CN111257804A - 一种基于cvd钻石的高时间分辨率磁场测量设备 - Google Patents
一种基于cvd钻石的高时间分辨率磁场测量设备 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及磁场精密测量技术领域,且公开了一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体,机体通过电连接线电性连接有探头,探头内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石、单色激光器和微波线圈,机体的下端固定连接有底部设为开口的固定壳,固定壳靠近下端的内壁固定连接有托板,托板的上端和固定壳的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆,调节螺杆的下端贯穿伸出托板的下端且固定连接有转块。该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,具备实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的优点。
Description
技术领域
本发明涉及磁场精密测量技术领域,具体为一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备。
背景技术
磁场测量指空间或磁性材料中磁通、磁通密度、磁通势、磁场强度等的测量。是磁学量测量的内容之一。空间的磁通密度与磁场强度成比例关系,空间磁场强度的测量,实质上也是磁通密度的测量。因而用磁强计测量的实际上是磁通密度。磁场测量主要利用磁测量仪器进行。按照被测磁场的性质,磁场测量分为恒定磁场测量和变化磁场测量。
目前的磁场强度测量设备时间分辨率低,受到的限制较大,不能很好的满足实际磁场强度的测量需求。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,具备实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的优点,解决了目前的磁场强度测量设备时间分辨率低,受到的限制较大,不能很好的满足实际磁场强度的测量需求的问题。
(二)技术方案
为实现一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的目的,本发明提供如下技术方案:一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体,所述机体通过电连接线电性连接有探头,所述探头内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石、单色激光器和微波线圈,所述机体的下端固定连接有底部设为开口的固定壳,所述固定壳靠近下端的内壁固定连接有托板,所述托板的上端和固定壳的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆,所述调节螺杆的下端贯穿伸出托板的下端且固定连接有转块,所述调节螺杆的杆壁螺纹连接有升降螺环,所述升降螺环的侧壁均匀铰接有多根推拉杆,所述推拉杆远离升降螺环的一端转动连接有倾斜设置的稳固板,所述稳固板的一端通过固定壳侧壁开设的开口伸出固定壳外;
所述机体的上端固定连接有工形结构的绕线杆,所述机体的上端侧壁还固定连接有第一半圆环板,所述第一半圆环板的后侧一端铰接有第二半圆环板,所述第二半圆环板的前端外壁固定连接有连接块,所述连接块的一端延伸至第一半圆环板的外侧,所述第一半圆环板的前端外壁固定连接有两个关于连接块上下对称设置的卡块,所述连接块和卡块之间通过紧固机构固定卡接,所述探头的外壁固定套接有两个关于第一半圆环板和第二半圆环板上下对称设置的固定环板。
优选的,所述机体的外壁固定连接有弹性绑带。
优选的,所述绕线杆的上端侧壁通过转轴转动连接有限位转板,所述限位转板的下端侧壁固定连接有限位插块,所述绕线杆的下端侧壁开设有与限位插块对应插接的限位插槽。
优选的,所述紧固机构包括通过卡块表面开设的插孔活动插设在卡块侧壁的紧固杆,所述连接块的侧壁开设有与紧固杆对应插接的紧固槽,所述紧固杆的一端伸出卡块外且固定连接有紧固板,所述紧固板和卡块相向一侧侧壁之间固定连接有同一个套设在紧固杆外的紧固弹簧。
优选的,所述第一半圆环板和第二半圆环板的内壁均固定连接有一层防滑耐磨橡胶垫。
优选的,所述限位转板具体为弹性塑料板。
优选的,所述稳固板至少设有三个。
优选的,所述紧固杆靠近连接块的一侧杆壁设为斜面。
(三)有益效果
与现有技术相比,本发明提供了一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,具备以下有益效果:
1、该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,通过设有的CVD钻石,基于CVD钻石内NV中心测量磁场的原理,在进行磁场强度测量时,CVD钻石受到集成在探头内部的单色激光器的持续极化和微波线圈产生的微波持续操控,当探头内部的CVD钻石感受到外部磁场强度的变化时,会将外部场强信息编码到CVD钻石发出的荧光强度上,由于CVD钻石无需操控序列进行操控,其输出的磁场强度信息是时间连续的,从而实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求。
2、该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,通过设有的固定壳,在需要对机体进行稳定竖直放置使用的时候,转动转块,转块带动调节螺杆转动,利用调节螺杆和升降螺环的螺纹连接作用使得升降螺环下移,进而通过推拉杆推动稳固板,将稳固板推出固定壳外并使得稳固板的下端与固定壳的底端平齐实现对机体底部的稳固限位,使得机体的放置更加稳固,提高了结构稳定性。
3、该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,通过设有的绕线杆,在不需要进行相关操作时,将电连接线套接在绕线杆上,绕接完成后转动限位转板,使得限位插块对准限位插槽,通过限位转板的弹性力将限位插块稳固的插接在限位插槽内,能够对绕接的电连接线进行稳固限位,再将探头放入第一半圆环板内,使得两个固定环板位于第一半圆环板的上下两侧,翻转第二半圆环板,能够对探头进行稳固固定,此时连接块移动至两个卡块之间,紧固杆对准紧固槽,利用紧固弹簧的回拉力回拉紧固板,使得紧固杆稳固的插接在紧固槽内,能够对探头进行快速稳定放置,便于整体携带使用。
附图说明
图1为本发明提出的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备结构示意图;
图2为本发明提出的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备图1中A部的局部结构放大图;
图3为本发明提出的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备图1中B部的局部结构放大图;
图4为本发明提出的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备图1中C部的局部结构放大图。
图中:1机体、2电连接线、3探头、4CVD钻石、5单色激光器、6微波线圈、7固定壳、8托板、9调节螺杆、10转块、11升降螺环、12推拉杆、13稳固板、14绕线杆、15第一半圆环板、16第二半圆环板、17连接块、18卡块、19紧固机构、191紧固杆、192紧固槽、193紧固板、194紧固弹簧、20固定环板、21弹性绑带、22限位转板、23限位插块、24限位插槽。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4,一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体1,机体1通过电连接线2电性连接有探头3,探头3内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石4、单色激光器5和微波线圈6,机体1的下端固定连接有底部设为开口的固定壳7,固定壳7靠近下端的内壁固定连接有托板8,托板8的上端和固定壳7的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆9,调节螺杆9的下端贯穿伸出托板8的下端且固定连接有转块10,调节螺杆9的杆壁螺纹连接有升降螺环11,升降螺环11的侧壁均匀铰接有多根推拉杆12,推拉杆12远离升降螺环11的一端转动连接有倾斜设置的稳固板13,稳固板13的一端通过固定壳7侧壁开设的开口伸出固定壳7外;
机体1的上端固定连接有工形结构的绕线杆14,机体1的上端侧壁还固定连接有第一半圆环板15,第一半圆环板15的后侧一端铰接有第二半圆环板16,第二半圆环板16的前端外壁固定连接有连接块17,连接块17的一端延伸至第一半圆环板15的外侧,第一半圆环板15的前端外壁固定连接有两个关于连接块17上下对称设置的卡块18,连接块17和卡块18之间通过紧固机构19固定卡接,探头3的外壁固定套接有两个关于第一半圆环板15和第二半圆环板16上下对称设置的固定环板20。
机体1的外壁固定连接有弹性绑带21。
绕线杆14的上端侧壁通过转轴转动连接有限位转板22,限位转板22的下端侧壁固定连接有限位插块23,绕线杆14的下端侧壁开设有与限位插块23对应插接的限位插槽24。
紧固机构19包括通过卡块18表面开设的插孔活动插设在卡块18侧壁的紧固杆191,连接块17的侧壁开设有与紧固杆191对应插接的紧固槽192,紧固杆191的一端伸出卡块18外且固定连接有紧固板193,紧固板193和卡块18相向一侧侧壁之间固定连接有同一个套设在紧固杆191外的紧固弹簧194。
第一半圆环板15和第二半圆环板16的内壁均固定连接有一层防滑耐磨橡胶垫。
限位转板22具体为弹性塑料板。
稳固板13至少设有三个。
紧固杆191靠近连接块17的一侧杆壁设为斜面。
综上所述,该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,通过设有的CVD钻石4,基于CVD钻石4内NV中心测量磁场的原理,在进行磁场强度测量时,CVD钻石4受到集成在探头3内部的单色激光器5的持续极化和微波线圈6产生的微波持续操控,当探头3内部的CVD钻石4感受到外部磁场强度的变化时,会将外部场强信息编码到CVD钻石4发出的荧光强度上,由于CVD钻石4无需操控序列进行操控,其输出的磁场强度信息是时间连续的,从而实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求,通过设有的固定壳7,在需要对机体1进行稳定竖直放置使用的时候,转动转块10,转块10带动调节螺杆9转动,利用调节螺杆9和升降螺环11的螺纹连接作用使得升降螺环11下移,进而通过推拉杆12推动稳固板13,将稳固板13推出固定壳7外并使得稳固板13的下端与固定壳7的底端平齐实现对机体1底部的稳固限位,使得机体1的放置更加稳固,提高了结构稳定性,通过设有的绕线杆14,在不需要进行相关操作时,将电连接线2套接在绕线杆14上,绕接完成后转动限位转板22,使得限位插块23对准限位插槽24,通过限位转板22的弹性力将限位插块23稳固的插接在限位插槽24内,能够对绕接的电连接线进行稳固限位,再将探头3放入第一半圆环板15内,使得两个固定环板20位于第一半圆环板15的上下两侧,翻转第二半圆环板16,能够对探头3进行稳固固定,此时连接块17移动至两个卡块18之间,紧固杆191对准紧固槽192,利用紧固弹簧194的回拉力回拉紧固板193,使得紧固杆191稳固的插接在紧固槽192内,能够对探头13进行快速稳定放置,便于整体携带使用。
需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体(1),其特征在于:所述机体(1)通过电连接线(2)电性连接有探头(3),所述探头(3)内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石(4)、单色激光器(5)和微波线圈(6),所述机体(1)的下端固定连接有底部设为开口的固定壳(7),所述固定壳(7)靠近下端的内壁固定连接有托板(8),所述托板(8)的上端和固定壳(7)的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆(9),所述调节螺杆(9)的下端贯穿伸出托板(8)的下端且固定连接有转块(10),所述调节螺杆(9)的杆壁螺纹连接有升降螺环(11),所述升降螺环(11)的侧壁均匀铰接有多根推拉杆(12),所述推拉杆(12)远离升降螺环(11)的一端转动连接有倾斜设置的稳固板(13),所述稳固板(13)的一端通过固定壳(7)侧壁开设的开口伸出固定壳(7)外;
所述机体(1)的上端固定连接有工形结构的绕线杆(14),所述机体(1)的上端侧壁还固定连接有第一半圆环板(15),所述第一半圆环板(15)的后侧一端铰接有第二半圆环板(16),所述第二半圆环板(16)的前端外壁固定连接有连接块(17),所述连接块(17)的一端延伸至第一半圆环板(15)的外侧,所述第一半圆环板(15)的前端外壁固定连接有两个关于连接块(17)上下对称设置的卡块(18),所述连接块(17)和卡块(18)之间通过紧固机构(19)固定卡接,所述探头(3)的外壁固定套接有两个关于第一半圆环板(15)和第二半圆环板(16)上下对称设置的固定环板(20)。
2.根据权利要求1所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述机体(1)的外壁固定连接有弹性绑带(21)。
3.根据权利要求1所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述绕线杆(14)的上端侧壁通过转轴转动连接有限位转板(22),所述限位转板(22)的下端侧壁固定连接有限位插块(23),所述绕线杆(14)的下端侧壁开设有与限位插块(23)对应插接的限位插槽(24)。
4.根据权利要求1所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述紧固机构(19)包括通过卡块(18)表面开设的插孔活动插设在卡块(18)侧壁的紧固杆(191),所述连接块(17)的侧壁开设有与紧固杆(191)对应插接的紧固槽(192),所述紧固杆(191)的一端伸出卡块(18)外且固定连接有紧固板(193),所述紧固板(193)和卡块(18)相向一侧侧壁之间固定连接有同一个套设在紧固杆(191)外的紧固弹簧(194)。
5.根据权利要求1所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述第一半圆环板(15)和第二半圆环板(16)的内壁均固定连接有一层防滑耐磨橡胶垫。
6.根据权利要求3所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述限位转板(22)具体为弹性塑料板。
7.根据权利要求1所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述稳固板(13)至少设有三个。
8.根据权利要求4所述的一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,其特征在于:所述紧固杆(191)靠近连接块(17)的一侧杆壁设为斜面。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200609 |
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