CN111487294A - 一种金属探伤方法及系统 - Google Patents

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CN111487294A CN201911317932.8A CN201911317932A CN111487294A CN 111487294 A CN111487294 A CN 111487294A CN 201911317932 A CN201911317932 A CN 201911317932A CN 111487294 A CN111487294 A CN 111487294A
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Abstract

本发明公开了一种金属探伤方法及系统。该方法包括：向待测金属施加多频电磁场；检测在各频率下的待测金属所在位置的电磁场强度，并提取电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；联立各频率下的特性未知的电阻分量与感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性得到已知特性的电阻分量和感抗分量；利用相位旋转相减法对各频率下已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；将去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；将幅值强度与相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。本发明能够实现对多个干扰因素的抑制，提高探伤的准确度。

Description

一种金属探伤方法及系统
技术领域
本发明涉及探伤领域，特别是涉及一种金属探伤方法及系统。
背景技术
金属探伤领域中，目前仪器多数采用单一维度、单一频率进行涡流无损检测，检测结果往往不能达到令人非常满意的程度，总有一些缺陷无法检测。
在传统检测中，缺陷存在不同的位置，长宽深都不同，1K～10K的范围大致能检测近表面深度0.3mm内的缺陷，但对表面处的微小缺陷不够灵敏，而100K～500K的频率对检测表面缺陷灵敏度极高，但因频率高，电磁波无法渗透下去，对近表面缺陷不敏感。
涡流检测过程中，主要通过测量线圈阻抗的变化以检测出导体材料受检工件的缺陷，但是线圈阻抗的影响因素有很多，如工件的磁导率，温度，电导率等，并且各种影响因素的大小不一样。有时候在一次探测中需要同时获得所测试件的多个参数。比如在热交换器管道上使用在役检测时，邻近的支撑板、管板等结构件会形成非常大的干扰，用单频涡流很难准确的检测出缺陷；又如对于汽轮机叶片、大轴中心孔和航空发动机叶片的表面裂纹、螺纹孔内裂纹、飞机的起落架等具有多种干扰因素待排除。而传统的无损探测实验使用的是单一的频率，与之相对应的鉴相方法也是使用的单一频率，这种一次只能鉴别样板的两个参数，也就只可抑制其中的一个干扰因素，无法满足检测要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种金属探伤方法及系统，实现对多个干扰因素的抑制，提高探伤的准确度。
为实现上述目的，本发明提供了如下方案：
一种金属探伤方法，包括：
向待测金属施加多频电磁场；
检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；
联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量；
利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；
将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；
将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
可选的，所述利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量，具体包括：
针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率；
利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数；
利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量；
利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
可选的，所述将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小，具体包括：
将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹；
对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
可选的，所述多频电磁场的频率范围为1KHz～1MHz。
一种金属探伤系统，包括：
磁场施加模块，用于向待测金属施加多频电磁场；
检测与提取模块，用于检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；
线性代数模块，用于联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量；
相位旋转相减模块，用于利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；
时频转换模块，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；
缺陷程度确定模块，用于将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
可选的，所述相位旋转相减模块包括：
主辅频率确定单元，用于针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率；
变换系数计算单元，用于利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数；
转换单元，用于利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量；
去干扰单元，用于利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
可选的，所述时频转换模块包括：
轨迹描绘单元，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹；
解析单元，用于对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
可选的，所述多频电磁场的频率范围为1KHz～1MHz。
根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：本发明所提供的金属探伤方法及系统，通过向待测金属施加多频电磁场，并检测多频电磁场的电场强度，进而提取特性未知的电阻分量和感抗分量，并利用线性代数法和相位旋转相减法提取各频率下的电阻分量和感抗分量的特性，最后利用时频转换实现幅值强度和相位大小的计算，进而确定出缺陷程度。该方法及系统基于多频电场，采用多个频率的扫描结果进行综合运算，能够实现对多个干扰因素的抑制，提高探伤的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例1的金属探伤方法的方法流程图；
图2为本发明实施例2的金属探伤系统的系统结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
实施例1：
本实施例的原理如下：
采用宽频段1KHZ—1MHz的扫频频率，通过不同频率下，探头扫描回传的检测数据，得到多维数据，通过分析多维数据，得到对应的数据结果。
E1＝A11P11+A12P12+…+A1nP1n
E2＝A21P21+A22P22+…+A2nP2n
En＝An1Pn1+An2Pn2+…+AnnPnn
Ei(i＝1，2，3，...，n)表示每个激励频率下，探头感应得到的电磁场强度；Ai表示每个激励频率下，电磁场强度的信号幅值强度；Pi表示每个激励频率下，电磁场强度的信号相位大小。
通过解析多维数据得到多维的数据结果Ei∝AiPi，从中提取所需的缺陷信息。
Figure BDA0002326355530000051
(Xi，Yi)为电磁场强度的两个阻抗分量，即电阻分量和感抗分量。
根据所检测的信号包含干扰，则
Ei＝Wi(S)+Ti(N)
Wi(S)分别代表Fi频率下的缺陷响应；
Ti(N)分别代表Fi频率下的某一干扰源的响应。
Wi(S)通过增益放大及相位旋转后能够得到和Ti(N)相同的响应结果，如下式：
δiWi(S)＝Ti(N)
δi表示Fi频率下的频率调节因子。
综上可得：
Ei＝∑AiPi＝Wi(S)+δiWi(S)
因此可得到得到缺陷信号Wi(S)。
基于以上原理，可以计算出不同频率下的各个缺陷信号响应，实现缺陷检测，不会出现在单一频率下的无缺陷响应现象。
图1为本发明实施例1的金属探伤方法的方法流程图。
参见图1，该金属探伤方法，包括：
步骤101：向待测金属施加多频电磁场。多频电磁场由多频信号发生器施加。
步骤102：检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量。
通过探头实现对电磁场强度信号的检测，检测到的电磁场信号是携带有待测金属的参数的信号，待测金属的参数包括但不限于电导率、磁导率、尺寸、温度等。在检测到电磁场强度信号后，按频谱的不同对各电磁场强度信号进行分类，从而将对应频谱的电磁场强度信号送入对应的滤波器。每种频谱对应一个滤波器，划分的频谱的类别或滤波器的数量大于或等于待测金属的参数种类的数量。每个滤波器对应一个检波器，滤波器滤波后将滤波后的信号送入对应的检波器。同时每个检波器均接收来自多频信号发生器的基准信号。检波器为用于正交检测的检波器，基准信号是用于实现正交检测的基准信号。经检波器输出的信号是特性未知的电阻分量和感抗分量。
步骤103：联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量。
以两个频率激励为例进行说明，每个频率包含两个分量x和y，分别代表涡流传感器阻抗的电阻分量和感抗分量，与作用参数的线性关系可表示如下：
x1＝a11P1+a12P2+a13P3+a14P4
y1＝a21P1+a22P2+a23P3+a24P4
x2＝a31P1+a32P2+a33P3+a34P4
y2＝a41P1+a42P2+a43P3+a44P4
式中，x1为第一频率下阻抗的电阻分量，y1为第一频率下阻抗的感抗分量，x2为第二频率下阻抗的电阻分量，y2为第二频率下阻抗的感抗分量，P1、P2、P3、P4为待测金属的作用参数，aij为耦合系数。
表示成矩阵形式如下：
AP＝C
Figure BDA0002326355530000071
A是未知量，C是可以由检测到的参数直接计算得到的参数。为了得到未知量A，在检测之前，可以首先确定作用参数P，根据检测信号确定涡流信号参数C，对A进行反复校准。如果A确定以后，对于实际的待测金属，作用参数P可以根据下式进行分离和检测。
P＝A-1C
由于在多参数检测过程中，需要的是实际变量分离，并不需要得到整个方程的解。因此，可以用A的伴随阵adj[A]代替A的逆矩阵A-1：
P＝adj[A]C
P1＝b11x1+b12y1+b13x2+b14y2
P1＝b21x1+b22y2+b23x3+b24y4
P2＝b31x1+b32y2+b33x3+b34y4
P2＝b41x1+b42y2+b43x3+b44y4
bi1为解耦系数。
步骤104：利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。具体包括：
1、针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率。
相位旋转相减法主要用来抑制不需要的干扰信号。在多频涡流检测过程中，确定主检测频率后，还需要选定一个优化的辅助频率，辅助频率对干扰信号的敏感程度大于主检测频率。例如在管道检测过程中，低频激励信号对外部支撑干扰敏感，而高频激励信号对探头晃动敏感。
2、利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数。
为了实现对干扰信号的抑制，必须对辅助频率的阻抗图进行位移、旋转和尺度变换，使其干扰信号的阻抗图类似于主检测频率中干扰信号的阻抗图，变换之后的辅助频率阻抗图和主检测频率阻抗图进行相减来抑制干扰信号。
辅助频率检测数据的两个分量为xa和ya，两个分量对应的变换系数包括尺度变换系数Sx、Sy为，位移变换系数Tx、Ty为，θ为旋转变换系数。定义主检测频率信号矢量为Cp，辅助检测频率信号矢量为Ca，变换函数为A，则变换输出可以表示为：
C'a＝Ca*A(Sx，Sy，Tx，Ty，θ)
误差函数E1s为：
E1s＝||C′a-CP||2＝||CaA-Cp||2
式中，|| ||2为欧几里德范数。
变换系数通过使误差函数值最小得到，可以通过求解下式确定：
Figure BDA0002326355530000081
Figure BDA0002326355530000082
Figure BDA0002326355530000083
Figure BDA0002326355530000091
Figure BDA0002326355530000092
3、利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量。
首先，通过Sx和Sy和进行尺度变换，使主检测频率和辅助频率分量中干扰信号的幅值相同；其次，进行θ角度的顺时针旋转变换，使两个频率分量中干扰信号的方向一致；再次，进行Tx和Ty大小的位移变换，使两个频率分量处在同一位置。
4、利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
用主检测频率的数据减去辅助频率变换之后的数据，得到干扰抑制后的输出信号。
xr＝xp-[(Sxxacosθ+Syyasinθ)]-Tx
yr＝yp-[(-Sxxasinθ+Syyacosθ)]-Ty
式中，xp为主检测频率阻抗的电阻分量，yp为主检测频率阻抗的感抗分量，xa为辅助检测频率阻抗的电阻分量，ya为辅助检测频率阻抗的感抗分量，xr为变换后阻抗的电阻分量，yr为变换后阻抗的感抗分量。
步骤105：将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小。具体包括：
1、将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹。
将电阻分量与感抗分量用正交法组成坐标系，并将阻抗分量与感抗分量的变化组成轨迹。
2、对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
步骤106：将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
对样件进行当量标定，即类似0.1mm、0.2mm等深度的缺陷的幅值强度和相位大小做记录。在实际过程中，进行分析，对比，通过与标定当量之间的关系，从而确定缺陷的的深度。
实施例2：
该实施例2提供一种金属探伤系统。
图2为本发明实施例2的金属探伤系统的系统结构图。
一种金属探伤系统，包括：
磁场施加模块201，用于向待测金属施加多频电磁场；
检测与提取模块202，用于检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；
线性代数模块203，用于联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下的电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量；
相位旋转相减模块204，用于利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；
时频转换模块205，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；
缺陷程度确定模块206，用于将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
可选的，所述相位旋转相减模块204包括：
主辅频率确定单元，用于针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率；
变换系数计算单元，用于利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数；
转换单元，用于利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量；
去干扰单元，用于利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
可选的，所述时频转换模块205包括：
轨迹描绘单元，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹；
解析单元，用于对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
可选的，所述多频电磁场的频率范围为1KHz～1MHz。
根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：本发明所提供的金属探伤方法及系统，通过向待测金属施加多频电磁场，并检测多频电磁场的电场强度，进而提取特性未知的电阻分量和感抗分量，并利用线性代数法和相位旋转相减法提取各频率下电阻分量和感抗分量的特性，最后利用时频转换实现幅值强度和相位大小的计算，进而确定出缺陷程度。该方法及系统基于多频电场，采用多个频率的扫描结果进行综合运算，能够实现对多个干扰因素的抑制，提高探伤的准确度。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (8)

1.一种金属探伤方法，其特征在于，包括：
向待测金属施加多频电磁场；
检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；
联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量；
利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；
将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；
将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
2.根据权利要求1所述的金属探伤方法，其特征在于，所述利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量，具体包括：
针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率；
利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数；
利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量；
利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
3.根据权利要求1所述的金属探伤方法，其特征在于，所述将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小，具体包括：
将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹；
对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
4.根据权利要求1所述的金属探伤方法，其特征在于，所述多频电磁场的频率范围为1KHz～1MHz。
5.一种金属探伤系统，其特征在于，包括：
磁场施加模块，用于向待测金属施加多频电磁场；
检测与提取模块，用于检测在各频率下的所述待测金属所在位置的电磁场强度，并提取所述电磁场强度中的特性未知的电阻分量和感抗分量，得到各频率下特性未知的电阻分量与感抗分量；
线性代数模块，用于联立各频率下的所述特性未知的电阻分量与所述感抗分量，利用线性代数法计算各频率下电阻分量和感抗分量的特性，得到已知特性的电阻分量和感抗分量；
相位旋转相减模块，用于利用相位旋转相减法对各频率下所述已知特性的电阻分量和感抗分量的特性进行去干扰处理，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量；
时频转换模块，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量进行时频转换，得到频域上的幅值强度和相位大小；
缺陷程度确定模块，用于将所述幅值强度与所述相位大小与已知缺陷的幅值强度和相位大小进行对比，确定缺陷程度。
6.根据权利要求5所述的金属探伤系统，其特征在于，所述相位旋转相减模块包括：
主辅频率确定单元，用于针对各个待抑制干扰，确定抑制所述待抑制干扰所需的主检测频率和辅助频率；
变换系数计算单元，用于利用最小二乘法确定所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量以所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数为目标进行转换时的变换系数；
转换单元，用于利用所述变换系数将所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量进行转换，使所述辅助频率下的电阻分量与感抗分量的参数与所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的参数相同，得到转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量；
去干扰单元，用于利用所述转换后的辅助频率下的电阻分量与感抗分量去除所述主检测频率下的电阻分量与感抗分量的特性中的待抑制干扰，得到去干扰后的电阻分量与感抗分量。
7.根据权利要求5所述的金属探伤系统，其特征在于，所述时频转换模块包括：
轨迹描绘单元，用于将所述去干扰后的电阻分量与感抗分量的变化描绘成变化轨迹；
解析单元，用于对所述变化轨迹进行解析，从而得到频域上的幅值强度和相位大小。
8.根据权利要求5所述的金属探伤系统，其特征在于，所述多频电磁场的频率范围为1KHz～1MHz。
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