CN111382036A - 一种自动生成ddr芯片测试标准报告的方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明属于芯片技术领域，公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括：获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。相应的，本发明还公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统。实施本发明，可以规避之前人工手动查找测试标准的所有弊端，报告质量较好，成本较低，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。

Description

一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统
技术领域
本发明涉及芯片技术领域，特别涉及一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统。
背景技术
DDR，即DDR SDRAM，已广泛应用于电子产品中。目前，业内硬件测试工程师对DDR芯片测试标准的查询，都是需要通过手动查找DDR芯片datasheet(数据表)来实现，具体步骤为：硬件测试工程师要完成一个DDR芯片测试项目，然后根据对应料号DDR芯片的datasheet(数据表)查找所需测试标准，如果实际应用DDR时钟频率和DDR芯片的datasheet(数据表)时钟频率刚好吻合，可以手动将具体的测试标准查找梳理填写到test data(测试数据)表格中的Criteria(条件)中；还有另外一种情况是在实际应用的DDR时钟频率和datasheet(数据表)中DDR的时钟频率不匹配，需要重新查找与实际时钟DDR时钟匹配的DDRdatasheet(数据表)，以上两种情况再操作上都会耗费巨大人力和资源成本，有时候大量数据比对，会出现数据层次错位，造成判据异常，该步骤则需要反复执行，人为性工作费时，繁琐，易出错，报告质量不佳。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。
本发明的目的通过下述技术方案实现：
一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括，
获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；
计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
进一步的，在生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告之前，还包括：
如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
进一步的，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
进一步的，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。
进一步的，在所述获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率之前，还包括：
获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
本发明的方法可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找；避免了人为性工作的费时、繁琐、易出错，操作简单快捷，报告质量较好，成本较低。
相应的，本发明还提供一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，包括：
时钟频率获取模块，用于获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；
数据时钟计算模块，用于计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
测试标准指标获取模块，用于根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
报告获取模块，用于生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
进一步的，在所述报告获取模块之前，还包括：
测试标准指标再次获取模块，用于如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
进一步的，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
进一步的，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。
进一步的，在所述时钟频率获取模块之前，还包括：
芯片等级获取模块，用于获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
数据表获取模块，用于在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
本发明相对于现有技术具有如下的优点及效果：本发明实现自动查找DDRdatasheet(数据表)测试标准，并自动生成测试标准报告：将测试标准自动填写到testdata(测试数据)表格中的Criteria(条件)，自动生成测试标准报告方法规避了之前人工手动查找DDR datasheet(数据表)测试标准的所有弊端。
附图说明
图1为本发明提供的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法实施例的流程图；
图2为本发明提供的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统实施例的结构框图。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文在说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。
参见图1，为本发明提供的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法实施例的流程图。本实施例中的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括：
S1、获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率(“CLK值”)；
S2、计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
S3、根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表(DDR datasheet)，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
S4、生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
在上述步骤S4之前，还包括：
如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
其中，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。在上述步骤S1之前，还包括：
获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
在预先配置的DDR数据库(DDR datasheet library)中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
DDR芯片等级，例如DDR1,DDR2,DDR3,DDR4…依据DDR更新换代来附加数据库。
本发明的方法可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找；避免了人为性工作的费时、繁琐、易出错，操作简单快捷，报告质量较好，成本较低。
参见图2，为本发明提供的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统实施例的结构框图。本实施例中的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，包括：
时钟频率获取模块1，用于获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；
数据时钟计算模块2，用于计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
测试标准指标获取模块3，用于根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
报告获取模块4，用于生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
所述自动生成DDR芯片测试标准报告的系统的运行环境如下：基于Robot自动化平台，Windows XP及以上操作系统；安装Python V 2.7.2.5；Office 2007版本及以上；安装Robot主控端V3.0.2。
其中，在报告获取模块4之前，还包括：
测试标准指标再次获取模块，用于如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
一般的，如果DDR数据库中不存在对应所述DDR数据时钟的常规DDR数据时钟，系统会弹出“Datasheet library doesn’t find(数据库查找不到相关数据)”，此时，用户可以根据临近DDR数据时钟，继续查找与所述DDR数据时钟接近的常规DDR数据时钟，直到查询到符合的为止。
其中，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。例如，在一实施例中，当DDR3芯片的时钟频率为800时，对应的DDR数据时钟为1600。
具体的，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。例如，在一实施例中，当DDR3芯片的时钟频率为333.5时，根据计算，其对应的DDR数据时钟为667，但是在查找DDR数据库过程中，DDR数据库中不存在对应333.5的DDR数据时钟667；由于DDR3最低时钟频率为400M，即对应DDR-800，所以临近DDR数据时钟为800，查询到DDR数据库中存在对应的DDR数据时钟DDR3-800。
在进一步的方案中，在时钟频率获取模块1之前，还包括：
芯片等级获取模块，用于获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
数据表获取模块，用于在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
本发明实现自动查找DDR datasheet(数据表)测试标准，并自动生成测试标准报告：将测试标准自动填写到test data(测试数据)表格中的Criteria(条件)，自动生成测试标准报告方法规避了之前人工手动查找DDR datasheet(数据表)测试标准的所有弊端。
上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，包括，
获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；
计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
2.根据权利要求1所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，在生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告之前，还包括：
如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
3.根据权利要求2所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
4.根据权利要求1或2所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。
5.根据权利要求2所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，在所述获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率之前，还包括：
获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
6.一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，其特征在于，包括：
时钟频率获取模块，用于获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；
数据时钟计算模块，用于计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；
测试标准指标获取模块，用于根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；
报告获取模块，用于生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。
7.根据权利要求6所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，其特征在于，在所述报告获取模块之前，还包括：
测试标准指标再次获取模块，用于如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标。
8.根据权利要求7所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，其特征在于，所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
9.根据权利要求6或7所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，其特征在于，所述DDR数据时钟为所述时钟频率的两倍。
10.根据权利要求7所述的自动生成DDR芯片测试标准报告的系统，其特征在于，在所述时钟频率获取模块之前，还包括：
芯片等级获取模块，用于获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；
数据表获取模块，用于在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表。
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