CN111294831A - Smtc实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端 - Google Patents

Smtc实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端 Download PDF

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Abstract

一种SMTC实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端，所述方法包括：确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。本发明方案可以减少判断频率，并且降低相应的测量次数，从而降低功耗。

Description

SMTC实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种SMTC实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端。
背景技术
在3GPP关于长期演进(Long Term Evolution，LTE)的协议中有测量间隙(GAP)的概念，基站配置测量GAP给用户终端(User Equipment，UE)，UE利用测量GAP中配置的周期性测量窗口进行异频测量及异系统测量。
在3GPP关于新无线(New Radio，NR)的RAN1研究中已经提出了基于同步信号块的测量时间配置(SS block based RRM measurement timing configuration，SMTC)的概念，包括SMTC测量窗口的测量周期(Period)、时域偏移(Offset)以及持续时间(Duration)等信息。
在3GPP关于NR的研究中，基站发送同步信号块(SS block，SSB)的周期可以是不一样的，也即所述SMTC测量窗口的周期也可以是不一样的，例如所述SMTC测量窗口的测量周期可以为如下备选值之一：5ms、10ms、20ms、40ms、80ms、160ms；所述GAP测量窗口的周期也可以是不一样的，例如可以为如下备选值之一：20ms、40ms、80ms、160ms。
在这种灵活配置下，所述SMTC测量窗口与GAP测量窗口可能存在重叠，例如可以完全不重叠或部分重叠。具体地，所述SMTC测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠用于指示任意一个SMTC测量窗口与GAP测量窗口均不重叠，所述SMTC测量窗口与GAP测量窗口部分重叠用于指示SMTC测量窗口的数目多于GAP测量窗口的数目，且部分SMTC测量窗口与GAP测量窗口重叠。
在具体实施中，需要对SMTC测量窗口和GAP测量窗口相重叠的部分去除，否则占用GAP资源。进而在去除和GAP测量窗口重叠部分的SMTC测量窗口后，剩下的SMTC测量窗口可以作为同频测量开窗位置进行实际测量。
然而，在现有技术中，需要对每个SMTC初始测量窗口，都判断为该SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口不重叠时，才能确定为SMTC实际测量窗口，从而进行测量，导致判断频率过于频繁，相应的测量次数过多，以致功耗增大。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种SMTC实际测量窗口的确定方法及装置、存储介质、用户终端，可以减少判断频率，并且降低相应的测量次数，以及使得测量能够在测量周期内均匀分布，从而降低功耗。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SMTC实际测量窗口的确定方法，包括以下步骤：确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
可选的，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第一预设周期；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。
可选的，所述第一预设周期为40ms。
可选的，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第二预设周期的两倍；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期的两倍。
可选的，所述第二预设周期为20ms。
可选的，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：确定任意一个SMTC实际测量窗口作为所述第一个SMTC实际测量窗口。
可选的，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：确定与所述GAP测量窗口重叠的任意一个SMTC初始测量窗口为SMTC重叠窗口；确定所述SMTC重叠窗口的下一个SMTC初始测量窗口为所述第一个SMTC实际测量窗口。
可选的，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口包括：以所述第一个SMTC实际测量窗口为所述预设的测量周期内的第一个实际测量窗口，然后每当间隔所述实际测量周期确定SMTC实际测量窗口，直至在所述预设的测量周期内确定所有SMTC实际测量窗口。
可选的，所述预设的测量周期满足下述公式：
Meas_period％MGRP＝0；
Meas_period％SMTC＝0；
10240％Meas_period＝0；
其中，Meas_period表示所述预设的测量周期，MGRP表示GAP测量窗口的测量周期，SMTC表示SMTC初始测量窗口的测量周期。
可选的，所述预设的测量周期为160ms。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SMTC实际测量窗口的确定装置，包括：重叠信息确定模块，适于确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；实际测量周期确定模块，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；第一个实际测量窗口确定模块，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；所有实际测量窗口确定模块，适于根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种用户终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行上述SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。
与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：
在本发明实施例中，确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。采用上述方案，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口，可以提前确定预设的测量周期内所有用于测量的SMTC的实际测量窗口，不需要对每个初始测量窗口，都实时确定与GAP窗口是否重叠，有助于减少判断频率，并且降低相应的测量次数，以及使得测量能够在测量周期内均匀分布，从而降低功耗。
附图说明
图1是本发明实施例中一种SMTC实际测量窗口的确定方法的流程图；
图2是本发明实施例中一种SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠的工作场景示意图；
图3是本发明实施例中一种SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠的工作场景示意图；
图4是本发明实施例中一种SMTC实际测量窗口的确定装置的结构示意图。
具体实施方式
如前所述，基站配置测量GAP给UE，因此UE需要对SMTC测量窗口和GAP测量窗口相重叠的部分去除，否则占用GAP资源。进一步地，在去除和GAP测量窗口重叠部分的SMTC测量窗口后，剩下的SMTC测量窗口可以作为同频测量开窗位置进行实际测量。
本发明的发明人经过研究发现，在现有技术中，需要对每个SMTC初始测量窗口，都实时判断该SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口是否重叠，不重叠时才能确定为SMTC实际测量窗口，从而进行测量，由于不能提前预测，而是需要实时判断，导致判断频率过于频繁，功耗增大。
在本发明实施例中，确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。采用上述方案，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口，可以提前确定预设的测量周期内所有用于测量的SMTC的实际测量窗口，不需要对每个初始测量窗口，都实时确定与GAP窗口是否重叠，有助于减少判断频率，并且降低相应的测量次数，以及使得测量能够在测量周期内均匀分布，从而降低功耗。
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
参照图1，图1是本发明实施例中一种SMTC实际测量窗口的确定方法的流程图。所述SMTC实际测量窗口的确定方法可以用于UE侧，可以包括步骤S11至步骤S14：
步骤S11：确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；
步骤S12：根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；
步骤S13：根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；
步骤S14：根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
在步骤S11的具体实施中，确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠。
在具体实施中，按照NR标准3GPP38.133标准文档，需要判断SMTC和GAP的关系：
(1)SMTC和GAP可以完全不重叠，
(2)SMTC和GAP部分重叠
参照图2，图2是本发明实施例中一种SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠的工作场景示意图。
如图2所示，可以设置SMTC的持续时间(duration)为2ms，时域偏移(Offset)为0ms，测量周期(Period)为5ms；GAP的持续时间(duration)为2ms，时域偏移(Offset)为2ms，测量周期(Period)为10ms。
在图2示出的场景中，SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，可以确定SMTC实际测量窗口与GAP测量窗口也不会重叠。
参照图3，图3是本发明实施例中一种SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠的工作场景示意图。
如图3所示，可以设置SMTC的持续时间(duration)为2ms，时域偏移(Offset)为0ms，测量周期(Period)为5ms；GAP的持续时间(duration)为2ms，时域偏移(Offset)为2ms，测量周期(Period)为40ms。
需要指出的是，SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠的情况，通常指的是SMTC初始测量窗口多于GAP测量窗口，且其中一部分与GAP测量窗口相同的情况。
在图3示出的场景中，SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，可能会存在SMTC实际测量窗口与GAP测量窗口发生部分重叠的问题，则需要确定每个初始测量窗口与GAP窗口的重叠情况。
继续参照图1，在步骤S12的具体实施中，根据不同的重叠信息，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期的步骤可以不同。
如果所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，则根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期的步骤可以包括：如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第一预设周期；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。
在具体实施中，所述SMTC测量窗口的测量周期可以为如下备选值之一：5ms、10ms、20ms、40ms、80ms、160ms；所述GAP测量窗口的周期也可以是不一样的，例如可以为如下备选值之一：20ms、40ms、80ms、160ms。
在一个优选实施方案中，所述第一预设周期可以为40ms。
具体地，如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于40ms，例如为5ms、10ms、20ms，则可以设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于40ms；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于40ms，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。在具体实施中，相当于去除了测量周期为5ms、10ms、20ms的情况。
在本发明实施例中，通过对SMTC测量窗口的实际测量周期进行设置，有助于去除过于频繁的测量频率，也即可以使UE通过控制测量次数，降低功耗。
如果所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，则根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期的步骤可以包括：如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第二预设周期的两倍；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期的两倍。
在一个优选实施方案中，所述第二预设周期可以为20ms。
具体地，如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于20ms，例如为5ms、10ms，则可以设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于20ms的两倍，也即40ms；如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于20ms，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。在具体实施中，相当于去除了测量周期为5ms、10ms、20ms的情况。
在本发明实施例中，通过对SMTC测量窗口的实际测量周期进行设置，有助于去除过于频繁的测量频率，也即可以使UE通过控制测量次数，降低功耗。
在步骤S13的具体实施中，根据不同的重叠信息，以及所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口的步骤可以不同。
如果所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，则确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口的步骤可以包括：确定任意一个SMTC实际测量窗口作为所述第一个SMTC实际测量窗口。
如图2示出的工作场景中，可以看出任意一个SMTC实际测量窗口与所述GAP测量窗口均不重叠。
在本发明实施例中，确定任意一个SMTC实际测量窗口作为所述第一个SMTC实际测量窗口，即可以确保不发生重叠。
如果所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，则根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口的步骤可以包括：确定与所述GAP测量窗口重叠的任意一个SMTC初始测量窗口为SMTC重叠窗口；确定所述SMTC重叠窗口的下一个SMTC初始测量窗口为所述第一个SMTC实际测量窗口。
如图3示出的工作场景中，可以看出当一个SMTC实际测量窗口与GAP测量窗口重叠时，由于SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口为部分重叠，所述SMTC实际测量窗口的下一个窗口与GAP测量窗口会错开。
在本发明实施例中，通过确定所述SMTC重叠窗口的下一个SMTC初始测量窗口为所述第一个SMTC实际测量窗口，有助于降低发生重叠的可能性，甚至确保不发生重叠。
在步骤S14的具体实施中，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口的步骤可以包括：以所述第一个SMTC实际测量窗口为所述预设的测量周期内的第一个实际测量窗口，然后每当间隔所述实际测量周期确定SMTC实际测量窗口，直至在所述预设的测量周期内确定所有SMTC实际测量窗口。
在本发明实施例中，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口，可以提前确定预设的测量周期内所有用于测量的SMTC的实际测量窗口，不需要对每个初始测量窗口，都实时确定与GAP窗口是否重叠，有助于减少判断频率，并且降低相应的测量次数，以及使得测量能够在测量周期内均匀分布，从而降低功耗。
本发明的发明人经过研究进一步发现，所述预设的测量周期的选择具有重要意义。具体而言，所述预设的测量周期不应当过长，否则会增大计算负担；所述预设的测量周期不应当过短，否则重复后不能覆盖所有SMTC实际测量窗口，也就无法正确地预测后续SMTC实际测量窗口。
在具体实施中，所述预设的测量周期可以满足下述公式：
Meas_period％MGRP＝0；
Meas_period％SMTC＝0；
10240％Meas_period＝0；
其中，Meas_period表示所述预设的测量周期，MGRP表示GAP测量窗口的测量周期，SMTC表示SMTC初始测量窗口的测量周期。
根据上述公式，Meas_period可以为在160ms的倍数值中，能够被10240整除的数值，例如160ms，320ms等。
优选地，所述预设的测量周期可以为160ms。
在本发明实施例中，通过设置Meas_period为160ms，测量间隔为40ms，从而在160ms中可以开窗4次，每次开窗间隔为固定的40ms，均匀分布在测量周期内。进一步地，在10240ms也是重复出现10240/160＝64次。从而使得UE仅需要判断160ms的开窗情况即可，有助于降低计算负担。进一步地，所述开窗的位置在160ms内均匀分布，并且开窗位置确定，有助于更好地控制功耗。
另一方面，在本发明实施例中，在预设的测量周期内，所述SMTC实际测量窗口均匀分布，从而可以使UE只需要确定测量次数就可以计算出测量周期，进而上报测量结果，有助于进一步减少需要预先确定的信息，有利于减少信令开销。
进一步地，还可以对所述预设的测量周期内的SMTC实际测量窗口进行存储，从而可以避免对后续每个预设的测量周期进行确认时均需进行计算。
进一步地，还可以根据当前帧信息，更新下一帧SMTC实际测量窗口，从而可以根据预设的测量周期的SMTC实际测量窗口，确定当前帧的SMTC实际测量窗口，进而确定后续帧的SMTC实际测量窗口。
在本发明实施例中，可以设置同频测量SSB位于当前激活的下行BWP内，以对同频开窗的位置进行确定。
参照图4，图4是本发明实施例中一种SMTC实际测量窗口的确定装置的结构示意图。所述SMTC实际测量窗口的确定装置可以用于UE侧，还可以包括：
重叠信息确定模块41，适于确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；
实际测量周期确定模块42，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；
第一个实际测量窗口确定模块43，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；
所有实际测量窗口确定模块44，适于根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
在本发明实施例中，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口，可以提前确定预设的测量周期内所有用于测量的SMTC的实际测量窗口，不需要对每个初始测量窗口，都实时确定与GAP窗口是否重叠，有助于减少判断频率，从而降低功耗。
关于该SMTC实际测量窗口的确定装置的原理、具体实现和有益效果请参照前文及图1至图3示出的关于SMTC实际测量窗口的确定方法的相关描述，此处不再赘述。
需要指出的是，本发明技术方案可适用于5G(5Generation)通信系统，还可适用于未来新的各种通信系统，例如6G、7G等。
本发明实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行图1示出的SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。所述存储介质可以是计算机可读存储介质，例如可以包括非挥发性存储器(non-volatile)或者非瞬态(non-transitory)存储器，还可以包括光盘、机械硬盘、固态硬盘等。
具体地，在本发明实施例中，所述处理器可以为中央处理单元(centralprocessing unit，简称CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，简称DSP)、专用集成电路(application specificintegrated circuit，简称ASIC)、现成可编程门阵列(field programmable gate array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
还应理解，本申请实施例中的存储器可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory，简称ROM)、可编程只读存储器(programmable ROM，简称PROM)、可擦除可编程只读存储器(erasable PROM，简称EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(electricallyEPROM，简称EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random accessmemory，简称RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的随机存取存储器(random access memory，简称RAM)可用，例如静态随机存取存储器(staticRAM，简称SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、同步动态随机存取存储器(synchronousDRAM，简称SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate SDRAM，简称DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced SDRAM，简称ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(synchlink DRAM，简称SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus RAM，简称DR RAM)。
本发明实施例还提供了一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行图1示出的SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。所述终端包括但不限于手机、计算机、平板电脑等终端设备。
具体地，本申请实施例中的终端可以指各种形式的用户设备(user equipment，简称UE)、接入终端、用户单元、用户站、移动站、移动台(mobile station，建成MS)、远方站、远程终端、移动设备、用户终端、终端设备(terminal equipment)、无线通信设备、用户代理或用户装置。终端设备还可以是蜂窝电话、无绳电话、会话启动协议(Session InitiationProtocol，简称SIP)电话、无线本地环路(Wireless Local Loop，简称WLL)站、个人数字处理(Personal Digital Assistant，简称PDA)、具有无线通信功能的手持设备、计算设备或连接到无线调制解调器的其它处理设备、车载设备、可穿戴设备，未来5G网络中的终端设备或者未来演进的公用陆地移动通信网络(Public Land Mobile Network，简称PLMN)中的终端设备等，本申请实施例对此并不限定。
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (13)

1.一种SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；
根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；
根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；
根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
2.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：
如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第一预设周期；
如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第一预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期。
3.根据权利要求2所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述第一预设周期为40ms。
4.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期包括：
如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期小于等于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述第二预设周期的两倍；
如果所述SMTC初始测量窗口的测量周期大于第二预设周期，则设置SMTC测量窗口的实际测量周期等于所述SMTC初始测量窗口的测量周期的两倍。
5.根据权利要求4所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述第二预设周期为20ms。
6.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：
确定任意一个SMTC实际测量窗口作为所述第一个SMTC实际测量窗口。
7.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述重叠信息为SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口部分重叠，根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口包括：
确定与所述GAP测量窗口重叠的任意一个SMTC初始测量窗口为SMTC重叠窗口；
确定所述SMTC重叠窗口的下一个SMTC初始测量窗口为所述第一个SMTC实际测量窗口。
8.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口包括：
以所述第一个SMTC实际测量窗口为所述预设的测量周期内的第一个实际测量窗口，然后每当间隔所述实际测量周期确定SMTC实际测量窗口，直至在所述预设的测量周期内确定所有SMTC实际测量窗口。
9.根据权利要求1所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述预设的测量周期满足下述公式：
Meas_period％MGRP＝0；
Meas_period％SMTC＝0；
10240％Meas_period＝0；
其中，Meas_period表示所述预设的测量周期，MGRP表示GAP测量窗口的测量周期，SMTC表示SMTC初始测量窗口的测量周期。
10.根据权利要求9所述的SMTC实际测量窗口的确定方法，其特征在于，所述预设的测量周期为160ms。
11.一种SMTC实际测量窗口的确定装置，其特征在于，包括：
重叠信息确定模块，适于确定SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，所述重叠信息用于指示SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口完全不重叠或者部分重叠；
实际测量周期确定模块，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定SMTC实际测量窗口的实际测量周期；
第一个实际测量窗口确定模块，适于根据所述SMTC初始测量窗口与GAP测量窗口的重叠信息，确定与所述GAP测量窗口不重叠的第一个SMTC实际测量窗口；
所有实际测量窗口确定模块，适于根据所述SMTC实际测量窗口的实际测量周期以及所述第一个SMTC实际测量窗口，确定在预设的测量周期内的所有SMTC实际测量窗口。
12.一种存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令运行时执行权利要求1至10任一项所述SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。
13.一种用户终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令，其特征在于，所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至10任一项所述SMTC实际测量窗口的确定方法的步骤。
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