移入APD的光敏面中(即此时的第二光斑的尺寸最小)，且第二光斑的质心与探测器(APD)的感光面的中心重合，那么说明，发射模块中的接收镜头相对于探测器的位置已经调试好，即可锁紧接收模块。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施例，而非意图限制根据本申请的示例性实施例。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种激光收发装置的调试方法，所述激光收发装置(60)包括发射模块(61)和接收模块(62)，其特征在于，所述调试方法包括：

获取所述发射模块(61)发出的激光束通过至少两次折转后，聚焦在第一成像设备(20)的成像面上形成的第一光斑；

根据所述第一光斑的大小和/或位置，调整所述发射模块(61)的发射光路；

经过至少两次折转后的部分所述激光束在所述第一成像设备(20)处反射后，被所述接收模块(62)反射并聚焦在第二成像设备上形成第二光斑；

根据所述第二光斑的大小和/或位置，调整所述接收模块(62)的接收光路。

2.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述调试方法还包括实时监测所述第一光斑的尺寸大小的步骤。

3.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述调整所述发射模块(61)的发射光路的步骤包括调试所述发射模块(61)的发射镜头与激光二极管之间距离的调试步骤，所述调试方法还包括判断所述第一光斑的尺寸是否小于等于预设值的第一判断步骤，如果是，则执行结束步骤，如果否，则重复执行所述调试步骤。

4.根据权利要求3所述的调试方法，其特征在于，所述调试方法还包括判断所述第一光斑的质心与所述第一成像设备(20)的十字中心是否重合的第二判断步骤，如果是，则执行所述结束步骤，如果否，则重复执行调试发射模块(61)的发射镜头与激光二极管之间距离的调试步骤。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的调试方法，其特征在于，所述调试方法还包括通过第二图像采集设备获取所述第二光斑，调整所述接收模块(62)的接收光路的步骤包括使得所述第二光斑能够平行移入所述接收模块(62)的探测器的光敏面中，且所述第二光斑的质心与所述探测器的光敏面的中心重合。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的调试方法，其特征在于，所述调试方法还包括：所述激光束经半透半反镜(11)透射后依次经第一反射镜(12)和第二反射镜(13)反射，经所述第二反射镜(13)反射后的光线聚焦在第一成像设备(20)的成像面上形成所述第一光斑。

7.一种光学调试系统，其特征在于，用于对激光收发装置进行调试，所述光学调试系统包括：

光路折转系统(10)，用于对待调试的激光收发装置的发射模块(61)发射的激光束进行至少两次折转；

第一成像设备(20)；

第二成像设备；以及

分光膜，设置在所述第一成像设备(20)上，所述分光膜用于将经所述光路折转系统(10)反射后的光束分成透射光线和反射光线；

其中，所述透射光线在所述第一成像设备(20)上聚焦形成第一光斑，基于反射原理，所述反射光线经所述光路折转系统(10)反射后进入接收模块(62)，进入所述接收模块(62)的部分光线被所述接收模块(62)反射并在所述第二成像设备上形成第二光斑，根据所述第一光斑的尺寸和/或位置以及所述第二光斑的尺寸能够依次对所述发射模块(61)的发射光路和所述接收模块(62)的接收光路进行装调。

8.根据权利要求7所述的光学调试系统，其特征在于，所述光路折转系统(10)包括沿着光路依次设置的半透半反镜(11)，第一反射镜(12)和第二反射镜(13)，所述第二反射镜(13)位于所述半透半反镜(11)和所述第一反射镜(12)之间，所述激光束经所述半透半反镜(11)透射后依次经所述第一反射镜(12)和所述第二反射镜(13)反射，并在所述第一成像设备(20)上形成所述第一光斑，所述第一反射镜(12)用于将所述反射光线准直为平行光束，所述第二成像设备位于所述半透半反镜(11)的一侧，以使进入所述接收模块(62)的光线经所述半透半反镜(11)反射后成像在所述第二成像设备上。

9.根据权利要求7所述的光学调试系统，其特征在于，

所述光学调试系统还包括用于获取所述第一光斑的第一图像采集设备(30)以及与所述第一图像采集设备(30)连接的图像监测部，所述图像监测部根据所述第一图像采集设备(30)采集到的图像调整所述发射模块(61)中发射镜头与激光二极管之间的距离；或者，

所述光学调试系统还包括第二图像采集设备(40)，所述第二图像采集设备(40)用于获取所述第二光斑。

10.根据权利要求8所述的光学调试系统，其特征在于，所述第一反射镜(12)为离轴反射镜，第一图像采集设备(30)和/或第二图像采集设备(40)为相机；或者，所述第一成像设备(20)和/或所述第二成像设备为十字标尺。

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